Interférométrie de Speckle: Paul Smigielski

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Interférométrie de speckle

par Paul SMIGIELSKI


Docteur ès sciences
Ingénieur de l’École supérieure d’optique (ESO)
Conseiller scientifique des directeurs de l’Institut franco-allemand de recherches
Fondateur d’HOLO 3
Professeur conventionné à l’École nationale supérieure de physique
de Strasbourg (ENSPS)
Université Louis-Pasteur de Strasbourg

1. Généralités................................................................................................. R 6 331 - 2
1.1 Granularité laser ou speckle ....................................................................... — 2
1.2 Interférométrie de speckle .......................................................................... — 3
1.2.1 Cas de deux objets diffusants différents........................................... — 3
1.2.2 Cas d’un seul objet diffusant ............................................................. — 4
2. Interférométrie de speckle : mesure des déplacements
dans le plan................................................................................................ — 4
2.1 Principe......................................................................................................... — 4
2.2 Fonctionnement en double exposition avec mesure quantitative
des déplacements dans le plan .................................................................. — 5
3. Interférométrie de speckle à dédoublement latéral
ou « shearographie » .............................................................................. — 6
3.1 Principe......................................................................................................... — 6
3.2 Application au contrôle non destructif ...................................................... — 7
4. Interférométrie de speckle électronique ou « TV-holographie » — 8
4.1 Principe......................................................................................................... — 8
4.2 Application : mesure des déplacements tridimensionnels ...................... — 9
5. Conclusion ................................................................................................. — 10
Références bibliographiques ......................................................................... — 10

ette technique a été inventée dans les années 1970 pour pallier les insuffi-
C sances de l’holographie dans le domaine de l’interférométrie en ce qui
concerne le milieu d’enregistrement (en général des plaques et films argen-
tiques puis des films thermoplastiques). Contrairement à l’interférométrie holo-
graphique classique, l’interférométrie de speckle permet l’utilisation de caméras
CCD pour calculer et visualiser le champ des déplacements d’un objet
diffusant. Elle s’est notamment développée en Grande-Bretagne avec
A.E. Ennos, J.A. Leendertz, J.N. Butters, J.M. Burch et E. Arnold (cf. références
bibliographiques). Elle est très adaptée aux applications industrielles (appareils
plus compacts et facilement transportables, coûts plus faibles, traitement numé-
rique des données en temps quasi réel ...) et s’est donc beaucoup développée
ces dernières années au point de remplacer progressivement les systèmes de
contrôles non destructifs holographiques existant dans les grandes sociétés
notamment, et cela malgré des performances qui sont loin d’égaler celles de
l’interférométrie holographique comme la résolution spatiale, la taille de l’objet
analysé et la possibilité d’avoir une image 3D de cet objet, par exemple.
Les caméras CCD ont une résolution faible (6 µm au mieux aujourd’hui) com-
parée à celle des plaques photographiques argentiques (une fraction de µm). Les

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franges d’interférence créées, comme en holographie, par la superposition de


deux ondes cohérentes entre elles devront pouvoir être lues par la caméra élec-
tronique, ce qui impose un angle voisin de zéro entre les ondes et une exploita-
tion de l’information différente de l’holographie. Car, en fait, on va exploiter
numériquement directement les franges d’interférence alors qu’en holographie
on utilise ces franges d’interférence enregistrées sur plaque ou film photogra-
phique pour restituer analogiquement l’onde objet.
Dans les deux cas, on effectuera des enregistrements pour au moins deux
états différents de l’objet (à 2 instants différents) pour accéder à la mesure des
déplacements subis par l’objet entre ces deux états. En interférométrie de spec-
kle, on fera donc l’exploitation numérique des 2 systèmes de franges pour
remonter aux déplacements. En interférométrie holographique, les ondes resti-
tuées correspondant aux 2 états de l’objet créent un système de franges d’inter-
férence sur l’image lumineuse 3D de l’objet, franges qui caractérisent le champ
des déplacements. Ce sont ces franges qu’il faudra exploiter numériquement
pour remonter aux déplacements.
Cet article donne les bases de diverses techniques d’interférométrie de speckle
utilisées actuellement dans l’industrie et montre précisément quelques exem-
ples typiques d’applications.
Cet article est tiré pour l’essentiel de la référence [7]. Pour d’autres renseignements sur l’holo-
graphie de speckle, le lecteur pourra consulter les références [2] à [6].

Pour tous renseignements concernant l’interférométrie holographique classique, on se


reportera à l’article [R 6 330] de cette même rubrique, référence [9], première partie de cette
étude sur l’holographie interférométrique.

1. Généralités S (laser)
A

1.1 Granularité laser ou speckle


∅D
On a vu dans l’article [R 6 330], paragraphe 1.2.4 de cette rubrique
[9], qu’un objet diffusant éclairé en lumière cohérente générait un
système d’interférences complexe dans l’espace appelé speckle en M H
anglais (littéralement « moucheture, tache ») ou granularité laser en
français (figure 1). Le mot speckle étant communément admis par
les milieux scientifiques internationaux, nous l’utiliserons. B
Le speckle se manifeste dès que la surface de l’objet diffusant, D
éclairé par une source de lumière cohérente, présente un relief
microscopique donnant, vu du point d’observation, des variations AB surface diffusante D distance d'observation
de chemin optique supérieures à la longueur d’onde de la lumière. S source laser ∅ D diamètre de l'objet diffusant
Ainsi une surface polie optiquement ne donnera pas de speckle. H point d'observation
En un point de l’espace H, situé à une distance D de l’objet
(figure 1), on a la superposition cohérente des ondes provenant des Figure 1 – Speckle sans lentille
divers éléments de la surface rugueuse. On suppose que la lon-
gueur de cohérence de la source laser est plus grande que les varia-
tions du chemin optique (SMH). Les déphasages introduits par la Le grain tridimensionnel a une forme allongée (du type ellip-
rugosité de la surface sont aléatoires, ce qui explique l’allure de la soïde). Sa dimension longitudinale moyenne a pour expression [1] :
figure de speckle (figure 2) composée de « grains » dont les dimen-
sions latérales moyennes sont de l’ordre de : σ = 8 λ D 2 ⁄ ∅ D2
s = λD /∅D
La figure de speckle contient des informations multiples sur
(s = 1,22 λ D /∅D pour un diffuseur de diamètre ∅D). Le speckle rem- l’objet : état de surface, forme, déformation... Le problème est de
plit tout l’espace. savoir comment décoder l’information.

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essentielle restant que la rugosité soit telle que les variations de che-
min optique qu’elle engendre soient supérieures à la longueur
d’onde λ de la lumière. En d’autres termes, l’écart-type de la rugo-
sité doit être supérieur à λ.
Toutes les conditions nécessaires à l’obtention d’un speckle cor-
rect étant obtenues, considérons un déplacement tridimensionnel
de l’élément de surface Σ. Comme on est au point sur l’objet, le
speckle se déplace comme s’il lui était rigidement lié. On suppose, et
c’est essentiel, que le déplacement longitudinal du speckle est très
inférieur à la longueur σ du grain de speckle.

■ Remarque sur la photographie de speckle : mesure des


déplacements dans le plan [2]
Considérons le montage représenté figure 3 et supposons, pour
simplifier, que l’objet quasiment plan subisse des déplacements
Figure 2 – Photographie du speckle (granularité laser) dans le plan caractérisés localement par les quantités (∆x, ∆y). On
réalise une photographie de l’objet avant puis après application
d’un effort particulier (compression ou traction, par exemple) provo-
quant des déplacements dans le plan.
S (laser) On a donc sur la plaque photographique P la superposition de
A deux images de l’objet. Les grains de speckle relatifs à l’image de
l’objet déformé se sont déplacés par rapport à ceux relatifs à l’image
de l’objet non déformé d’une quantité (∆x, ∆y). Pour mesurer le
déplacement (∆x, ∆y), il faut mesurer le déplacement équivalent du
grain de speckle sur la photographie, ce qui peut être fait en obser-
vant le cliché à l’aide d’un microscope optique. D’autres procédés
Ob P
plus élégants et rapides sont couramment utilisés, l’un permettant
M une mesure locale du déplacement, l’autre une visualisation globale
Σ ∅ H s du champ de déplacement.
σ
B

D D'
1.2 Interférométrie de speckle

Σ élément de la surface diffusante AB


Dans la méthode de photographie de speckle, on enregistre sur
s, σ dimensions du grain de speckle un support photosensible, en général plan, l’intensité du speckle,
Ob objectif photographique de diamètre ∅ et de focale f avant et après déformation de l’objet.
Dans l’interférométrie de speckle [3], on va enregistrer non seule-
Figure 3 – Speckle avec lentille ment l’intensité du speckle, mais également la variation de phase,
avant et après déformation de l’objet. On va superposer, de façon
générale, le grain de speckle d’un objet au grain de speckle d’un
autre objet, avant et après déformation de chaque objet, les deux
Dans le cas des petits déplacements, il y a invariance locale de la objets étant éclairés par la même source laser. Ce cas général est
figure de speckle : une petite portion du speckle se déplace en bloc très complexe. Des cas particuliers très intéressants seront exposés
sans modifier sa forme de façon appréciable, de sorte que la con- concernant la superposition du grain de speckle du même objet
naissance du déplacement local du speckle permet de remonter au avant et après déformation de l’objet. Enfin, le cas simple de la
déplacement de la zone correspondante de l’objet. superposition de la figure de speckle d’un objet avec une onde de
Considérons la figure 3. Un objectif photographique Ob de dia- référence (plane ou sphérique) sans speckle sera explicité.
mètre ∅ forme une image de l’objet diffusant sur un support photo- Ainsi, l’interférométrie de speckle recouvre un ensemble de tech-
sensible (par exemple, une plaque photographique). niques non normalisées dont les noms sont donc les plus variés
Les dimensions du grain de speckle dans le plan image de l’objec- dans la littérature. Pour nous y reconnaître nous utiliserons le terme
tif photographique (diamètre ∅, focale f ) sont explicitées à partir le plus communément admis (souvent un terme « commercial ») en
des relations données plus haut : le définissant bien et en citant les autres appellations.

s ≈ 1,22 λ D ’/∅ et σ ≈ 8D ’2/∅2


1.2.1 Cas de deux objets diffusants différents
En faisant intervenir le grandissement g = D ’/D et la focale f de
l’objectif, on obtient : Considérons deux objets diffusants éclairés par de la lumière
cohérente issue d’une source laser S (figure 4).
s ≈ 1,22 λ(1 + g )f /∅ et σ ≈ 8 λ(1 + g)2f 2/∅2
L’objet O1 produit dans tout l’espace une figure de speckle. Son
La petite surface Σ de l’objet contribuant à la formation du speckle amplitude au point H d’observation est notée A1 et sa phase ϕ1. De
en H doit contenir un nombre suffisant d’éléments diffractants indé- même l’objet O2 produit en H un speckle d’amplitude A2 et de
pendants (rugosité de la surface) : cette surface Σ est la tache de phase ϕ2. L’intensité lumineuse en H résultant de l’interface des
diffraction du système optique rapportée sur l’objet (rayon : deux figures de speckle, et qui va servir de référence, est :
1,22 λ D /∅) ; elle doit être plus grande que la longueur de corréla-
tion de la rugosité, ce qui est facilement réalisable, la condition I R = A 12 + A 22 + 2 A 1 A 2 cos ( ϕ 2 Ð ϕ 1 )

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(laser)
S Objet O1 (référence)
Objet
O1
Σ1 D1

SP
H
Objet
D2 O2

Objet Σ2
O2
L

Figure 4 – Interférométrie avec deux objets diffusants

Plan d'observation
Supposons maintenant qu’un élément de surface Σ1 de l’objet O1
subisse un déplacement caractérisé par le vecteur D1. On suppose
que la figure de speckle se déplace sans déformation significative Figure 5 – Montage pour la visualisation des lignes d’égal
d’une quantité inférieure au grain du speckle (déplacement latéral déplacement hors plan
du speckle inférieur à la dimension latérale du grain du speckle,
déplacement longitudinal du speckle inférieur à la longueur du grain
de speckle). 1.2.2 Cas d’un seul objet diffusant
La phase du speckle en H varie de la quantité ∆ϕ1, son amplitude
restant la même. Dans ce qui suit, on va traiter de trois montages dont deux sont de
plus en plus utilisés dans l’industrie pour la mesure des déplace-
De même, le déplacement de l’objet O2 conduit à la variation ∆ϕ2 ments hors du plan et l’analyse vibratoire (TV-holographie) et pour
de la phase du speckle correspondant en H. le contrôle non destructif (shearographie) et dont le troisième per-
met la mesure des déplacements dans le plan (l’« interférométrie de
L’intensité en H devient alors : speckle à éclairages symétriques »). Nous commencerons par les
montages utilisant l’interférence effective entre deux speckles.
I = A 12 + A 22 + 2 A 1 A 2 cos ( ϕ 2 Ð ϕ 1 + ∆ ϕ 2 Ð ∆ ϕ 1 )

Sur le support photosensible situé en H, on enregistre la somme


des intensités IR et I. 2. Interférométrie de speckle :
On a, en somme, la superposition géométrique de grilles aléa-
toires, et on peut comprendre que, suivant les valeurs de
mesure des déplacements
∆ϕ2 − ∆ϕ1, cette superposition sera visuellement différente. Ainsi, si
∆ϕ2 − ∆ϕ1 = π pour une région du support photosensible, on aura :
dans le plan
I + I R = 2 ( A 12 + A 22 )
2.1 Principe
C’est la somme « incohérente » des intensités des speckles des
deux objets. On observe une figure complexe de faible contraste.
L’objet est éclairé en lumière laser parallèle de façon symétrique
Pour une région où ∆ϕ2 − ∆ϕ1= k x 2 π, on a : (figure 6). Un objectif photographique L forme de l’objet une image
sur un support photosensible H (film ou plaque photographique,
I + I R = 2 [ A 12 + A 22 + 2 A 1 A 2 cos ( ϕ 2 Ð ϕ 1 ) ] caméra CCD, le plus souvent) [4].
Si l’on ne considère que l’éclairage 1, on observe un speckle
C’est la somme cohérente des speckles des deux objets avant déterminé. Avec l’éclairage 2 seul, on observe un autre speckle.
déformation. On observe une granularité caractéristique de bon Si on éclaire l’objet simultanément avec les deux éclairages, les
contraste. deux figures de speckle interfèrent. Elles sont superposées à la sur-
Ainsi, on a une visualisation des zones pour lesquelles face de l’objet en l’absence de déplacement. En présence d’un
∆ϕ2 − ∆ϕ 1 = k x 2 π. Mais il n’est pas évident d’obtenir des informa- déplacement dans le plan ∆x, les deux figures de speckle sur l’objet
tions sur les déplacements. Des montages particuliers existent per- se décalent de la même quantité. Si ce déplacement ∆x est inférieur
mettant, par exemple, d’obtenir des franges représentant les lignes à la dimension latérale s du grain de speckle rapporté dans le plan
d’égal déplacement hors plan. C’est le cas du montage de la figure 5 objet, les grains de speckle de chaque figure sont encore partielle-
qui permet de comparer le speckle de l’objet se déformant au ment superposés et interfèrent. La différence de chemin optique
speckle d’un objet fixe. provoquée par ce décalage ∆x a pour valeur 2 ∆x sin θ.
Il y a maximum de lumière lorsque la phase est égale à un nombre
Les choses se présentent encore mieux si l’on considère un même entier de fois 2 π et un minimum pour un nombre impair de fois π :
objet se déformant en prenant comme référence l’objet lui-même
ou une onde de référence sans speckle. ∆ϕ = 2 π ∆δ/λ = k x 2 π, respectivement (2 k + 1) π

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m1
l1

Éclairage 1

M
Compression L1
∆x L
M'

H
m
θ Rondelle L CCD Laser
SP
θ Image
Éclairage 2
x Objet

x L2
l2
z
z
PZT
Figure 6 – interférométrie de speckle à éclairages symétriques
m2

ou bien : Figure 7 – Mesure quantitative des déplacements dans le plan.


∆δ = k λ, respectivement (2 k + 1) λ/2. Principe du montage expérimental

Les franges d’interférence brillantes sont donc caractérisées par la


relation :
On a :
2 ∆x sin θ = k λ
I R = A 12 + A 22 + 2 A 1 A 2 cos ( ϕ 2 Ð ϕ 1 )
avec λ longueur d’onde du laser,
k nombre entier. I = A 12 + A 22 + 2 A 1 A 2 cos ( ϕ 2 Ð ϕ 1 + ∆ ϕ )
Ces franges sont les lignes d’égal déplacement dans le plan dans
la direction x. avec ∆ϕ différence de phase engendrée par la
En modifiant le montage (éclairages dans le plan (y, z)), on obtient déformation.
les lignes d’égal déplacement dans le plan dans la direction y. On observe en temps réel I Ð I R soit :
La dimension latérale du grain de speckle dans le plan image de
l’objectif L de focale f et de diamètre ∅ a pour expression I Ð I R = 2 A 1 A 2 cos ( ϕ 2 Ð ϕ 1 + ∆ ϕ ) Ð cos ( ϕ 2 Ð ϕ 1 )

s ≈ 1,22 λ(1 + g) f /∅, ou encore


avec g grandissement.
I Ð I R = 4 A 1 A 2 sin ( ∆ ϕ ⁄ 2 ) sin ( ϕ 2 Ð ϕ 1 + ∆ ϕ ⁄ 2 )
Toujours dans le plan image, le déplacement a pour valeur g ∆x.
La condition de fonctionnement de l’interférométrie (déplacement
inférieur au grain de speckle) s’écrit donc :
g ∆x < 1,22 λ(1 + g) f /∅
2.2 Fonctionnement en double exposition
Nota : les deux faisceaux d’éclairage interfèrent et donnent sur l’objet de fines franges
avec mesure quantitative
d’interférence de pas : des déplacements dans le plan
i = λ/2 sin 2 θ,
soit pour θ = 45˚ et λ = 0,7 µm, un pas i = λ/2 = 0,35 µm.
À titre démonstratif, on a étudié les déplacements dans le plan
Ces franges ne sont pas enregistrées, la résolution du système d’observation étant bien
trop faible. d’une rondelle d’acier soumise à un serrage latéral (compression).
Le montage utilisé est schématisé figure 7.
■ Fonctionnement en temps réel
Une lame séparatrice SP et un miroir m permettent de séparer le
L’interférométrie de speckle que l’on vient de voir fonctionne aussi faisceau laser en deux faisceaux. Ces deux faisceaux forment le fais-
bien en double exposition (avec laser continu ou avec laser pulsé ceau d’éclairage 1 grâce au télescope (L1, œ 1 ) et au miroir m1, et le
pour l’étude des déplacements dynamiques) qu’en temps réel. faisceau d’éclairage 2 grâce au télescope (L2, œ 2 ) et au miroir m2.
Pour fonctionner en temps réel, on utilise comme support d’enre- Les deux faisceaux d’éclairage sont symétriques par rapport à la
gistrement une caméra CCD. On enregistre d’abord l’intensité de normale à l’objet (axe z) dans le plan (x, z ). Le serrage s’exerce dans
l’image de l’objet au repos (numérisation de l’image). L’intensité la direction x. Un objectif photographique L forme de l’objet une
numérisée de l’image de l’objet en déformation est comparée à image sur l’élément photosensible (CCD). Pour quantifier les résul-
l’intensité numérisée de référence, et cela à la fréquence vidéo de tats, on utilise le principe d’addition de phases connues Φi , sur l’un
25 Hz. En fait, on réalise toutes les 40 ms une soustraction de l’inten- des bras de l’interféromètre (principe utilisé en holographie double
sité de chaque image I avec l’intensité de l’image de référence IR. référence, article [R 6 330] de cette rubrique, § 2.4).

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S (laser)

M1 ε

Objet

M2
SP2
SP1
PZT Φi
x
L
z Image dédoublée
P

a avec un interféromètre de Michelson

S (laser)

Figure 8 – Carte des déplacements dans le plan d’une rondelle sous Image
compression (doc. HOLO 3) dédoublée
L
Objet

Lors de la première exposition (objet au repos, par exemple), on a


une intensité numérisée Biprisme
I R = A 12 + A 22 + 2 A 1 A 2 cos ( ϕ 2 Ð ϕ 1 + Φ i )
P
qui peut s’écrire aussi :
b avec un biprisme
I R = I 0 [ 1 + m cos ( ϕ 2 Ð ϕ 1 + Φ i ) ]

En donnant trois valeurs (au moins) à la différence de phase Φi Figure 9 – Systèmes de dédoublement de l’image en shearographie
par l’intermédiaire du miroir m2 monté sur un translateur piézo-
électrique, on peut résoudre l’équation précédente et obtenir la
carte des phases (ϕ2 − ϕ1) de l’objet au repos. On opère de la même
façon après serrage de la rondelle. On obtient la carte des phases Le principe de base [5] consiste tout simplement à dédoubler
(ϕ2 − ϕ1 + ∆ϕ) de l’objet déformé. l’image de l’objet à l’aide d’un dispositif optique simple, interféro-
mètre de Michelson ou biprisme, par exemple (figure 9).
En soustrayant les deux quantités précédentes, on obtient la
valeur des ∆ϕ, c’est-à-dire les variations de phase dues aux déplace- Considérons le cas de l’interféromètre de Michelson qui possède
ments dans le plan dans la direction x. l’avantage sur le biprisme de permettre le réglage du dédoublement
La figure 8 montre, en fausses couleurs, les déplacements dans le par orientation du miroir M1.
plan engendrés par le serrage de la rondelle.
L’objet est éclairé (pour simplifier) par un faisceau de lumière
parallèle provenant de la source laser S et dont l’axe se trouve dans
le plan (x, z) (plan de la figure 9). L’observation de l’objet se fait à tra-
3. Interférométrie de speckle vers la lame semi-transparente SP1 et à travers un interféromètre de
Michelson. Le dédoublement de l’image est donné par une légère
à dédoublement latéral rotation ε du miroir M1 de l’interféromètre.

ou « shearographie » Supposons que cette rotation soit faite autour d’un axe perpendi-
culaire au plan (x, z ), toujours pour simplifier. Elle donne un déca-
lage latéral δ x de l’image dans la direction x.

3.1 Principe Les deux images (figures de speckle) décalées interfèrent dans
leur partie commune et donnent une figure de speckle résultante
complexe dans laquelle il est difficile de reconnaître les franges rec-
Le terme shearographie est, comme on l’a déjà dit, un terme com- tilignes dont le pas est lié au décalage δ x.
mercial qui est passé dans les mœurs. Les Anglo-Saxons utilisent
également le terme de speckle shearing interferometry ou des ter- Comme dans le cas précédents, on va comparer la figure de spec-
mes voisins. En français, on pourrait dire simplement interféromé- kle de l’image dédoublée avant et après déformation de l’objet. Les
trie différentielle puisque cette méthode, comme on va le voir, franges obtenues caractérisent, en première approximation, la déri-
permet de mesurer les dérivées spatiales des déplacements dans vée par rapport à x du déplacement hors plan. On obtient donc ici
une direction donnée. des informations directes sur les déformations de l’objet.

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Dans le cas des faibles champs, les franges sont déterminées par restrictions d’usage sur la stabilité. Le principe est toujours le
la relation : même : on utilise une caméra CCD et l’on soustrait de l’intensité
numérisée de référence IR l’intensité I numérisée de l’image à l’ins-
∂d z tant t. (D’autres possibilités de traitement existent basées sur la
2 δ x -------- = k λ
∂x transformation de Fourier de chaque image.)

∂d z ■ Utilisation d’un laser pulsé


avec -------- dérivée partielle du déplacement hors plan dz . Pour s’affranchir des problèmes de stabilité inhérents aux expé-
∂x
Si le décalage δx n’est pas assez petit, on doit considérer des dif- riences industrielles ou pour étudier des phénomènes dynamiques,
férences finies et non des dérivées. On aura exactement : il est nécessaire d’utiliser un laser pulsé (rubis, YAG, diode laser)
pour bien figer l’objet dans deux états donnés qui doivent se cor-
dz (x + δx) − dz (x) = k λ/2 réler.
■ Utilisation d’une caméra CCD. Quantification des résultats Si ces états doivent être très rapprochés dans le temps (de la
microseconde à la milliseconde, typiquement) pour pouvoir être
Considérons tout d’abord l’objet au repos. L’intensité résultant de valablement corrélés, il est difficile, en l’état actuel de la technologie,
l’interférence des deux figures de speckle décalées est : d’effectuer les opérations informatiques nécessaires (soustraction
I R = A 12 + A 22 + 2 A 1 A 2 cos ( ϕ 2 Ð ϕ 1 ) des intensités, par exemple) à la visualisation des franges ou d’obte-
nir à chaque instant les trois phases Φi nécessaires à l’exploitation
Cette expression peut s’écrire également sous la forme : quantitative des images.
Pour visualiser uniquement les franges d’interférence caractéri-
IR = I0 [1 + m cos ∆ϕR] sant le phénomène dynamique, une solution relativement simple
avec ∆ϕR = ϕ2 − ϕ1 différence de phase due au décalage des consiste à utiliser deux caméras CCD couplées.
deux images. Une des caméras enregistre l’intensité de l’image de l’objet à
Pour l’objet déformé, on aura : l’instant t1 et l’autre caméra fait de même à l’instant t2. On a ensuite
tout le temps pour effectuer la soustraction des images. Ce mode
I = I0 [1 + m cos (∆ϕR + ∆ϕ)] opératoire peut se reproduire à la cadence vidéo (temps réel). Il
nécessite l’utilisation d’un double laser YAG (par exemple) capable
avec ∆ϕ = ϕ (x + δx, y + δy) − ϕ (x, y) différence de phase due de donner une double exposition à la cadence de 25 Hz. Ce système
au déplacement d de l’objet. laser existe dans le commerce.
Le décalage des deux images est représenté par δx et δy. L’obtention simultanée des trois phases Φi à chaque exposition
Pour résoudre ces équations, on peut opérer comme précédem- laser nécessaires à toute détermination quantitative fait encore
ment, de la même façon qu’avec l’interférométrie holographique, l’objet de recherches en laboratoire, mais des systèmes devraient
c’est-à-dire en introduisant une phase connue Φi dans le montage. être commercialisés rapidement. Nous verrons au paragraphe 4 une
Le miroir M2 monté sur un translateur piézoélectrique (figure 9), solution utilisée en TV-holographie.
permet d’obtenir successivement les phases Φ1, Φ2, Φ3 nécessaires
à la résolution des équations IR et I.
Pour l’objet au repos, on a : 3.2 Application au contrôle
IR, i = I0 [1 + m cos (∆ϕR + Φi )] non destructif
d’où l’on tire, par calcul, ∆ϕR.
Pour l’objet déformé, on a : Du fait de sa relative insensibilité à l’environnement et aux faibles
déplacements d’ensemble parasites, et du fait de sa compacité et de
Ii = I0 [1 + m cos (∆ϕR + ∆ϕ + Φi )]
sa maniabilité, la shearographie a fait naître des espoirs pour être
d’où l’on tire, par calcul, ∆ϕR + ∆ϕ. utilisée comme un instrument de base en contrôle non destructif.
Cette appréciation prendra néanmoins toute sa valeur lorsque les
Par soustraction des phases calculées (∆ϕR + ∆ϕ) et ∆ϕR, on systèmes commercialisés utiliseront un laser pulsé.
obtient ∆ϕ.
Dans le cas simple évoqué au début, et si le dédoublement est ■ Contrôle non destructif : défauts de collage
suffisamment petit, ∆ϕ est relié à la pente de la déformée hors plan La figure 10 compare l’holographie et la shearographie pour le
de l’objet. contrôle de défauts de collage entre deux élastomères (application
Le traitement des images est réalisé grâce à l’utilisation d’une à l’industrie de la chaussure) par utilisation d’une contrainte pneu-
caméra CCD et d’un logiciel approprié. Bien entendu, il faut que matique. On remarque bien que la shearographie donne, en pre-
l’objet soit suffisamment stable pendant l’acquisition successive mière approximation, la dérivée de la déformée (déformée
des images avec les phases Φi, non seulement lorsqu’il est consi- visualisée elle, par holographie).
déré comme au repos mais surtout lorsqu’on lui applique une con- On vérifie qu’un léger déplacement d’ensemble visible en holo-
trainte le déformant, ce qui limite l’utilisation de cette technique de graphie par quelques franges rectilignes est automatiquement éli-
dépouillement. miné en shearographie (voir photographies en fausses couleurs).
Il faut remarquer que la méthode étant différentielle, les turbulen- Sur la visualisation en pseudo-relief relative à l’holographie, le
ces de l’atmosphère ou les déplacements parasites d’ensemble déplacement d’ensemble a été éliminé par le traitement numérique
affectent en général de façon similaire les deux images dédoublées de l’image.
et donc jouent peu sur les résultats. Ce qui fait l’intérêt de cette La figure 11 montre un autre exemple relatif à un défaut de col-
méthode pour les applications industrielles. lage dans un matériau composite soumis à une contrainte thermi-
Il faut néanmoins dire que cette remarque a ses limitations puis- que. Les divers modes de présentation de l’image sont illustrés ici :
que la shearographie est également utilisée pour la visualisation — image brute après soustraction des intensités IR − I (en haut, à
des écoulements ! [8] gauche) telle qu’elle apparaît sur l’écran TV ;
La shearographie, comme pratiquement toutes les méthodes — image en fausses couleurs ;
d’interférométrie de speckle, peut s’utiliser en temps réel, avec les — image en pseudo-relief, coupe selon AB.

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PZT
M

L2 SP
L1
KE KO
S (laser) Objet

x (I )
L3

z (K )
L4
Image
y (J )
CCD

Figure 12 – Schéma de principe de la « TV-holographie »

4. Interférométrie de speckle
électronique
ou « TV-holographie »
Figure 10 – Défauts de collage entre deux élastomères visualisés
(doc. HOLO 3)
4.1 Principe

Là encore, le mot commercial TV-holographie est passé dans les


mœurs. Les Anglo-Saxons utilisent parfois encore le terme ESPI
(Electronic Speckle Pattern Interferometry).
Il s’agit en fait d’un interféromètre de Michelson modifié dans
lequel un des miroirs est remplacé par l’objet à étudier, le support
photosensible pouvant être, comme dans le cas précédent, une
caméra CCD dès lors que l’on désire quantifier les résultats et/ou tra-
vailler en temps réel (figure 12). [6].
Le laser S éclaire l’objet à étudier en lumière parallèle ici de façon
à n’être sensible qu’aux déplacements hors plans. Ce type de mon-
tage limite la taille des objets à examiner au diamètre des objectifs
collimateurs L2 et L3.
Différents modes opératoires sont possibles.
■ Double exposition
C’est toujours le même processus. On enregistre l’interféro-
gramme de l’objet au repos. On a une intensité numérisée I1 qui sert
de référence :
I1 = I0 [1 + m cos (ϕ − ϕR)]

On enregistre une seconde exposition après déformation de


l’objet ou lorsqu’il est en cours de déformation (utilisation d’un laser
pulsé). On a une intensité I2 qui a pour expression :
I2 = I0 [1 + m cos (ϕ − ϕR + ∆ϕ)]

avec ∆ϕ différence de phase due au déplacement hors


Figure 11 – Contrôle d’un composite par shearographie. Contrainte
plan dz.
thermique (doc. HOLO 3) ∆ϕ = 2 π D · (KO − KE)/λ

avec D = I d x + J d y + K d z,
■ Utilisation de la shearographie en mécanique des fluides KE vecteur unitaire caractérisant la direction
Cette application sort du contexte de cet article consacré essen- d’éclairage,
tiellement à la mécanique du solide. Un article des Techniques de KO vecteur unitaire caractérisant la direction
l’Ingénieur est consacré aux méthodes de visualisation en mécani- d’observation,

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dx, dy, dz composantes du déplacement suivant les


directions orthogonales I, J, K.
On a bien, calculs effectués : S
∆ϕ = 2 π (2 dz)/λ laser

Pour obtenir ∆ϕ, on opère comme déjà explicité précédemment.


Le miroir de référence M est monté sur un translateur piézoélectri-
que permettant l’obtention successive de trois phases Φ1, Φ2, Φ3, m1
nécessaires au calcul des phases à partir des intensités numérisées.
SP1
De I1, on tire ϕ − ϕR et de I2 on tire ϕ − ϕR + ∆ϕ. Par soustraction, on M1
obtient ∆ϕ qui permet de calculer les déplacements hors plans et de
K3 SP2
les représenter en fausses couleurs ou en pseudo-relief, par exem- Objet
ple.
Pour l’étude des déplacements dynamiques avec un laser pulsé, KE KE
les trois phases Φ1, Φ2 et Φ3 doivent être réalisées au même instant 2 1

et non plus séquentiellement comme précédemment.


Un système existe qui consiste à créer une différence de phase
linéaire dans le plan de l’image en inclinant le miroir M d’une quan- E2 E1
tité ε telle que quatre (au moins) colonnes de pixels successives de K2 K1
la caméra CCD correspondent à une variation de phase 2 π. La réso-
lution est divisée par trois.
Pour compenser cette perte, on utilise des caméras plus résolvan-
tes.
K0
Le couplage d’un tel système avec un double laser YAG donnant
deux impulsions séparées par un intervalle de temps ∆t réglable à
volonté et reproductibles à la fréquence de 25 Hz (par exemple) per-
met, pour peu que l’on soit capable de numériser assez rapidement
et successivement I1 et I2, de disposer d’un instrument donnant
l’évolution de la déformée hors plan, quantifiée en temps quasi réel
ou en léger différé. T2 T1
TV - holographie
On peut également utiliser la méthode utilisant la transformée de
PZT
Fourier des intensités I1 et I2. SP
L
■ Temps réel
Le fonctionnement en temps réel ne pose aucun problème pour
CDD
l’étude en laboratoire de phénomènes à évolution très lente, comme
en contrôle non destructif, lorsque l’on applique une contrainte ther-
mique ou pneumatique croissante ou comme en analyse vibratoire
lorsque l’on étudie des modes de vibration d’objets excités sinusoï-
dalement, par exemple. m2 m3
On compare une intensité de référence IR avec une intensité à un M2 M3
instant donné It (soustraction IR − It ). Dans le cas d’analyse vibra-
toire, on utilise un modulateur de lumière permettant de réaliser Figure 13 – Mesure des déplacements dans le plan et hors du plan
une stroboscopie du phénomène comme en holographie. Dans tous par TV-holographie. Montage expérimental
les cas, on visualise les phénomènes sous forme de franges d’inter-
férence, mais on ne les quantifie pas.
■ Temps moyenné Le faisceau lumineux issu du laser S est séparé en deux parties
par la lame séparatrice SP1. Le faisceau réfléchi sert à former le fais-
Une des premières applications de la TV-holographie a été l’ana-
ceau de référence par l’intermédiaire des miroirs m1, m2, m3, PZT et
lyse vibratoire. Si la période de la vibration est nettement plus petite
de la lame séparatrice SP.
que 1/25 s, on a une intégration temporelle de l’intensité et, aux fré-
quences de résonance, on observe sur l’écran TV des figures Le faisceau transmis par SP1 est séparé en deux parties par la
d’interférence similaires à celles rencontrées en holographie par lame séparatrice SP2 pour former les deux faisceaux d’éclairage E1
intégration temporelle : les lignes nodales, en particulier, sont bien et E2 de l’objet à l’aide des miroirs M2, M3 et des télescopes T1 et T2.
visibles. La rondelle est donc éclairée en lumière parallèle de façon symé-
trique par rapport à la normale à son plan en son centre. Un objectif
photographique L forme une image de l’objet sur l’élément sensible
de la caméra CCD.
4.2 Application : mesure
des déplacements tridimensionnels Les vecteurs unitaires caractérisant les directions d’éclairage et la
direction d’observation sont respectivement K E1, K E2 et KO.
Considérons le déplacement tridimensionnel D. Si on réalise une
La TV-holographie peut servir à la mesure des déplacements dans première expérience avec uniquement le faisceau d’éclairage E1, on
le plan ou hors du plan. Nous allons illustrer cette possibilité dans le obtient les déplacements hors plans dans la direction
cas de l’étude d’une rondelle métallique soumise à une compres- K 1 = K O Ð K E1 (figure 14 a). En utilisant uniquement le faisceau
sion. Il faut jouer sur la direction d’éclairage pour accéder aux deux d’éclairage E2, on a les déplacements hors plans dans la direction
composantes du déplacement. La figure 13 montre le schéma du K 2 = K O Ð K E2 (figure 14 b). En utilisant simultanément les deux
montage expérimental. faisceaux d’éclairage E1 et E2 (mais sans le faisceau de référence),

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a déplacements hors plans selon K1 b déplacements hors plans selon K2 c déplacements dans le plan d déplacements dans le plan selon K3
selon K3 = K1 – K2 par soustraction des phases a et b

Figure 14 – TV-holographie d’une rondelle sous compression (doc. HOLO 3)

on obtient les déplacements dans le plan suivant la direction tage de fonctionner en temps quasi réel. Son encombrement est
K3 = K1 − K2 (figure 14 c). moindre et elle ne nécessite pas de matériaux consommables.
En utilisant simultanément les deux faisceaux d’éclairage E1 et E2,
on obtient les déplacements dans le plan suivant la direction
K3 = KO − K1 − K2 (figure 14 d).
À titre de vérification, on a soustrait la carte des phases ∆ϕ1 cor- 5. Conclusion
respondant à l’éclairage E1 de la carte des phases ∆ϕ2 correspon-
dant à l’éclairage E2.
D’une façon générale, les techniques de speckle ont remplacé ces
On a : dernières années les techniques holographiques pour diverses
applications industrielles, notamment du fait de la compacité des
∆ϕ1 − ∆ϕ2 = D · K1 − D · K2 = D · K3
matériels, et donc de leur maniabilité, et grâce à l’utilisation de
On retrouve bien les déplacements dans le plan selon la direction caméras CCD comme milieux d’enregistrement permettant d’opérer
K3 (figure 14 d). en temps quasi réel et de réaliser des économies (pas de matériels
consommables). Cela est notamment vrai dans le domaine des
En effectuant la somme des cartes des phases ∆ϕ1 + ∆ϕ2, on contrôles non destructifs avec la shearographie qui, de plus, est
obtient les déplacements hors plans dans la direction K1 + K2, c’est- relativement peu sensible à l’environnement.
à-dire dans la direction d’observation.
Comme pour la mesure des déplacements 3 D, c’est la TV-hologra-
La TV-holographie est un instrument qui permet donc relative- phie qui est principalement utilisée pour l’analyse vibratoire, notam-
ment facilement de mesurer les déplacements tridimensionnels. ment pour l’analyse modale en laboratoire. Enfin, la technique de
Pour accéder aux déplacements dynamiques, on utilise un laser speckle à 2 éclairages permet l’accès souple à la mesure des dépla-
pulsé. Les cartes des phases ∆ϕ1 et ∆ϕ2 doivent alors être obtenues cements dans le plan et à l’analyse des déformations et contraintes.
simultanément. Il existe des systèmes commercialisés permettant Cependant, l’interférométrie de speckle n’a pas la haute résolu-
cela. tion spatiale de l’holographie et la capacité de celle-ci à restituer le
Nota : les directions d’éclairage peuvent être quelconques (la symétrie n’est pas obli- relief des objets. Pour le futur, on peut penser que l’avènement de
gée) mais non coplanaires, afin de former une base.
l’holographie numérique entraînera une compétition avec certaines
La TV-holographie est moins performante que l’interférométrie techniques de speckle comme la TV-holographie, pour des applica-
holographique (champ plus petit, résolution 0,1 µm) mais a l’avan- tions spécifiques.

Références bibliographiques
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