Cristalografia Cap. 12 Difraccion de Rayos X Por Los Cristales

UNIVERSIDAD NACIONAL DE CAJAMARCA
NORTE DE LA UNIVERSIDAD PERUANA
ESCUELA ACADEMICA DE INGENIERIA DE MINAS
Capitulo XII
DIFRACCION DE RAYOS
X POR LOS CRISTALES
ASIGNATURA:
CRISTALOGRAFIA
Docente: Ing. Armando H. Bohorquez Huara
Email: [email protected]
CAP. XII DIFRACCION DE RAYOS X POR LOS CRISTALES
1
Cajamarca, diciembre
del
El descubrimiento de los rayos x y su

difraccin por los cristales supuso un
gran avance del conocimiento
cientfico.
Toda sustancia con un orden interno
produce un diagrama de difraccin
de RAYOS X nico.
Si hubiera ms de una sustancia en
un mismo cristal, cada uno mostrara
su diagrama independientemente de
las otras.
Los rayos x fueron descubiertos

en 1895 por Rntgen, por ello le
concedieron el Premio Nobel en
1901.
El pens que no tenan nada que
ver con la luz, ms tarde se
demostr que los rayos x son
onda electromagntica , como
los
rayos
ultravioleta,
los
gamma, las ondas de radio o la
luz visible.
El ser humano no puede ver la
mayora con sus propios ojos.
LOS RAYOS X EN EL ESPECTRO ELECTROMAGNETICO
Baja frecuencia,
larga longitud
de onda,
baja energia.
Alta frecuencia,
pequea longitud
de onda,
alta energia.
Se incrementa la energa
La longitud de onda de los rayos x varia entre 0.02 y 100 amstrongs. Para la
investigacion mineralogica empleamos rayos x de 1 amstrong aproximadamente
El poder energtico de
la radicin electromagntica
es inversamente proporcional
a su longitud de onda
Radiacin visible
Rayos X
ESPECTROMETRO ELECTROMAGNETICO
Max Von Lau, premio Nobel

en 1914 por su descubrimiento
y demostracin de la difraccin
de los rayos x por los cristales,
confirm la longitud de onda
de los rayos x.
Sus primeros experimentos en
este campo fueron con un
cristal de esfalerita.
Sir William Henry Bragg y

su hijo William, premios
Nobel en 1915 por sus
estudios
sobre
determinacin
de
la
estructura
cristalina
de
muchos
minerales,
formularon
de
manera
sencilla como se difractan
los rayos x en los cristales.
(Ley de Bragg)
Como se producen los rayos x

El equipo genera mediante
un transformador un voltaje
(diferencia de potencial)
entre el ctodo y el
antictodo.
Al chocar los electrones
contra el antictodo se
frenan, perdiendo esa
energa
total
o
parcialmente.
La energa perdida se
emite en parte como
radiacin x.
Como se producen los

rayos x
Los difractmetros que se

utilizan para el anlisis de
minerales son relativamente
sencillos, aunque no por ello
baratos, ya que un equipo
nuevo ronda los 120.000
euros.
Estos equipos disponen de un
generador de alta tensin
(unos 5000 vatios) que se
suministran al tubo de rayos
x, que es donde se produce la
radiacin.
10
Determinacin
de las
estructuras cristalinas
11
Introduccin
12
El fenmeno de la difraccin
13
La ley de Bragg
14
Difraccin de rayos x
15
Equipo de difraccion
16
Reglas de determinacin de estructuras cristalinas
17
Difraccin de rayos x
18
Resumen
19
Caso practico: Aplicacin de la

Ley de Bragg
20
Indice
Introduccin
Problema tipo
Resolucin
21
Vamos a ver la aplicacin de la LEY DE BRAGG aplicada a la difraccin de

rayos x para la determinacin de las estructuras cristalinas de los materiales:
La ley de bragg nos relacionaba la longitud de onda () de un has incidente de
Rayos X sobre el material a analizar con el angulo que produce difraccin ()
en una serie de planoscristalinos dela material con una separacin
detreminada (d).
22
nt. Caso prctico: Aplicacin de la Ley de Bragg
Problema tipo
Se ha analizado una muestra de polvo de aluminio mediante difraccin de
Rayos X, obtenindose el espectro de difraccin de la figura
Calcular:
a) Los tres primeros planos que producen difraccin.
b) Las distancias interplanares.
c) El parmetro de red a
23
Resolucion
a) Los tres primeros planos que producen difraccin
24
Resolucion
b) Las distancias interplanares
25
Resolucion
c) El parmetro de la red a
26
Resumen
Hemos aplicado la ley de Bragg de difraccin para determinar la estructura cristalina del alumnio.
En particular hemos hallado:
Distancias interplanares (dhkl) de distintos planos que dan difraccin.
El parmetro de red (a) caracterstico de la celdilla unidad y por lo tanto de la estructura cristalina
del material
27
DETERMINACION
DE LAS
POSICIONES ATOMICAS
28
Determinacin de las posiciones atmicas
Para hallar las posiciones de un nmero conocido de tomos en una celda unidad de
forma y tamao conocidos, se debe usar
Las intensidades relativas
observadas de los haces difractados, puesto que estas intensidades son determinadas
por las posiciones de los tomos.
29
Determinacin de las posiciones atmicas

Para hallar las posiciones atmicas, sin embargo, se debe proceder por
Prueba y error,
porque no existe mtodo conocido de calcular directamente las posiciones
atmicas a partir de las intensidades observadas.
30
Determinacin de las posiciones

atmicas
Para ver por qu es esto as, consideraremos las dos ecuaciones bsicas
involucradas, a saber:
que proporciona las intensidades relativas de los haces reflejados y
que proporciona el valor del factor de estructura F para la reflexin hkl en

trminos de las posiciones atmicas uvw.
31
Puesto que:
la intensidad relativa I,
el factor de multiplicidad p y
el ngulo de Bragg
se conocen
para cada lnea del patrn, se puede hallar el valor de F para cada reflexin
de la ecuacin
(5.10).
32
Pero F mide solamente

la amplitud relativa de cada reflexin,
mientras que para usar la ecuacin (5.11), para calcular las posiciones
atmicas, se debe conocer el valor de F,
el cual mide
la amplitud y la fase de una reflexin relativa a la otra.
Esta es la esencia del problema.
33
Las intensidades de dos haces reflejados son proporcionales a los cuadrados de

sus amplitudes pero independientes de sus fases relativas.
Puesto que todo lo que se puede medir es
la intensidad,
se puede determinar
la amplitud pero no la fase,
lo cual significa que no se puede calcular el factor de estructura sino solamente su
valor absoluto.
34
POR LO TANTO:
Las posiciones atmicas, se pueden determinar solamente por
prueba y error.
Se asume un conjunto de posiciones atmicas, se calculan las intensidades
correspondientes a esas posiciones y las intensidades calculadas se
comparan con las observadas, el proceso se repite hasta que se alcanza una
concordancia satisfactoria.
35
muchas gracias!
feliz navidad y
Un
Prospero ao nuevo!
36

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Los rayos x fueron descubiertos

LOS RAYOS X EN EL ESPECTRO ELECTROMAGNETICO

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Max Von Lau, premio Nobel

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Sir William Henry Bragg y

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Como se producen los rayos x

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Como se producen los

Los difractmetros que se

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Reglas de determinacin de estructuras cristalinas

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Caso practico: Aplicacin de la

CAP. XII DIFRACCION DE RAYOS X POR LOS CRISTALES

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Vamos a ver la aplicacin de la LEY DE BRAGG aplicada a la difraccin de

CAP. XII DIFRACCION DE RAYOS X POR LOS CRISTALES

nt. Caso prctico: Aplicacin de la Ley de Bragg

nt. Caso prctico: Aplicacin de la Ley de Bragg

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Determinacin de las posiciones atmicas

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Determinacin de las posiciones atmicas

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Determinacin de las posiciones

que proporciona las intensidades relativas de los haces reflejados y

que proporciona el valor del factor de estructura F para la reflexin hkl en

CAP. XII DIFRACCION DE RAYOS X POR LOS CRISTALES

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Pero F mide solamente

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Las intensidades de dos haces reflejados son proporcionales a los cuadrados de

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