産業技術総合研究所(産総研)は1月13日、幅広い電流レンジでノイズを計測する手法を開発し、不揮発性メモリとして研究開発が進められている抵抗変化メモリ(ReRAM)が100nAの消費電力で動作する際の挙動について明らかにしたと発表した。 同成果は、産総研 ナノエレクトロニクス研究部門 3D集積システム研究グループの馮ウェイ 研究員、エマージングデバイス研究グループの島久 主任研究員、筑波大学 数理物質系物理工学域の大毛利健治 准教授らによるもの。詳細は学術雑誌「Scientific Reports」(オンライン版)に掲載された。 DRAMやNANDに変わるさまざまな次世代メモリの研究開発が各所で進められており、その中の1つであるReRAMは、プロセスの微細化や低消費電力化の進展が求められていた。これまでの研究などから、遷移金属酸化物を用いたReRAMの動作には、酸化物中の酸素欠損が関わってい