MEV Apresentacao
MEV Apresentacao
MEV Apresentacao
MICROSCOPIA ELETRNICA
A caracterizao de materiais realizada principalmente pelo exame microgrfico.
FONTES
Radiao Eltrons Raios-X ultravioleta Luz visvel Infravermelho Comprimento de onda, nm 0,005 0,01-15 15-400 400-700 700-860
ESCALAS DE OBSERVAO
Escala Ampliao tpica Tcnicas Macroestrutura x1 Inspeo Visual Radiografia por raios-X Inspeo ultrasonica Aspectos caractersticos Defeitos Porosidade, trincas e incluses Gro e tamanho de partculas Morfologia das fases e anisotropia Discordncias Gros e contornos de fase Fenmenos de precipitao Mesoestrutura x102 Microscopia tica Microscopia eletrnica de varredura Microestrutura x104 MET e MEV Microscopia de fora atmica Nanoestrutura x106 Difrao de raios-X Microscopia de tunelamento MET de alta resoluo Cristal e estrutura das interfaces Defeitos pontuais
Microscopia tica
Objetivo
Observao e anlise microestrutural de objetos slidos
Caractersticas
baixa resoluo ~ 0,5 m (aumento mximo de 2.000X) imagem plana - sem profundidade de foco preparao especial da amostra (lixamento, polimento, ataque)
Microscopia tica
ferramenta mais usada para a caracterizao morfolgica primeira tcnica a ser usada para examinar a microestrutura
Microscpios ticos usados para observao Luz refletida Luz transmitida Metais, polmeros e minerais Polmeros e minerais
MICROESTRUTURAS
Metais Cermicos
Ferro puro
Alumina
CFC
CCC
CTC
MICROESTRUTURA AOS
1000X
1000X
Ao Carbono - perlita
Martensita
1000X 1000X
MICROESTRUTURA AOS
Ao Carbono
MICROESTRUTURA AOS
Ao Carbono - 1045
Caractersticas
alta resoluo 0,2 a 5 nm (MO ~ 0,5 m)
Imagens do MEV
Elevada resoluo - imagem ES
Imagens do MEV
Topografia - imagem ES
Imagens do MEV
Composio - imagem ER
Microanlise
Micrografia tica
Cermico
Concreto
Compsito
Cement reinforado com fibra de polipropileno
Esferas de isopor
Plantas - Canais
Plen
Imagens do MEV
Fio de cabelo
Detectores - Imagem
Composio - imagem ER
Origem: - eltrons do feixe retroespalhados Caractersticas: - imagem composio
- baixa resoluo
Microanlise
X-ray mapping
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