Fiabilit e Syst'eme

École Polytechnique de l’Université de Tours
64, Avenue Jean Portalis

37200 TOURS, FRANCE
Tél. +33 (0)2 47 36 14 14
Fax +33 (0)2 47 36 14 22
www.polytech.univ-tours.fr
Département Informatique
4eme année
2008-2009
Cours Magistral
Fiabilité Système
Étudiant : Encadrant :
Flavien AUDIN Mohamed SLIMANE
[email protected] [email protected]
Université François-Rabelais, Tours
Version du 6 octobre 2008

Table des matières
1 Concepts de Base 5
1.1 Introduction et Définitions . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5
1.2 Systèmes et Composants . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6
1.3 Classification des défaillances . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6
1.3.1 Classification en fonction de leur rapidité de leur manifestation . . . . . . . . . . . 6
1.3.2 Classification en fonction de leur amplitude . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6
1.3.3 Classification en fonction de la rapidité de leur manifestation et de leur amplitude . 6
1.3.4 Classification des défaillances en fonction de leur effet . . . . . . . . . . . . . . . . 7
1.3.5 Classification en fonction des causes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7
1.4 Pannes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
1.5 Défaut . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
1.6 Définitions et Principales caractéristiques . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
1.6.1 Fiabilité d’une entité E . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
1.6.2 Disponibilité . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10
1.6.3 Maintenabilité d’une entité E . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10
1.6.4 Définitions . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10
1.7 Notion Mathématiques de Fiabilité . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 12
1.8 Fiabilité Conditionnelle . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 12
2 Lois Mathématiques utilisées en Fiabilité 13

2.1 Loi Exponentielle . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13
2.2 Loi Gamma . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 14
2.3 Loi de Weibull . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 14
2.4 Loi Ln-normale (Loi de Galton) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 17
3 Représentation de la Logique d’un Système 18

3.1 Introduction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 18
3.2 Méthode de Diagrammes de Succès MDS . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 19
3.3 Arbre de défaillance . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21
4 Fiabilité des Systèmes Non Réparables 26

4.1 Composants série . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26
4.2 Composants en parrallèle . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27
4.3 Autres configurations . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 29
4.3.1 Configuration Parrallèle-Série . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 29
4.3.2 Configuration Série-Parrallèle . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
4.3.3 Système à redondance active m/n . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
4.3.4 Configuration ne pouvant se réduire à des configurations séries ou parrallèles . . . 31
4.3.5 Système comportant des composants en redondance passive . . . . . . . . . . . . 32
4.3.6 Cas où les composants ont des fiabilités exponentielles non identiques . . . . . . . 33
Fiabilité Système III

TABLE DES MATIÈRES
5 Fiabilité et Disponibilité des Systèmes Réparables 36

5.1 Disponibilité . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 36
5.1.1 Disponibilité d’un élément réparable . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 36
5.1.2 Etude de quelques systèmes réparables . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 36
IV Fiabilité Système
CHAPITRE 1
Concepts de Base
1930 avec le train, on commence à s’interesser à la fiabilité, pour les roulements à billes notament.
L’aéronautique est également un domaine fort pour la fiabilité.
Le ”boom” sera pendant la guerre (exemple : les fusée V2).
1.1 Introduction et Définitions

La fiabilité était devenue dans les années 1960, la science des défaillances. C’est le 9 avril 1962 que le
mot de fiabilité néologisme créé sur le vieux mot français ”fiable” pour traduire l’anglais ”Reliability”, a
été admis à l’académie des sciences.
Définition : Fiabilité
”Grandeur caractérisant la sécurité de fonctionnement ou mesure de la probabilité de fonctionne-
ment d’un appareillage selon des normes prescrites.”
Au sens strict, La fiabilité est ”l’aptitude d’un dispositf à accomplir une fonction requise dans des
conditions données pendant une durée donnée”.
Définition : Dispositif ou entité

Désigne tout composant, sous-système, système ou équipement que l’on peut considérer indivi-
duellement et essayer séparement.
Définition : Fonction requise

C’est une fonction ou ensemble de fonctions d’un dispositif dont l’accomplissement est considéré
comme nécessaire pour la fourniture d’un service donné.
Il est important de distinguer :

– la fiabilité opérationnelle (observée ou estimée)
– la fiabilité prévisionnelle (prédite)
– la fiabilité extrapolée
Fiabilité Système 5
Chapitre 1. Concepts de Base
1.2 Systèmes et Composants
Définition : Systéme
C’est un ensemble d’éléments discrets (ou composants) interconnectés ou en interaction.
Le mot ”déterminé” implique que le système considéré est identifiable.
N.B. : élément ⊂ pièce ⊂ sous-équipement ⊂ équipement
Définition : Défaillance
”C’est la cessation de l’aptitude d’une entité à accomplir une fonction requise ”.
1.3 Classification des défaillances

1.3.1 Classification en fonction de leur rapidité de leur manifestation
– Défaillance progressive
– Défaillance soudaine
1.3.2 Classification en fonction de leur amplitude

– Défaillance partielle
– Défaillance complète
1.3.3 Classification en fonction de la rapidité de leur manifestation et de leur

amplitude
– Défaillance catalectique : soudaine + complète
– Défaillance par dégradation : progressive + parielle
6 Fiabilité Système
Classification des défaillances
Fig. 1.1 – Courbe du taux de défaillance en fonction du temps
1.3.4 Classification des défaillances en fonction de leur effet
Défaillance mineure Défaillance qui nuit au bon fonctionnement d’un système en causant un
dommage négligeable au dit système ou à son environnement sans toutefois
présenter de risque pour l’homme
Défaillance significative Défaillance qui nuit au bon fonctionnement d’un système sans toutefois
causer de dommage notable,ni présenter de risque important pour l’homme
Défaillance critique Défaillance qui entraı̂ne la perte d’une (ou des) fonction(s) essentielle(s)
d’un système et cause des dommages importants au dit système ou à son
environnement en ne présentant, toutefois, qu’un risque négligeable de mort
ou de blessure
Défaillance catastro- Défaillance qui occasionne la perte d’une (ou des) fonctions essentielle(s)
phique d’un système en causant des dommages importants au dit système ou à son
environnement et/ou entraı̂ne, pour l’homme, la mort ou des dommages
corporels
1.3.5 Classification en fonction des causes
– Défaillance première : Défaillance d’une entité dont la cause directe ou indirecte n’est pas la défaillance
d’une autre entité.
– Défaillance seconde : Défaillance d’une entité dont la cause directe ou indirecte est la défaillance
d’une autre entité et pour laquelle cette entité n’a pas été qualifiée et dimensionnée.
– Défaillance de commande : La défaillance d’une entité dont la cause directe ou indirecte est la
défaillance d’une autre entité et pour laquelle cette entité a été qualifiée et dimensionnée.
Fig. 1.2 – Classification des défaillances en fonction de leurs causes
1.4 Pannes
Définition : Panne
C’est l’inaptitude d’une entité à accomplir une fonction requise.
Il existe une classification spécifique aux pannes :

– Panne intermitente : se répare sans intervention
– Panne fugitive : difficilement constatable
– Panne latente : elle existe, mais n’est pas encore arrivée
Défaut
1.5 Défaut
Définition : Défaut
Tout écart entre caractéristique d’une entité et la caractéristique voulue. Cet écart dépassant des
limites d’acceptabilité dans des conditions données.
Tout défaut ne conduit pas à une défaillance. Mais toute défaillance conduit à un défaut.
Fig. 1.3 – Relation entre défaut, défaillance et panne d’un système
1.6 Définitions et Principales caractéristiques

1.6.1 Fiabilité d’une entité E
Elle est mesurée par la probabilité que cette entité accomplisse la fonction requise dans des conditions
données durant un interval de temps donné.
Fiabilité : R(t) = P[ E non défaillante sur [O,t] ]
On admet que l’entité est en fonctionnement au temps t=0.
Fig. 1.4 – Fiabilité T(t) en fonction du temps
1.6.2 Disponibilité
Disponibilité : A(t) = P[E non défaillant à l’instant t]
1-A(t) = indisponibilité = A(t)
1.6.3 Maintenabilité d’une entité E
Maintenabilité d’une entité E : M(t) = P[ E est réparée sur [0,t] ]
On a aussi : M(t) = 1 - P[E non réparée sur [0,t] ] ;
1.6.4 Définitions
Définition : MTTF : Mean Time To Failure

Durée moyenne de fonctionnement d’une entité avant la première défaillance
Définition : MTTR : Mean Time To Repair

Durée moyenne de réparation
Définition : MUT : Mean Up Time

Durée moyenne de fonctionnement après réparation
Définition : MDT : Mean Down Time

Durée moyenne d’indisponibilité
Définitions et Principales caractéristiques
Cette durée correspond aux phases suivantes :

– Détection de la panne
– Réparation de la panne
– Remise en service
Définition : MTBF : Mean Time Between Faillure

Durée moyenne entre deux défaillances consécutives d’une entité réparée
Fig. 1.5 – Représentation temporelle des définitions
1.7 Notion Mathématiques de Fiabilité

Soit T une Variable Aléatoire :
R(t) = P (T > t)
La fonction de répartition de la Variable Aléatoire T.
F (t) = P (T ≤ t) = 1 − R(t)
Fig. 1.6 – Fonction de répartition de la V.A. T
F (t) dR(t)
f (t) = =−
dt dt
Z ∞
f (t)dt = 1
0
1.8 Fiabilité Conditionnelle

R(t0 ,t) = P[E fonctionne un temps t, sachant que l’entite a deja fonctionnée]
T (t0 , t)
R(t0 , t) =
R(t0 )
CHAPITRE 2
Lois Mathématiques utilisées en Fiabilité
– Loi Binomiale
– Loide Poisson
– Loi normale (Laplace-Gauss)
2.1 Loi Exponentielle

Rt
Si R(t) = e− 0 λ(u)du
On admet que le taux de défaillance λ(u) est constant. On a donc : R(t) = e−λt
Elle exprime la probabilité de survie d’un dispositif jsuqu’à l’instant t de son fonctionnement et non pendant
la durée T de sa vie.
Fig. 2.1 – Probabilité de survie d’un dispositif suivant une loi exponentielle
F (t) = A − R(t) = 1 − e−λt

f (t) = dFdt(t) = λe−λt
Espérance : E(t) = λ1 = MTTF, uniquement pour cette loi
NB : Si la loi n’est pas précisée, on utilisera toujours la loi exponentielle car elle est ”sans mémoire”
Chapitre 2. Lois Mathématiques utilisées en Fiabilité
Exercice :
Un certain type de résistance a un taux de défaillance approximative de 10−5 h1
1) Calculer son MTTF.
2) Quelle est la proportion de résistance encore en service après 3 000 heures de fonctionnement ?
1 1
1) MTTF = λ = 10−5
= 100 000heures
−5 ∗3
2) fiabilité ⇒ R(3 000) = ? ; R(3 000) = e−10 000 = 97%
2.2 Loi Gamma

La fonction gamma est définie par l’équation suivante :
Z ∞
Γ(α) = tα−1 ∗ e−t dt
0
Z ∞
Γ(α + 1) = tα ∗ e−t dt
0
Γ(α + 1) = α!Γ(1)

Γ(1) = 1
√
Γ( 12 ) = π
Fonction de densité
bα+1 e−bt tα
f (t) = , ∀t ≥ 0, a ∈ R, b ∈ R∗+
Γ(α + 1)
α+1
E(t) =
b
2.3 Loi de Weibull

C’est une loi très utilisée pour la durée de vie des pièces mécaniques. Sa fonction de répartition est :
−( t−γ )β
F (t) = 1 − e η , si t ≥ γ
F (t) = 0 , si t < γ
avec β, η > 0, γ ≥ 0
Le paramètre s’appellent :
– γ = Décalage à l’origine du temps
– β = Paramètre de forme (donne le type de défaillance étudié)
– η = Paramètre d’échelle
Loi de Weibull
Sa fiabilité
−( t−γ )β
R(t) = e η
(
−( t−γ )β
f (t) = dFdt(t) = β
η ∗ ( t−γ
η )
β−1 ∗ e η , si t ≥ γ
f (t) = 0 , si t < γ
E(t) = γ + βη ∗ Γ( β1 ) = γ + η ∗ Γ(1 + β1 )
SI γ=0 =⇒ E(t) = η ∗ Γ(1 + β1 )
SI β = 1 =⇒ E(t) = η
Taux de défaillance :
f (t) f (t) β
λ(t) = R(t) = 1−F (t) = η ∗ [ t−γ
η ]
β−1 , avec t> γ
Mode
Dans un histogramme, c’est la population la plus grande.
1
Mode = γ + η( β−1
β ) , β >1
β
0
⇐⇒ f (t) = 0
Médiane
1
R(t) = 2
1
Médiane = γ + η(ln2) β
MTTF
MTTF = γ + η ∗ Γ( β1 + 1) = E(t)
Détermination graphique des trois paramètres de la loi de Weibull : Allan PLAIT
−[ t−α ]β
R(t) = e η = 1 − F (t)
1 ( t−γ )β
⇔ =e η
1 − F (t)
Chapitre 2. Lois Mathématiques utilisées en Fiabilité
Exercice
t Nb de défaillances F(t) t Nb de défaillances
Fréquence Cumulée
120 0 0 520 215 86
2∗100
160 2 250 = 0, 8 560 230 92
4∗100
200 4 250 = 1, 6 600 240 96
240 8 3,2 640 247 98,8
280 23 9,2 680 249 99,6
320 37 14,8 720 250 100
360 67 26,8
400 100 40
440 150 60
480 178 71,2
Un composant est garanti pour 100heures de fonctionnement sans défaillance. On test 250 composants
jusqu’à défaillance. On ne constate aucune défailance et son décilde vérifier toutes les 40 heures.
η = 540 ; β = 4, 2 ; γ = 0 ,car c’est une droite ;
i
Rang moyen = n+1
i−0,3
Rang médian = n+0,4
Exercice TD :
8 bagues de synchronisation de boite de vitesse sont mises à l’essai. Pour chacune des bagues, on compte
le nombre de cycle avant craquement.
1ier craquement → 6400 cycles
2ieme craquement → 11 000 cycles
On utilise le rang moyen pour calculer F(t). Si les indices vont au-delà de 10, alors on utilise le rang
médian. i est l’indice du craquement.
– Quel est le pourcentage de bagues qui ne dépasseront pas 5 000 cycles ?

– Quel est le pourcentage de bagues qui dépasseront 50 000 cycles ?
– Calculer le MTTF à 50 000 cycles.
Lecture sur la feuille d’Allan Plait :
1 2 3 4 5 6 7 8
9 =11%, 9 =22%, 9 =33%, 9 =44%, 9 =55%, 9 =66%, 9 =77%, 9 =88%
β = 1,7 ; η = 2,7 ; γ = 0 (droite)
−( 5000−0 )1 ,7
1) F(5 000) = 1 - e 2,7
2) R(50 000) = .....

3) MTTF esperance
Loi Ln-normale (Loi de Galton)
2.4 Loi Ln-normale (Loi de Galton)

La V.A. est distribuée suivant une loi Ln-normale si son logarithme est distribué suivant une loi normale
N(µ,σ)
1 ln(t)−µ 2
f (t) = t∗σ1√2π ∗ e− 2 [ σ
]
, si t ≥ 0
f (t) = 0 , si t < 0
Fonction de répartition
Z t
1 1 1 ln(t)−µ 2
F (t) = √ ∗ ∗ e− 2 ∗[ σ ] dt
σ 2π 0 t
dont la valeur est obtenue en utilisant la variable u= ln(t)−µ
σ comme valeur d’entrée dans la table de la loi
normale réduite.
σ2
E(t) = eµ+[ 2
]
Exercice :
La durée de vie de bielles d’une voiture suit une loi ln-normale de paramètre µ = 5 et σ = 1, 4. Calculer :
1) La fiabilité pour t=300 heures
2) Son MTTF
1) u = ln(t)−µ
σ = ln(3)−5
1,4 = 0, 502
On lit dans la table de Gauss (Annexe n˚4) pour u=0,502 =⇒ F (u) = 0, 6915
2) R(t) = 1 − 0, 6915 ' 0, 31
CHAPITRE 3
Représentation de la Logique d’un

Système
3.1 Introduction
Le premier problème rencontré par l’ingénieur fiabiliste dans l’étude de la fiabilité ou de la disponibilité
d’un système est la description de ce système.
On cherchera la représentation la plus simple sans tenir compte de la méthode de calcul de la fiabilité et
de la disponibilité.
Soit un système S constitué de n éléments en interaction et devant remplir une fonction donnée.
Nous nous plaçons dans le cas où chaque élément n’a qu’un nombre fini d’états. On aura les deux cas
suivants :
Cas 1 : l’élément est normalement en marche dans le système, et il a deux états possibles : état de
marche et état de panne.
Cas 2 : L’élément normalement à l’arrêt dans le système et ne démarre qu’en secours d’un élément prin-
cipal.
Pour tenir compte de l’action extérieur sur le système, cataclysmes naturels, erreurs humaines,... on
introduit un certain nombre d’événements que l’on considère comme éléments de système.
Représenter la logique d’un système, c’est représenter l’ensemble des états de fonctionnement et de non-
fonctionnement du système, et les liaisons entre ces différents états.
Les représentations les plus utilisées de la logique des systèmes sont au nombre de quatre :
– Le diagramme de fiabilité :
Qui représente les états de bon fonctionnement du système
– L’arbre de défaillance :
Qui représente les états de défaillance du système.
– Les coupes minimales :
Qui représentent les états de défaillance du système. Cette représentation n’est possible que si le
système est cohérent.
– Table de vérité :
La liste des états de bon fonctionnement (ou défaillance)
Définition : Système cohérent

Un système est dit cohérent si :
lorsque le système est en panne, aucune défaillance ne rétablit le bon état du système
lorsque le système est en marche, aucune réparation n’induit la panne du système
la panne de tous les éléments induit la panne du système
la bonne marche de tous les éléments entraı̂ne la bonne marche du système
Lorsque l’on voudra représenter la logique de fonctionnement d’un système (dont les liaisons entre états
sont implicites), on recherchera la représentation la plus simple et la plus sûre.
Méthode de Diagrammes de Succès MDS
Lorsque la liaisons entre les différents états ne sont pas implicites, la connaissances des seuls états de
bon fonctionnement du système n’est pas suffisant et on représentera la logique du système par son graphe
d’état.
3.2 Méthode de Diagrammes de Succès MDS

C’est la représentation la plus naturelle de la logique de fonctionnement d’un système car elle est
souvent proche du schéma fonctionnel du système.
Dans cette représentation, les blocs représentant des éléments (matériels ou événements) ou des fonctions
dont la défaillance entraı̂ne la défaillance du système, sont placés en série ; ceux dont la défaillance ne
provoque la défaillance du système qu’en combinaison avec d’autres blocs, sont disposés en parallèle sur
ces derniers.
Fig. 3.1 – Diagramme de Succès : en série(à gauche), en parallèle(à droite) et complexe(en bas)
La méthode du diagramme de succès est un graphe sans circuit admettant une entrée et une sortie
dont les sommets (appelés blocs) représentent les éléments du système.
Chapitre 3. Représentation de la Logique d’un Système
Redondance r/n
Fig. 3.2 – Système à Redondance r/n
Représente le cas où on exige qu’au moins r éléments parmi les n placés en parallèle soient non défaillant
pour que le système fonctionne.
Redondance passive
Fig. 3.3 – Système à redondance passive
Représente le cas où il existe des éléments en réserve qui ne démarrent qu’en secours de l’élément
principal.
Les blocs du diagramme de fiabilité représentent en général des éléments. Il est souvent intéressant de
regrouper un certain nombre d’éléments pour constituer un seul bloc avec eux, un tel bloc sera souvent
appelé ”macro élément”.
Arbre de défaillance
Exemple de diagramme de succès

Chemin de succès : {3,11 ; 4,12 ; 1,5,9,11 ; 1,6,10,12 ; 2,7,9,11 ; 2,8,10,12}
3.3 Arbre de défaillance

La méthode d’arbre de défaillance (connue aussi sous le nom d’arbre des défauts) est de plus en plus
utilisée en représentation de la logique d’un système.
On part d’un évènements indésirable unique et bien défini.
– Dans le cas de l’étude de la fiabilité et de la disponibilité d’un système, cet évènement indésirable
est le non-fonctionnement du système.
– Dans le cas de l’étude de la sûreté d’un système, cet évènement indésirable est un évènement dont
les effets sont graves.
L’arbre de défaillance représentera graphiquement les combinaisons d’évènements qui conduisent à la

réalisation de cet évènement indésirable.
Il sera formé de niveaux succéssifs tel que chaque évènement soit généré à partir d’évènements du
niveau inférieur par l’intermédiaire de divers opérateurs (ou portes logiques).
Ce processus déductif est poursuivi jusqu’à ce qu’on arrive à des évènements de base, indépendants entre
eux. Ces évènements de base peuvent être des pannes, des erreurs humaines, des conditions exterieures, ...
Exemple :
Le système est en panne si les deux files A et B sont en panne.
Trouver l’arbre de défaillance de ce système.
Fig. 3.4 – Schéma électrique

Fig. 3.5 – Diagramme de Succès du schéma électrique
Fig. 3.6 – Système en panne
Fig. 3.7 – Arbre de défaillance du système
CHAPITRE 4
Fiabilité des Systèmes Non Réparables
On suppose que les défaillances sont primaires (elles ne sont pas les conséquences de d’autres défaillances).
On suppose que tous les composants fonctionnent dès le début de la mission dans les mêmes coniditions.
4.1 Composants série

Un système constitué de n-éléments est dit en série si la défaillance de l’un des n-composants entraı̂ne
la défaillance du système.
Fig. 4.1 – Diagramme de fiabilité d’un système en série
Soit E1 l’événement ”le composant C1 fonctionne à l’instant t” ; la fiabilité du système s’écrit :
Pr(S)= Pr[ C1.C2.C3. ... .Cn ]
Lorsque les événements sont indépendants :

Qn
Pr(S)= i=1 Pr[Ci]
R(t) = fiabilité du système

Ri(t) = fiabilité du composant Ci
Qn
R(t) = i=1 Ri(t)
Taux de défaillance du système :
Pn
λ(t) = i=1 λi(t)
MTTF :
1 P1
λ = λi
Si tous les composants ont le même taux de défaillance :

Le MTTF d’un composant est supérieur au MTTF du système
Composants en parrallèle
On suppose qu’une automobile ne peut tomber en panne qu’en cas de défaillance d’une bougie ou
d’un alternateur ou d’un pneu. On admet que dans certaines conditions d’utilisation, la fiabilité de certains
éléments suit une loi exponentielle.
MTTF d’un pneu : 25 000km
MTTF d’une bougie : 20 000km
MTTF d’un alternateur : 100 000km
Dans ces conditions, quelle est la fiabilité d’un voyage de 1 000km ?
Fig. 4.2 – Modélisation du système
MTTFp = 25 000 = λ1p ⇒= 4.10−5

MTTFb = 20 000 = λ1b ⇒= 5.10−5
MTTFa = 100 000 = λ1a ⇒= 1.10−5
λs = 4λp + 4λb + λa = 37.10− 5

Rs = e−λt = 0,69
4.2 Composants en parrallèle

Un système de n-éléments est dit à configuration parallèle si la panne de tous les éléments est nécessaire
pour entraı̂ner la panne du système complet :
Fig. 4.3 – Diagramme de fiabilité d’un système en parrallèle
Pr(S)= Pr[ C1 + C2 + C3 + ... + Cn ]

−−−−−−−−−−−−−−−−−−→
R(t) = 1 - Pr[C1 + C2 + C3 + ... + Cn]
−→ −→ →
− −→
⇔ R(t) = 1 - Pr[C1.C2. C .....Cn]
Lorsque les événements sont indépendants entre eux :
Chapitre 4. Fiabilité des Systèmes Non Réparables
Qn −
→
R(t) = 1 - i=1 Pr[Ci ]
Qn
1- i=1 [1 - Ri(t)]
Deux types de fonctionnement d’un telle configuration sont distinguées :

– redondance active
– redondance passive
les composants ont le même taux de défaillance λi = λ0 , ∀i

Si tous Q
R(t) = 1 - ni=1Q[1 − Ri (t)] ; Ri (t) = e−λt
⇒ R(t) = 1 - ni=1 [1 − e−λi t ] = 1 − [1 − e−λ0 t ]n
t=MTTF= λ1 ⇒ R(t) = 1 − [1 − e−1 ]n

n=1 ⇒ R(t) = 0,37
n=2 ⇒ R(t) = 0,60
n=3 ⇒ R(t) = 0,75
n=5 ⇒ R(t) = 0,1
Fig. 4.4 –
Exercice :
Un avion est équipé de 4 moteurs identiques. Soit Ri (t) la fiabilité d’un moteur à l’instant t. On suppose que
cette fiabilité est indépendante du nombre de moteur en fonctionnement. La durée de vie d’un moteur suit
une loi exponentielle. Le MTTF d’un moteur est de 1 000heures. La mission à accomplir est de 20heures.
Probabilité d’accomplir cette mission :
1) si aucune panne n’est tolérée
Autres configurations
2) si on ne peut tolérer deux pannes sur le même coté.

1) Si aucune panne n’est tolérée, alors on considère que les quatres moteurs sont en séries.
1
λm = 1000 ; λs = 4 ∗ λm = 4.10−3
R(t) = e −λt =0.923
−1
2) 1. R1 (20) = 1-[1-e− 1000 .20 ]2 = 0,9996
Fig. 4.5 – Modélisation du 2ième cas
R2 (20) = R1 (20)
=⇒ RS (20) = R1 (20)*R2 (20) = (R1 (20))2 = 0,9992 = R(t)
4.3 Autres configurations

4.3.1 Configuration Parrallèle-Série
Fig. 4.6 – Configuration Parrallèle-Série

Ri (t) = fiabilité de l’étage i
Rij (t) = fiabilité du jeme compsant de l’étage i.
R(t) = ni=1 Ri (t)

Q
Ri (t) = 1 - Pj=1
Q i
(1 − Rij )
Qn Q Pi
R(t) = i=1 (1 − j=1 [1 − Rij (t)])
4.3.2 Configuration Série-Parrallèle
Fig. 4.7 – Configuration Série-Parrallèle
– Boucle 1 à n1 composants
– Boucle 2 à n2 composants
.
– ..
– Boucle p à np composants
Ri (t) = fiabilité de la branche i
Rij (t) = fiabilité du jeme composant de la branche i
1 − pi=1 (1 − Ri (t))
Q
R(t) = Q
ni
Ri (t) = j=1 Rij (t)
Qp Qni
R(t) = 1 − i=1 [1 − j=1 Rij (t)]
4.3.3 Système à redondance active m/n

Le système fonctionne si au moins m des n composants fonctionnent.
Fig. 4.8 – Système à redondance active m/n
– R(t) = P[au moins m composants fonctionnent sur [0,t] ]

– X = nombre de composants fonctionnant sur [o,t]
– X ,→ B(n,r(t) )
Pn k k
R(t) = k=m {n [r(t)] [1 − r(t)]n−k
n!
Rappel : {kn = k!(n−k)!
4.3.4 Configuration ne pouvant se réduire à des configurations séries ou parrallèles
Fig. 4.9 – Configuration complexe
P(A) = P(A et B) + P(A et B )

P(S) = P(S et C3 ) + P(S et C3 )
= P(S/C3 ).P(C3 ) + P(S/C3 ).P(C3 )
R(t) = P(S fonctionne sur [0,t] et C3 fonctionne) + P(S fonctionne sur [0,t] et C3 ne fonctionne pas)
= P(S et C3 ) + P(S et C3 )
Comme nous le savons :
P(S et C3 ) = P(S/C3 ).P(C3 )
P(S et C3 ) = P(S/C3 ).P(C3 )
Cas 1 : C3 fonctionne
Fig. 4.10 – Cas 1 : C3 fonctionne
Cas 2 : C3 ne fonctionne pas
Fig. 4.11 – Cas 2 : C3 ne fonctionne pas
R(t) = P (SetC3 ) + P (SetC3 )

= P (S/C3 ).P (C3 ) + P (S/C3 ).P (C3 )
= RSchm1 (t).RC3 + RSchm1 (t).RC3
RSchm1 (t) = (RC1 (t) + RC4 (t) − RC1 (t).RC4 (t)).(RC2 (t) + RC5 (t) − RC2 (t).RC5 (t))
RSchm2 (t) = 1 − (1 − Rc1 .Rc2 ).(1 − Rc4 .Rc5 )
= Rc1 .Rc2 + Rc4 .Rc5 − Rc1 Rc2 Rc4 Rc5
RC3 (t) = 1 − Rc3
Rci = Ri
R(t) = [R1 (t) + R4 (t) − R1 (t).R4 (t)].[R2 (t) + R5 (t) − R2 (t).R5 (t)].R3 (t)
+[R1 (t)R2 (t) + R4 (t)R5 (t) − R1 (t).R2 (t).R4 (t).R5 (t)].[1 − R3 (t)]
4.3.5 Système comportant des composants en redondance passive

Cas de n+1 composants identiques
Fig. 4.12 – Cas de n+1 composants identiques
Durée de vie ,→ loi exponnentielle.

Ri (t) = exp−λt , ∀i = 1, . . . , n + 1
Fiabilité du système
2) (lambdat)n )
R(t) = exp−λt .[1 + lambdat
1! + (lambdat)
2! + ... + n! ]
i)
= exp−λt .[ ni=0 (lambdat)
P
i!
MTTF = E(t)
E(t) = E(T1 + T2 + . . . + Tn+1

= P
E(T1 ) + E(T2 ) + . . . + E(Tn+1 )
n
= i=1 E(ti )
n+1
= λ
Exercice :
Une voiture est équipée de 4 pneus, la fiabilité d’un pneu est supposée exponentielle, et de MTTF = 20
000km. On dispose d’une roue de secours.
– Quelle est la fiabilité du système pour une distance de 2000km ?
– Combien faut-il de roues de secours pour obtenir une fiabilité de 99,92% ?
Fig. 4.13 –
n+1
MTTF = λ ici, n=1
2
20000 = λ
⇔ λ = 2 −4
20000 = 1.10
−4 i
= exp−1.10 t .[ 1i=0 (1.10 i! ∗t) ) ]
−4 P
R(t)
−4 −4
= exp−1.10 t .[1 + 1.101 ∗t ]
= exp0,4 .[1 + 0, 4]
R(2000) = 0, 938
2) Lecture sur les tables de poissons : m = λt, ici m=0,4
Dans la colonne m=0,4, on cherche la probabilité la plus proche de celle souhaitée. On obtient C=le nombre
de branche à avoir en secours. Ici, c=3 ⇒ il nous faut 3 roues de secours.
4.3.6 Cas où les composants ont des fiabilités exponentielles non identiques
Considérons les système S composé de deux éléments :
– E1 de fiabilité R1 = e−λ1 t
– E2 de fiabilité R2 = e−λ2 t
La mission de durée θ est commencé avec l’élément E1 en cas de défaillance de ce dernier, elle continue
avec E2 .
Cherchons l’expression RS (θ)
Le système accomplit la mission si :
– E1 n’a pas de panne durant θ
– OU E1 ayant une panne à l’instant x.
E2 fonctionne correctement pendant le temps y, tel que x+y = θ.
P(E1 sans panne pendant θ) = e−λθ

P(E1 tombe en panne à x) =
λ2 −λ1 θ λ1 −λ2 θ
RS (θ) = λ2 −λ1 .e + λ1 −λ2 .e
1 1
MTTF = λ1 + λ2
Généralisation
λ2 .λ3 ···λn .e−λ1 θ λ1 .λ3 ···λn .e−λ2 θ λ1 .λ2 ···λn−1 .e−λn θ

(λ2 −λ1 )(λ3 −λ1 )···(λn −λ1 ) + (λ1 −λ2 )(λ3 −λ2 )...(λn −λ2 ) + ... + (λ1 −λn )(λ2 −λn )···(λn−1 −λn )
MTTF
1 1 1
MTTF = λ1 + λ2 + ... + λn
Exercie
Soit un pilote automatique d’un avion. Il se compose de 10 boı̂tes noires : 3 sont mécaniques et 7 sont
électroniques. On admet que la fiabilité d’une boı̂te noire quelconque est exponentielle, que le MTTF d’une
boı̂te mécnanique est de 12 000heures et que celui de la boı̂te électronique est de 2 680heures.
Lorsqu’une panne survient à ce pilote automatique, la réparation demande 40heures quelque soit l’élément
défaillant. On se propose de maintenir en état de vol 48 avions avec une probabilité de 98%
Quelle politique de stock ?
Fig. 4.14 – Modélisation du problème
On souhaite avoir 48 avions en état de fonctionnement en même temps. La question est donc de savoir
combien on doit avoir d’avions pour que le système fonctionne dans 98% des cas. On a donc l’équation,
avec l’inconnue n = nombre2 d’avions : n
(λt) (λt)
RS (t) = e−λt [1 + λt
1! + 2! + · · · + n! ] = 0, 98
1 1
λP A = 3 ∗ λmeca +7∗ λelectronique
λS = λP A ∗ 48
m = λ ∗ t = λ ∗ 40 = 5, 49
A l’aide de la table de poisson, on trouve qu’il nous faut 11 avions de secours, soit 59 avions en tout.
CHAPITRE 5
Fiabilité et Disponibilité des Systèmes

Réparables
5.1 Disponibilité
A(t) = probabilité que S soit non défailant à l’instant t
5.1.1 Disponibilité d’un élément réparable

– λ = taux de défaillance
– µ = taux de réparation
L’élément est mis en service à l’instant t=0, on regarde au temps t.
On se place à l’instant t→ A(t)
On regarde à l’instant t + ∆ → A(t + ∆t)
A(t + ∆t) = P(S fonctionne à t + ∆t)

= P(S fonctionne à t et non défaillant à t + ∆t)
+ P(S défalllant à t et non défaillant à t + ∆t)
= P(S non défaillant à t).P(S non défaillant à t + ∆t / non défaillant à t)
+ P(S défaillant à t).P(S non défaillant à t + ∆t / défaillant à t)
= A(t)(1 - λ∆t) + [1 - A(t)].µ∆t
Fig. 5.1 – Graphe de défaillance
A(t + ∆t) = A(t) − A(t)λ∆t + µ∆t − A(t).µ∆t

A(t+∆t)−A(t)
∆t = [µ + (λ + µ)A(t)
∂A
∂t = µ − (λ + µ)A(t)
Fig. 5.2 – Disponibilité ?
5.1.2 Etude de quelques systèmes réparables
Même que série.
Disponibilité
Cas des systèmes à configuration parrallèle

On suppose que les éléments sont indépendants
..
.
Etat 2 : Les deux éléments fonctionnent

Etat 1 : Un élément fonctionne, l’autre est en panne
Etat 0 : Les deux éléments sont en panne
Soit Pi (t) la probabilité de se trouver dans l’état i (i=0,1,2) à l’instant t, S n’étant jamais passé par l’état
0.
R(t) = P2 (t) + P1 (t)
P2 (t + ∆t) = P(2 élts en marche à t + ∆t / S est dans l’état 2 à t).P2 (t)

+ P(2 élts en marche à t + ∆t / S est dans l’état 1 à t).P1 (t)
+ P(2 élts en marche à t + ∆t / S est dans l’état 0 à t).P0 (t)(=0)
P1 (t + ∆t) = P(1 seul élt en marche à t + ∆t / S est dans l’état 2 à t).P2 (t)
+ P(1 seul élt en marche à t + ∆t / S est dans l’état 1 à t).P1 (t)
+ P(1 seul élt en marche à t + ∆t / S est dans l’état 0 à t).P0 (t)(=0)
)
dP2 (t)
dt = −2λP2 (t) + µP1 (t)
dP1 (t)
dt = 2λP2 (t) − (λ + µ)P1 (t)
√
−(3λ+µ)+ µ2 +6λµ+λ2
s1 =
√ 2
−(3λ+µ)+ µ2 +6λµ+λ2
s2 = 2
s2 s1 t s1 s2 t
R(t) = s2 −s1 .e − s2 −s2 .e
µ+3λ
MTTF = 2λ2
Fiabilité Système
Département Informatique
4eme année
2008-2009
Cours Magistral
Résumé: Description en français
Mots clefs: Mots clés français
Abstract : Description en anglais
Keywords : Mots clés en anglais
Étudiant : Encadrant :
Flavien AUDIN Mohamed SLIMANE
[email protected] [email protected]
Université François-Rabelais, Tours

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École Polytechnique de l’Université de Tours

64, Avenue Jean Portalis

Version du 6 octobre 2008

2 Lois Mathématiques utilisées en Fiabilité 13

3 Représentation de la Logique d’un Système 18

4 Fiabilité des Systèmes Non Réparables 26

Fiabilité Système III

5 Fiabilité et Disponibilité des Systèmes Réparables 36

1.1 Introduction et Définitions

Définition : Dispositif ou entité

Définition : Fonction requise

Il est important de distinguer :

1.2 Systèmes et Composants

Le mot ”déterminé” implique que le système considéré est identifiable.

N.B. : élément ⊂ pièce ⊂ sous-équipement ⊂ équipement

1.3 Classification des défaillances

1.3.2 Classification en fonction de leur amplitude

1.3.3 Classification en fonction de la rapidité de leur manifestation et de leur

Fig. 1.1 – Courbe du taux de défaillance en fonction du temps

1.3.4 Classification des défaillances en fonction de leur effet

1.3.5 Classification en fonction des causes

Fig. 1.2 – Classification des défaillances en fonction de leurs causes

Il existe une classification spécifique aux pannes :

Fig. 1.3 – Relation entre défaut, défaillance et panne d’un système

1.6 Définitions et Principales caractéristiques

Fiabilité : R(t) = P[ E non défaillante sur [O,t] ]

On admet que l’entité est en fonctionnement au temps t=0.

Fig. 1.4 – Fiabilité T(t) en fonction du temps

Disponibilité : A(t) = P[E non défaillant à l’instant t]

1-A(t) = indisponibilité = A(t)

1.6.3 Maintenabilité d’une entité E

Maintenabilité d’une entité E : M(t) = P[ E est réparée sur [0,t] ]

On a aussi : M(t) = 1 - P[E non réparée sur [0,t] ] ;

Définition : MTTF : Mean Time To Failure

Définition : MTTR : Mean Time To Repair

Définition : MUT : Mean Up Time

Définition : MDT : Mean Down Time

Cette durée correspond aux phases suivantes :

Définition : MTBF : Mean Time Between Faillure

Fig. 1.5 – Représentation temporelle des définitions

1.7 Notion Mathématiques de Fiabilité

Fig. 1.6 – Fonction de répartition de la V.A. T

1.8 Fiabilité Conditionnelle

Lois Mathématiques utilisées en Fiabilité

2.1 Loi Exponentielle

F (t) = A − R(t) = 1 − e−λt

2.2 Loi Gamma

2.3 Loi de Weibull

Dans un histogramme, c’est la population la plus grande.

Détermination graphique des trois paramètres de la loi de Weibull : Allan PLAIT

η = 540 ; β = 4, 2 ; γ = 0 ,car c’est une droite ;

– Quel est le pourcentage de bagues qui ne dépasseront pas 5 000 cycles ?

2) R(50 000) = .....

2.4 Loi Ln-normale (Loi de Galton)

Représentation de la Logique d’un

Définition : Système cohérent

3.2 Méthode de Diagrammes de Succès MDS

Fig. 3.2 – Système à Redondance r/n