STRUCTURE TRANSISTOR BIPOLAIRE (Rappel)
STRUCTURE TRANSISTOR BIPOLAIRE (Rappel)
STRUCTURE TRANSISTOR BIPOLAIRE (Rappel)
– Caractéristiques statiques:
– Etat bloqué :
- Limites en tension
– Conduction :
- Limites en courant
- Aire de sécurité
– Caractéristiques dynamiques :
- Fermeture (temps de commutation, pertes, cde de base)
- Ouverture (aire de sécurité , temps de commutation,
pertes, cde de base, C.A.L.C)
– Applications:
– Circuit de commande de base
– Circuit d’aide à la commutation
– Domaines d’utilisation
– Le Transistor Darlington.
N+
P
C (+)
N-
B
E
N+ ( substrat) C
IB EB
Collector
1
TRANSISTOR BIPOLAIRE A L'ETAT BLOQUE
CARACTERISTIQUE STATIQUE
ETAT BLOQUE
E E
IB=0
ou N+ N+
VBE< 0 P P
B B
N-
N-
N+ N+
2
CARACTERISTIQUE STATIQUE
CARACTERISTIQUE V- I A L'ETAT BLOQUE
à IB=0 (VCEO)
à IE=0 (VCBO)
VCEO
IC
VCBO
IB>0
IE=0
IB=0
IB<0
VCE
BVCE0 VCB
BVCB0
CARACTERISTIQUE STATIQUE
CARACTERISTIQUE V- I A L'ETAT BLOQUE
( avec différents cas de polarisation de Base)
VCER VCES
R
IC
VCEX
- VCEV
V
+
VCE
BVCE0 VCB
BVCB0
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CARACTERISTIQUE STATIQUE
ETAT BLOQUE / TENUE EN TENSION
Collecteur - Emetteur
Emetteur - Base
4
CARACTERISTIQUE STATIQUE
CONDUCTION
IB > 0
VBE > 0
Base
+
+IB Emitter
N+
P
IC e-
N-
PIN
?
N+ ( substrat)
++ Collector
1 ) Principe:
-courant circulant de B vers E • injection d’électrons de E vers B
-ces électrons se diffusent dans la base
-les électrons sont captés par le champ électrique de la jonction PN Base-Collecteur
2) Technologie:
-l’injection de trous de B vers E est à minimiser
ñ jonction dissymétrique (N + dopé que P)
-le nombre d’électrons qui se recombinent dans la base est à minimiser
ñ base étroite (gain important)
CARACTERISTIQUE STATIQUE
IC
CONDUCTION
B A IB3
C
IB2
IB1
A
Régime linéaire
B Régime quasi saturé
C Régime saturé
VCE
5
CARACTERISTIQUE STATIQUE
LA SATURATION : SPECIFICATION
IC IC<Csat
le transistor secomporte comme une résistance.
IC >ICsat
Le transistor se comporte comme une source de courant:
DANGER !
VCEsat VCE
CARACTERISTIQUE STATIQUE
PERTE EN CONDUCTION
VCE
IC
VCE=f(IB)
IB
R
+
VCE
V Vaux
IB
En fait les pertes dues à IB les plus importantes sont celles du circuit de commandede base (Pdr).
Pdr = IB.Vaux . δ
Interdépendance entre Pon(C) et Pdr :
P Ptotal
IB
6
CARACTERISTIQUE STATIQUE
LIMITE EN COURANT
CARACTERISTIQUE STATIQUE
AIRE DE SECURITE
[ S.O.A: Safe Operating Area ]
logIC
L'aire de sécurité est délimitée par les segments:
ICM
tp=10µs 1 - Courant max (Gain et/ou section fils de connexion)
ICmax tp=100µs
1 2 - Puissance max (P àTcase =25°C)
2 3 - Second claquage (cf. caractéristique dynamique)
4 - Tension Max. (VCE0 car la tension de baseest #0)
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FERMETURE & OUVETURE D'UN TRANSISTOR BIPOLAIRE
CARACTERISTIQUE DYNAMIQUE
MISE EN CONDUCTION (FERMETURE)
Base + IB1>0
Emitter
logIC
N+ ICmax
P
N-
VCE
N+ ( substrat) VCEO
Collector
++
L'injection de trous dans la couche P et ensuite dans la zone N- vafaire décroître rapidement la tension
collecteur-émetteur. Le courant va s'établir dans le circuit sur les bords de la périphérie (où la ZCE s’étend
en 1er grâce à la tension qui apparaît aux bornes de la résistanceémetteur-base).
La densité de courant dans ces zones sera très importante (focalisation) :
Si la tension VCEest encore élevée, cela peut produire des échauffements localisés [ Hot points ] et
entraîner la destruction du composant par second claquage.
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CARACTERISTIQUE DYNAMIQUE
OUVERTURE
Base - Emitter
Base
IB2 (<0)
N+
P
N-
N+ ( substrat)
Collector
L'ouverture d'un transistor bipolaire se fait en faisant circuler un courant inverse dans la base (IB2).
1- Le courant de basenégatif extrait d'abord les charges positives de la zone N- présentent sous la
base. Les charges présentes sous l'émetteur continuent d'assurer la circulation du courant
collecteur.
2- Pendant le temps de "déstockage" (ts) les charges de la zone N- situées sous l'émetteur sont à leur
tour progressivement absorbées vers la base.
3- La tension collecteur augmente. La ZCE s’étend d’abord en bordure de l'émetteur (effet de la
résistance base-émetteur). Le courant se focalise sous la partie centrale de l'émetteur (risque de
destruction par second claquage: R æ quand Tj ä ).
E
Solution technologique: géométrie interdigittée
Doigts
de Base
CARACTERISTIQUE DYNAMIQUE
AIRE DE SECURITE A L’OUVERTURE
Polarisation de base négative :
IC
1
ICM
L'aire de sécurité est délimitée par les segments:
DESTRUCTION !
1 - Courant max
2 - Second claquage
3 - Tension Max .( VCEV )
2
VBEoff<0
VBEoff=0 4 - L'aire de sécurité est réduite lorsque l'ouverture se
4 fait sans tension négative sur la base. (VBEoff=0)
VCE
3
VCE0 VCES VCEV
( o u VCBO)
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CARACTERISTIQUE DYNAMIQUE
TEMPS DE COMMUTATION
A LA FERMETURE
IC
90%
td tr
td : Delay time
tr : Rise time
ton : Turn-on time = td+tr IB
VCE
dynamic
VCEsat
VCEsat
CARACTERISTIQUE DYNAMIQUE
TEMPS DE COMMUTATION
A L'OUVERTURE
(mesures sur charge résistive)
ts : storage time
tf : Fall time
ICM
IC
courant
de "queue" Le temps de "déstockage" ts est relativement important
vis à vis des autres temps de commutation (1à 5µs).
ts tf ts dépend du niveau de saturation du transistor.
Il augmente avec la température (double de 25 à 125°C).
IB1
IB Le courant de queue est dû au temps de recombinaison
des porteurs "piégés " sous l'émetteur (loin du contact de
base).
IB2
Va
VCE
VCEsat
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CARACTERISTIQUE DYNAMIQUE
CARACTERISATION SUR CHARGE RESISTIVE
IC IR
+Va
IB
IC
T
IB
VCE VCE
Va
VCEsat
ton
La fermeture sur charge résistive est utilisée pour la caractérisation et laspécification des transistors
bipolaires.
Dans ce cas la forme du courant est l'image de laforme de la tension.
La commutation est rapide et les pertes sont relativement faibles .
1 1
E≅ ⋅ Va ⋅ IR ⋅ t ON Rq: sur charge inductive: E≅ ⋅ Va ⋅ IL ⋅ t OFF
4 2
11
APPLICATION
IB
IB0 = 3x IB1
IB1
APPLICATION
Commande de base à la fermeture
IB
Avec un générateur de courant
(B) t
(circuit B) c'est l'étage de cde qui fixe
le temps de montée du courant base.
rbb
B
IB
IB
12
APPLICATION
Commande de base à l’ouverture
Cette technique est surtout utilisée pour les transistors HT (charge stockée élevée)
Storage time
+long
Fall time
+ court
IC Réduction des
courant de pertes Poff
"queue"
réduit
IB1 LOAD
tf
ts
ON IB
Lb IB1 dIB/dt controlé
Rb
VBE
OFF
- IB2 On recommande :
Vaux IB2 voisin de IC/2
IB2 Vaux
+ (Lb quelques µH )
APPLICATION
CIRCUIT ANTI-SATURATION
Pour réduire la quantité de porteurs minoritaires stockés dans la couche collecteur N- on
utilise des circuits d'antisaturation dont le plus classique est le " Backer Clamp"
D1
C
IB1 Ds
D2
B
VCE
(IB2<0)
E
D3
Lorsque la tension VCE passe en dessous d'un certain niveau, la diodeD1 conduit et dérive
une partie du courant base (IB1).
Le seuil de tension de la diode D2 est voisin de celui de D1 : la tension VCB est maintenue
autour 0 Vce qui empêche la saturation du transistor (VCE#1V).
La diodeD3 permet d'appliquer le courant négatif IB2 pour extraire les charges au moment du
blocage.
REMARQUE:
La diode D1 doit tenir la tension d'alimentation (en général cesera une diode Haute
tension)
Elle doit être plus rapide au blocage que la jonction B-C, pour éviter une surtension sur le
circuit de commande au moment où le transistors'ouvre.
La diode D2 doit avoir un faible VF dynamique (VFP) pour ne pas limiter le temps de montée
du courant base à lamise en conduction du transistor.
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APPLICATION
RESEAU D'AIDE A LA COMMUTATION (*)
[ Snubber ]
Sans snubber
ICM
IC
VCE
VCEsat
D R Avec snubber
VCE ICM
C IC
VCE
dV/dt
VCEsat
APPLICATION
RESEAU D'AIDE A LA COMMUTATION
[ Snubber ]
IC Sans snubber
ICM
A IC
( sans snubber)
VCE
ICM
VCEsat
B Avec snubber
(avec snubber)
ICM
IC
VM VCE
VCE
VCEsat
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APPLICATION
Domaines d'application
ä SMPS / Chargeurs:
VCES: 700V - 1000V / IC: 5A- 30A
Motifs d’utilisation
ä Commande en courant
ä Contrôle linéaire
APPLICATION
Ballast électronique
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LE DARLINGTON
CONFIGURATION DU DARLINGTON
ICD β
IC1
IB1 IC2
T1
β = f(IC)
T2 pour un
transistor bipolaire
IB1 + IC1 IC
ICD = IC1+IC2
IB2=IC1+IB1
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FONCTIONNEMENT DU DARLINGTON
ICD
IC1
Diode
B-C
IB1 IC2
T1
T1 IB1
B T2
T2
Diode
IB1 + IC1
B-E
(IB2<0)
S.U.D
CONDUCTION
Tr. Bip
ICD ICD
IC1
IC nom.
IB1 VCE1sat
T1 IC2
VCE2
T2 Darlington
IB1 + IC1
VBE2sat
VCE2
0 VCE#1.5v - 2 v
VCE2 = VCE1sat + VBE2
Seuil de tension: VBE
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DARLINGTON INTEGRE
B T1 D1
R1
T2
D2 R2
R1 est une résistance "parasite". Elle est suffisamment élevée pour ne pas réduire le gain de
T1.
D1 est une diode "parasite" (due à la réalisation de R2).
Ce n'est pas une diode rapide. Elle ne peut pas être utiliséecomme diode de roue-libre.
DARLINGTON :
Domaines d'application
ä Applications Industrielles.
400V-600V / 100A.
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BACK-UP
+Va
+Va L
Cp Icapa VCE
IL
IL Icapa tension et courant
IC=IL+Icapa
dans le transistor
VCEsat
IB T
VCE IC
Pon
Cp = Capacité parasitetotale
( Charge L + diode roue-libre)
Au début de la commutation le courant dans l'inductance est nul. Il croît ensuite avec la pente Va/L
Les pertes sont dues essentiellement au courant de charge des capacités parasites Cp.
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FERMETURE SUR CHARGE INDUCTIVE
Va
VCE IL+IRM
Va IL ID
IC
IL dIC/dt fixé
L par le transistor
D
dIC/dt VCEsat
t0 t1 t2
T
IT)
Pon P1 P2
VCE
ICM ∆V Va Lp
IC Va
L
D
VCEsat
tf T
VCE IC)
IB1 IB
IB2
IB2
20