Estudo Das Microestruturas e Da Dureza de Aços 1045 e 1060 Antes e Após Edurecimento Por Têmpera
Estudo Das Microestruturas e Da Dureza de Aços 1045 e 1060 Antes e Após Edurecimento Por Têmpera
Estudo Das Microestruturas e Da Dureza de Aços 1045 e 1060 Antes e Após Edurecimento Por Têmpera
Figura 1. Estruturas do ferro em um ao. a) Ferrita (CCC). b) Austenita (CFC). c) Martensita (TCC).
Esse processo de aquecimento do objeto e rpido resfriamento do mesmo chamamos de Tmpera, largamente
utilizada na indstria para aumentar a dureza de peas em geral. A figura 2 mostra o processo em um diagrama de
transformao isotrmica.
Figura 3. Curvas dos tratamentos trmicos de normalizao (curva a esquerda) e recozimento (curva a
esquerda).
2. MATERIAIS E MTODOS
Afim de realizar a anlise microestrutural de determinados aos, tratados termicamente por processos diferentes,
optou-se por escolher os aos SAE 1060 e SAE 1045. Uma barra cilndrica de aproximadamente 1 de cada ao em
questo foi particionada utilizando um disco de corte. Uma frao foi separada para a anlise no estado de
fornecimento, e as demais foram amarradas em um arame e aquecidas no forno a uma temperatura acima da
temperatura de austenitizao (790C para o ao SAE 1060 e 830C para o ao SAE 1045). A amarrao necessria
para minimizar a troca trmica entre o ao aquecido e o artefato utilizado para levar o mesmo do forno at o meio de
resfriamento. Desta forma, ao invs de tocar diretamente o ao com o artefato (o que afetaria os resultados do
tratamento trmico em si), toca-se no arame, garantido que o ao trocar calor apenas com o meio refrigerante. Aps
cada amostra ser resfriada por diferentes meios de resfriamento (gua para o SAE 1060 e gua e leo para o SAE 1045),
cortaram-se as amostras, para possibilitar a anlise do centro das mesmas ao invs das extremidades, uma vez que a taxa
de resfriamento das extremidades muito maior, devido maior rea disponvel para troca trmica com o meio de
resfriamento.
Para que seja possvel analisar as amostras no microscpio ptico, necessrio que as mesmas estejam bem
polidas, do contrrio, no seria possvel observar a microestrutura, devido rugosidade superficial que desviaria todos
os feixes de luz do microscpio. Para obter o polimento desejado a primeira etapa o lixamento, que neste caso foi
efetuado em lixas dgua dispostas numa matriz rotativa lubrificada com gua. Iniciou-se pela lixa dgua de granulao
220. E lixou-se at as marcas da amostra estarem dispostas na mesma direo. Aps isso, girou-se a amostra em 90 e
trocou-se para lixa de dgua de granulao 320, lixando at as marcas da etapa anterior serem removidas. O processo
de lixamento o mesmo paras as lixas de granulao 400 e 600. Importante ressaltar que necessrio chanfrar a
amostra na primeira etapa de lixamento, pois ela afiada e pode causar ferimentos ou rasgar o pano de polimento.
Terminado a etapa de lixamento, passa-se para a fase de polimento da amostra. Nesta fase usa-se uma soluo
abrasiva de alumina 1micro em gua, sobre um pano de polimento montado em uma matriz rotativa. O polimento
simples, basta girar a amostra continuamente em sentido contrrio ao do pano de polimento, afim de poli-la igualmente
em todas as direes. Aps a amostra estar com um aspecto espelhado e praticamente livre de riscos, lava-se bem a
mesma com gua e detergente, passa-se lcool e seca-se com algodo e secador de cabelo. Aps a secagem da amostra,
ela est pronta para ser atacada quimicamente com nital 2%. O ataque necessrio para revelar a microestrutura, j que
ele age com mais ou menos severidade na amostra dependendo da composio fsica e qumica da regio atacada, isso
gera um contraste que possibilita a visualizao da microestrutura no microscpio, devido ao princpio da reflexo.
Ao microscpio, focaliza-se uma parte da amostra que seja coerente com aquilo que se espera na teoria. So
retiradas tantas fotos quantas forem necessrias para representar a microestrutura em diferentes pontos, como centro e
borda. Concludo isto, a amostra levada para fazer o teste de dureza, afim de comparar se o que obtido aquilo ou
prximo daquilo que consta na teoria. Em todas as amostras foram obtidas durezas em magnitude Vickers.
3. RESULTADOS E DISCUSSO
Anlise ao SAE 1045
Na figura 4 temos a foto de micrografia de um ao ABNT 1045 - composto por 0,45% de carbono em estado
de fornecimento. A amostra teve sua dureza medida trs vezes e a mdia obtida foi de 229,3HV. Em branco vemos a
ferrita livre, enquanto a parte escura da micrografia perlita lamelar. A imagem foi feita com ampliao de 1000x,
obtida por adeso de cinco imagens com focos distintos (auxlio computacional grfico).
A figura 10 apresenta a foto da micrografia de um ao SAE composto por 0,6% de carbono, no estado de
fornecimento. Nela possvel observar a predominncia do microconstituinte chamado perlita, que est representada
pela regio mais clara onde possvel distinguir as lamelas, e pela regio mais escura, onde as lamelas esto to
prximas que no possvel distingui-las. A regio mais clara onde no h lamelas, so as ilhas de ferrita proeutetide,
que se formam em aos hipoeutetides. A predominncia da perlita se deve proximidade que a composio de 0,6% de
carbono tem com o ponto eutetide, ponto este que possui 100% e perlita em sua micro constituio. A dureza aferida
para este ao foi de 292,7 HV, dureza esta que no chega metade da aferida para o mesmo ao temperado.
4. CONCLUSES
Os resultados obtidos atravs do experimento, se mostraram bastante satisfatrios uma vez que so semelhantes aos
j esperados, presentes na literatura e vistos em sala de aula, entre eles esto: a formao do microconstituinte
martensita nas extremidades das amostras temperadas, bem como a diminuio da dureza da extremidade ao centro
devido as diferenas de velocidade de resfriamento. A comparao perceptvel de dureza entre amostras temperadas e
amostras em estado de fornecimento, assim como a discrepncia de dureza entre amostras de diferentes teores de
carbono. Tambm foi possvel observar a diminuio da dureza na amostra normalizada. Quanto ao processo de
preparao da amostra, foi possvel tambm observar uma trinca gerada na amostra de 1060 devido a tmpera em gua
j prevista, pois a taxa de resfriamento em gua bastante alta.
5.
REFERNCIAS
CALLISTER, William D.. Cincia e engenharia de materiais: uma introduo. 5. ed. Rio de Janeiro: LTC
CHIAVERINI, Vicente. Tecnologia mecnica. 2. ed. So Paulo: McGraw-Hill, 1986. 3 v