Atomkraftmikroskop
 | Kildeløs: Denne artikkelen mangler kildehenvisninger, og opplysningene i den kan dermed være vanskelige å verifisere. Kildeløst materiale kan bli fjernet. Helt uten kilder. (10. okt. 2015) |
Atomært kraftmikroskop (eng. atomic force microscope, AFM) er et meget kraftig mikroskop som ble funnet opp i 1982. Oppløsningen er så god at den kan avbilde enkeltatomer. I tillegg til å fungere som mikroskop kan det også brukes til å manipulere stoffer på nanonivå.
Mikroskopet fungerer ved at en liten tupp skraper i overflaten på stoffet. Kontaktkraften får tuppen til å bevege seg og denne bevegelsen blir registrert av en laser som reflekteres i overhenget tuppen er festet i.
Mikroskopets begrensning er at det bare kan studere overflater av forholdsvis faste stoffer.
Atomært kraftmikroskop er ett av en rekke skanning probemikroskoper, slik som skanning tunneleringsmikroskop og magnetisk kraftmikroskop.
Denne artikkelen er en spire. Du kan hjelpe Wikipedia ved å utvide den.