Iso TS 25107 - 2019

Date livraison : dimanche 24 novembre 2019 09:33:29
09:33:28
Client : EPE CSC Expertise Spa
SPÉCIFICATION ISO/TS
TECHNIQUE 25107
Première édition
2019-09
Essais non destructifs — Programmes
de formation en END
Non-destructive testing — NDT training syllabuses
Numéro de référence
ISO/TS 25107:2019(F)
© ISO 2019
09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

DOCUMENT PROTÉGÉ PAR COPYRIGHT

© ISO 2019
Tous droits réservés. Sauf prescription différente ou nécessité dans le contexte de sa mise en œuvre, aucune partie de cette
publication ne peut être reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique,
y compris la photocopie, ou la diffusion sur l’internet ou sur un intranet, sans autorisation écrite préalable. Une autorisation peut
être demandée à l’ISO à l’adresse ci-après ou au comité membre de l’ISO dans le pays du demandeur.
ISO copyright office
Case postale 401 • Ch. de Blandonnet 8
CH-1214 Vernier, Genève
Tél.: +41 22 749 01 11
Fax: +41 22 749 09 47
E-mail: [email protected]
Web: www.iso.org
Publié en Suisse
ii © ISO 2019 – Tous droits réservés

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Sommaire Page
Avant-propos............................................................................................................................................................................................................................... iv
Introduction...................................................................................................................................................................................................................................v
1 Domaine d’application.................................................................................................................................................................................... 1
2 Références normatives.................................................................................................................................................................................... 1
3 Termes et définitions........................................................................................................................................................................................ 1
4 Généralités................................................................................................................................................................................................................... 1
4.1 Formation en essais non destructifs..................................................................................................................................... 1
4.2 Niveaux de qualification.................................................................................................................................................................. 2
4.3 Considérations générales relatives à l’environnement et à la sécurité................................................... 3
5 Contrôle par radiographie (RT) — Niveaux 1, 2 et 3........................................................................................................ 3
6 Contrôle par ultrasons (UT) — Niveaux 1, 2 et 3...............................................................................................................20
7 Contrôle par courants de Foucault (ET) — Niveaux 1, 2 et 3................................................................................27
8 Contrôle par ressuage (PT) — Niveaux 1, 2 et 3................................................................................................................34
9 Contrôle par magnétoscopie (MT) — Niveaux 1, 2 et 3..............................................................................................41
10 Contrôle d’étanchéité (LT) — Niveaux 1, 2 et 3...................................................................................................................49
11 Contrôle par émission acoustique (AT) — Niveaux 1, 2 et 3.................................................................................65
12 Contrôle visuel (VT) — Niveaux 1, 2 et 3...................................................................................................................................76
13 Contrôle par thermographie (TT) — Niveaux 1, 2 et 3...............................................................................................87
14 Contrôle des contraintes résiduelles (ST) — Niveaux 1, 2 et 3...........................................................................96
15 Techniques en développement........................................................................................................................................................ 103
Annexe A (informative) Autres durées de formation pour les techniques radiographiques
avancées.................................................................................................................................................................................................................. 118
Annexe B (informative) Références utiles................................................................................................................................................ 120
© ISO 2019 – Tous droits réservés iii

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Avant-propos
L’ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale d’organismes
nationaux de normalisation (comités membres de l’ISO). L’élaboration des Normes internationales est
en général confiée aux comités techniques de l’ISO. Chaque comité membre intéressé par une étude
a le droit de faire partie du comité technique créé à cet effet. Les organisations internationales,
gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec l’ISO participent également aux travaux.
L’ISO collabore étroitement avec la Commission électrotechnique internationale (IEC) en ce qui
concerne la normalisation électrotechnique.
Les procédures utilisées pour élaborer le présent document et celles destinées à sa mise à jour sont
décrites dans les Directives ISO/IEC, Partie 1. Il convient, en particulier de prendre note des différents
critères d’approbation requis pour les différents types de documents ISO. Le présent document a été
rédigé conformément aux règles de rédaction données dans les Directives ISO/IEC, Partie 2 (voir www
.iso.org/directives).
L’attention est attirée sur le fait que certains des éléments du présent document peuvent faire l’objet de
droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. L’ISO ne saurait être tenue pour responsable
de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et averti de leur existence. Les détails concernant
les références aux droits de propriété intellectuelle ou autres droits analogues identifiés lors de
l’élaboration du document sont indiqués dans l’Introduction et/ou dans la liste des déclarations de
brevets reçues par l’ISO (voir www.iso.org/brevets).
Les appellations commerciales éventuellement mentionnées dans le présent document sont données
pour information, par souci de commodité, à l’intention des utilisateurs et ne sauraient constituer un
engagement.
Pour une explication de la nature volontaire des normes, la signification des termes et expressions
spécifiques de l’ISO liés à l’évaluation de la conformité, ou pour toute information au sujet de l’adhésion
de l’ISO aux principes de l’Organisation mondiale du commerce (OMC) concernant les obstacles
techniques au commerce (OTC), voir le lien suivant : www.iso.org/iso/fr/avant-propos.
Le présent document a été élaboré par le comité technique ISO/TC 135, Essais non destructifs,
sous‑comité SC 7, Niveau de compétence du personnel.
Cette première édition annule et remplace l’ISO/TR 25107:2006.
Il convient que l’utilisateur adresse tout retour d’information ou toute question concernant le présent
document à l’organisme national de normalisation de son pays. Une liste exhaustive desdits organismes
se trouve à l’adresse www.iso.org/fr/members.html.
iv © ISO 2019 – Tous droits réservés

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Introduction
L’ensemble des connaissances techniques exigées du personnel en essais non destructifs (END) est
essentiel à l’élaboration des publications concernant les méthodes d’essais non destructifs. Aucune
publication relative aux méthodes d’essais non destructifs ne peut être élaborée de manière appropriée
sans des informations suffisantes sur les connaissances techniques de base du personnel qui utilise les
méthodes.
Rôle des essais non destructifs (END)
Les essais non destructifs contribuent de façon significative à la sécurité, à l’économie et au bien-être
écologique de notre société.
Les END constituent le seul choix pour soumettre à essai un objet qui ne peut pas être détruit, modifié
ou altéré par le processus d’essai. Ceci est généralement exigé pour les objets devant être utilisés
après les essais, par exemple les éléments de sécurité, les conduites, les centrales électriques ainsi que
les constructions soumises à une inspection en service, mais aussi pour les pièces archéologiques et
culturelles uniques.
Les END sont basés sur des effets physiques en surface ou dans la structure interne de l’objet soumis
à essai. Il est souvent nécessaire d’interpréter le résultat de l’essai pour obtenir un résultat utile ;
différentes méthodes d’essai non destructif sont parfois combinées ou vérifiées par d’autres méthodes
d’essai.
Personnel END et éthique professionnelle
Le personnel END a une grande responsabilité, non seulement vis-à-vis de ses employeurs ou
contractants, mais également au regard des règles de bonne exécution. Le personnel END est
indépendant et libre de toute influence économique en ce qui concerne ses résultats d’essai, sinon
les résultats sont compromis. Le personnel END a conscience de l’importance de sa signature et des
conséquences de résultats d’essai incorrects sur la sécurité, la santé et l’environnement.
Enfin, le personnel END est responsable de toutes les interprétations de résultats d’essai portant sa
signature et ne signe jamais de rapports d’essai sortant du cadre de sa certification.
L’Annexe B fournit les références de normes pouvant présenter un intérêt pour l’application des
dispositions spécifiées dans le présent document.
© ISO 2019 – Tous droits réservés v

09:33:28
09:33:28
SPÉCIFICATION TECHNIQUE ISO/TS 25107:2019(F)
Essais non destructifs — Programmes de formation en END
1 Domaine d’application
Le présent document fournit des exigences et des recommandations relatives aux programmes de
formation en essais non destructifs (END), dans le but d’harmoniser et de maintenir la norme générale
de formation du personnel END pour les besoins de l’industrie.
Il fixe également les exigences minimales relatives à la formation structurée et efficace du personnel
END afin d’assurer l’admissibilité aux examens de qualification conduisant à une certification par
tierce partie conformément à des normes reconnues. Outre les essais non destructifs en général, les
lignes directrices du présent document relatives aux programmes couvrent également le contrôle
par émission acoustique, le contrôle par courants de Foucault, le contrôle d’étanchéité, le contrôle par
magnétoscopie, le contrôle par ressuage, le contrôle par radiographie, le contrôle par ultrasons, le
contrôle visuel, le contrôle par thermographie et le contrôle des contraintes résiduelles.
L’ISO/TS 25108 fournit des exigences et des recommandations pour les organismes de formation en
essais non destructifs.
2 Références normatives
Les documents suivants sont cités dans le texte de sorte qu’ils constituent, pour tout ou partie de leur
contenu, des exigences du présent document. Pour les références datées, seule l’édition citée s’applique.
Pour les références non datées, la dernière édition du document de référence s’applique (y compris les
éventuels amendements).
ISO 9712, Essais non destructifs — Qualification et certification du personnel END
3 Termes et définitions
Pour les besoins du présent document, les termes et définitions suivants s’appliquent.
L’ISO et l’IEC tiennent à jour des bases de données terminologiques destinées à être utilisées en
normalisation, consultables aux adresses suivantes :
— ISO Online browsing platform : disponible à l’adresse https://www.iso.org/obp ;
— IEC Electropedia : disponible à l’adresse http://www.electropedia.org/.
3.1
réglage
ensemble d’opérations réalisées sur un système de mesure pour qu’il fournisse des indications
prescrites correspondant à des valeurs données des grandeurs à mesurer
Note 1 à l'article: Divers types de réglages d’un système de mesure sont le réglage de zéro, le réglage de décalage,
le réglage d’étendue (appelé aussi réglage de gain).
4 Généralités
4.1 Formation en essais non destructifs

Les programmes de formation ne peuvent pas en eux-mêmes garantir la compétence des stagiaires
pour acquérir les connaissances techniques adéquates, car il est assez fréquent que certains étudiants
obtiennent d’excellents résultats alors que d’autres échouent dans la même classe. L’ISO 9712 fournit
© ISO 2019 – Tous droits réservés 1

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

les exigences minimales de formation pour les candidats possédant des aptitudes appropriées et des
connaissances préalables. Si ce n’est pas le cas, il convient d’envisager une formation complémentaire
incluant :
a) niveaux 1, 2 et 3 — mathématiques ;
b) niveaux 1, 2 et 3 — matériaux et procédés ;
c) niveau 3 — cours commun de connaissances générales applicable à toutes les méthodes d’END.
Comme spécifié dans l’ISO 9712, l’accès direct à l’examen de niveau 2 requiert la durée totale de
formation pour les niveaux 1 et 2, et l’accès direct au niveau 3 requiert la durée totale de formation
indiquée pour les niveaux 1, 2 et 3.
L’ISO 9712 offre également l’opportunité de réduire la durée de formation pour les candidats postulant
à la certification pour plusieurs méthodes ou diplômés dans un domaine en rapport avec les END.
Lorsqu’ils mettent en œuvre les programmes, il convient donc que les organismes de formation fassent
preuve de discernement quant à leur environnement de formation en tenant compte des secteurs
produits/industriels et à l’élaboration ou à l’utilisation de cours communs se rapportant à toutes les
méthodes d’END lors de l’élaboration de leur programme de formation.
4.2 Niveaux de qualification

Un système à trois niveaux, conformément à l’ISO 9712, est utilisé pour définir des niveaux de
qualification permettant d’indiquer le niveau requis de compréhension, de connaissance et d’application
de la documentation.
Niveau 1
— Acquérir une connaissance générale des sujets.
— Identifier l’équipement et les accessoires.
— Identifier les documents de référence courants.
— Reconnaître quand un document est applicable ou pourquoi il est pertinent.
— Démontrer sa compréhension en réalisation des tâches de contrôle prescrites.
Niveau 2
— Atteindre une solide compréhension des concepts et des principes.
— Acquérir de solides connaissances conceptuelles et des connaissances techniques complètes.
— Acquérir une solide connaissance pratique des modes opératoires.
— Se familiariser avec les documents de référence courants.
— Apprendre à mettre en pratique les connaissances.
— Appliquer les concepts et les techniques à des situations d’inspection.
— Analyser les informations pour tirer des conclusions préliminaires.
Niveau 3
— Atteindre une compréhension approfondie des concepts et des principes.
— Acquérir des connaissances techniques complètes et approfondies des modes opératoires.
— Être capable de mettre en pratique les connaissances.
— Maîtriser l’utilisation des documents de référence.
2 © ISO 2019 – Tous droits réservés

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

— Analyser les informations pour en tirer des conclusions.

— Appliquer les concepts et les techniques à de nouvelles situations d’inspection.
NOTE Lorsque des sujets/matières/contenu sont énumérés à de multiples niveaux dans les Tableaux 1 à 21,
cela indique que des connaissances plus approfondies sont requises au(x) niveau(x) supérieur(s).
4.3 Considérations générales relatives à l’environnement et à la sécurité
4.3.1 Les essais non destructifs sont souvent appliqués dans des conditions où la sécurité de l’opérateur
peut être compromise compte tenu des conditions locales, ou l’application d’une méthode ou technique
d’END particulière peut elle-même compromettre la sécurité de l’opérateur et des personnes se trouvant
à proximité.
Un élément essentiel de toute formation du personnel END doit donc être la sécurité. Il convient que la
formation dans ce domaine ait une durée appropriée et vienne en complément de la formation technique
associée à une méthode d’essai non destructif particulière.
4.3.2 Avant toute formation au contrôle par radiographie, une formation complémentaire sur la
radioprotection doit être exigée.
4.3.3 Les considérations générales de sécurité comprennent, sans nécessairement s’y limiter, les
éléments suivants :
— les conditions ambiantes (chaleur, froid, humidité) ;

— la toxicité (matériaux employés pour les END, produits soumis à essai, atmosphère) ;
— la radioprotection (matériaux employés pour les END, produits) ;
— la sécurité électrique (appareillage d’essai non destructif, tensions mortelles, CEM) ;
— le risque de blessure du personnel (travaillant en hauteur ou dans d’autres environnements
dangereux) ;
— l’équipement de protection individuelle (vêtements, dosimètres pour la surveillance des
rayonnements) ;
— la sécurité des essais de pression.
5 Contrôle par radiographie (RT) — Niveaux 1, 2 et 3

La formation au contrôle par radiographie doit être conforme aux Tableaux 1 et 2.
Tableau 1 — Contenu général

Niveau 1 Niveau 2 Niveau 3
(% de la durée (% de la durée (% de la durée
totale) totale) totale)
5.1 Présentation de la terminologie et de l’historique 3 1 1
du contrôle par radiographie (RT)
5.2 Principes physiques de la méthode et connais- 15 10 15
sances associées
5.3 Connaissances relatives au produit et capacités de 15 15 20
la méthode et de ses techniques dérivées
5.4 Équipement 25 20 25
5.5 Informations préalables au contrôle 5 8 5

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 1 (suite)
(% de la durée (% de la durée (% de la durée
5.6 Contrôle 30 25 2,5
5.7 Évaluation et compte rendu 5 10 7,5
5.8 Évaluation 0 5 10
5.9 Aspects liés à la qualité 2 5 8
5.10 Évolutions 0 1 6
NOTE L’Annexe A fournit des recommandations relatives au processus de formation sur les techniques
radiographiques avancées.

Tableau 2 — Contrôle par radiographie (RT) — Niveaux 1, 2 et 3
© ISO 2019 – Tous droits réservés
RT-F (film) RT — D (numérique) RT-S (radioscopie)

Contenu Ni- Ni- Ni- Ni- Ni- Ni- Ni-
Niveau 1 Niveau 2
veau 1 veau 2 veau 3 veau 3 veau 1 veau 2 veau 3
5.1 Historique X X X X X X X X X
Présentation de But de l’END En quoi consiste le contrôle ? X X X X X X X X X
la terminologie
et de l’historique Quel est le but de l’END ? X X X X X X X X X
du contrôle par À quelle étape de la vie d’un
radiographie (RT) X X X X X X X X X
« produit » l’END est-il réalisé ?
Comment ajoute-t-il de la
X X X X X X X X X
valeur ?
Qui peut réaliser l’END ? X X X X X X X X X
09:33:28
Principales méthodes d’END X X X X X X X X X
But du contrôle par Définition X X X X X X X X X
radiographie (RT) Applicabilité et limites X X X X X X X X X
Terminologie Rayonnements électromagné-
X X X X X X X X X
tiques

Énergie X X X X X X X X X
Dose X X X X X X X X X
Débit de dose X X X X X X X X X
Longueur d’onde X X X X X X X
Intensité X X X X X X X X X
Constante de débit de dose X X X X X X X
Activité X X X X X X X
Normes perti- Voir l’Annexe B
X X X X X X
ISO/TS 25107:2019(F)
nentes
5

Tableau 2 (suite)
6

ISO/TS 25107:2019(F)

Niveau 1 Niveau 2
5.2 Généralités Structure de l’atome X X X X X X X X X
Principes Spectre électromagnétique X X X X X X X X X
physiques de
la méthode et Sources de rayonnements et

connaissances leurs propriétés :
associées — Rayons X X X X X X X X X X
Les concepts — Rayons gamma X X X X X X X X X
nécessaires à la — Neutrons X X X
compréhension
des principes phy- Spectre des rayons X et des
X X X X X X X X X
siques du contrôle rayons gamma
par radiogra- Paramètres radiographiques
phie (physique,
essentiels :
09:33:28
mathématiques)
— Tension
peuvent faire
l’objet d’un cours X X X X X X X X X
préliminaire.

— Courant X X X X X X X X X
— Activité X X X X X X X X X
Filtres de rayonnement X X X X X X
Foyer émissif X X X X X X X X X
Dose X X X X X X X X X
Débit de dose X X X X X X X X X
Constante de débit de dose X X X X X X X
Atténuation des Mécanisme général d’interac-

rayonnements tion :
— Effet photoélectrique X X X X X X X X X
— Effet Compton X X X X X X X X X
— Production de paires X X X X X X X
CDA, CAD et loi d’atténuation X X X X X X X X X
Durcissement du rayonnement X X X X X X X X X
Tableau 2 (suite)

Niveau 1 Niveau 2
Rayonnement diffusé et facteur
X X X X X X X X X
d’accumulation
Filtrage et collimation X X X X X X X X X
Fluorescence de rayons X X X X X X X X
Atténuation des neutrons et
X X X
électrons
Contraste radiolo- Contraste, bruit, granularité X X X X X X X X X
gique, bruit Contraste spécifique X X X X X X
09:33:28
Influence de la diffusion X X X X X X X X X
Rapport signal/bruit (RSB) X X X X X X
Rapport contraste/bruit X X X X
Flou X X X X X X X X X
Résolution spatiale de base X X X X X X

Taille de pixel X X X X X X
RSB normalisé (RSBN ) X X X X X
Optimisation de la Principes de compensation :
qualité d’image — Contraste en fonction du
X X X X
RSB
— Résolution spatiale de
X X X X
base en fonction du RSB
— Flou local en fonction du
X X X X
RSB
ISO/TS 25107:2019(F)
Protection contre les rayonne-
X X X X X X X X X
ments diffusés
Tension maximale/optimale
X X X X X X
des rayons X
Conditions de Flou géométrique
X X X X X X X X X
projection géomé- et inhérent
trique Grossissement géométrique X X X X X X X
Effet du grossissement X X X X X X X X
7

Tableau 2 (suite)
8

ISO/TS 25107:2019(F)

Niveau 1 Niveau 2
Grossissement optimal X X X X X
Différence entre radiographie
X X X X X X
et radioscopie
Loi du carré de la distance X X X X X X X X X
Indicateurs de À fils X X X X X X X X X
qualité d’image À trous et à gradins X X X X X X X X X
À trous et à plaque X X X X X X X X X
Duplex à fils X X X X X X X X X
Mesurage de la résolution spa-
X X X X X X
tiale de base
Paires de lignes convergentes X X X X X
09:33:28
Jauge de paires de lignes (FTM) X X X
5.3 Défauts généraux Aperçu des procédés :

Connaissances — Moulage X X X X X X
relatives au pro-
duit et capacités — Forgeage X X X X X
de la méthode et — Soudage
de ses techniques X X X X X X
dérivées
— Tubes et canalisations X X X X X
— Produits corroyés X X X X X
— Matériau composite X X X X X X
Types de discontinuités X X X X X X X X X
Mécanique de la rupture X X X
Charge d’utilisation X X X
Propriétés des matériaux X X X X X X
Origine des défauts X X X X X X
Évaluation X X X X X X
Influence sur Type de défaut X X X X X X X X X
la détectabilité Dimensions X X X X X X X X X
Tableau 2 (suite)

Niveau 1 Niveau 2
Orientation X X X X X X X X X
Nombre d’expositions X X X X X X
Direction du faisceau X X X X X X X X X
Distorsion géométrique X X
Augmentation de l’épaisseur
X X X X X X
de paroi
Plages d’épaisseur pour les
X X X X X X
rayons X et les rayons gamma
09:33:28
Nombre d’expositions en fonc-
tion de l’angle de distorsion X X X X X X
(tubes et canalisations)
5.4 Sources de rayon- Sources standard :
Équipement nement — sources — Types de sources X X X X X X X X X
de rayons X
— Fixes ou mobiles X X X X X X

— Construction et fonction-
X X X X X X X X X
nement des tubes radiogènes
— Unipolaires ou bipolaires X X X X X X
Sources spéciales X X X X X X
Génération de haute tension X X X X X X
Refroidissement X X X X X X X X X
Manipulation X X X X X X X X X
Paramètres :
ISO/TS 25107:2019(F)
— kV X X X X X X X X X
— mA X X X X X X X X X
— Dimension du foyer émissif X X X X X X X X X
Mesurage des paramètres X X X X X X
9

Tableau 2 (suite)
10

ISO/TS 25107:2019(F)

Niveau 1 Niveau 2
Sources de rayon- Enveloppe :
nement — sources — Blindage X X X X X X
de rayons gamma
— Classes d’enveloppes X X
Transport X X X X X X
Porte-source et capsule :
— Manipulation et projection X X X X X X
— Conception spéciale X X X X
— Collimation X X X X X X
Paramètres :
— Type d’isotope X X X X X X
09:33:28
— Spectre X X X X X X
— Énergie X X X X X X
— Activité X X X X X X

— Dimension de la source X X X X X X
— Période X X X X X X
Film Construction : X X X X
— Origine des informations
X X X X
de l’image latente
— Support, émulsion, bro-
mure d’argent, taille de grain, X X X X
forme des grains
— Procédé photographique X X X X
Traitement :
— Propriétés des systèmes
X X X X
films
— Courbe caractéristique X X X X
— Gradient du film, contraste
X X X X
du film, sensibilité
Tableau 2 (suite)

Niveau 1 Niveau 2
— Influence du traitement du
X X X
film
— Sensibilité X X X
— Granularité X X X
— Sensibilité de détection
X X
des détails
Classification des systèmes
X X X
films
Assurance qualité avec des
09:33:28
X X
bandes de film d’essai
Films-écrans :
— Type d’écrans X X X
— Flou inhérent X X X
— Effet renforçateur X X X

— Effet de filtrage X X X
— Écrans pour cobalt 60 et
X X X
Linac
Travailler avec des graphiques
X X X
d’exposition
Développement du Conception de la chambre noire X X X
film et conditions Développement manuel ou
de chambre noire mécanique X X X
ISO/TS 25107:2019(F)
Bains :
— Différents bains X X X
— Assurance qualité dans la
X X X
chambre noire
Procédé de développement :
— Principes X X X
— Équipement de traite-
X X X
ment, réglage
11

Tableau 2 (suite)
12

ISO/TS 25107:2019(F)

Niveau 1 Niveau 2
— Vérification X X X
— Stockage des films non
X X X
exposés
— Essai de luminosité de la
X X X
chambre noire
— Essai de voile X X X
— Durée de clarification X X X
— Fiche de contrôle X X X
Utilisation de bandes de film
X X
d’essai
Radiographie Écrans photostimulables :
09:33:28
numérique (CR), — Introduction X X X
écrans photosti-
mulables — Conception X X X

Écran photostimulable et
X X X
numériseur CR
Système de radiographie numé-
X X
rique et classification
Assurance qualité (fantôme) X X
Conditions d’exposition X X X
Travailler avec des graphiques
X X X
d’exposition
Manipulation X X X
Choix du système X X
DDA Panneaux de détecteurs numé-

riques (DDA) :
— Introduction X X X X X X
— Conception X X X X X X
Conversion indirecte X X X X
Conversion directe X X X X
CCD, Si amorphe, CMOS X X X X
Tableau 2 (suite)

Niveau 1 Niveau 2
Réglage des détecteurs X X X X
Assurance qualité X X X X
Conditions d’exposition X X X X
Manipulation X X X X X X
LDA Barrette de détecteurs (LDA) :
— Introduction X X X X X X
— Conception X X X X
09:33:28
Domaines d’application X X X X
Comparaison avec les DDA X X X X
Assurance qualité (fantôme) X X X X
Conditions d’exposition et
X X X X
diagrammes

Manipulation X X X X
Intensificateur Introduction X X X X
d’image, fluoros- Conception
cope X X X
Domaines d’application X X X
Assurance qualité (fantôme) X X
Conditions d’exposition et
X X
diagrammes
ISO/TS 25107:2019(F)
Manipulation X X X
Choix du système X
Comparaison avec les DDA X X
Numérisation d’un Conception du numériseur :
film — Avec caméra X X
— Numériseurs linéaires X X
— Numériseurs laser X X X
13

Tableau 2 (suite)
14

ISO/TS 25107:2019(F)

Niveau 1 Niveau 2
Assurance qualité (fantôme) X X X
Manipulation, archivage X X X
Classification X X X X
Accessoires Équipement :
— Lettres et bande en plomb X X X X X X X X X
— Aimants de retenue X X X X X X
— Blindage en plomb, colli-
X X X X X X X X X
mation, masquage
— Bandes de caoutchouc X X X X X X
09:33:28
— Équipement de radiopro-
X X X X X X X X X
tection
Acquisition des Interface analogique/numé-
X X X X X X

données, réglage rique

des détecteurs Structure informatique :
— Processeur, mémoire, bus,
X X X X X X
disque
— Charger et sauvegarder
X X X X X X
des images numériques
— Formats d’image X X X X X X
Intégration d’image :
— Intégration sur puce/

X X X X X X
durée d’image
— Intégration en mémoire/
X X X X X X
numéro d’image
— Réglages optimaux du gain
X X X X
et de la latitude
— Accumulation ou intégra-
X X X X
tion
Tableau 2 (suite)
Niveau 1 Niveau 2
5.5 Informations sur Identification ou désignation

Informations l’objet contrôlé du matériau :
préalables au
— Objet à contrôler X X X X X X X X X
contrôle

— Type de fabrication X X X X X X X X X
— Catalogue de défauts X X X X X X
— Étendue du contrôle X X X X X X X X X
Conditions de Accessibilité X X X X X X
contrôle et applica- Infrastructure X X X X X X
09:33:28
tion d’une norme

Conditions particulières de
X X X X X X
contrôle
Norme d’application X X X X X X

Étape de la fabrication ou de
la durée de vie à laquelle le X X X X X X
contrôle doit être effectué
Normes assignées à l’objet
X X X X X X
contrôlé
Exigences relatives au person-
X X X X X X
nel réalisant le contrôle
Critères d’acceptation X X X X X X
Technique et État de surface X X X X X X
séquence de réali- Préparation de la surface X X X X X X
sation du contrôle
Documentation après contrôle X X X X X X
Instructions Préparation d’un mode opéra-
X X X
toire écrit
Préparation d’instructions
X X X X X X
écrites
Réalisation du contrôle
conformément aux instruc- X X X
tions écrites
ISO/TS 25107:2019(F)
15

Tableau 2 (suite)
16
Niveau 1 Niveau 2
Présentation des normes, codes
X X X
et modes opératoires
5.6 Normes de pra- Choix de la technique :
ISO/TS 25107:2019(F)
Contrôle tique et d’évalua- — Différentes géométries

tion courantes X X X X X X
d’exposition
— Interprétation des images X X X X X X

— Évaluation des défauts X X X X X X
— Utilisation de catalogues X X X X X X
— Mesurage des dimensions
X X X X X X
des défauts
5.7 Base d’évaluation Conditions d’observation :
09:33:28
Évaluation et

— Conditions ambiantes X X X X X X X X X
compte rendu
— Durée d’observation X X X X X X X X X
— Temps d’attente après
X X X
éblouissement
— Luminance X X X X X X
— Mesurage de la densité X X X
— Effet Mach X X
Négatoscope :
— Introduction X X X
— Luminance minimale X X
— Degré d’homogénéité X X
Facteurs physiques Vue X X X X X X
Adaptation avant observation X X
Évaluation des Vérification de la qualité
X X X X X X X X X
radiogrammes d’image
Relevé des imperfections X X X X X X
Rapport d’essai Conforme à la

X X X X X X
norme de contrôle
Tableau 2 (suite)
Niveau 1 Niveau 2
Conforme à la qualité de
X X X X X X
contrôle
Classe de contrôle atteinte X X X X X X X X X

Zone de diagnostic atteinte sur
X X X X X X X X
l’objet contrôlé
Traitement des Structure de l’image, quantifi-
X X X X X X
images numériques cation (bits et octets)
Opération de base :
— Pixel X X X X X X
09:33:28
— Valeur de gris X X X X X X
Opérations ponctuelles :

— Contraste X X X X X X
— Luminosité X X X X X X
— Correction gamma X X X X X X
— Histogramme X X X X
— Table de recherche (LUT) X X X X
Opérations matricielles,
X X X X
filtres :
— Lissage, amélioration du
X X X X
RSB
— Filtre passe-haut, gradient X X X X
— Amélioration des contours,
X X X X
extraction de lignes
— Médiane X X X X
Outils de mesure :
— Réglage X X X X
— Profil linéaire X X X X
— Mesurage de la longueur
X X X X
ISO/TS 25107:2019(F)
17

des défauts
— Mesurage des aires X X X X

Tableau 2 (suite)
18
Niveau 1 Niveau 2
— Mesurage de la profondeur X X X X
Correction des données

brutes :
ISO/TS 25107:2019(F)
— Introduction X X X X
— Linéarisation, LUT X X
— Interpolation des pixels

X X
défectueux
Interprétation Principes X X X X
automatique de Binarisation X X X
l’image
Mesurage des dimensions X X X X
5.8 Classification des Type X X X X X X
09:33:28

Évaluation imperfections Dimensions X X X X X X
Localisation X X X X X X
Fréquence X X X X X X
Influence de la fabrication et du
X X X X X X
matériau
5.9 Qualification du ISO 9712 X X X X X X X X X
Aspects liés à la personnel Autres systèmes de qualifica-
qualité X X X
tion et de certification en END
Documentation Format et domaine d’applica-
X X X
tion des procédures de travail
Qualification des modes opéra-
X X X
toires d’END
Autorisations (instructions,
modes opératoires et person- X X X
nel END)
Élaboration d’instructions
X X X X X X
écrites
Travailler correctement selon
X X X

les instructions écrites
Tableau 2 (suite)
Niveau 1 Niveau 2
Traçabilité des documents X X X X X X
Fiabilité des mesurages X X X X X X
Connaissance des Choix de la technique appro-

X X X X X X

normes d’applica- priée
tions en END et des Utilisation de paramètres
normes de produits X X X X X X
d’essai appropriés
applicables
Choix de la méthode d’essai non
X X X
destructif
Formation spécifique à l’activité X X X X X X
09:33:28
Vérification de l’équipement X X X X X X
5.10 Techniques spé- Stéréoradiographie
X X X X X X
Évolutions ciales

Tomographie informatisée (TI) :
— Introduction X X X X X
— Géométrie d’examen X X X X
— 2D ou 3D X X
— Principes de reconstruc-
X X
tion
— Rétroprojections filtrées X X
— Applications X X X X
— Exigences, limites X X X
RT-F ou RT-D X X X X X X
ISO/TS 25107:2019(F)
19

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

6 Contrôle par ultrasons (UT) — Niveaux 1, 2 et 3

La formation au contrôle par ultrasons doit être conforme aux Tableaux 3 et 4.

Contenu (% de la durée (% de la durée (% de la durée
du contrôle par ultrasons (RT)
sances associées
6.3 Connaissances relatives au produit et capacités 30 24 3
de la méthode et de ses techniques dérivées
6.6 Contrôle 30 27 19
6.7 Évaluation et compte rendu 10 8 11
Tableau 4 — Contrôle par ultrasons (UT) — Niveaux 1, 2 et 3

Contenu Niveau 1 Niveau 2 Niveau 3
6.1 Tâche du personnel END X X
Présentation de la Aperçu des normes générales et des normes de
terminologie et de X
produits
l’historique du contrôle
par ultrasons (RT) Terminologie X X X
6.2 Revue des bases Algèbre X
Principes physiques mathématiques Trigonométrie X
et connaissances
associées Logarithmes X
Les concepts néces- Définitions physiques Mouvement sinusoïdal X X
saires à la compré- et paramètres types Amplitude X X
hension des principes Période X X
physiques du contrôle
par ultrasons (phy- Fréquence X X
sique, mathématiques) Vitesse X X
peuvent faire l’objet
Impédance acoustique X X
d’un cours préliminaire.
Pression acoustique X X X
Coefficients de réflexion et
de transmission (faisceau X
normal uniquement)
Matériaux isotropes X X
Matériaux anisotropes X X
Ondes Mouvement sinusoïdal X
Amplitude X
Fréquence X
Longueur d’onde X
Vitesse de propagation X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 4 (suite)
Longitudinales X X
Transversales X X
Ondes de Rayleigh (ondes
X X X
de surface)
Ondes rampantes X X
Ondes guidées X X
Transmission et Effets aux niveaux des
réflexion interfaces sous incidence X X
normale
— Transmission X X
— Réflexion X X
— Interférence X
— Dispersion X X X
Loi de Snell X X
Relation entre vitesse et
X
propriétés élastiques
Effets aux niveaux des inter-
X X
faces sous incidence oblique
— Transmission X X
— Réflexion X X
— Réfraction X X
Réflecteurs de coin X X
— Réflexion X X
— Conversion de mode X X
Électrostriction X
Magnétostriction X
Production électrodyna-
X
mique
Production par laser X
Effet piézoélectrique X X
Effet piézoélectrique inverse X X
Caractéristiques du Matériau X X
transducteur Dimensions X X
Fréquence X X
Constantes piézoélectriques X X
Faisceaux ultraso- Champ proche (zone de
X X
nores des transduc- Fresnel)
teurs en forme de Champ lointain (zone de
disque X X
Fraunhofer)
Divergence du faisceau X X
Influence de la fréquence et
du diamètre du transduc- X X
teur

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 4 (suite)
6.3 Défauts généraux Pièce moulée X X
Connaissances Pièce forgée X X
relatives au produit et
capacité associée de Soudage X X
la méthode et de ses Tubes et canalisations
techniques dérivées X X
Produits corroyés X X
Matériau composite X X
Mise en œuvre Selon les produits X X
des techniques de Selon les discontinuités
contrôle X X
attendues
Normes, spécifications et
X
codes
Propriétés globales Influence de l’état de surface X X
de l’éprouvette Géométrie (échos supplé-
mentaires dus à l’incidence
X X
radiante et à l’incidence
radiale d’un faisceau droit)
Structure (atténuation
X X
ultrasonore)
Choix du traducteur X
— Conception de l’éprou-
X
vette axée sur l’inspection
Technique de contrôle
X
basée sur la tâche
— Simulations X
6.4 Appareils de contrôle Appareils numériques X X
Équipement par ultrasons — Conception X X
— Fonctionnement X X
— Génération d’impul-
X X
sions
— Réception X X
— Amplification X X
— Représentation de
X X
type A
— Signal HF X X
— Redressement X X
— Mesurage de pic et de
X X
flanc
Analogique ou numérique X X
Jauge d’épaisseur à ultra-
X X
sons
Systèmes automatisés et
X X
semi-automatisés
Manuels X
Vitesse X
Incrémentation X
Répétabilité X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 4 (suite)
Fréquence d’échantillon-
X
nage
Traducteurs Faisceau droit X X
— Conception X X
— Application X X
Faisceau incliné X X
— Conception X X
— Effets au niveau de
X X
l’interface cale/éprouvette
— Angles critiques X X
— Angles types pour
X X
contrôler l’acier
— Faisceaux ultrasonores X X
— Point d’émergence X X
— Angle de faisceau X X
— Variation du point
d’émergence et de l’angle
X X
de faisceau due à l’abrasion
des sabots de traducteur
— Demi-bond et bond
X X
complet
— Application X X
Émetteur et récepteur
X X
séparés
— Conception X X
— Erreur de déviation X X
— Faisceau ultrasonore X X
— Réglage X X
— Application X X
Gamme dynamique X
Traducteurs en immer-
sion (focalisés, surface
X X
sphérique, cylindrique, de
Fermat)
Mesurage de la durée
X
d’impulsion
Mesurage pratique des
caractéristiques direction- X
nelles
Sabot (retard, courbure) X
Couplant X X
Câbles de raccorde- Longueur X
ment Impédance X
Blocs d’étalonnage et Bloc d’étalonnage no 1 X X X
de transfert Bloc d’étalonnage no 2 X X X
Blocs de référence X X X
Résolution X X X
— Champ proche X X X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 4 (suite)
— Champ lointain X X X
6.5 Informations sur Identification ou désigna-
X X X
Informations préa- l’objet contrôlé tion du matériau
lables au contrôle — Objet à contrôler X X X
— Type de fabrication X X X
— Catalogue de défauts X X
— Étendue du contrôle X X X
Conditions de Accessibilité X X
contrôle et applica- Infrastructure X
tion d’une norme
X X
contrôle
Norme d’application X X
la durée de vie à laquelle le X
X X
contrôlé
Exigences relatives au per-
X X
sonnel réalisant le contrôle
Critères d’acceptation X
Technique et sé- État de surface X X
quence de réalisation Préparation de la surface X X
du contrôle
Documentation après
X
contrôle
Instructions Préparation d’un mode
X
opératoire écrit
X
écrites
conformément aux instruc- X
tions écrites
6.6 Techniques Par réflexion et transmis-
X X
Contrôle sion
Contact X X
Technique du tandem X
Technique en immersion X
Technique TOFD X
Technique multiéléments X
Techniques de mesurage de
X X
l’épaisseur par ultrasons
— Réflecteurs de réfé-
rence (lois de distance et X
de taille)
Vérification de l’équipe-
X X
ment complet
— Techniques des dia-
X
mètres de réflectivité
— Réseaux de traduc-
X
teurs multiples

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 4 (suite)
EMAT X
Réglage de la base de temps X X
— Réglage en un point X X
— Réglage en deux points X X
Réglage de la sensibilité X X
X X
rence (BW, SDH, DSR)
— Technique du réflec-
teur simple (hauteur de X X
référence)
— Contrôle par ultrasons
X
à couplage air
— Ondes guidées X X
— Contrôle à des tempé-
X X
ratures plus élevées
Différentes techniques de
X
dimensionnement
— Principes X
— Limites X
— Exigences relatives aux
X X
blocs de référence
— Technique de la courbe
X X
amplitude-distance
— Correction de transfert X X
— Gain d’enregistrement
X X
(niveau de contrôle)
— Erreurs d’évaluation de
X X
la hauteur d’écho
Contrôle par ultrasons laser X
Vérification de l’efficacité
des modes opératoires et X
des instructions
6.7 Interprétation Normes pertinentes X
Évaluation et compte Spécifications pertinentes X
rendu
Codes pertinents X
Évaluation (méthodes
conventionnelles ou assis-
tées par ordinateur, par X
exemple échotomographie,
SAFT)
Processus de stockage
des données (par exemple X
ALOK)
Techniques de détec- Détection X X
tion, de localisation et Distinction entre un écho
de dimensionnement dû à un défaut et un écho lié X X
à la géométrie
Localisation (calcul, règles
X X
trigonométriques)
Interprétation X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 4 (suite)
Évaluation X
Représentation de type A X X X
Représentation de type B X X
Représentation de type C X X
Représentation de type D X
Représentation de type E X
Représentation de type F X
Représentation de type P X
Représentation de type S X
Enregistrement des résul-
X X
tats
Classification des résultats X X
Niveaux d’acceptation X X
Évaluation de la hauteur
d’écho par la méthode des X
diamètres de réflectivité
Dimensionnement et tech-
X
nique de demi‑amplitude
Dimensionnement en utili-
sant la technique du niveau X
d’amplitude à seuil
Évaluation de la hauteur
d’écho par la technique
du réflecteur simple et X X
la méthode de la courbe
amplitude-distance
Compte rendu X X
Vérifier le contenu et
la concordance entre
les rapports d’essai, les X
instructions et les modes
opératoires
6.8 Évaluation et confir- Application des critères
Évaluation mation des rapports d’acceptation conformé-
X
d’essai ment aux normes, codes et
modes opératoires
6.9 Qualification du ISO 9712 X X X
Aspects liés à la qualité personnel Autres systèmes de quali-
fication et de certification X X
en END
Documentation Traçabilité des documents X X
Vérification de l’équipement X X
Fiabilité des mesurages X X
Format des procédures de
X
travail
6.10 Dernières évolutions Multiéléments X X X
Évolutions pour les applications Diffraction du temps de vol X X X
industrielles et scien-
tifiques du contrôle Longue distance X X X
par ultrasons Modélisation informatique X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

7 Contrôle par courants de Foucault (ET) — Niveaux 1, 2 et 3

La formation au contrôle par courants de Foucault doit être conforme aux Tableaux 5 et 6.

7.1 Présentation de la terminologie et de l’histo- 1 1 2
rique du contrôle par courants de Foucault (ET)
sances associées
7.3 Connaissances relatives au produit et capacités 10 10 15
7.6 Contrôle 37 19 4
7.8 Évaluation 0.0 4 4
7.10 Évolutions 0,0 2 5
Tableau 6 — Contrôle par courants de Foucault (ET) — Niveaux 1, 2 et 3

7.1 Historique X X X
Présentation de la But de l’END En quoi consiste le
terminologie et de l’his- X X X
contrôle ?
torique du contrôle par
courants de Foucault Quel est le but de l’END ? X X X
(ET) À quelle étape de la vie
d’un « produit » l’END est‑il X X X
réalisé ?
X X X
valeur ?
Qui peut réaliser l’END ? X X X
Principales méthodes d’END X X X
But du contrôle par Définition X
courants de Fou- Applicabilité et limites
cault (ET) X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 6 (suite)
7.2 Électricité Courant continu X X X
Principes physiques et — Courant X X X
connaissances associées
— Tension X X X
Les concepts néces-
saires à la compréhen- — Résistance X X X
sion des principes phy- — Conductance X X X
siques du contrôle par — Loi d’Ohm X X X
courants de Foucault
(physique, mathéma- — Résistivité X X X
tiques) peuvent faire — Conductivité X X X
l’objet d’un cours préli-
Unités X X X
minaire.
— Valeurs de conductivité
X X X
de certains métaux
Courant alternatif X X X
— Courant sinusoïdal X X X
— Tension X X X
— Amplitude X X X
— Fréquence X X X
— Période X X X
— Phase X X X
— Représentation vecto-
X X
rielle
Autres courants périodiques X
Magnétisme Champ magnétique X X X
Lignes de force X X
Intensité du champ magné-
X X X
tique
Perméabilité X X X
Induction magnétique X X X
Flux X X X
Boucle d’hystérésis X X X
Unités X X X
Diamagnétisme X X
Paramagnétisme X X
Ferromagnétisme X X
Réluctance X X
Force magnétomotrice X X
Électromagnétisme Champ magnétique généré
X X X
par un courant (fil, bobine)
Phénomène d’induction
X X X
électromagnétique
Inductance X X X
Inductance mutuelle X X
Couplage électromagnétique X X X
Courants induits X X X
Champ secondaire X X X
Loi de Lenz X X X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 6 (suite)
Distribution dans les maté-
X X X
riaux conducteurs
— Onde plane X X
— Profondeur de pénétra-
X
tion
— Profondeur de pénétra-
X X
tion conventionnelle
— Amplitude X X X
— Phase X X X
Conducteurs cylindriques X X
— Fréquence caractéris-
X X X
tique
Profondeur de pénétration
X X
réelle (pratique)
Impédance X X X
— Représentation plane
X X
complexe
— Diagrammes d’impé-
X X
dance
Autres techniques Courants de Foucault pulsés X
Capteurs de champ magné-
X
tique
Mesurage du champ produit
X
par un courant alternatif
Courants de Foucault en
X
champ lointain
Simulation Calcul analytique des
contrôles par courants de X
Foucault
7.3 Défectologie Discontinuités liées à la
X X
Connaissances relatives fabrication
au produit et capacité Discontinuités induites par
associée de la méthode X X
le service
et de ses techniques
dérivées Propriétés des matériaux
influant sur le contrôle par X X
— Conductivité X X
— Perméabilité X X
Caractéristiques du produit
influant sur le contrôle par X X
— État (surface, traite-
ment thermique, formage à X X
froid)
— Température X X
— Forme X X
— Épaisseur de paroi X X
— Accessibilité X X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 6 (suite)
Produits contrôlés X
— Produits semi-finis X
— Tuyaux X
— Tubes d’échangeurs de
X
chaleur
— Pièces mécaniques
(par exemple industries
X
automobile, ferroviaire et
aéronautique)
— Soudures (par
X
exemple en mer)
Caractéristiques des
défauts ayant une incidence X
sur la détection
— Rapport largeur/pro-
X
fondeur
Applications du Caractérisation des maté-
contrôle par cou- riaux : conductivité, teneur
rants de Foucault en ferrite, tri des métaux,
tri des traitements ther-
miques, épaisseur des trai-
tements thermochimiques X X X
(cémentation, nitruration,
etc.), épaisseur de revête-
ment (conducteur ou non
conducteur) et informations
dérivées (dureté, etc.)
Détection de discon-
tinuités : fissures (fis-
suration par corrosion
X X X
sous contrainte, fatigue),
amincissement des parois,
corrosion, dépôts, etc.
Capacités Profondeur de pénétration X X X
Matériaux conducteurs X X X
Sans contact X X X
Vitesse élevée X X X
Température élevée X X X
Multiéléments X
Mécanisés X X X
Techniques Monofréquence X X X
Multifréquence X X X
Multiparamètre X X X
Courant pulsé X X
Multiéléments X X
En champ lointain X X
Règles de similitude pour
le contrôle de surface et
X X
les fréquences caractéris-
tiques/limites des tubes
Codes et normes X X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 6 (suite)
7.4 Système de contrôle Appareillage X X X
Équipement par courants de Applications d’usage géné-
Foucault X X
ral — fonctions essentielles
Applications spéciales X X
— Courants de Foucault
X
pulsés
— Capteurs de champ
X
magnétique
— Mesurage du champ
produit par un courant X
alternatif
Équipement mécanisé X X
Capteurs X X X
— Double fonction X X
— Fonctions séparées X X
— Palpeur X X
— Capteur axial X X
— Conceptions X X
— Capteurs multiélé-
ments (description et prin- X X
cipes de fonctionnement)
Mesurages X X X
— Absolu X X X
— Différentiel X X X
— Contrôle d’impédance X X
Sortie et visualisa- — Rapport signal/bruit X X X
tion du signal — Distorsion/ non‑linéa-
X X X
rité
— Filtres X X X
Blocs de référence Matériau X X X
Conception X X
Production X X
Stockage X X
Codes et normes X X
7.5 Informations sur Instructions écrites X
Informations préalables l’objet contrôlé Identification ou désigna-
au contrôle X X X
tion du matériau
— Objet à contrôler X X X
— Étendue du contrôle X X
contrôle et applica- Température X
tion d’une norme
Humidité X
Disponibilité X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 6 (suite)
Signaux parasites indési-
X
rables
Perturbations électriques
X
et/ou magnétiques
Infrastructure X
X X
contrôle
Étape de la fabrication ou
de la durée de vie à laquelle X
le contrôle doit être effectué
X X
contrôlé
Exigences relatives au per-
X X
Critères d’acceptation X X
Technique et sé- État de surface X
quence de réalisation Préparation de la surface X
du contrôle
Documentation après
X
contrôle
Équipement à utiliser X
Exigence d’enregistrement X
Instructions Préparation d’un mode
X
opératoire écrit
X
écrites
tions écrites
Documents X
Présentation des normes,
X
codes et modes opératoires

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 6 (suite)
7.6 Choix du capteur Produit
Contrôle résultant de 7.5 — Nuance X X
— État métallurgique X X
— Forme X X
— Type de discontinuité
X X
recherchée
— Emplacement X X
— Sollicitations du produit X X
— Étendue de l’examen X X
Conditions opéra- — Température X X
toires résultant de — Humidité X X
7.5
— Accès X X
— Disponibilité X X
— Signaux parasites X X
— Perturbations élec-
X X
triques et/ou magnétiques
Paramètres Fréquence d’excitation X X X
Fréquences auxiliaires X X X
Vitesse du capteur X X X
Entrefer X X X
Vibrations du capteur X X X
Centrage du capteur X X X
Courbes de réglage X X X
Réglages Acquisition des données X X X
Mode opératoire écrit X X
Instructions écrites X X
7.7 Compte rendu Niveau de compte rendu X X
Évaluation et compte Rapport d’examen X X X
rendu
Évaluation Caractérisation des indica-
X X
tions
— Analyse monofréquence X X
— Analyse multifréquence X X
— Analyse des données X X
7.8 Évaluation et Critères d’acceptation
Évaluation confirmation des conformément aux normes, X X
rapports d’essai codes et modes opératoires
Formation de niveaux 1
et 2 relative aux critères X
d’acceptation

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 6 (suite)
7.9 Facteurs ayant une Qualification du personnel X X X
Aspects liés à la qualité incidence sur la qua- — ISO 9712 X X X
lité du contrôle
— Autres systèmes de
qualification et de certifica- X
tion en END
Format et domaine d’appli-
cation des procédures de X
travail
Qualification des modes
X
opératoires d’END
modes opératoires et per- X
sonnel END)
X
écrites
Travailler correctement
X
selon les instructions écrites
Traçabilité des documents X X
Connaissance des Choix de la technique
X
normes d’applica- appropriée
normes de produits X
applicables
Choix de la méthode d’essai
X X
non destructif
Formation spécifique à
X X X
l’activité
Vérification de l’équipement X X X
7.10 Informations géné- Techniques non inductives X
Évolutions rales — Imagerie magnéto‑op-
X
tique
— SQUID X
— Magnétorésistance
X
géante
Imagerie X
Modélisation X
8 Contrôle par ressuage (PT) — Niveaux 1, 2 et 3

La formation au contrôle par ressuage doit être conforme aux Tableaux 7 et 8.

du contrôle par ressuage (PT)
sances associées

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 7 (suite)
8.3 Connaissances relatives au produit et capacités de 18 13 8
8.6 Contrôle 12 12 4
8.10 Conditions d’environnement et de sécurité 3 8 6
Tableau 8 — Contrôle par ressuage (PT) — Niveaux 1, 2 et 3

Présentation de la ter- But de l’END En quoi consiste le contrôle ? X X X
minologie et de l’histo-
rique du contrôle par Quel est le but de l’END ? X X X
ressuage (PT) À quelle étape de la vie d’un
X X X
« produit » l’END est‑il réalisé ?
X X X
valeur ?
But du contrôle par Définition X X X
ressuage (PT) Applicabilité et limites X X X
Terminologie X X X
8.2 Systèmes de res- Types de pénétrant X X X
Principes physiques suage — Fluorescent X X X
et connaissances
associées — Coloré X X X
Les concepts néces- Fondement des principes de
saires à la compré- fluorescence et d’absorption
X
hension des principes utilisés dans les pénétrants
physiques du contrôle des colorants
par ressuage (phy- Interactions entre les diffé-
X
sique) peuvent faire rents colorants
l’objet d’un cours Techniques de ressuage
préliminaire. X X X
— Lavable à l’eau X X X
— À post-émulsion X X X
— Éliminable au solvant X X X
Émulsifiants X X X
Agent de nettoyage X X X
Révélateur X X X
— Humide X X X
— Sec X X X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 8 (suite)
Propriétés et carac- Bases physiques de la méthode X X X
téristiques Pénétrant X X X
— Viscosité X X X
— Point d’éclair X X
— Résurgence X X
— Capillarité X X
— Tension de surface X X X
— Angle de contact X X X
— Pression de vapeur X X X
Influence de la rugosité du
X X
matériau
— Valeurs variables de
X
rugosité (Ra + Rz)
— Composants ayant
plusieurs valeurs de rugosité
X
(c’est-à-dire fonderie avec
usinage)
Concept de rapport signal/
X X X
bruit
Bruit de fond résiduel (risques
X X X
lavage excessif/insuffisant)
Émulsification du pénétrant X X X
Agent de nettoyage X X X
Révélateur X X X
8.3 Conditions d’essai X X X
Connaissances — Éclairage de la zone de
relatives au produit et travail et de la zone environ- X
capacité associée de nante
la méthode et de ses
techniques dérivées — Adaptation à un environ-
X
nement de lumière noire
— Transition entre zones
X
lumineuses et zones sombres
Conditions d’observation X X X
— Performances du
pénétrant en fonction de la X
température
— Rôle d’adaptation à un
X
environnement sombre
— Propreté X
— Modulation (augmenta-
tion) de l’éclairage et période
d’adaptation à un environne- X
ment sombre en fonction de
l’âge de l’inspecteur
Choix de la technique X X
Application de la technique X X X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 8 (suite)
8.4 Conception et Générateurs d’aérosol X X X
Équipement fonctionnement — Gaz comprimé, gaz liqué-
des installations et fié, « atomisation » X
unités de ressuage
Cuves de trempage X X X
Systèmes électrostatiques, lit
X X
fluidisé
Systèmes semi-automatiques X X
Systèmes automatiques X X
Application X X X
Sources lumineuses X X
— Présentation de la
X
lumière bleue actinique
— Connaissance des fac-
teurs physiologiques humains X
des aspects liés à l’éclairage
— Qualité des produits à
X
diodes électroluminescentes
Unités de mesure X X
— Fondements de la métro-
X
logie
— Incertitudes métrolo-
X
giques
Pièces de référence X X
— Qualité minimale requise
pour une photographie de X X
référence
Conditions d’observation X X
X X X
Informations préa- l’objet contrôlé du matériau
tion d’une norme
X X
contrôle
— Lumière bleue actinique X
la durée de vie à laquelle le X
X X
contrôlé
X X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 8 (suite)
Technique et État de surface X
séquence de réali- Préparation de la surface X
sation du contrôle
— Différences entre un pro-
duit dégraissant aqueux alcalin X
et un solvant à base d’eau
— Danger des borates et des
silicates dans les agents de net- X
toyage à base d’eau — savons
Documentation après contrôle X
X
toire écrit
X
écrites
Documents X
X
8.6 Préparation et réa- Réalisation du contrôle
Contrôle lisation du contrôle conformément aux instruc- X
tions écrites
Supervision du personnel X X
Paramètres Préparation des pièces et
influence de la qualité de X X X
surface
— Préparation de la surface X X
— Nettoyage X X
Technique X X
— Choix X X
— Utilisation correcte X X X
Planification du contrôle X
— Maillages X
— Couverture X
Produit indicateur X X X
— Utilisation correcte X X
— Choix approprié X X
Observation et indications X X
Enregistrement des discon-
X X
tinuités
Compte rendu X X
Interprétation des indications X X
Étiquetage et élimination du
X X
produit contrôlé
Nettoyage des composants X X
8.7 Rapport d’essai Conditions d’observation X X X
Évaluation et compte Pièce de référence no 1 X X
rendu
Pièce de référence no 2 X X X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 8 (suite)
— Différences entre éprou-
vettes progressives et non X
progressives
Aspects statistiques des
paramètres analysés pour
X
revalider l’utilisation d’un
pénétrant
Vérification de la qualité des
X X X
indications
— Utilisation de photogra-
phies de référence pour vali- X
der les conditions visuelles
Compte rendu des imperfec-
tions de soudures simples, de
X
pièces forgées, de produits
laminés et de pièces moulées
Autres pièces de référence
X X
utilisées
Rapport d’essai de réglage de
X X
lot d’unités d’essai
Évaluation Consignation des discontinui-
X
tés
8.8 Évaluation des Influence de la fabrication et
X X
Évaluation discontinuités du matériau
Profondeur X X
Largeur X X
Forme X X
Position X X
Orientation X X
Aspects liés à la qualité personnel Autres systèmes de qualifica-
X
X
Qualification des modes opé-
X
ratoires d’END
modes opératoires et person- X
nel END)
X
écrites
X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 8 (suite)
X
normes de produits X
applicables
X X
non destructif
Formation spécifique à
X X X
l’activité
Normes pertinentes
8.10 Produits chimiques Manipulation des produits
Conditions d’environ- chimiques (aérosols/gaz pro- X X X
nement et de sécurité pulseurs)
Élimination X X X
— Pénétrant X X X
— Révélateur X X X
— Émulsifiant X X
— Agent d’élimination
X
soluble
— Élimination de l’excès de
X X
produit de procédé
— Méthode au charbon actif X
— Méthode d’ultrafiltration X
Fiche de données de sécurité
X
des matériaux
Revue des normes d’applica-
tions en END et des normes de X
produits applicables
Accessoires Phénomènes dangereux asso-
ciés aux rayonnements violet X X X
et UV
Dangers des lumières
X X X
blanches
Phénomènes dangereux élec-
X X X
triques
Filtres UV X X
Considérations relatives à la
X X X
vue
Lunettes de protection X X X
Facteurs humains Séjour prolongé dans des
X
zones sombres
Rôle des pauses X
8.11 Installations spéciales X
Évolutions Installations pour automobiles X
Installations spéciales créa-
X
tives et innovantes
Installations pour tubes X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

9 Contrôle par magnétoscopie (MT) — Niveaux 1, 2 et 3

La formation au contrôle par magnétoscopie doit être conforme aux Tableaux 9 et 10.

Contenu (% de la (% de la (% de la
durée totale) durée totale) durée totale)
9.1 Présentation de la terminologie et de l’historique du 3 4 3
contrôle par magnétoscopie (MT)
9.2 Principes physiques de la méthode et connaissances 3 8 13
associées
9.3 Connaissances relatives au produit et capacités de la 18 13 13
méthode et de ses techniques dérivées
9.6 Contrôle 12 12 19
9.10 Conditions d’environnement et de sécurité 3 8 3
Tableau 10 — Contrôle par magnétoscopie (MT) — Niveaux 1, 2 et 3

9.1 Historique
Présentation de But de l’END En quoi consiste le contrôle ? X X X
la terminologie et
de l’historique du Quel est le but de l’END ? X X X
contrôle par magné- À quelle étape de la vie d’un X X X
toscopie (MT)
Comment ajoute-t-il de la X X X

valeur ?
magnétoscopie (MT) Applicabilité et limites X X X
Terminologie X X X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 10 (suite)
9.2 Phénomènes phy- Circuits électriques X X X
Principes physiques siques de base — Valeurs types X X X
et connaissances
associées — Unités X X X
Les concepts Circuits magnétiques X X X
nécessaires à la — Valeurs types X X X
compréhension des — Unités X X X
principes physiques
du contrôle par Champ magnétique X X X
magnétoscopie — Caractérisation X X X
(physique incluant la
— Mesurages X X X
théorie électrique)
peuvent faire l’objet — Champ magnétique (H) X X X
d’un cours prélimi- — Induction magnétique (B) X X X
naire.
— Désignation des alliages X X X
Champ magnétique généré par X X X

des circuits électriques
— Conducteur rectiligne X X X

indéfini
— Longue bobine magnétique X X X
— Bobine magnétique courte X X X

ou plane
— Influences du flux d’un X X X
champ magnétique sur un
champ non magnétique
— Continuité de Ht X X X
— Continuité de Bn X X X
— Passage d’un flux d’un X X X
milieu magnétique vers un
milieu non magnétique
Flux magnétique d’une discon- X X X

tinuité magnétique
— Influence de la profondeur X X X
— Influence de l’orientation X X X
Propriétés des Matériaux non magnétiques X X X
matériaux Matériaux magnétiques X X X
— Influence de la température X X X

sur les propriétés magnétiques
Diamagnétisme X X X
Paramagnétisme X X X
Ferromagnétisme X X X
Ferrimagnétisme X
Influence de l’écrouissage X
Influence du traitement ther- X

mique
Alliages particuliers X X
— Permalloy X X
— Invar X X
— Inconel X X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 10 (suite)
Caractéristiques du Influence de la géométrie sur la X X X
contrôle par magné- détection d’une discontinuité
toscopie magnétique
— Profondeur X X X
— Épaisseur X X X
— Orientation X X X
Propriétés magnétiques X X X
— Principaux alliages ferro- X X X

magnétiques
Propriétés non magnétiques X X X
Matériaux magnétiques X X X
— Champ d’application X X X
— Point de Curie X X X
— Courbe de la première X X X

aimantation
— Cycle d’hystérésis et points X X X

remarquables
— Propriétés magnétiques X X X

de l’acier
Comportement d’une particule X X X
magnétique au voisinage d’un
flux magnétique
— Champ magnétique (H) X X
— Induction magnétique (B) X X
— Perméabilité magnétique X X

relative, µr
— Champ coercitif, Hc X X
— Résistivité électrique, ρ X X
Influence de la composition X X X
9.3 Traitement Conditions d’essai X X X
Connaissances rela- Préparation des pièces X X X
tives au produit et
capacité associée de Conditions d’observation X X X
la méthode et de ses — Ergonomie visuelle X
techniques dérivées
— Modulation (augmenta- X
tion) de l’éclairage et période
d’adaptation dans un environ-
nement sombre en fonction de
l’âge de l’inspecteur
Sources lumineuses X X X
— Connaissance des facteurs X
physiologiques humains des
aspects liés à l’éclairage
— Qualité des produits X

sources de lumière
Application du produit indica- X X X

teur
Choix de la technique X X
Facteurs ayant une incidence X X

sur les indications

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 10 (suite)
Incertitudes métrologiques X
9.4 Équipement Aimants permanents X X X
Équipement d’aimantation Électroaimants portatifs X X X
Bobines X X X
Barres traversantes X X X
Touches X X X
Bancs de contrôle par magné- X X X

toscopie
— Fixes et portatifs X X X
— Automatiques X X
— Robotisés X X
Colliers X X X
Enroulements de câble X X X
Champ oscillant X X
Mobile X X
Mesurage et réglage Témoins d’aimantation X X X
Capteur à effet Hall X X
Désaimantation Accessoires X
— Indicateurs de produits X
— Dispositifs de mesure de X
l’intensité du champ magné-
tique
— Témoins d’aimantation X
Produits indicateurs Peinture de contraste X X X
Particules X X X
Conditions d’obser- Sources lumineuses X X X
vation — Qualité des produits à X

diodes électroluminescentes
Facteurs humains X X X
— Adaptation à un environ- X X

nement sombre
— Transition entre conditions X X

d’éclairage lumineuses/sombres
— Rôle d’adaptation pour un X X

environnement sombre
Conditions d’éclairement X X
— Photomètres et radio- X

mètres
9.5 Informations sur Identification ou désignation X X X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 10 (suite)
tion d’une norme
Conditions particulières de X X

contrôle
Étape de la fabrication ou de X
la durée de vie à laquelle le
Normes assignées à l’objet X X

contrôlé
Exigences relatives au person- X X

séquence de réalisa- Préparation de la surface X
tion du contrôle
Instructions Préparation d’un mode opéra- X

toire écrit
Préparation d’instructions X

écrites
Documents X
Présentation des normes, codes X

9.6 Réalisation du contrôle confor- X
Contrôle mément aux instructions écrites
Supervision du personnel réali- X X

sant le contrôle
Paramètres Préparation des pièces et in- X X

fluence de la qualité de surface
— Préparation de la surface X X
Désaimantation X X X
Nettoyage, usinage X X
Aimantation X X
— Équipement X X
— Type de courant X X
— Type X X
— Durée d’application X X
Vérification des conditions X X X

d’aimantation
— Valeurs des paramètres X

d’aimantation
— Technique continue ou X X

simultanée
— Technique de rémanence X
— Utilisation d’indicateurs X
d’aimantation et de magnéto-
mètres
Technique X X X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 10 (suite)
— Choix X X
— Intensité du champ X X

magnétique
— Orientation X X X
Planification du contrôle X X X
— Maillages X X
— Couverture X X
Produit indicateur X
— Utilisation correcte X X X
— Choix approprié X X
— Produit humide X X
— Produit sec X X
— Peinture de contraste X X
— Adaptation à un environ- X

nement sombre
— Propreté X
Observation et indications X X X
Enregistrement des disconti- X X

nuités
Compte rendu X X
Interprétation des indications X
Étiquetage et élimination du X

produit contrôlé
Traitement des Champ résiduel X X
composants — Condition nécessitant une X

désaimantation
— Niveau d’aimantation X

résiduelle
— Influence sur l’utilisation X

ultérieure du matériau
— Principes fondamentaux X X
— Méthodes industrielles X X
— Influence du champ X X

magnétique terrestre
— Valeur minimale du champ X X
magnétique pour les principes
de désaimantation
— Fréquence X X
— Effet de peau X X
— Calcul d’une bobine X X

d’aimantation
Nettoyage des com- X X X

posants

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 10 (suite)
9.7 Classification des Soudage X X
Évaluation et indications Pièce moulée X X
compte rendu
Pièce forgée X X
Tubes en fer X X
Conditions d’examen Observation par rapport à une X X X

pièce de référence
Utilisation d’autres pièces de X X

référence
Vérification de la qualité des X X X

indications (ISO 3059)
Réglage des unités d’essai X X
Rapport d’essai de lot X
Rapport d’essai Base d’évaluation X
Rapport d’essai X X X
— Vérification du rapport X

d’essai
— Conformément à un mode X

opératoire écrit
Relevé des imperfections X X
Évaluation de la qualité des X X

indications
Conservation des indications X
9.8 Évaluation des indi- Pertinentes et non pertinentes X
Évaluation cations
Évaluation des dis- Influence de la fabrication X
continuités Influence du matériau X
Influence de la profondeur X X
Influence de la forme X X
Influence de la position X X
Influence de l’orientation X X
Aspects liés à la personnel Autres systèmes de qualifica- X
qualité tion et de certification en END
Documentation Format et domaine d’applica- X

Qualification des modes opéra- X

toires d’END
Autorisations (instructions, X
modes opératoires et person-
nel END)
Élaboration d’instructions X

écrites
Travailler correctement selon X


09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 10 (suite)
Connaissance des Choix de la technique appro- X

tions en END et des Utilisation de paramètres X
normes de produits d’essai appropriés
applicables
Choix de la méthode d’essai non X X

destructif
Formation spécifique à l’activité X X X
— Concentration du produit X
— Contamination du produit X
— Réglage de l’ampèremètre X
— Essai de soulèvement X
9.10 Facteurs humains Séjour prolongé dans des X X
Conditions d’envi- zones sombres
ronnement et de Rôle des pauses X X
sécurité
Rôle des lunettes anti-UV X
Produits chimiques Manipulation appropriée (aéro- X X X

sols/gaz propulseurs)
Élimination des effluents X X
Conditions ambiantes X X
Traitement et rejet des X

effluents
Toxicité des touches de contact X

en plomb
Toxicité des produits X
Risques liés aux produits X X X
Fiche de données de sécurité X X

des matériaux
Revue des normes d’applica- X
tions en END et des normes de
produits applicables
Risques d’incendie X
Accessoires Dangers des rayonnements UV X X X
Dangers de la lumière blanche X
Phénomènes dangereux élec- X X X

triques
Filtres UV X X
Considérations relatives à la vue X X X
— Lunettes de protection X X X
9.11 Installation et équipement X
Évolutions spéciaux
Lumière bleue actinique X X

(autres longueurs d’onde)
Nouvelles techniques X
Installations spéciales créa- X

tives et innovantes

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

10 Contrôle d’étanchéité (LT) — Niveaux 1, 2 et 3

La formation au contrôle d’étanchéité doit être conforme aux Tableaux 11 et 12.

10.1 Présentation de la terminologie et de l’historique
5 2 2
du contrôle d’étanchéité (LT)
10.2 Principes physiques de la méthode et connais-
9 6 8
sances associées
10.3 Connaissances relatives au produit et capacités
10 12 16
10.6 Contrôle 49 50 29
Tableau 12 — Contrôle d’étanchéité (LT) — Niveaux 1, 2 et 3

la terminologie et
contrôle d’étan- À quelle étape de la vie d’un X X X
chéité (LT)
Comment ajoute-t-il de la valeur ? X X X
But du contrôle Définition X X X
d’étanchéité (LT) Applicabilité et limites X X X
10.2 Comportement Structure de la matière (prin- X
Principes phy- physique de la cipes fondamentaux)
siques et connais- matière — Théorie atomique X
sances associées
— Ionisation X
— État de la matière X
— Structure moléculaire X
— Molécules diatomiques et X

monoatomiques
— Masse moléculaire X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 12 (suite)
Solide-liquide et liquide-vapeur X
— Changements d’état X
Lois des gaz et principes fonda- X X

mentaux
— Mouvements browniens X
— Courbes P-V et P-T X
— Loi de Pascal X
— Loi de Charles X X
— Lois de Boyle X X
— Loi de Gay Lussac X
— Loi de pression partielle de X

Dalton
— Loi de Hagen Poiseuille X
— Loi des gaz parfaits et son X
application pour le calcul des
fuites
— Définition et signification du X

libre parcours moyen
— Propriétés des gaz X
Théorie cinétique des gaz (prin- X

cipes fondamentaux)
— Loi d’Avogadro X
— Mélange et concentration de X
gaz
— Vitesse, masse volumique et X

viscosité des gaz
Gaz parfaits et gaz réels X
Pression Pression de vapeur et ses effets X
sous vide
Pression en force par unité de X

surface
Principales unités de pression X
Pression de vapeur X
Relation entre différentes unités X

de mesure
Conditions normalisées et nor- X

males
Définition de la pression à partir X

de la théorie cinétique des gaz
Relation entre libre parcours X

moyen et pression
Loi des gaz parfaits Formule et son utilisation pour le X

calcul des fuites
Plage de pression Plage différente X
sous vide Relation entre libre parcours X

moyen et plage de vide
Écoulement sous Définition X X
vide Fuite sous forme d’écoulement X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 12 (suite)
Paramètres d’écoulement X
— Relation entre libre parcours X

moyen et écoulement
— Écoulement visqueux X
— Écoulement moléculaire X
— Écoulement intermédiaire X
— Écoulement et théorie ciné- X

tique
— Facteurs ayant une incidence X

sur l’écoulement des gaz
— Débit de fuite en fonction de X

la viscosité
— Nombre de Reynolds en X

fonction du nombre de Knudsen
— Géométrie d’un défaut X

d’étanchéité de type capillaire
— Perméation X
— Capillaire X
Mesurage d’une Unités X
fuite — Relations X
Conductance sous Définition et signification X
vide Calcul de la conductance X X
— Abaque ou formules simpli- X

fiées
Écoulement et conductance X
Dégazage Conséquences pratiques X
Concept pratique et principes X

fondamentaux
Différents comportements des X

gaz
Matériau X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 12 (suite)
Vitesse de pompage Définition et signification X
Calculs de la vitesse de pompage X
Fuite virtuelle et Concept X
réelle Différence X
Courbe de pression en fonction X
du temps pour une source de
fuites réelles et virtuelles
Calcul relatif à l’influence d’une X
fuite virtuelle lors d’un contrôle
par variation de pression
10.3 Type de contrôle Localisation des fuites X
Connaissances d’étanchéité Mesurage des fuites X
relatives au
produit et capa- Réussite/échec du contrôle X
cité associée de Surveillance des fuites X
la méthode et de
Spécification X
ses techniques
dérivées Sensibilité X
Préparation de Propreté X
l’objet — Méthodes de nettoyage et X
effets sur les mesures de détec-
tion de fuites
Objet scellé avec ou sans gaz X

traceur
Objet inaccessible d’un ou des X

deux côtés
Objet fonctionnant au-dessus ou X
en dessous de la pression atmos-
phérique
Spécifications et Technique par contrôle à la bulle X
capacités de la — Principes des techniques par X
technique contrôle à la bulle
— Technique par immersion X
— Technique par application X

d’un liquide
— Principes physiques X

concernés

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 12 (suite)
Techniques par Principes fondamentaux de fonc- X

variation de pres- tionnement
sion — Contrôle sous pression X
— Contrôle sous vide X
Principes de détection pour X
les techniques par variation de
pression
— Technique par abaissement X

de pression
— Technique par augmentation X

de pression
— Technique par changement X

de pression dans la cloche
— Technique par mesure du X

débit
Différence entre le contrôle sous X
pression et le contrôle sous vide

compte tenu de la loi des gaz
parfaits
Terminologie associée au X

contrôle sous pression
Technique par gaz Principes de détection X
traceur Hélium comme gaz traceur X
Détecteurs de gaz traceur X
Débit de gaz traceur pénétrant X
dans l’objet (techniques du
groupe A)
Débit de gaz traceur sortant de X

l’objet (techniques du groupe B)
Propriétés Principes de détection du débit X
chimiques ou de gaz traceur pénétrant dans

physiques des l’objet — Techniques du groupe A
détecteurs
Fuites locales X
— Pulvérisation X
— Technique sous vide (local) X
— Technique sous vide (partiel) X
— Contrôle par changement de X

pression dans la cloche

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 12 (suite)
Fuites globales X
— Technique sous vide (total) X

— Augmentation de pression X
— Mesures du débit X
Principes de détection du débit X
de gaz traceur sortant de l’ob-
jet — Techniques du groupe B
Fuites locales X
— Détection chimique à X

l’ammoniac
— Boîte à dépression avec X
application du gaz traceur à
l’intérieur de l’objet
— Contrôle par reniflage X
— Bulle et boîte à dépression X
— Technique sous pression par X

accumulation

Fuites globales X
— Contrôle à la bulle — immer- X

sion
— Contrôle à la bulle — forma- X

tion de mousse
— Technique sous pression par X

accumulation — globale
— Contrôle par pressurisa- X

tion — dépression (ressuage)
— Technique de la chambre à X

vide

— Variation de pression X
— Mesures du débit X
Méthode d’essai Principes fondamentaux X
Choix des critères X X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 12 (suite)
10.4 Manomètres à vide Choix des manomètres pour X
Équipement différentes pressions
Manomètres de pression totale et X

de pression partielle
Manomètres absolus et diffé- X

rentiels
Manomètres primaires et X

secondaires
Propriétés physiques concer- X
nées pour les différents types de
capteurs
Manomètres Techniques de lecture de X
mécaniques pression pour un manomètre à
diaphragme
Manomètre de Bourdon X
— Principes et comportement X
— Influence de l’atmosphère X
Manomètre à diaphragme X
— Influence de l’atmosphère X
Manomètre capacitif X
— Influence de la température X
Précision des différents capteurs X
Manomètres à Principes et comportement X
tube en U et jauges
de McLeod
Jauges de Pirani et Technique de lecture de pression X
à thermocouple Critères d’assemblage X
Principes et comportement de X

différents gaz
Précision et réglage pour diffé- X

rents gaz
Manomètres à ioni- Technique de lecture de pression X
sation à cathode Critères d’assemblage X
froide et chaude
Principes et comportement de X

différents gaz
Précision et réglage pour diffé- X

rents gaz

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 12 (suite)
Pompes à vide Principe physique concerné X
Types de pompe pour différentes X

plages de vide
Classification et choix des X

pompes à vide
— Performances de la pompe X
— Pressions finales X
— Plages de pression X
— Vitesse de pompage X
— Pressions de refoulement X
Pompes rotatives Principe physique concerné X
et à pistons Performances X
Maintenance X
Ballast à gaz X
Calcul des temps de pompage X X

pour différents volumes
— Influence de la conductance X
Pompe Roots Principe physique concerné X
Évaluation de la taille de pompe X
Montage X
Maintien des performances X
Calcul des temps de pompage X

pour différents volumes
— Influence de la conductance X
Pompe à diffusion Principe physique concerné X
Évaluation de la taille pour diffé- X

rentes applications
Évaluation de la taille de la X

pompe auxiliaire
Montage X
Maintien des performances X
Pompe turbomolé- Principe physique concerné X
culaire Performances X
Maintenance X
Évaluation de la taille pour diffé- X

rentes applications
Évaluation de la taille de la X

pompe auxiliaire
Montage X
Vanne Type de vannes utilisé pour une X

application de détection de fuites
Maintenance X
Montage X
Choix d’une vanne pour le X

contrôle d’étanchéité
Performances X
Raccords Critères d’assemblage X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 12 (suite)
Maintenance X
Choix de raccords appropriés X

pour la détection de fuites
Calcul et influence du diamètre X

et de la longueur
Critères du projet X
Matériau Choix pour différentes plages de X

vide
— Métallique X
— Plastique X
— Verre X
— Huile X
— Graisse X
10.5 Informations sur Identification ou désignation du X X X
Informations préa- l’objet contrôlé matériau
tion d’une norme

contrôle
Étape de la fabrication ou de la X
durée de vie à laquelle le contrôle
doit être effectué

contrôlé
Exigences relatives au personnel X X

réalisant le contrôle
sation du contrôle

toire écrit
Préparation d’instructions écrites X
Réalisation du contrôle confor- X

mément aux instructions écrites
Documents X

10.6 Pratique et tech- Exigences générales X
Contrôle niques de contrôle — Gaz X
à la bulle
— Limites de pression X
— Nettoyage X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 12 (suite)
Fluide d’essai X
— Fluides d’essai pour les tech- X
niques par immersion dans un
liquide (préparation et utilisa-
tion)
— Fluides d’essai pour les X
techniques par application d’un
liquide (préparation et utilisa-
tion)
— Sélection des fluides d’essai X
en fonction des propriétés phy-
siques
Choix des techniques pour diffé- X

rentes applications
— Contrôle de tubes, buses, X

patins, compresseurs
— Contrôle de récipients X
— Évaluation quantitative des X

fuites
Effets des conditions météoro- X

logiques
Éclairage X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 12 (suite)
Technique en Principes physiques concernés X
immersion Pressurisation de l’éprouvette X
Connaissances pour générer une X

différence de pression
Fluide d’essai à température X

élevée
Technique de la chambre à vide X
Technique par Principes physiques concernés X
application d’un Pressurisation de l’éprouvette X
liquide
Technique sous vide pour des X

objets non pressurisés
Techniques par Exigences générales X
variation de pres- Méthode par variation de pres- X
sion sion
— Principes physiques X

concernés
— Loi des gaz parfaits X
Technique par Thermomètres et manomètres X
abaissement de Configuration du système X
pression
Appareillage et configuration X

d’essai
Précision de l’équipement X X
— Précision du réglage du X

manomètre
— Précision des calculs d’essai X
Choix de la pression et de la tem- X

pérature
Effet d’une variation de tempé- X

rature
Effet de la pression de vapeur X
d’eau
Effet d’une variation de pression X
barométrique
Calcul du flux de fuite X
Technique avec récipient de X
référence
Calcul du flux de fuite à partir de X
la loi des gaz parfaits
Capteur de pression différentielle X
Technique avec récipient de réfé- X
rence (principes fondamentaux)

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 12 (suite)
Technique par Fuite virtuelle X
augmentation de — Effet
pression
— Relation pression-temps X
— Évaluation X
Configuration du système X
Réglage X
Calcul du flux de fuite à partir de X
la loi des gaz parfaits
Choix des manomètres à vide
Choix du système X
Précision des calculs d’essai X
Technique par Exigences générales X
changement de Réglage X
pression dans la
cloche Débit d’air pénétrant dans l’objet X
Débit d’air sortant de l’objet X
Choix du manomètre X
Calcul du flux de fuite X X
Techniques par Exigences générales X
mesure du débit Réglage X
Débit d’air pénétrant dans l’objet X
Débit d’air sortant de l’objet X
Choix du manomètre X
Calcul du flux de fuite X X
Pratique et tech- Méthode par gaz traceur X X
niques utilisant un Calcul du flux de fuite X
gaz traceur
Choix du gaz traceur et du détec- X
teur approprié
Critères de sélection de la tech- X
nique pour différentes applica-
tions
Spectromètres de Principes fondamentaux, aspect X
masse de la fabrication du DFSM
— Magnétique ou tétrapolaire X X
— Direct et à contre-courant X
— Systèmes de pompage, élec- X

tronique, têtes, manomètres, etc.
— Entretien X
— Fuites de réglage X
— Mélange d’hélium X
Principes physiques concernés X
— Formule de masse e/m X
— Spectres de masse X
— Magnétique X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 12 (suite)
— Tétrapolaire X
— Application générale et de X

contrôle d’étanchéité
Aspect de la fabrication du DFSM X
concerné et principes de fonc-
tionnement
Capacités des différentes tech- X

niques en termes de sensibilité
Réglages X
Mélange d’hélium et calcul du X

débit de fuite
Questions de maintenance X
Spectrométrie de masse X
— Qualitative X
— Quantitative X
Diode halogène Principes fondamentaux X

concernés
Équipement de contrôle d’étan- X

chéité avec détecteur d’halogènes
Détecteur d’halogènes X
Principes physiques concernés X
Capacités de la technique en X

termes de sensibilité
Critères de sélection des X
techniques pour différentes
applications
Vitesse de « reniflage » de la X

sonde de détection
Halogènes de fond X
Propriétés du gaz traceur frigo- X

rigène
— Composition chimique X
— Masse moléculaire X
— Comportement du gaz liquide X
Réglage des détecteurs de fuites X

d’halogènes
Pourcentage des mélanges X

d’halogènes
Évaluation de la sensibilité de X

contrôle
Manomètres à Principes fondamentaux X
conduction ther- Principes physiques concernés X
mique
Capacités des techniques utili- X
sant ce détecteur en termes de
sensibilité
Principes de fonctionnement X
des manomètres à fil chaud et à
thermocouple

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 12 (suite)
Traceurs réactifs Principes physiques concernés X
Capacités de la technique en X

Gaz radioactifs X
Appareillage d’ana- Principes physiques concernés X
lyse des gaz Capacités de la technique en X

Chromatographie, etc. X
Débits de gaz Toutes les techniques X
traceur pénétrant — Exigences générales X
dans l’objet —
techniques du — Configuration initiale et X
mode opératoire
groupe A
— Préparation de l’objet X
— Sensibilité du contrôle pour X

les différentes techniques
— Réglage X
— Calcul du flux de fuite X
Technique sous Total et partiel X
vide Local (pulvérisation) X
— Préparation de la surface X

de l’objet

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 12 (suite)
Débits de gaz Pour toutes les techniques X
traceur sortant — Exigences générales X
de l’objet — tech-
niques du groupe B — Configuration initiale et X
mode opératoire
— Préparation de l’objet X
— Sensibilité du contrôle pour X

les différentes techniques
— Réglage X
— Calcul du flux de fuite X
Détection chimique — Principes physiques X

à l’ammoniac concernés
— Type de réactif X
— Application du réactif X
— Nettoyage après contrôle X
Boîte à dépression
avec application du

gaz traceur à l’inté-
rieur de l’objet
Boîte à dépression
avec application

du gaz traceur du
côté opposé
Technique sous Balayage de la surface de l’objet X
pression par accu- Réglage (si applicable) X
mulation - contrôle
par reniflage
Principes fon- Préparation de l’objet X
damentaux du Configuration initiale et mode X
contrôle par pres- opératoire
surisation — dé-
pression (ressuage) Calcul du flux de fuite X
Technique de la

chambre à vide

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 12 (suite)
10.7 Archivage du X
Évaluation et compte rendu de
compte rendu données d’essai
Analyse des résul- X X
tats et évaluation
sur la base des cri-
tères d’acceptation
et de la procédure
applicable
Compilation des Normes de référence et autres X X

modes opératoires documents
de contrôle d’étan- Procédure technique et module X
chéité relatif à la rédaction
10.8 Analyse par le biais X
Évaluation d’autres techniques
ou méthodes
Évaluation des cri- X
tères d’acceptation
en collaboration
avec l’ingénieur
projet spécialisé et
les responsables de
fabrication
Analyse ergono- X
mique par le biais

d’autres techniques
ou méthodes
Aspects liés à la personnel Autres systèmes de qualification X
qualité et de certification en END
Documentation Format et domaine d’application X

des procédures de travail

toires d’END
modes opératoires et personnel
END)
Élaboration d’instructions écrites X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 12 (suite)
Travailler correctement selon les X

instructions écrites
Connaissance des Choix de la technique appropriée X
normes d’appli- Utilisation de paramètres d’essai X
cations en END et appropriés
des normes de pro-
duits applicables Choix de la méthode d’essai non X X

destructif
10.10 Installation indus- X
Évolutions trielle spéciale
Nouveau déve- X
loppement pour
l’industrie et la
Recherche et Déve-
loppement
11 Contrôle par émission acoustique (AT) — Niveaux 1, 2 et 3

La formation au contrôle acoustique doit être conforme aux Tableaux 13 et 14.

Généralités (% de la (% de la (% de la
11.1 Présentation de la terminologie et de l’historique du 1 1 2
contrôle par émission acoustique (AT)
11.2 Principes physiques de la méthode et connaissances 8 12 14
associées
11.3 Connaissances relatives au produit et capacités de la 11 12 12
méthode et de ses techniques dérivées
11.6 Contrôle 42 18 4
NOTE Pour le contrôle par émission acoustique, les heures de formation ne comprennent pas de formation à
la sécurité des essais de pression.

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 14 — Contrôle par émission acoustique (AT) — Niveaux 1, 2 et 3

la terminologie et
contrôle par émission À quelle étape de la vie d’un X X X
acoustique (AT) « produit » l’END est-il réalisé ?

valeur ?
émission acous- Applicabilité et limites X X X
tique (AT)
Normes perti- ISO 12716 X X X

nentes
11.2 Principes phy- Normes pertinentes X
Principes physiques siques des sources Principes généraux X
et connaissances d’émission acous-
associées tique (mécanisme Vue d’ensemble X
par analogie avec Démonstration visuelle X
les séismes)
Gamme de fréquences X
Caractéristiques de la source X
Effet des dislocations X
Effet de la contrainte sur les X

ondes
Modes de rupture X
Caractéristiques du Émission transitoire X
contrôle par émis- Émission continue X
sion acoustique
Amplitude X
Gamme de fréquences X
Effet des dimensions de la X
source
Effet de la vitesse de la source X
Propagation à partir de la X
source
Charge X
— Type de charge X
— Effet d’une charge répétée X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 14 (suite)
Effet Kaiser X X
— Vue d’ensemble X
— Dans différents matériaux X
Contrôle par émission acous- X
tique pendant les périodes de
maintien
Effet Felicity X
Rapport Felicity X
Sources pour le Métaux X X X
contrôle par émis- Composites X X X
sion acoustique
Autres matériaux X X X
Dislocations X X X
Déformation plastique X X X
Inclusions X X X
Propagation des fissures X X X
— Propagation des fissures X X X

critiques et sous-critiques
— Fissure de fatigue X X X
— Propagation des fissures X X X

ductiles
Corrosion X X X
— Fissures de corrosion sous X X X

contrainte
Frottement de surface des X X X

fissures
Fuites X X X
Frottement mécanique X X X
Corps migrants X X X
Sources non détectables X X X
Autres X
Propagation des Types d’ondes élastiques X
ondes Ondes longitudinales X
Ondes transversales X
Ondes de Rayleigh X
Ondes de Lamb X
Paramètres des ondes X
Mouvement ondulatoire et X

vitesse des ondes
Conversion de mode X
Réflexion et réfraction X
Atténuation des ondes X
— Atténuation en fonction de X

la fréquence
Dispersion des ondes X
Diffraction X
Effets géométriques X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 14 (suite)
Effets de masquage X
Propagation anisotrope X
Propagation des ondes dans X

des fluides
Influence des fluides X
Localisation de la Localisation à un seul capteur X
source Localisation linéaire avec delta-t X
Localisation planaire avec X

delta-t
Émission continue X
Détails de l’algorithme X
— Localisation de la zone X

(connaissance de l’algorithme)
Structures à parois minces et à X

parois épaisses
Incertitude associée à la loca- X

lisation
Localisation tridimensionnelle X
Capteurs de garde X
Corrélation croisée X
Relations de voisinage X
Localisations précises par X

analyse
11.3 Champs d’appli- Présentation de différentes X
Connaissances cation du contrôle structures
relatives au produit et par émission — Équipement sous pression X
capacité associée de acoustique
la méthode et de ses — Réservoirs de stockage X
techniques dérivées — Pipelines et systèmes de X

tuyauterie
— Machines X
— Autres composants X
Présentation de différents X

matériaux
Détection de fuites X
Possibilités de charge X
— Influences de la charge X
Principes fon- Fluage X
damentaux de la Soudage X
science des maté-
riaux et connais- Mécanique de la rupture X
sances de base Essai significatif pour la X
des propriétés vérification des propriétés des
mécaniques matériaux
Équipement sous Réalisation du contrôle normal X

pression d’un équipement sous pression
Avantages et inconvénients du X
contrôle par émission acous-

tique d’un équipement sous
pression

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 14 (suite)
Différences entre le contrôle X
par émission acoustique et les
autres méthodes END
Normes de pro- Présentation des normes per- X
duits et codes tinentes associées au contrôle
par émission acoustique
Normes de produits et leur X
influence sur le contrôle par
émission acoustique
Directives relatives aux équipe- X

ments non pressurisés
Normes pertinentes asso- X
ciées au contrôle par émission
acoustique
11.4 Capteurs Effet piézoélectrique X
Équipement Construction X
Réponse en fréquence X
Capteurs à large bande et X

résonants
Couplage et sensibilité X
Électronique intégrée X
Asymétrique/différentiel X
Connecteurs X
Câbles X
Méthodes d’étalonnage X
Choix des capteurs X
Boucle de masse X
Effets de la température X
Impédance acoustique X
Guide d’ondes X
Effet d’ouverture sur la réponse X
au mode d’ondes
Étalonnage par réciprocité X
(ISO/TR 13115)
Capteurs spéciaux X
Blindage X
Adaptation d’impédance X
Sensibilité au bruit X
Sources AT simulées X
Préamplificateurs Asymétrique/différentiel X
Unité de gain (échelle en dB) X
Bruit électronique X X
Filtres X
— Types de filtre X
— Choix des filtres de fré- X
quence
Effets de la longueur des câbles X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 14 (suite)
Rejet de mode commun X
Saturation du signal X
Capacité d’entrée X
Traitement du Paramètres de contrôle X
signal par émission acoustique
(ISO 12716)
Énergie (vraie, MARSE, autre) X
Signal continu X
Signal transitoire X
Bruit de fond X
Niveau moyen du signal (ASL) X
Valeur efficace (RMS) X
Amplitude X
Seuil X
Système monocanal ou multica- X

naux
Vitesse d’acquisition X
Numérisation de la forme d’onde X
Enregistrement de la forme X

d’onde
Signal numérique ou analogique X
Définition et sélection des X
paramètres du système
Analyse de distribution X
Analyse spectrale X
« Hits » en cascade X
Mesurage en mode continu X
Systèmes propres à l’industrie X
Traitement de loca- Algorithme X X X
lisation de la source — Vue d’ensemble X
— Connaissances X
— Détails X
— Choix X
Localisation linéaire X
Localisation de la zone X
Localisation par séquence de X

« hits »
Localisation planaire X
Localisation tridimensionnelle X
Incertitude associée à la loca- X

lisation
Canaux de garde X
Influence du mode d’onde X
Relations de voisinage X
Technique de corrélation X

croisée

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 14 (suite)
Facteurs ayant une incidence X

sur les erreurs de localisation

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 14 (suite)
Traitement avancé Paramètres externes X
des signaux Courbes de distribution X
Courbes de corrélation X
FFT X
Extraction des caractéristiques X

de forme d’onde
Considérations relatives à la X

synchronisation
Reconnaissance des formes X
Détermination de la valeur X

moyenne du signal
Enregistrement de la forme X
d’onde pour la corrélation
croisée
Réglages de l’équi- Vérification des capteurs au X

pement laboratoire
Étalonnage des capteurs au X

laboratoire
Vérification du système de X
tique au laboratoire
Ajustage du système de X
tique au laboratoire
Normes applicables X
Différentes procédures d’éta- X

lonnage
Principes fon- Connaissance et utilisation des X

damentaux de ordinateurs
l’informatique Connaissance du logiciel X
11.5 Informations sur Identification ou désignation X X X
tion d’une norme

contrôle

contrôlé
Exigences relatives au person- X X


09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 14 (suite)
sation du contrôle

toire écrit

écrites
Réalisation du contrôle confor- X

Documents X

11.6 Configuration de Mise en place des capteurs X
Contrôle l’équipement Vérification de l’équipement X
Identification du bruit X
— Élimination du bruit X
Mesurage de la vitesse et de X

l’atténuation
Localisation et sources simulées X
Élimination du bruit X
Facteurs ayant une incidence X
sur le choix de l’équipement
d’essai
Procédure de charge et actions X

pendant les contrôles
Réalisation du Procédure de charge X X
contrôle Actions pendant les contrôles X X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 14 (suite)
Acquisition des Acquisition des données X
données et affi- Importance des courbes pour X
chage des données l’affichage des données (en fonc-
pendant le contrôle tion du temps, en fonction de la
charge, localisation, corrélation)
Comparaison avec la vérifica- X

tion
Comparaison avec la localisa- X

tion d’une source simulée
Établissement des critères X

d’acceptation
Choix des courbes, corrélation X

et distributions
Évaluation en temps réel X
Actions néces- Critères d’arrêt X
saires pendant le Vérification par d’autres X
contrôle méthodes d’END des sources
détectées en temps réel lors
du contrôle par émission
acoustique
Interprétation de la relation X
entre la source de contrôle par

émission acoustique et le résul-
tat de la méthode d’END annexe
11.7 Affichage des Courbes en fonction du temps X
Évaluation et compte données Courbes en fonction de la charge X
rendu
Courbes en fonction d’un X

paramètre
Courbes de localisation X
Courbes de distribution X
Courbes de corrélation X
Corrélation des sources de X
tique
Affichage avancé des données X

(reconnaissance des formes)

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 14 (suite)
Interprétation des Bruit et autre identification X
données non pertinente
Comportement du contrôle par X
émission acoustique en fonc-
tion de la charge appliquée
Identification et filtrage du X

bruit après traitement
Activité de la source X
Procédés de filtrage avancés X
Évaluation des Sévérité des sources X
données Criticité des sources X
Processus d’évaluation avancés X
Documentation et Documentation des résultats X
compte rendu Rapport conformément aux X

normes pertinentes
11.8 Normes de pro- Mise en œuvre des critères X
Évaluation duits et critères d’acceptation dans les instruc-
d’acceptation tions de contrôle
Mise en œuvre des critères X
d’acceptation dans le mode
opératoire de contrôle
Interprétation des critères X
d’acceptation indiqués dans les
normes de produits
Évaluation Présentation de la validation X

des sources de des sources
contrôle par émis- Relations entre le contrôle X
sion acoustique et par émission acoustique et les
résultats d’essai sources physiques
Interprétation de la relation X
entre le contrôle par émis-

sion acoustique et les sources
physiques
Techniques sophistiquées de X

traitement des données

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 14 (suite)
Aspects liés à la personnel Autres systèmes de qualifica- X


toires d’END
nel END)
Élaboration d’instructions X

écrites
Travailler correctement selon X

Connaissance des Choix de la technique appro- X

normes d’appli- priée
cations en END et Utilisation de paramètres X
des normes de pro- d’essai appropriés
duits applicables
Choix de la méthode d’essai non X X

destructif
11.10 Nouveaux déve- Nouveaux développements X
Évolutions loppements du dans le domaine des END (dif-
contrôle par émis- férences)
sion acoustique
et des techniques
d’END associées
12 Contrôle visuel (VT) — Niveaux 1, 2 et 3

La formation au contrôle visuel doit être conforme aux Tableaux 15 et 16.

3 4 8
du contrôle visuel (VT)
3 12 10
sances associées
12.3 Connaissances relatives au produit et capacités de
18 13 8
12.6 Contrôle 12 12 5

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 15 (suite)
Tableau 16 — Contrôle visuel (VT) — Niveaux 1, 2 et 3

la terminologie et
contrôle visuel (VT) À quelle étape de la vie d’un
X X X
X X X
valeur ?
visuel (VT) Applicabilité et limites X X X
Vue d’ensemble complète des
X X
applications du contrôle visuel
Utilisation du contrôle visuel
en complément d’autres X X
méthodes d’END
Terminologie X X X
12.2 Principes fonda- Objectifs et principes du
X X
Principes physiques mentaux contrôle visuel
et connaissances Connaissances et compréhen-
associées sion complètes des principes
X X X
physiques et de la physique de
la lumière
Performances optiques X X
— Polarisation de la lumière X X
— Principes stroboscopiques X X
— Dispersion X X
— Réfraction et indice de
X X
réfraction
— Réflexion X X
— Fluorescence X X
— Avantages et inconvé-
nients de différentes lon-
gueurs d’onde de rayonnement X X X
optique (UV, IR), y compris la
température de couleur
Vision L’œil X X
— Fonctionnement X X
— Construction X X
— Limites de la vision X X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 16 (suite)
— Adaptation et accommo-
X X
dation
— Troubles X X
— Rayons de visibilité X X X
— Effets des troubles X X X
Éclairage Transmission X X
Réflexion X X
Absorption X X
Physique de la lumière X X
Rayonnements électroma-
X X
gnétiques
Longueurs d’onde visibles X X
Types de sources lumineuses X X X
— Naturelles X X X
— Artificielles — y compris
X X X
laser
Sources lumineuses à LED

(avantages et inconvénients)
— Différentes longueurs
d’onde des rayonnements X
optiques (UV, IR)
— Température de couleur X X
— Sources lumineuses à LED X X X
Photométrie X X
Niveaux de luminance X X
Mesurage de la lumière X X
Luminance X X
— Niveaux d’éclairage X X
— Techniques d’éclairage X X
— Contraste X X
Principes optiques Fonctionnement des lentilles X
Fonctionnement des loupes X
Construction d’images X
Images virtuelles X
Aberration chromatique X
Distorsion géométrique X
Principes de grossissement X
Fonctionnement Filtres optiques X
et principes des Construction d’images numé-
appareils photo- X
riques et problèmes associés
graphiques et des
photodétecteurs Traitement des images X
Analyse des images X
Compression et transmission
X
d’images
Stockage d’images X
Résolution X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 16 (suite)
Moniteurs vidéo X
Autres moniteurs X
Luxmètres et photomètres X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 16 (suite)
Principes de fonc- Cohérent X
tionnement des Incohérent
faisceaux de fibres X
et des lentilles
Photogrammétrie X
Perception visuelle Ce que l’œil voit X
Ce que le cerveau voit X
Ce que les autres perçoivent X
Ce que le concepteur, ingé-
X
nieur, etc. voit
Attributs des Couleur X X
matériaux ayant État de surface X X
une incidence sur le
contrôle Préparation de la surface X X
Propreté X X
Forme X X
Dimensions X X
Température X X
Texture X X
Type X X
Fini de surface X X
Facteurs environne- Atmosphère X
mentaux et physio- Confort X
logiques
Perspective X
Distance X
Accès X
Fatigue X
Santé X
Humidité X
Attitude mentale X
Position X
Sécurité X
Température X
Propreté X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 16 (suite)
Méthodes directes
X X
et à distance
Vision Exigences X X
Responsabilité de l’employeur X
12.3 Présentation des défauts de
Connaissances rela- base détectés par un contrôle
tives au produit et visuel, si nécessaire pour X
capacité associée de travailler dans un secteur
la méthode et de ses spécifique
techniques dérivées Évaluation des surfaces X
Objets à contrôler et défauts X X
Production de base et proces-
X X
sus de dégradation
Terminologie, origine, nature
X X
et aspect des défauts
Secteurs de la technologie des
X X
produits
Métallurgie de base du pro-
X X
cédé/composant
Procédés de soudage/assem-
X X
blage
Placage et tamponnage X X
— Procédés de production
X X
de produits corroyés
— Procédés de formage à
X X
froid
— Procédés de traitement
X X
thermique
Rugosité et ondulation X
Définition de la forme et de la
X
géométrie des défauts
Composition des matériaux X X
— Procédés de finition de
X X
surface
— Technologie de fonderie
X X
de base
— Procédés d’usinage et
X X
d’enlèvement de matière
— Polymères/composites X X
Aspects en service X X
— Défauts induits par le
X X
service
— Mécaniquement X X
— Thermiquement X X
— Tribologie X X
— Usure X X
— Chimique X X
— Électrochimique X X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 16 (suite)
Capacité et limites Vue d’ensemble/sensibilisation X
du contrôle visuel Capacité de détection X
— Dimensions des défauts X
— Forme X
— Orientation/position X
— Types de défaut X
— Effets de l’état de surface X
— Limites de l’équipement X
— Effets de l’éclairage X
Techniques asso- Dimensionnement X
ciées Comparateurs X
Mesurage X
Imagerie thermographique X
Prise d’empreinte par réplique X
12.4 Introduction et Miroirs X X X
Équipement applications Loupes X X X
Boroscopes X X X
Fibroscopes X X X
Photographie et Caméras X X
vidéo Moniteurs vidéo X X
Sources lumineuses et éclai-
X X
rage spécial
Calibres X X
Gabarits X X
Échelles X X
Outils spéciaux X
Systèmes automatisés X X
Systèmes assistés par ordina-
X X
teur
Pièce type d’essai X X
Cibles pour le contrôle de la
X X X
résolution
Réticules X X
Effet sur la configuration
X
d’essai
Évaluation de l’équipement
pour réaliser une tâche par- X
ticulière
Élaboration d’une vérifica-
tion des performances de X
l’équipement
— Choix/conception X
— Application de pièces
X
types d’essai

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 16 (suite)
Équipement Choix de l’équipement X
d’enregistrement, Limites de l’équipement X
de transfert et de
stockage d’images Vérification de l’équipement X X
Procédure de contrôle, de
maintenance et de réglage de X
l’équipement
Dimensionnement Systèmes d’imagerie X
des indications Systèmes optiques spéciaux X
Exigences relatives à un équi-
pement spécial (c’est-à-dire
X X
utilisé sous l’eau, résistant aux
rayonnements)
X X
lables au contrôle — Objet à contrôler X X
— Type de fabrication X X
contrôle et applica- Infrastructure X X
tion d’une norme
X X
contrôle
la durée de vie à laquelle le X X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 16 (suite)
Norme et codes assignés à
X X
l’objet contrôlé
X X
Critères d’acceptation X X
séquence de réalisa- Préparation de la surface X
tion du contrôle
Éclairement (type, niveau et
X
direction)
Équipement de contrôle visuel
X
à utiliser
Pièce type d’essai et points de
X
contrôle
Exigence relative aux images
X
enregistrées
X
toire écrit
X
écrites
tions écrites
Documents X X
X
12.6 Montage d’essai Pièces types d’essai X X
Contrôle Cibles pour le contrôle de la
X X
résolution
Réglage X
Mode opératoire écrit X X
12.7 Consignation des Référence aux normes d’essai
X X
Évaluation et résultats
compte rendu État du réglage X X
Points de référence pour la
X X
localisation des indications

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 16 (suite)
Classification des indications X X
— Critères d’acceptation
X X
prescrits
— Rapports et documenta-
X X
tion
— Consignation des résul-
X X
tats de la vérification
Contrôle et surveil- Interprétation X X
lance des résultats Évaluation X X
d’essai
— Objective X X
— Subjective X X
Consignation des résultats
conformément aux spécifica- X X
tions et normes
Renseignement des formu-
X X
laires de réglage
Élaboration des for- Organisation des formulaires
X
mulaires de rapport finaux
Stockage des formulaires
X
finaux
Diffusion des formulaires
X
finaux
Étude des codes et normes
de produits appropriés pour X
chaque application
Servir de point de référence
pour un avis de niveau 2
X
concernant l’interprétation et
l’évaluation
12.8 Classification et Critères d’acceptation X X
Évaluation évaluation des — Codes X X
observations
— Normes X X
— Instructions écrites X X
— Référence de niveau 3
en l’absence de codes ou de X X
normes
— Spécifications de
X
conception
Par comparaison X X
Par mesurage X
Évaluation automatisée (par
exemple reconnaissance des X
formes)

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 16 (suite)
Enregistrement X
Compte rendu X
Analyse des résultats X
Transcription des codes,
normes, spécifications de
conception, etc. en critères
X
d’acceptation clairs devant
figurer dans les modes opéra-
toires et les instructions
Recherche d’informations ou
d’aide pour analyser les obser-
vations non couvertes par des X
codes ou normes et élaborer
des critères d’acceptation
Formation de niveaux 1 et 2
relative aux critères d’accep- X
tation
Aspects liés à la personnel Autres systèmes de qualifica-
qualité X
X
Qualification des modes opé-
X
ratoires d’END
modes opératoires et person- X
nel END)
X
écrites
X
X X
normes de produits X X
applicables
X
non destructif
Formation spécifique à l’acti-
X
vité
12.10 Importance de
Évolutions l’étude des techno-
logies actuelles et
en cours de déve- X
loppement et des
méthodes d’appli-
cation
Récapitulatif des
X
dernières évolutions

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

13 Contrôle par thermographie (TT) — Niveaux 1, 2 et 3

La formation au contrôle par thermographie doit être conforme aux Tableaux 17 et 18.

1 1 1
du contrôle par thermographie (TT)
12 12 23
sances associées
13.3 Connaissances relatives au produit et capacités de
30 24 3
13.6 Contrôle 30 26 18
Tableau 18 — Contrôle par thermographie (TT) — Niveaux 1, 2 et 3

la terminologie et
contrôle par ther- À quelle étape de la vie d’un
mographie (TT) X X X
Comment ajoute-t-il de la valeur ? X X X
par thermographie Applicabilité et limites
(TT) X X X
Terminologie X X X
13.2 Transfert de cha- Chaleur/température/énergie X X
Principes physiques leur Loi thermodynamique X X
et connaissances
associées Phase X X
— Solide X X
— Liquide X X
— Gaz X X
Variations de l’échelle thermo-
X X
métrique
Principes fondamentaux de la
X X
conduction thermique
— Loi de Fourier X X
Principes fondamentaux de la
X X
convection thermique

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 18 (suite)
— Loi de refroidissement de
X X
Newton
Principes fondamentaux du
X X
rayonnement thermique
— Loi de Planck X X
— Loi de Wien X X
— Loi de Stefan-Boltzmann X X
Évaporation X X
— Introduction X
— Principes fondamentaux X
Technique infra- Spectre électromagnétique X
rouge — Définition du domaine
X
infrarouge
Terminologie X
Émissivité X
Réflectivité X
Transmissivité X
Absorptivité X
Corps noir/corps gris X
— Radiateur sélectif X
Loi de Kirchhoff X
Effet de rayonnement d’une cavité X
Fenêtre atmosphérique X
Propriété thermique des maté-
X
riaux
Émissivité des matériaux X
État stable/transitoire X X X
Diffusivité thermique X X
Résistance thermique de contact X X
Estimation/calcul de la tempéra-
X X
ture théorique
Absorption X X
— Atmosphérique X X
— Divers gaz X
Loi de Lambert-Beer X X
Méthodes de mesure de la tem-
X X
pérature
— Avec ou sans contact ; des-
cription du principe de différents X X
capteurs
Émissivité spéciale des matériaux X
Photométrie X
Optique géométrique X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 18 (suite)
13.3 Principes de la Caractéristiques de la thermo-
X X
Connaissances rela- thermographie graphie
tives au produit et Technique basée sur la détection X X
capacité associée de
la méthode et de ses — Domaine de température
X X
techniques dérivées adiabatique
— Délamination/fissure X X
— Auto-échauffement X X
— Effet de rayonnement
X X
d’une cavité
— Méthode active X X
— Méthode passive X X
— Thermographie qualitative X X
— Thermographie quantitative X X
Critères de sélection de la tech-
X X
nique
Autres équipements de mesure
de la température et leurs prin- X
cipes de mesure
Réglage X X X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 18 (suite)
Méthode de mesure Effet thermoélastique X X
des contraintes Principe de la méthode X X
thermoélastiques
Technique de démodulation
X
synchrone
Technique d’imagerie basée sur
X
la différence de température
Propriété thermoélastique des
X
matériaux
Résolution en contrainte X
Domaine de fréquences de charge X
Divers défauts et Installations électriques/disposi-
X X
leur cause tif électronique
Machines X X
Usine X X
Bâtiments et structures X X
Matériaux X X
Conception et construction de
nouveaux matériaux (plastique
renforcé de fibres de carbone, X
plastique renforcé de fibres de
verre, structures sandwich, etc.)
Capacité de la méthode, probabi-
X
lité de détection
Combinaison de méthodes
(différents dispositifs de charge
X
thermique, différentes mé-
thodes d’END)
13.4 Instrument ther- Composants et fonctions de base X
Équipement mographique Caractéristiques des détecteurs X
— Type quantique X
— Type thermique X
Facteurs ayant une incidence sur
X
l’émissivité
Dimension minimale détectable
X X
(MDD)
— Résolution spatiale X
— Distance X
Différence de température mini-
X X
male détectable (MDTD)
Différence de température mini-
X X
male résolvable (MRTD)

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 18 (suite)
Champ de vision (FOV) X
Connaissance du traitement
X
d’image
— Palettes de couleurs X
— Moyennage de trame X X
— Correction de pixels X
Processus de traitement des
X
signaux dans les instruments
Mécanisme et principe des
X
détecteurs
Critères de sélection des détec-
X
teurs
— Bolomètre X
— Thermocouple X
— Thermopile X
— Détecteur pyroélectrique X
Méthode de balayage des détec-
X
teurs
Bande de longueurs d’onde de
X
mesure
— Type courtes longueurs
X
d’onde
— Type grandes longueurs
X
d’onde
Critères de sélection de la bande
X
de longueurs d’onde de mesure
Écart de température équivalent
X
au bruit (NETD)
Nombre de pixels X
Durée d’exposition X
Gamme dynamique X
Éprouvette normalisée X
Accessoires Filtres X
— Variétés et rôles des filtres X
— Critères de sélection des
X
filtres
Variétés et rôles de la lentille
X
optique
— Critères de sélection de la
X
lentille optique
— Optique X
— Lentilles de rapprochement X
— Lentilles à immersion X
Variétés et rôles des autres
X
accessoires
— Émissivité d’une peinture ou
X
d’un ruban adhésif noir

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 18 (suite)
— Critères de sélection d’un
X
miroir infrarouge
— Matériaux des fenêtres de
X
détecteur
— Critères de sélection de la
fenêtre d’un détecteur incluant X
une couche antireflets
Caméras IR à deux bandes et
X
deux couleurs
Dispositif de Variétés X
charge thermique — Charge thermique par
X
contact
— Chauffage par rayonnement X
— Chauffage par lampes‑flash/
X
chauffage progressif
— Chauffage électrique X
— Autres dispositifs de charge
X
thermique
Critères de sélection du disposi-
X
tif de charge thermique
Méthode de mesure des
X
contraintes thermoélastiques
Efficience X
Uniformité X
Reproductibilité X
Sécurité X
13.5 Informations sur Identification ou désignation du
X X X
Informations préa- l’objet contrôlé matériau
tion d’une norme
X X
contrôle
Étape de la fabrication ou de la
durée de vie à laquelle le contrôle X
doit être effectué
X X
contrôlé
Exigences relatives au personnel
X X
sation du contrôle

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 18 (suite)
X
toire écrit
Préparation d’instructions écrites X
Réalisation du contrôle confor-
X
Documents X
Présentation des normes, codes
X
13.6 Conditions d’essai Conditions ambiantes X
Contrôle Reconnaissance d’un facteur
X
d’erreur
Reconnaissance et correction de X
— Absorption atmosphérique X X
— Rayonnement de fond X X
Instructions pour des objets
X
transparents
Détecteur linéaire pour le
contrôle automatisé pendant la X
production
Contrôle et réglage du procédé
X
de production
Simulation par la méthode des
éléments finis pour l’extension
X
des paramètres, la prédiction des
résultats et la reconstruction

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 18 (suite)
Fonctionnement Réglage de l’émissivité X
des instruments Connaissance de la correction de
infrarouge X
détection
Compréhension de la résolution
X
spatiale
Dépendance de l’émissivité vis‑à-
X
vis de l’angle d’attaque
— Réglage de l’angle d’attaque X
X
vis de la température
— Sélection d’une plage de
X
température
— Réglage de la gamme et du
X
niveau de température
Réglage de la durée d’image X
Instructions pour un miroir
X
infrarouge
Mise au point X
Objet de référence X
Mesurage de l’émissivité X X
X X
vis de la longueur d’onde
X X
vis de la rugosité de surface
Dépendance de l’émissivité
vis‑à-vis de l’épaisseur de la X X
couche d’oxyde
Émissivité d’un corps quasi noir X X
Cas particuliers Analyse des contraintes ther-
X
moélastiques (TSA)
Contrôle de matériaux se-
X
mi‑transparents
Applications à température
X
élevée
Mesurages à vitesse élevée X
Détection de gaz X
Divers défauts et Installations électriques X X
leur cause Dispositif électronique X X
Machines X X
Usine X X
Bâtiments et structures X X
Matériaux X X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 18 (suite)
13.7 Traitement des Variétés et rôles X
Évaluation et données Seuillage X
compte rendu
Moyennage X
Soustraction du fond X
Soustraction X
Démodulation synchrone X
Compensation de mouvement X
Traitement des tendances X
Critères de sélection du proces-
X
sus de traitement des données
Enregistrement Exigences X X
Compte rendu Exigences X X
Caractérisation X
Interprétation des indications X
Évaluation des indications X
Utilisation de Interprétation des normes et
X
méthodes d’END codes pertinents
complémentaires Évaluation (approche conven-
X
tionnelle, méthode validée)
Distinction défaut/artéfact X
Niveau de variation significative X
Processus de stockage et d’enre-
X
gistrement
13.8 Évaluation et Application des critères
X
Évaluation confirmation des d’acceptation
rapports d’essai — Critères conformément aux
normes, codes et modes opéra- X
toires
— Critères d’acceptation et de
X
classification
— Importance des discontinui-
X
tés
— Avec et sans codes et normes X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 18 (suite)
Aspects liés à la personnel Autres systèmes de qualification
qualité X
et de certification en END
Documentation Format et domaine d’application
X
des procédures de travail
Qualification des modes opéra-
X
toires d’END
modes opératoires et personnel X
END)
Élaboration d’instructions écrites X
Travailler correctement selon les
X
instructions écrites
Connaissance des Choix de la technique appropriée X
normes d’applica- Utilisation de paramètres d’essai
tions en END et des X
appropriés
normes de produits
applicables Choix de la méthode d’essai non
X X
destructif
13.10 Informations géné-
X
Évolutions rales
Évolutions les plus Applications industrielles X
récentes Applications scientifiques X
14 Contrôle des contraintes résiduelles (ST) — Niveaux 1, 2 et 3

La formation au contrôle des contraintes résiduelles doit être conforme aux Tableaux 19 et 20.

Niveau 1 (% de Niveau 2 (% de Niveau 3 (% de
Contenu
la durée totale) la durée totale) la durée totale)
6 2 2
du contrôle des contraintes résiduelles (ST)
16 18 25
sances associées
14.3 Connaissances relatives au produit et capacités
12 17 18
14.6 Contrôle 16 13 15
14.9 Aspect lié à la qualité 2 4 5

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 20 — Contrôle des contraintes résiduelles (ST) — Niveaux 1, 2 et 3

la terminologie
et de l’historique Quel est le but de l’END ? X X X
du contrôle des À quelle étape de la vie X X X
contraintes rési- d’un « produit » l’END est-il
duelles (ST) réalisé ?
valeur ?
But du contrôle des Définition X X X
contraintes rési- Applicabilité et limites X X X
duelles (ST)

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 20 (suite)
14.2 Principes physiques Charge et déformation X
Principes physiques Contraintes et déformations X X X
et connaissances sur une surface
associées
— Définitions X X
— Relations X X
— Conversions des coor- X
données
— Cercles de contrainte et X
de déformation de Mohr
— Contraintes et déforma- X
tion sur une surface
— Contraintes et déforma- X
tions principales
14.3 Connaissances rela- Contrôle des matériaux X
Connaissances relatives au produit Contrainte plane X
tives au produit et
capacité associée de Champs types de contrainte X
la méthode et de ses et de déformation
techniques dérivées Contrainte et déformation X
dans un récipient sous pres-
sion
Déformation thermique X
Déformation dynamique X
Circuit électrique Principes fondamentaux X X
— Circuit de courant continu X X
— Circuit de courant alter- X
natif
Contrôle des Caractéristiques X X X
contraintes résiduelles Principes X X X
Structure X X X
14.4 Système de mesure Mesurage des déformations X X
Équipement statiques
Mesurage des déformations X X
dynamiques
Alimentation électrique d’un X X
circuit pont
Jauges de déformation Diverses jauges de déforma- X X
tion
Caractéristiques X X X
Propriétés X X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 20 (suite)
Catégories X X
Fil de la jauge X
Limite applicable X X
Sélection X
Circuit pont X X X
— Principes X X X
— Connexion câblée X X X
— Déformation équivalente X X
Dispositifs de mesure et X X X
d’enregistrement des défor-
mations
— Dispositif de mesure des X X
contraintes statiques
— Dispositif de mesure des X X
contraintes dynamiques
— Connecteur d’entrée X X
Dispositif d’enregistrement X X
— Catégories X X
Réponse du système de X X
mesure
Transducteur Caractéristiques X X
Principe de mesure X X
Divers X X
14.5 Informations sur Identification ou désignation X X
lables au contrôle — Objet à contrôler X X
— Type de fabrication X X
tion d’une norme
contrôle
contrôlé
Exigences relatives au per- X X
Technique et séquence État de surface X
de réalisation du Préparation de la surface X
contrôle
Correction des valeurs X X
mesurées
Correction du facteur de jauge X X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 20 (suite)
Correction incluant la résis- X
tance du fil de la jauge
Déformation apparente pro- X
voquée par une variation de
température
— Jauge de déformation à X
compensation automatique de
température
Compensation de tempéra- X
ture en utilisant une méthode
fictive active
Informations concernant la X X
jauge de déformation
— Fil X X
— Borne de la jauge X X
— Ciment X X
— Confirmation après fixa- X X
tion
Protection contre l’humidité X X
Erreurs lors du contrôle et X X
solutions associées
— Erreur due à l’angle de X
fixation de la jauge de défor-
mation
— Incompatibilité du cir- X
cuit pont
— Instabilité de la mesure X
— Bruit X
Mesurage de longue durée X
Documentation après X
contrôle

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 20 (suite)
toire écrit
écrites
Réalisation du contrôle X
conformément aux instruc-
tions écrites
Documents X
Présentation des normes, X
14.6 Préparation Fixation de la jauge de défor- X X
Contrôle mation
— Préparation avant la X X
fixation
— Fixation X X
— Confirmation après fixa- X X
tion
Préparation du système de X
mesure
Protection contre l’humidité X X
Mode opératoire de contrôle X X X
des contraintes (statiques)
Mesurage X X
— Avec un transducteur X X
— Réglage du transducteur X X
— Mesurage X X
Mode opératoire de contrôle X X
des contraintes (dynamiques)
Connexion de l’équipement X X
Contrôle des Introduction X
contraintes résiduelles Contrôle d’une déformation X
dans des conditions importante
et environnements
spécifiques Contrôle à basses et hautes X
températures
Contrôle dans l’eau et à une X
pression élevée
Contrôle dans des champs X
magnétiques et électriques

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 20 (suite)
Contrôle de composants X
rotatifs
Contrôle d’une déformation X
impulsionnelle
Contrôle d’une déformation X
résiduelle
14.7 Enregistrement et consi- X X
Évaluation et gnation des données de
compte rendu déformation
Évaluation des données de X X
déformation
— Correction des données X
de déformation
Analyse des contraintes à X X
partir des données de défor-
mation
Consignation des résultats X X
14.8 Critères de défaillance et de X X
Évaluation résistance
— Contrainte admissible et X X
coefficient de sécurité
— Fatigue X
— Mécanique de la rupture X
14.9 Qualification du per- ISO 9712 X X X
Aspects liés à la sonnel Autres systèmes de qualifica- X
Qualification des modes opé- X
ratoires d’END
nel END)
Élaboration d’instructions X X
écrites
Travailler correctement selon X X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 20 (suite)
Connaissance des Choix de la technique appro- X X
normes d’applications priée
en END et des normes Utilisation de paramètres X X
de produits applicables d’essai appropriés
Choix de la méthode d’essai X X
non destructif
Formation spécifique à X X X
l’activité
14.10 Autres méthodes de Principes et caractéristiques X
Évolutions contrôle des déforma- Méthode otique X
tions
Méthode infrarouge X
Méthode de mesure des X
contraintes par rayons X
Méthode magnétique X
Méthode par ultrasons X
Méthode utilisant un revête- X
ment
15 Techniques en développement
Le présent article a pour but de fournir des recommandations sur la formation se rapportant aux
techniques en développement. Pour cette formation, il est recommandé de disposer au minimum d’une
certification de niveau 2 pour la méthode principale associée à cette technologie émergente (voir les
Tableaux 21 à 23).
Tableau 21 — Diffraction du temps de vol par ultrasons (UT-TOFD) — Niveaux 1, 2 et 3

15.1.1 Historique X X X
Présentation de la termi- Présentation de Vue d’ensemble X X X
nologie et de l’historique la technique de
de la diffraction du temps
diffraction du
de vol par ultrasons temps de vol par X X X
(UT‑TOFD) ultrasons
15.1.2 Bases mathéma- Principes fondamentaux
X
Principes physiques et tiques et physiques d’un faisceau ultrasonore
connaissances associées Ondes X
— Mouvement sinusoïdal X
— Amplitude X
— Fréquence X
— Longueur d’onde X
— Vitesse de propagation X
— Ondes longitudinales X
— Ondes transversales X
Principe de diffraction
X
des ondes
Champ acoustique des
X
traducteurs UT-TOFD

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 21 (suite)
Visualisation des images
X
UT-TOFD
Distance entre les centres
X
des traducteurs (PCS)
15.1.3 Divers défauts Défauts liés aux procédés
X
Connaissances relatives au liés aux procédés de fabrication (soudage)
produit et capacité asso- de fabrication et Mise en œuvre de la tech-
ciée de la méthode et de défauts induits nique UT-TOFD selon les
ses techniques dérivées par le service en produits et les discontinui- X
fonction de sec- tés attendues (défauts des
teurs définis soudures)
Propriétés globales Influence de l’état de
X
de l’éprouvette surface
Géométrie X
Atténuation X
Réflecteurs de référence
(trous percés latéralement, X
entailles)
15.1.4 Appareil de Appareil UT-TOFD X
Équipement contrôle et appa- Traducteurs UT-TOFD X
reillage combiné
Adaptation des traduc-
teurs aux surfaces de X
balayage courbes
Codeurs et mécanismes de
X
balayage
Différents types de numé-
X
riseurs
Blocs de référence X
Différents blocs de réfé-
X
rence

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 21 (suite)
15.1.5 Éléments devant Objectif X
Informations préalables au être définis dans Étendue du contrôle
contrôle les spécifications X
UT‑TOFD
Informations requises par
X
l’opérateur
Instructions ou mode opé-
X
ratoire d’essai écrits
15.1.6 Réglage de la plage de
X
Contrôle contrôle et de la sensibilité
Configuration des traduc-
X
teurs
— Réglage du pas de
X
balayage
— Considérations
X
d’ordre géométrique
— Préparation des sur-
X
faces balayées
— Couplant et tech-
X
niques de couplage
Réglages de l’échelle de
la base de temps et de la X
sensibilité
— Fenêtre de sélection X
— Conversion
X
temps‑profondeur
— Réglages de sensibilité X
— Vérification des
X
réglages
Blocs de référence X
— Matériau X
— Dimensions X
— Forme X
rence, trous percés latéra- X
lement et entailles
Interprétation et analyse
X
des images UT-TOFD
— Évaluation de la qua-
X
lité de l’image UT‑TOFD
— Identification et clas-
sification des indications X
UT-TOFD pertinentes
— Détermination de la
X
position et de la taille
15.1.7 Évaluation selon les cri-
X
Évaluation et compte rendu tères d’acceptation
Rapport d’essai X
— Informations relatives
X
à l’objet contrôlé
— Équipement X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 21 (suite)
— Technique de contrôle X
— Résultats du contrôle X
Stockage des fichiers de
X
données
Génération de rapports X
Résolution à proximité de
la surface et sur la face X
opposée
Localisation et mesurage
X
de la longueur des défauts
15.1.8 Évaluation et confirmation
X
Évaluation des rapports d’essai
Application des critères
d’acceptation conformé-
X
ment aux normes, codes et
modes opératoires
Évaluation hors ligne à
X
l’aide d’un logiciel
15.1.9 Qualification du ISO 9712 X
Aspects liés à la qualité personnel Autres systèmes de quali-
fication et de certification X
en END
15.1.10 Non applicable

Évolutions
Tableau 22 — Contrôle par ultrasons en multiéléments (UT-PA) — Niveaux 1, 2 et 3

15.2.1 Historique
Présentation de la termi- Présentation Vue d’ensemble X
nologie et de l’historique du contrôle par
du contrôle par ultrasons Applicabilité et limites
ultrasons en mul-
en multiéléments (UT-PA) tiéléments Différence entre les tech-
niques de contrôle par

ultrasons conventionnelle
et en multiéléments
15.2.2 Bases mathéma- Principes fondamentaux
X
Principes physiques et tiques et physiques d’un faisceau ultrasonore
connaissances associées Ondes X
— Mouvement sinusoïdal X
— Amplitude X
— Fréquence X
— Longueur d’onde X
— Vitesse de propaga-
X
tion
— Ondes longitudinales X
— Ondes transversales X
Termes relatifs au son X
— Lobes latéraux X
— Lobes de réseau X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 22 (suite)
— Désignation des
X
artéfacts
Termes relatifs aux
X
réseaux
— Ouverture active X
— Ouverture élémen-
X
taire
— Axe primaire d’un
X
réseau
— Axe secondaire d’un
X
réseau
Influence de la largeur de
X
bande
Déflexion du faisceau élec-
tronique et focalisation X
des faisceaux acoustiques

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 22 (suite)
15.2.3 Défauts liés aux Soudage X
Connaissances relatives au procédés de fabri- Pièces forgées X
produit et capacité asso- cation
ciée de la méthode et de Pièces moulées X
ses techniques dérivées Mise en œuvre
des techniques de
contrôle par ultra-
sons en multiélé-
X
ments en fonction
des produits et
des discontinuités
attendues
Propriétés globales Influence de l’état de

de l’éprouvette surface
Géométrie
Atténuation
Réflecteurs de référence
— Fond
— Trous percés latérale-

ment
— Trous à fond plat
15.2.4 Appareil de Appareil multiéléments X
Équipement contrôle et appa- Appareil multivoies X
reillage combiné
Retard à l’émission X
Retard à la réception X
Lois de retards X
Équilibrage en amplitude X
Capacité multi-groupes X
Nombre de lois de focali-
X
sation
Traducteurs mul- Barrette linéaire X
tiéléments Réseau annulaire X
Réseau annulaire sectorisé X
Propriétés acoustiques
des matériaux de sabot
X
ayant une incidence sur
les multiéléments
Réseau encerclant X
Réseau 1,5D X
Réseau linéaire avec
émetteurs et récepteurs X
séparés
Capacités mul- Nombre de lois de focali-
X
ti‑groupes sation
Codeurs Différents types de
X
numériseurs
Couplant et tech-
X
niques de couplage

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 22 (suite)
Blocs d’étalonnage Bloc no 1 conformément à
X
l’ISO 2400
Bloc no 2 conformément à
X
l’ISO 7963
Bloc de référence confor-
X
mément à l’ISO 13588
Différents blocs de réfé-
X
rence
15.2.5 Normes appli- Contenu X
Informations préalables au quées pour le Exigences relatives aux
contrôle contrôle par ultra- X
modes opératoires
sons et le contrôle
par ultrasons en Élaboration des modes
opératoires de contrôle X
multiéléments
15.2.6 Techniques Balayage linéaire à 0 deg
Contrôle (pièces forgées et pièces X
moulées)
Balayage linéaire à angle
X
constant (soudage)
Balayage sectoriel (sou-
X
dage, pièces forgées)
Balayage multi-groupes X
Réglage de la base de
X
temps
— Réglage en un point X
— Réglage en deux
X
points
Réglage de la sensibilité X
— Gain corrigé angulai-
X
rement (GCA)
X
rence (BW, SDH, FBH)

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 22 (suite)
— Technique du réflec-
teur simple (hauteur de X
référence)
— Exigences relatives
X
aux blocs de référence
— Méthode de la courbe
X
amplitude-distance
— Méthode du gain en
X
fonction du temps
— Méthode des dia-
X
mètres de réflectivité
Applications types des
X
techniques multiéléments
15.2.7 Évaluation des Méthode des diamètres de
X
Évaluation et compte rendu indications réflectivité
Méthode de la courbe
X
amplitude-distance
Méthode du gain en fonc-
X
tion du temps
Distinction entre un écho
dû à un défaut et un écho X
lié à la géométrie
Localisation des défauts X
Interprétation et évalua-
X
tion des indications
Dimensionnement des
X
défauts
Interprétation des repré-
sentations de types A, E, X
S, B et C
Compte rendu Enregistrement X
Classification des résul-
tats selon le mode opéra- X
toire écrit
Stockage des fichiers de
X
données
Génération de rapports X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 22 (suite)
15.2.8 Évaluation et confirma-
X
Évaluation tion des rapports d’essai
Application des critères
d’acceptation conformé-
X
ment aux normes, codes et
modes opératoires
15.2.9 Qualification du ISO 9712 X
Aspects liés à la qualité personnel Autres systèmes de qua-
lification et de certifica- X
tion en END

Évolutions
Tableau 23 — Contrôle par flux de fuite magnétique (MFL) — Niveaux 1, 2 et 3

15.3.1 But de l’END En quoi consiste le X
Présentation de la termi- contrôle ?
nologie et de l’historique Quel est le but de l’END ? X
du contrôle par flux de
fuite magnétique (MFL) À quelle étape de la vie X
d’un « produit » l’END est‑il
réalisé ?
Comment ajoute-t-il de la X
valeur ?
Qui peut réaliser l’END ? X
Principales méthodes d’END X
But du contrôle Définition X
par flux de fuite Applicabilité et limites X
magnétique
(MFL)
15.3.2 Champs magné- Principes fondamentaux du X
Principes physiques et tiques contrôle
connaissances associées Caractéristiques d’un X
champ magnétique
Caractéristiques d’un flux X
magnétique
Théorie du flux de fuite X X X
Théorie de Forster et autres X
théories
Méthodes des éléments finis X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 23 (suite)
Facteurs ayant une X
incidence sur les champs
magnétiques de fuite
— Degré d’aimantation X
— Géométrie des défauts X
— Localisation des défauts X
— Orientation des défauts X
— Distance entre défauts X
adjacents
Magnétisme au Principes de l’électricité X
moyen d’un cou- Champ autour d’un conduc- X
rant électrique teur
Règle de la main droite X
Champ dans les conduc- X
teurs ferromagnétiques
Aimantation indirecte X
— Champs longitudinaux X
— Champs transversaux X
Variables d’aimantation X
— Type de courant (alter- X X
natif ou continu)
— Courbe d’hystérésis X
— Perméabilité X
— Facteurs ayant une inci- X X
dence sur la perméabilité
15.3.3 Facteurs ayant Conditions d’essai X
Connaissances relatives au une incidence Caractéristiques d’aimanta- X
produit et capacité asso- sur les éléments tion de différents matériaux
ciée de la méthode et de sensibles magnétiques
ses techniques dérivées
Aimantation au moyen de X
champs électriques
— Champ circulaire X
— Champ longitudinal X
— Valeur d’induction X
magnétique

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 23 (suite)
Aimantation au moyen X
d’aimants permanents
— Relation et théorie des X
aimants permanents
— Matériaux d’aimants X
permanents
Sélection de la méthode X X
d’aimantation appropriée
— Type de pièce X
— Type de discontinuité X
— Vitesse de contrôle X
— Localisation des dis- X
continuités
— Applications d’autres X
techniques de détection des
discontinuités
Applications Détection des défauts X
Tri en fonction des proprié- X
tés liées à la perméabilité
Mesurage des valeurs ma- X
gnétiques caractéristiques
Contrôle du fond et des X
parois de réservoirs
Contrôle de câbles métal- X
liques
Contrôle de tubes X
Racleurs intelligents X
Contrôle de barres X
15.3.4 Détecteurs Avantages/limites X
Équipement Bobines d’examen Taux de variation de la X X
composante normale du
flux de fuite
Loi de Faraday X X
Facteurs ayant une incidence X X
sur la tension de sortie
Avantages/limites X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 23 (suite)
Capteurs à effet Principes X X
Hall Facteur ayant une incidence X X
sur la tension de sortie
Conception de Choix de la lecture X
l’appareil — Écrans de moniteur X
— Enregistreur à bande X
— Alarmes X
— Portes de tri X
— Automatisation X
— Système informatique X
d’acquisition de données
— Autres X
Amplification X
Filtrage X
Configuration des capteurs X
15.3.5 Informations sur Identification ou désigna-
Informations préalables au l’objet contrôlé tion du matériau
contrôle — Objet à contrôler X X
— Type de fabrication X
— Catalogue de défauts X
Norme d’application X
Application des spécifica- X
tions
Application des modes opé- X
ratoires
Technique et État de surface X X
séquence de Préparation de la surface X X
réalisation du
contrôle Documentation après X X
contrôle
Présentation des normes, X X
écrites
Préparation d’un mode opé- X
ratoire écrit
15.3.6 Réalisation du contrôle X
Contrôle conformément aux instruc-
tions écrites
Supervision du personnel X X
Paramètres Détection des défauts en X
surface ou sous la surface
Aimantation
— Équipement X X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 23 (suite)
— Type de courant X X
— Type X X
Vérification des conditions X
d’aimantation
— Valeurs des paramètres X
d’aimantation
— Méthode continue ou X
résiduelle
— Perméabilité X
— Saturation X
Technique X X
— Choix X X
— Intensité du champ X
magnétique
— Orientation X
Rapport signal/bruit X X
— Définition X
— Relation avec le X
contrôle par flux de fuite
— Méthodes permettant X
d’améliorer le rapport
signal/bruit
— Suppression du bruit X
Vitesse de réponse X
Effet de peau X
Couplage X X
— Éloignement X X
— Facteur de remplissage X
Considérations relatives au X X X
traitement des signaux
— Redressement X X
— Amplification X X
— Filtrage X X X
Mécanisme de lecture X X
— Écrans X X
— Enregistreur à bande X X
— Système informatique X X
d’acquisition de données
Enregistrement des discon- X
tinuités
Compte rendu X
Interprétation des indica- X
tions
Traitement des Champ résiduel X X
composants — Condition nécessitant X X
une désaimantation

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 23 (suite)
— Niveau d’aimantation X X
résiduelle
— Influence sur l’utilisa- X X
tion ultérieure du matériau
— Principes fondamen- X
taux
— Valeur minimale du X
champ magnétique pour les
principes de désaimantation
15.3.7 Conditions Réglage des unités d’essai X
Évaluation et compte rendu d’examen Rapport d’essai de lot X X X
Rapport d’essai Base d’évaluation X X
Relevé des imperfections X X
15.3.8 Évaluation des Pertinentes et non perti- X
Évaluation discontinuités nentes
Influence de la fabrication X X
Influence du matériau X X
Caractérisation X X

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Tableau 23 (suite)
15.3.9 Qualification du ISO 9712 X X X
Aspects liés à la qualité personnel Autres systèmes de qualifi- X X X
cation et de certification en
END
Documentation Format et domaine d’appli- X
cation des procédures de
travail
Qualification des modes X
opératoires d’END
modes opératoires et per-
sonnel END)
Traçabilité des documents X
Fiabilité des mesurages X
Connaissance Choix de la technique X X
des normes appropriée
d’applications Utilisation de paramètres X
en END et des d’essai appropriés
normes de pro-
duits applicables Choix de la méthode d’essai X
non destructif
Formation spécifique à X X
l’activité
Évolutions

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Annexe A
(informative)
Autres durées de formation pour les techniques radiographiques

avancées
Tableau A.1 — Durées de formation pour le contrôle par radiographie (en heures)

Niveau 1 Niveau 2 Niveau 3c
Technique Certificat requis
heures heures heures
80 + formation 40 + formation
Aucun 40
RT-F1a,c RT-F1, 2a,b
RT-F Film RT-D 1 32 80 40
RT-D 2,3 32 40 32
RT-D 2,3 — 60c,d 32
Aucun 40
RT-D1a,c RT-D1, 2a,b
RT‐D Numérique RT-F1 32 80 40
RT-F 2,3 32 40 32
RT-F 2,3, RT-S 2,3 — 60c,d 32
Aucun 32
RT-S1 RT-S1, 2a,b
RT‐S Radioscopie
RT-F 2,3 32 32
RT-D 2,3 32 32
Légende
RT : méthode de contrôle par radiographie.
RT-F : pour la technique avec film.
RT-D : pour la technique numérique (en remplacement du film).
RT-S : pour la technique par radioscopie.
a Formation de niveau 1 non exigée s’il est possible d’apporter la preuve d’une qualification technique supplémentaire
(par exemple universitaire).
b Formation de base supplémentaire et examen requis selon l’ISO 9712 et examen pratique de niveau 2.
c Accès direct uniquement s’il est possible d’apporter la preuve d’une qualification technique supplémentaire (par
exemple universitaire).
d Accès direct uniquement si certifié de niveau 2 ou de niveau 3.
NOTE L’ISO/TS 25108 fournit des exigences et des recommandations pour les organismes de formation en
essais non destructifs.
Un nombre suffisant d’échantillons pour essai propres doivent être disponibles pour l’examen. Cela
inclut des échantillons pour essai de différents secteurs produits, de cales à gradins, de matériaux de
blindage, etc.
Si un seul type de matériel est disponible pour la formation RT-D, tel que des systèmes DDA ou CR par
exemple, la formation avec un seul ou les deux systèmes peut être remplacée par une formation virtuelle
avec modélisation logicielle.

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Il convient que le logiciel de formation virtuelle présente les fonctionnalités suivantes :

— entrée de différents objets à contrôler (différents matériaux/différentes géométries) ;
— sélection et positionnement d’indicateurs de qualité d’image (ISO 19232, ASTM E 1025, E 1742) ;
— sources de rayonnement : U/kV, I/mA, spectre, taille de la source, différentes sources gamma ;
— géométrie d’exposition : distances, angles de rayonnement ;
— détecteurs : DDA, CR, résolution spatiale de base du film, taille de pixel, bruit de photon, bruit des
détecteurs, rendement ;
— loi d’atténuation et facteur d’accumulation ;
— format des données : fichiers CAO d’entrée (par exemple *.stl), données d’image de sortie à 16 bits
en TIFF, DICONDE ou RAW. Il est important que les données soient compatibles avec le logiciel de
visualisation utilisé ;
— logiciel de traitement d’image conforme à l’ISO 17636-2:2013, 7.9.
En outre, il convient de disposer des accessoires suivants :
— différents ensembles d’IQI (ISO 19232) pour les matériaux utilisés ;
— plusieurs échantillons pour essai pertinent pour le secteur produits ;
— matériel de masquage et de collimation ;
— préfiltres avec différentes épaisseurs de différents matériaux ;
— cales à gradins en différents matériaux, adaptées à la production de graphiques d’exposition.

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

Annexe B
(informative)
Références utiles
B.1 Contrôle par radiographie

B.1.1 Normes ISO
ISO 3999 ISO 5579 ISO 5580 ISO 10675-1 ISO 10675-2
ISO 11699-1 ISO 11699-2 ISO 14096-1 ISO 14096-2 ISO 15708-1
ISO 15708-2 ISO 16371-1 ISO 16526-1 ISO 16526-2 ISO 16526-3
ISO 17635 ISO 17636-1 ISO 17636-2 ISO 19232-1 ISO 19232-2
ISO 19232-3 ISO 19232-4 ISO 19232-5 ISO 5576 ISO 15708-3

ISO 15708-4 ISO 20769-1 ISO 20769-2
B.1.2 Normes européennes
EN 12543-1 EN 12543-2 EN 12543-3 EN 12543-4 EN 12543-5
EN 12679 EN 12681 EN 13068-1 EN 13068-2 EN 13068-3
EN 16016-1 EN 16016-2 EN 16016-3 EN 16016-4
B.1.3 Normes ASTM
ASTM E94 ASTM E155 ASTM E186 ASTM E192 ASTM E242
ASTM E1695 ASTM E1734 ASTM E1742/ ASTM E1814 ASTM E1815

E1742M
ASTM E2422 ASTM E2445 ASTM E2446 ASTM E2597/ ASTM E2660

E2597M
ASTM E2737 ASTM E2738 ASTM E2767 ASTM E2903

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

B.1.4 Normes ASME

ASME BPVC Section V, Article 2 ASME BPVC Section V, Article 1
B.2 Contrôle par ultrasons

B.2.1 Normes ISO
ISO 2400 ISO 7963 ISO 13588 ISO 16809 ISO 16810
ISO 16811 ISO 16823 ISO 16826 ISO 16827 ISO 16828
ISO 18563-3 ISO 5577 ISO 10375 ISO 16831

EN 12668-1 EN 12668-2 EN 12668-3
B.3 Contrôle par courants de Foucault
ISO 15548-1 ISO 15548-2 ISO 15548-3 ISO 15549
ISO 17643
B.4 Contrôle par ressuage
ISO 3452-3 ISO 3452-4 ISO 3452-5 ISO 3452-6 ISO 23277

ISO 12706 CEN/TR 16638 CEN/TR 17108 CEN/TS 17100
B.5 Contrôle par magnétoscopie

B.5.1 Normes ISO
ISO 3058 ISO 3059 ISO 9934-1 ISO 9934-2 ISO 9934-3
ISO 10893-3 ISO 11960 ISO 17638 ISO 12707

EN 1369 EN 10228-1
B.5.3 Normes ASTM
ASTM E570 ASTM E1571

09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

B.6 Contrôle d’étanchéité

B.6.1 Normes ISO
ISO 3530 ISO 20484 ISO 20485 ISO 20486

EN 1779 EN 13184 EN 13625
B.7 Contrôle par émission acoustique

B.7.1 Normes ISO
ISO 12713 ISO 18249 ISO/TR 13115 ISO 18081 ISO 12714
ISO 12716

EN 13477-1 EN 13477-2 EN 13554
B.8 Contrôle visuel

B.8.1 Normes ISO
ISO 3057 ISO 3058 ISO 5817 ISO 6520-1 ISO 8785
ISO 10042 ISO 17637
EN 1330-10 EN 1370 EN 1559 EN 10163-1 EN 10163-2
EN 10163-3 EN 13018 EN 13445-5 EN 13480-5 EN 13927
B.8.3 Codes
Code ASME Code KTA
B.9 Généralités
ISO/TS 25108

09:33:28
09:33:28
ISO/TS 25107:2019(F)

ICS 19.100
Prix basé sur 97 pages

Iso TS 25107 - 2019

Transféré par

Droits d'auteur :

Formats disponibles

Iso TS 25107 - 2019

Transféré par

Informations du document

Titre original

Copyright

Formats disponibles

Partager ce document

Partager ou intégrer le document

Options de partage

Avez-vous trouvé ce document utile ?

Ce contenu est-il inapproprié ?

Droits d'auteur :

Formats disponibles

Iso TS 25107 - 2019

Transféré par

Droits d'auteur :

Formats disponibles

Date livraison : dimanche 24 novembre 2019 09:33:29

DOCUMENT PROTÉGÉ PAR COPYRIGHT

ii ﻿ © ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés ﻿ iii

iv ﻿ © ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés ﻿ v

SPÉCIFICATION TECHNIQUE ISO/TS 25107:2019(F)

Essais non destructifs — Programmes de formation en END

4.1 Formation en essais non destructifs

© ISO 2019 – Tous droits réservés ﻿ 1

4.2 Niveaux de qualification

2 ﻿ © ISO 2019 – Tous droits réservés

— Analyser les informations pour en tirer des conclusions.

4.3 Considérations générales relatives à l’environnement et à la sécurité

— les conditions ambiantes (chaleur, froid, humidité) ;

5 Contrôle par radiographie (RT) — Niveaux 1, 2 et 3

Tableau 1 — Contenu général

© ISO 2019 – Tous droits réservés ﻿ 3

4 ﻿ © ISO 2019 – Tous droits réservés

RT-F (film) RT — D (numérique) RT-S (radioscopie)

Client : EPE CSC Expertise Spa

Atténuation des Mécanisme général d’interac-

RT-F (film) RT — D (numérique) RT-S (radioscopie)

Client : EPE CSC Expertise Spa

RT-F (film) RT — D (numérique) RT-S (radioscopie)

Client : EPE CSC Expertise Spa

RT-F (film) RT — D (numérique) RT-S (radioscopie)

Client : EPE CSC Expertise Spa

RT-F (film) RT — D (numérique) RT-S (radioscopie)

Client : EPE CSC Expertise Spa

données, réglage rique

— Intégration sur puce/

© ISO 2019 – Tous droits réservés

tion d’une norme

Contrôle tique et d’évalua- — Différentes géométries

— Interprétation des images X X X X X X

© ISO 2019 – Tous droits réservés

Classe de contrôle atteinte X X X X X X X X X

© ISO 2019 – Tous droits réservés

— Interpolation des pixels

© ISO 2019 – Tous droits réservés

Connaissance des Choix de la technique appro-

© ISO 2019 – Tous droits réservés

6 Contrôle par ultrasons (UT) — Niveaux 1, 2 et 3

Tableau 3 — Contenu général

Tableau 4 — Contrôle par ultrasons (UT) — Niveaux 1, 2 et 3

20 ﻿ © ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés ﻿ 21

22 ﻿ © ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés ﻿ 23

24 ﻿ © ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés ﻿ 25

26 ﻿ © ISO 2019 – Tous droits réservés

7 Contrôle par courants de Foucault (ET) — Niveaux 1, 2 et 3

Tableau 5 — Contenu général

Tableau 6 — Contrôle par courants de Foucault (ET) — Niveaux 1, 2 et 3

© ISO 2019 – Tous droits réservés ﻿ 27

28 ﻿ © ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés ﻿ 29

ii © ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés iii

iv © ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés v

SPÉCIFICATION TECHNIQUE ISO/TS 25107:2019(F)

© ISO 2019 – Tous droits réservés 1

2 © ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés 3

4 © ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés

20 © ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés 21

22 © ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés 23

24 © ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés 25

26 © ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés 27

28 © ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés 29

30 © ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés 31

32 © ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés 33

34 © ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés 35

36 © ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés 37

38 © ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés 39

40 © ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés 41

42 © ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés 43

44 © ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés 45

46 © ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés 47

48 © ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés 49

50 © ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés 51

52 © ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés 53

54 © ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés 55

56 © ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés 57

58 © ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés 59

60 © ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés 61

62 © ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés 63

64 © ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés 65

66 © ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés 67

68 © ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés 69

70 © ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés 71

72 © ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés 73

74 © ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés 75

76 © ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés 77

78 © ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés 79

80 © ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés 81

82 © ISO 2019 – Tous droits réservés

© ISO 2019 – Tous droits réservés 83

84 © ISO 2019 – Tous droits réservés