ICPEED14
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Mots-clés: composants passifs, Intégration, électronique de puissance, Inductance planaire carrée, Facteur de qualité.
Faqteur de Qualité Q
simulés ou mesurés, permet d’estimer la valeur d’une 600
inductance et son facteur de qualité. En pratique, on convertit 500
les paramètres S en paramètres admittance Y grâce au modèle 400
équivalent en π du dipôle représenté sur la Figure (6). 300
200
100
Y12+Y22
/ S11
|S11|
Real(S11)
Re(S11=
)= Real(S22)
Re(S22) Imag(S11) = Imag(S22)
0.6 -0.4
0.4 0.4
Imag(S11)
Real(S11)
4
10 Fréquence 1
0.2 0.2 Frequency
|S12=|=|S
|S12| 21|
|S21|
0 0
4 4
0.4
10 Fréquence 10 0.4
Frequency Frequency
/ S12
|S12|
Real(S12)
Re(S12=
)=Real(S21)
Re(S21) 0.2Imag(S12) = Imag(S21) 0.2
1 0
0
Imag(S12)
0
Real(S12)
4
0.8 -0.2 10 Fréquence 1
Frequency
-0.4
0.6 Fig.11 : Représentation des S-paramètres dans le format
4 4
module
10 Fréquence 10
Frequency / 11 = / 22
Frequency
|S11| = |S22| S S11=S22
S
1 0
Fig.11 : Représentation des S-paramètres dans le format
réel
0.8 -0.2
/ S11
|S11|
2) Imag(S11)=
Imag(S11) = Imag(S22)
Imag(S22)
0.6 -0.4
0.4
Imag(S11)
4 4
10 10
0.2 Fréquence
Frequency Frequency
|S12| = |S21| / 12S ==S
/ 21
S 12 S22
0
4
10 0.4 Fréquence 0.4
Frequency
/ S12
|S12|
1) 0.2
Imag(S12)
Imag(S12=)=Imag(S21)
Imag(S21) 0.2
0
Imag(S12)
0 0
4 4
-0.2 10 10
Fréquence
Frequency Frequency
-0.4
Fig.11 : Représentation des S-paramètres dans le format -
4 phase
10 Fréquence
Frequency Les paramètres physiques, les paramètres géométriques
ainsi que les paramètres électriques sont introduits dans un
programme pour le calcul des paramètres S, Y et Z du
Fig.10: Représentation des S-paramètres dans le format dispositif.
imaginaire.
XII. CONCLUSION
La conception d’une inductance intégrée nécessite de
prendre en compte nombreux paramètres et de faire des
compromis en fonction des conditions de fabrication et
d’utilisation. Le problème le plus délicat consiste à
déterminer la largeur du conducteur constituant la spirale
inductive et l’espace entre deux conducteurs adjacents. En
effet, l’optimisation du coefficient de qualité d’une structure
planaire nécessite à la fois des lignes peu espacées pour avoir
un couplage fort du champ magnétique, mais aussi un
conducteur large pour réduire les pertes ohmique. Cependant,
le rapport entre la résistance de perte série à une fréquence
donnée et la même résistance en continue augmente
beaucoup plus vite pour les spirales constitués de larges
conducteurs, du fait principalement de l’effet de peau. De
plus des spires très rapprochés vont augmenter la capacité
parasite de l’inductance. L’utilisation de la notion des
paramètres S devient maintenant une stratégie performante
pour l’obtention du modèle physique de l’inductance globale.
REFERENCES
[1] Chik Patrick Yue, «On-chip spiral inductors for Silicon-
based radio-frequency integrated circuits», PhD Thesis
partial fulfilment, Stanford University, 1998.
[2] Khaled LAOUAMRI, «Contribution à l’intégration des
composants passifs d’une alimentation à découpage»,
Thèse de doctorat, Institut National de Grenoble, France.
[3] Shwetabh VERMA, Jose M. CRU, «On-chip Inductors
and Transformers», Article SMLI TR-99-79.
[4] Linh NGUYEN TRAN, «Caractérisation et modélisation
d’interconnexions et d’inductances en technologie
BiCMOS. Application à l’amplification faible bruit»,
Université de Cergy-Pontoise, France.
[5] Ryan Lee BUNCH, «A fully monolithic 2.5GHz LC
voltage controlled oscillator in 0.35 µm CMOS
technology», Master’s thesis, Virginia Polytechnic
Institute and State University, Blacksburg, VA.
[6] Nam-Jin Oh, Sang-Gug Lee, «A simple model parameter
extraction methodology for an On-Chip spiral Inductor»,
ETRI Journal, Volume 28.
[7] Sunderarajan S. MOHAN, «The design, modeling and
optimization of on-chip inductor and transformer
circuits», PhD Thesis dissertation, Stanford University,
1999.