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Grado en Ingeniería en
Tecnologías Industriales
Metrología Industrial
Tema 1: Introducción a la Metrología

dimensional
1.1. Aspectos introductorios
La medición de las magnitudes físicas requiere, en primera aproximación, el concurso de diversos

elementos tales como:
- Magnitud a medir o mensurando

- Instrumento de medida
- Proceso de medición
- Personal responsable del proceso
Pero además de lo anterior, en todo proceso correcto de medición -más o menos científico- deben
tenerse en cuenta otros elementos, quizá menos tangibles para el lego en la materia, pero no por ello
menos importantes. Estos son:
- Unidad de medida
- Patrón de medida
- Proceso metrológico
- Soporte legal
Como puede apreciarse en lo anterior, el protocolo técnico de todo proceso correcto de medición -
en ocasiones bastante complejo-, se ve agravado con unos requerimientos "externos" que precisan
de una importante organización institucional junto con una decidida actuación metrológica,
generalmente motivada por intereses de carácter económico o político.
En la actualidad, la designación genérica de Metrología constituye un amplio paraguas bajo el que

cabe encontrar funciones tan diferentes como:
- La medición con exactitud, relacionada directamente con la calidad y, más

concretamente, con el "control de calidad".
- La seguridad de las mediciones domésticas, actividad comprendida en el área de
actuación de la Metrología Legal.
- La existencia de un sistema que suministre la trazabilidad a los laboratorios y empresas
industriales. Actuación relativa a la "calibración industrial" y al "sistema integrado de
calidad industrial".
- La organización de la calibración y el aseguramiento de la trazabilidad en las empresas
industriales, donde se conjuga la organización metrológica con la relativa al sistema de
calidad de la empresa.
- El estudio de la mejora de la exactitud en las mediciones y en la materialización de los
patrones de los máximos niveles. Correspondiente a la "metrología científica", aunque
con fuertes vínculos con la Metrología Legal.
Por otra parte, la expresión científica del resultado de una medida se establece en base a los cuatro
elementos siguientes:
- Valor del mensurando obtenido tras el proceso de medida.

- Unidad de medida, que además da información inequívoca acerca de la magnitud
física considerada.
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- Grado de precisión de dicha medida, establecido por el valor de la "incertidumbre".
- Normativa, proceso y/o nivel de confianza o de rigor empleado en la determinación de
la incertidumbre.
En las medidas de baja precisión, tales como las que se efectúan domésticamente, suelen bastar los
dos primeros elementos pero ello no significa que los otros dos no existan, sino más bien que se
encuentran implícitos. Es decir, que el instrumento y el método de medida han sido estudiados y
diseñados para que tengan una incertidumbre lo suficientemente baja y compatible con los
requerimientos de la medida y con la división de escala del instrumento, quedando muchas veces
absorbidas por dicha división de escala.
1.2. El campo de actuación de la Metrología Dimensional
En estas líneas se va a considerar, casi exclusivamente, la “Metrología Dimensional” o “Metrología

Geométrica” que tiene por objeto la medición de la magnitud física “longitud” o “espacio”. Aquí se
ha optado por la denominación más usual en castellano; esto es: “Metrología Dimensional”.
La denominación de “espacio” ha sido empleada en épocas pretéritas y en la actualidad es la

considerada en la normativa UNE sobre “magnitudes y unidades”; sin embargo en el Sistema
Internacional de Unidades (SI) se emplea preferentemente la designación “longitud”.
En la normativa UNE se consideran, preferente pero no exclusivamente, las siguientes

manifestaciones de la magnitud física “espacio” y se establecen sus símbolos internacionales:
- longitud: l, L
- anchura: b
- altura: h
- espesor: d, 
- radio: r, R
- diámetro: d, D
- longitud curvilínea: s
- distancia: d
- coordenadas cartesianas: x, y, z
- radio de curvatura: 
- ángulo, ángulo plano: , , , , 
- ángulo sólido: 
- área, superficie: A, S
- volumen: V
Por su parte, suele ser clásica la siguiente consideración de los ámbitos que abarca la Metrología
Dimensional:
- longitudes
- ángulos
- formas geométricas: rectitud, planitud, redondez, cilindricidad, ...
- formas tecnológicas: elementos roscados, engranajes, ...
- geometría de superficies: ondulación y rugosidad
La Metrología Dimensional es de especial importancia en el ámbito de las fabricaciones mecánicas

basadas en los procesos de “conformación” -actividad de conferir a los productos la forma
requerida-. En dicho ámbito uno de los principales objetivos del proceso productivo consiste en
modificar la forma de las piezas para conseguir la geometría especificada en los planos, con la
precisión adecuada. La Metrología Dimensional constituye la última etapa del ciclo “concepción-
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proyecto-fabricación-medición” que garantiza la obtención de componentes y productos aptos para
su utilización y/o consumo.
1.3. Definiciones
Quizá la característica más importante de la "medición científica" o Metrología lo constituya la

"trazabilidad", definible como:
"Cualidad de la medida que permite referir la precisión de la misma a un patrón aceptado o

especificado, gracias al conocimiento de las precisiones de los sucesivos escalones de
medición a partir de dicho patrón".
La existencia de trazabilidad en las medidas clasifica a éstas en tres grupos:
- Medidas trazables y por tanto metrológicas.

- Medidas no trazables ante la carencia explícita de información acerca de la cadena de
precisiones, pero que emplean medios que sí han sido sometidos a tratamientos que
garantizan la obtención de precisiones suficientes. Generalmente forman parte de este
grupo gran cantidad de las mediciones cotidianas y legales.
- Evaluaciones que no son trazables, ni se apoyan en ningún procedimiento de carácter
metrológico. Por tanto no pueden, ni deben, ser designadas como "medidas".
Algunas otras definiciones de términos empleados en Metrología son:
Exactitud (accuracy): Grado de concordancia existente entre el resultado de la medida o

ensayo y el valor aceptado como referencia. El término exactitud implica una
combinación de las componentes debidas al sesgo (veracidad) y a los efectos aleatorios
(precisión).
Veracidad (trueness): Grado de concordancia existente entre el valor medio obtenido de

una gran serie de resultados y el valor aceptado como referencia. Se expresa en
términos de sesgo. Al sesgo también se le suele llamar desviación o bias.
Precisión (precision): Cualidad de un método de medida o instrumento que expresa el

grado de coincidencia existente entre resultados independientes realizados bajo
condiciones estipuladas. Es el término que permite expresar la variabilidad existente entre
mediciones repetidas.
Incertidumbre (uncertainty): Expresión cuantitativa del grado de precisión de las

mediciones efectuadas con un cierto método de medida o instrumento. Por tanto, facilita el
valor del agrupamiento de las medidas efectuadas con un determinado método de medida o
instrumento. La incertidumbre no evalúa, en principio, el sesgo que pueda tenerse en la
medición, aunque sí pueden ser incorporados los efectos de éste en el valor de la
incertidumbre. Independientemente al método con el que se determine, en Metrología
Dimensional la incertidumbre suele expresarse mediante un valor numérico precedido del
signo , situado a continuación del valor de la medición y en la misma unidad que éste.
Repetibilidad: Es el grado de concordancia existente entre los sucesivos resultados

obtenidos con el mismo método y mensurando, bajo las mismas condiciones (mismo
operario, mismo aparato, mismo laboratorio y dentro de un intervalo de tiempo lo
suficientemente pequeño).
Reproducibilidad: Es el grado de concordancia existente entre resultados individuales

obtenidos con el mismo método y mensurando, pero bajo condiciones diferentes
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(diferentes operarios, diferentes aparatos, diferentes laboratorios y/o diferentes intervalos
de tiempo).
Diseminación: Se entiende por "diseminación de unidades de medida" al proceso que,

mediante sucesivos escalones y a partir de los patrones primarios (u otros aceptados como
tales al efecto), tiene por objeto facilitar a laboratorios, empresas y organismos patrones de
calidad inferior que ellos utilizan como patrones de referencia interna.
Las definiciones anteriores han sido tomadas de la normativa vigente, principalmente de la norma
UNE 82009:1999, que constituye la adaptación nacional de la norma ISO 5725:1994.
1.4 Aproximación histórica a las unidades de medida anteriores al “metro”
La creación y consolidación de los “grandes imperios” que han existido a lo largo de la Historia -
desde el Sumerio hasta la Unión Europea-, ha prestado un apreciable interés al establecimiento y
regulación de las unidades y patrones de medida.
Dentro de las magnitudes físicas cuya medición presenta una gran importancia en los distintos
ámbitos de actuación socioeconómica, la “longitud” y la “masa” son los que mayor repercusión han
tenido en los campos científico y tecnológico. De ellas, la “longitud” -y sus unidades y patrones-
será considerada con carácter exclusivo en este y en los siguientes apartados, al ser el objeto de la
Metrología Dimensional.
Primeras unidades de longitud.- La acción de medir ha sido siempre consustancial con la actividad
cotidiana del ser humano principalmente desde la Revolución Neolítica, que consolidó la
agricultura y la domesticación y cría de ganado y, con ello, la existencia de excedentes productivos
y el establecimiento de actividades regulares de intercambio de bienes y servicios.
Por su parte, los “sistemas de unidades” surgen ante la necesidad de administrar territorios y
pueblos de diferente tradición cultural; esto es, aparecen en las grandes civilizaciones e imperios de
la antigüedad. Se tiene constancia de la existencia de unidades de medida de longitud con
anterioridad al año 3000 a.C. en que los sumerio-acadios y los egipcios usaban el “codo” o “auna
real” con un valor aproximado de 50 cm. Las dos terceras partes de este “auna” correspondían a un
“pie” y la mitad del “auna” era el “palmo”. Entre sus múltiplos estaba la “caña” (6 aunas  3 m) y
la “legua” (21600 aunas  10 km).
Como puede apreciarse, en este sistema tanto la unidad de longitud como sus submúltiplos eran de
carácter antropométrico, lo cual presentaba una de las características “no deseadas” en las unidades
de medida: la “unicidad”. Esto es, ¿qué codo era el que constituía el patrón primario?
Por el contrario, estas unidades presentaban muy buenas cualidades para la medición aproximada y
hasta proporcionaban una precisión suficiente en casos de medición “diferencial” o “por
comparación”; ya que con ellas se disponía de gran “inmediatez” de medición, los procedimientos
de medida eran muy “intuitivos” y no resultaba imprescindible el empleo de instrumentación
metrológica. De hecho, aún hoy en día, cuando en las actividades cotidianas no se dispone de una
cinta métrica, de un flexómetro o de una regla graduada, se suele recurrir a “echar” pasos, pies o
palmos para evaluaciones de carácter aproximado.
También de la civilización sumeria proviene el patrón de longitud más antiguo conocido; consiste
en una regla graduada apoyada en las rodillas de la estatua del rey Gudea, expuesta en el Museo del
Louvre de París y que se supone que corresponde al patrón de longitud de la ciudad de Lagash. Los
trazos extremos de la regla están separados una distancia de 264,5 mm, lo que permite suponer que
se trata de un patrón del “palmo”.
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Al estudiar los primeros patrones de longitud, llama poderosamente la atención la capacidad de
abstracción y de conocimiento científico manifestado por algunas civilizaciones antiguas, que
llegaron a proponer, muy tempranamente, patrones alejados de la base antropométrica. En
ocasiones se ha llegado a emplear como patrón de longitud un experimento físico lo
suficientemente estable, preciso y reproducible con facilidad. Como ejemplo baste el patrón de
longitud utilizado en algunas zonas de China en el tercer milenio a.C. definido como “la distancia
existente entre dos nudos de una caña de bambú, tal que al ser ésta utilizada como flauta emitía una
nota musical determinada”. Con ello se anticipaba en casi cinco mil años el fundamento científico
de los patrones de la unidad de longitud a emplear a partir de la segunda mitad del siglo XX.
Las unidades de longitud en el Imperio Romano.- El Imperio Romano, que extendió sus dominios
sobre los territorios con las culturas más antiguas de Occidente, hizo especial hincapié en la
normalización de sus unidades y patrones.
Como principales unidades romanas de longitud pueden ser consideradas el “pes” (o “pie”), con un
valor aproximado de 30 cm, y el “pasus” (o “paso”), con una equivalencia de 5 pies (algo menos
del “metro y medio” actual). Entre los múltiplos y submúltiplos del pie romano cabe indicar:
1 pie = 4 palmus (palmas) = 12 uncias (onzas) = 16 digitus (dedos)

1 cubitus (codo) = 1,5 pies
1 gressus (greso) = 2,5 pies
1 decempeda o pertica (pértiga) = 10 pies
Por su parte, como múltiplos del paso se tenían:
1 stadium (estadio) = 125 pasos (~185 m)

1 milliarium (milla) = 1000 pasos (~1500 m)
1 legua = 4 millas = 4000 pasos (~6 km)
Unidades de longitud en la Edad Media.- Tras la desaparición del Imperio Romano de Occidente, la
Europa Medieval se caracterizó por un debilitamiento del poder centralizado y unificado, a favor de
los señores locales. También surgió un importante movimiento de carácter urbano que situó a las
ciudades como lugar preferente para el establecimiento de las relaciones comerciales y de la
actividad artesanal. Con ello, aumentó considerablemente la disparidad de las unidades de medida,
teniéndose sistemas de pesas y medidas propias en cada ciudad y villa de cierta importancia.
Por ello, los principales movimientos de unificación política de la Europa medieval intentaron,
generalmente sin éxito, implantar sistemas de unidades y patrones que abarcaran territorios más
amplios. Esta corriente unificadora era motivada, principalmente, por los dos factores siguientes:
- Favorecer el desarrollo del comercio y el intercambio de mercancías

- Afirmación de la soberanía real y la construcción del Estado, así como facilitar el
sistema recaudatorio de impuestos
Por lo general, en el continente europeo siguieron empleándose unidades de longitud basadas en el

sistema romano combinadas con otras de origen nórdico, centroeuropeo y asiático. Así se
emplearon unidades tales como la “vara”, con valores comprendidos entre los 50 y 80 cm –según
lugares-, y el “pie”, con valores entre 25 y 34 cm (aproximadamente entre “un cuarto” y “un tercio”
de metro).
En la Francia altomedieval, Carlomagno (724-814) intentó implantar un sistema único de unidades,

para lo que estableció como unidad de longitud el “pie del Rey” con un valor de unos 32,5 cm y
envió patrones del mismo a los principales núcleos urbanos de su reino. No obstante, cabe indicar
que no consiguió erradicar las diferentes unidades de longitud de carácter local.
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En 1101, el rey Enrique I (1068-1135) de Inglaterra sustituye la “vara” o “gyrd” –unidad de
longitud que se venía empleando con mayor profusión y que era de procedencia romana- por “la
longitud existente entre su nariz y el extremo del dedo medio de su mano, con el brazo extendido”.
Esta nueva unidad tenía un valor aproximado de 90 cm y fue denominada “yard” o “yarda”. Por
Decreto de 1305 de Eduardo I (1239-1307) se regulariza el empleo de la yarda y se establece el
prototipo de dicha unidad de longitud mediante una barra de hierro.
Por su parte, la primera actuación seria de unificación de las unidades de longitud en la España de
la Reconquista se debe a Alfonso X el Sabio (1221-1284) que intentó reducir la disparidad de
unidades locales estipulando unidades más generales a través de las cartas de privilegios
concedidos a los ayuntamientos de algunas ciudades. Dos de las cartas de privilegios más antiguas
son las de las ciudades de Toledo y León, expedidas ambas en Sevilla en 1261.
Posteriores actuaciones de carácter normalizador fueron llevadas a cabo por sus sucesores, pero
todas ellas fueron seguidas de fracasos. Con las debidas cautelas se puede considerar que en la baja
Edad Media peninsular prevaleció el comúnmente denominado “sistema toledano de medidas” que,
en lo referente a la longitud, tenía como unidad la “vara de Toledo” o “vara toledana” de 0,906 m.
Resulta curioso advertir la gran similitud existente entre el “sistema toledano de medidas” y el
“sistema británico” actual, en lo referente a las unidades de longitud. En la tabla siguiente se
aprecia dicha similitud.
Sistema toledano de medidas (siglos Sistema británico actual

XIII - XV)
1 vara 0,906 m 1 yard 0,9144 m
1 pie 0,302 m 1 foot 0,3048 m
1 pulgada 0,02517 m 1 inch 0,0254 m
1 milla 1510 m 1 mile 1609,33 m
Unidades de longitud en la Edad Moderna.- En Inglaterra, Enrique VII (1457-1509) procedió en

1494 a la sustitución de la yarda de 1305 por un patrón de extremos de latón con sección octogonal
de media pulgada de espesor. Ello sólo afectaba al prototipo ya que el valor de la yarda fue
mantenido, así como el de sus submúltiplos. En 1588, Isabel I (1533-1603) mandó construir un
nuevo prototipo de la yarda, en latón y con sección cuadrada, que se mantuvo vigente hasta 1824.
Aunque este prototipo sufrió desperfectos importantes, fue posteriormente reparado y ha llegado
hasta nuestros días. En la actualidad es 0,01” más corto que la yarda oficial, lo que supone un error
relativo de sólo 0,028%.
En 1688, fue adoptada en Francia como unidad oficial de longitud la “toise” o “toesa” –palabra
derivada del término latino “tensa”- con un valor de 1,949 respecto al metro actual. Esta unidad fue
también denominada “hexapeda” ya que constaba de 6 “pies del Rey” y su prototipo era una barra
de hierro empotrada en la fachada del Grand Châtelet de París.
En relación con las unidades de medida en España debe indicarse la preocupación mostrada al
efecto por los Reyes Católicos –en plena fase de creación de su imperio peninsular y de ultramar- al
encargar al eminente filólogo y polígrafo Elio Antonio de Nebrija (1444-1522) la elaboración de un
estudio sobre el “estado del arte” de los sistemas de pesas y medidas que estaban siendo empleados
en sus territorios.
Respecto a las unidades de longitud en nuestro país cabe indicar la pervivencia de la vara toledana
hasta que la Pragmática de Felipe II, dada en 1568, instauró el empleo en todo el territorio del reino
de la “vara burgalesa” o “vara castellana”, sensiblemente más corta (alrededor de un 8%) que la de
Toledo, ya que su valor en términos métricos es de 0,8358 m frente a los 0,906 m de la vara
toledana.
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Antecedentes inmediatos del “metro”.- Ya desde los albores de la Edad Moderna se tuvieron varios
intentos para el establecimiento de un patrón de longitud que, liberado de la tradición
antropométrica, pudiera ser definido y materializado a partir de un fenómeno o experimento físico
fácilmente reproducible, trazable, diseminable y que, además, asegurara la constancia de la unidad
de longitud con el paso del tiempo.
En esta línea, el físico francés Jean Fernel (1497-1558) proporciona la primera referencia conocida
del intento de relacionar la unidad de longitud con una parte de la superficie terrestre, ya que en
1528 propuso utilizar a tal fin el segmento de meridiano comprendido entre París y Amiens. Si bien
esta solución resultaba conceptualmente correcta, presentaba bastantes dificultades en su
materialización, dados los conocimientos e instrumentación de la época.
En 1661, el astrónomo y arquitecto inglés sir Christopher Wren (1632-1723) –el constructor de la
catedral de San Pablo de Londres- sugiere utilizar como patrón “la longitud del péndulo que bate
medio segundo”, mientras que por esa misma época el físico y astrónomo holandés Christian
Huygens (1629-1695) propone el empleo de “la longitud del péndulo simple que bate segundos”,
con lo que se tenía una unidad de longitud del orden de la vara castellana y de la yarda inglesa y,
por tanto, del futuro metro. Con ello se evitaba la recurrente referencia antropométrica e incluso la
dependencia a un criterio geográfico y se formulaba un patrón de longitud a partir de un
experimento físico relativamente sencillo de realizar. El principal inconveniente de los
experimentos basados en péndulos era que la unidad de longitud obtenida presentaba ciertas
variaciones según los lugares en que se realizaban.
Un coetáneo de Wren y de Huygens, el teólogo francés y párroco de la iglesia de San Pablo de

Lyon Gabriel Mouton (1618-1694) propuso en 1670 el empleo del minuto de arco meridiano como
unidad natural de longitud, a la que se daría el nombre de “mille” o “milla” por la similitud de su
valor con el de la milla romana de 1000 pasos. En efecto, la “mille” de Mouton tenía unos 1852 m,
lo que suponía alrededor de un 20% más que la antigua milla romana. Con esta iniciativa la opción
basada en el “meridiano terrestre” parecía ir ganando adeptos frente a la alternativa “pendular”.
1.5. Breve historia del “metro” y del Sistema Internacional de Unidades SI
Origen del “metro” y del Sistema Métrico Decimal.- En 1790, el entonces obispo de Autun,
Charles-Maurice de Talleyrand-Périgord (1754-1838) propone a la Asamblea Nacional francesa
una nueva normalización de los sistemas de unidades. Como consecuencia de la iniciativa de
Talleyrand, una comisión formada por diversos miembros de la Academia de Ciencias de París
propone basar la unidad fundamental de longitud en la circunferencia terrestre, ya que la
alternativa basada en la longitud de un péndulo con periodo predeterminado quedaba descartada
ante la gran incertidumbre tenida en su reproducción en los diversos lugares del planeta.
Llegados a este punto, se tenían dos vías para la determinación de la circunferencia de la Tierra. La
basada en la medición de un arco de meridiano y la que precisaba la medición de un arco
ecuatorial. La mayor dificultad de esta última sobre todo por la lejanía del Ecuador de los núcleos
científicos europeos provocó que prevaleciera la opción de un arco meridiano.
En 1798 el Instituto de Francia, organismo continuador de la labor de la Academia de Ciencias,

nombra una comisión presidida por Laplace, en la que participan también los científicos franceses
Delambre, Mechain y Legendre. También se incorporan a esta comisión científicos de otros países,
entre ellos el marino español Gabriel de Císcar. En el seno de esta comisión y a partir de los
primeros resultados disponibles de la medición del arco meridiano, se procede al establecimiento de
la nueva unidad fundamental de longitud y se encarga a Esteban Lenoir (1744-1832) la elaboración
de los primeros prototipos de dicha unidad de longitud.
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Por entonces, la nueva unidad de longitud era conocida como "la vara decimal de la comisión" y
Císcar acuña para ella el nombre castellano de "medidera". El primer patrón de esta vara fabricado
por Lenoir estaba hecho de hierro forjado y carecía de divisiones. El propio Císcar la describe
como:
"La vara decimal de la Comisión es toda de hierro, no está dividida, y lleva en sus
extremos dos pedazos de latón en forma de escuadra, que cubren la mitad de sus cabezas.
Dichas piezas están sujetas con un tornillo y sólo deben quitarse para verificaciones
sumamente delicadas".
Posteriormente, el 22 de junio de 1799, Lenoir fabrica una barra de platino iridiado de 25,3x4 mm2
de sección y tal que, a la temperatura de 0ºC, constituye el valor de longitud de la diezmillonésima
parte del cuadrante terrestre medido.
El 29 de noviembre de 1800, la Comisión del Instituto de Francia, bajo la presidencia de Laplace,

establece oficialmente la unidad de longitud como la "diezmillonésima parte del cuadrante del
meridiano terrestre que pasa por París", tomando dicha unidad la denominación de "metro", nombre
propuesto por Bordas derivado de la palabra griega "metron" que significa "medida".
Posteriormente el empleo oficial del metro fue impuesto mediante ley en Francia. En 1809,
Delambre presenta los fundamentos del futuro Sistema Métrico Decimal, enunciando los múltiplos
y submúltiplos decimales de las unidades de medida y, en particular del metro. También deduce las
unidades de superficie (metro cuadrado) y de volumen (litro) a partir de la de la longitud y -lo que
resulta más trascendente- definen la unidad de masa (kilogramo) a partir de la de longitud como "la
masa de un decímetro cúbico de agua a la temperatura de 4ºC".
El sistema se completa con una unidad básica independiente de las demás, esto es, la unidad de
tiempo (segundo) que definen como "1/86400 de la duración del día solar medio". Asimismo, se
depositan en París prototipos del litro y del kilogramo, conjuntamente con el ya depositado del
metro. Con ello queda completado el Sistema Métrico Decimal referente a cuatro magnitudes:
espacio, capacidad, masa y tiempo, con sus unidades respectivas: metro, litro, kilogramo y
segundo; estando las tres primeras unidades relacionadas entre sí y todas ellas referidas, de alguna
manera, a las dimensiones y movimientos de nuestro planeta.
El metro como unidad internacional.- La Conferencia Internacional de Pesas y Medidas (CIPM)

celebrada en París en 1872 y en la que participan 20 países, acuerda elaborar estudios y
construir nuevos prototipos para el metro y el kilogramo. Asimismo, la conferencia acuerda
depositar dichos prototipos en París y crear la Oficina Internacional de Pesas y Medidas, con
sede en Sèvres, en las proximidades de París.
El "Bureau" Internacional de Pesas y Medidas (BIPM) fue creado por la "Convención del Metro"
firmada en París el 20 de Mayo de 1875 por diecisiete estados europeos, entre los que se encontraba
España.
El BIPM tiene como principal objetivo el "asegurar la unificación mundial de las mediciones
físicas" y está encargado de:
- Establecer los patrones fundamentales y las escalas de las principales magnitudes

físicas, así como de conservar los prototipos internacionales.
- Efectuar la comparación de los patrones nacionales e internacionales.
- Asegurar la coordinación de las técnicas de medida.
- Efectuar y coordinar las determinaciones relativas a las constantes físicas que
intervienen en las actividades anteriores.
El primer prototipo internacional del metro fue sancionado por la 1ª Conferencia General de Pesas
y Medidas en 1889 y ha sido conservado en el "Bureau" Internacional de Pesas y Medidas de París,
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en las mismas condiciones fijadas en dicho año. En el Memorial de las Sesiones de 1927 de la
CGPM se da la definición del metro a partir del Prototipo Internacional, como sigue:
"La unidad de longitud es el metro, definido por la distancia, a 0º, de los ejes de dos trazos
medios trazados sobre la barra de platino iridiado depositada en el BIPM y declarada
Prototipo del Metro por la I CGPM de 1889, estando dicha regla sometida a la presión
atmosférica normal y soportada por dos rodillos de al menos un centímetro de diámetro,
situados simétricamente en un mismo plano horizontal y a la distancia de 571 milímetros el
uno del otro".
La 11ª CGPM, celebrada en París en Octubre de 1960, desarrolla y adopta el denominado Sistema
Internacional de Unidades SI, en el que se consideran las siguientes seis magnitudes básicas
fundamentales, con sus respectivas unidades y símbolos:
Longitud metro m
Masa kilogramo kg
Tiempo segundo s
Intensidad de corriente eléctrica amperio A
Temperatura termodinámica kelvin K
Intensidad luminosa candela cd
Como puede apreciarse el metro sigue siendo unidad fundamental en el sistema internacional, si
bien abandonando la definición del metro basada en el prototipo internacional de platino iridiado,
vigente desde 1889 y determinado en 1927. La nueva definición del metro dada en la Resolución 6
de la 11ª CGPM, es la siguiente:
"El metro es la longitud igual a 1 650 763,73 longitudes de onda en el vacío, de la

radiación correspondiente a la transición entre los niveles 2p10 y 5d5 del átomo de Criptón
86".
En la 13ª CGPM de 1967 y en la 14ª edición de 1971, se acordaron modificaciones sustantivas del
SI -entre ellas la incorporación de una séptima magnitud fundamental: la cantidad de sustancia,
cuya unidad es el mol-, si bien sin afectar a la definición del metro.
Posteriormente, y a fin de poder aumentar la precisión en la determinación del metro, la 26ª CGPM
de 1983 procedió a la redefinición de la unidad internacional de longitud en los siguientes términos:
"El metro es la longitud del trayecto recorrido en el vacío por la luz durante una duración
de 1/299 792 458 de segundo".
Esta es la definición del metro que se encuentra vigente en la actualidad.
Implantación del “metro” en España.- El inicio del empleo oficial del metro en España data de
1849, en que se estableció en nuestro país el primer sistema de "pesas y medidas". Por su parte la
Ley de Pesas y Medidas de 8 de Julio de 1892 adoptó el sistema métrico decimal para todos los
dominios españoles y se fijó como unidad fundamental el "metro" de la 1ª Conferencia General de
Pesas y Medidas de 1889. El desarrollo aplicativo de esta Ley de Pesas y Medidas tuvo que esperar
más de seis decenios hasta que por Decreto de uno de febrero de 1952 se aprobó el Reglamento
para su ejecución.
La Ley 88/1967, de 8 de noviembre, introduce en nuestro país la obligatoriedad del empleo del
Sistema Internacional de Unidades SI, aprobado en la 11ª CGPM de 1960. Dicha obligatoriedad
incluye, la "enseñanza obligatoria, en el nivel que corresponda, en todos los centros docentes" de
las unidades del Sistema Internacional. Posteriormente se incorporan las modificaciones de 1967 y
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1971 del SI, así como se completan diversos aspectos aplicativos del mismo, mediante el
Decreto1257/1974.
En 1985 se promulga la Ley 3/1985 de Metrología, de 18 de marzo, que establece el Sistema

Internacional de Unidades (SI) como Sistema Legal de Unidades de Medida de uso obligado en
todo el territorio del Estado Español. Esta Ley crea el Consejo Superior de Metrología como
órgano superior de asesoramiento y coordinación en materia de Metrología Científica, Técnica,
Histórica y Legal y establece el “régimen de infracciones y sanciones” en materia metrológica.
1.6. El Sistema Internacional de Unidades SI
A continuación se exponen los principales elementos que componen el Sistema Internacional de

Unidades (SI).
Unidades básicas del SI.
Las unidades básicas del Sistema Internacional son, desde la 14ª CGPM de 1971, las recogidas
en la siguiente tabla:
Tabla 1.1.Unidades básicas del SI
Unidad
Magnitud
Nombre Símbolo
Longitud metro m
Masa kilogramo kg
Tiempo segundo s
Intensidad de corriente eléctrica amperio A
Temperatura termodinámica kelvin K
Cantidad de sustancia mol mol
Intensidad luminosa candela cd
El principio general para la escritura de los símbolos de las unidades es el siguiente:

“Los símbolos de las unidades se expresarán en caracteres romanos, en general minúsculos; no
obstante, si los símbolos se derivan de nombres propios, se utilizarán los caracteres romanos
mayúsculos para la primera letra. Estos símbolos no irán seguidos de un punto. Los símbolos de
las unidades permanecerán invariables en plural”.
Las definiciones de las unidades básicas del SI vigentes hasta el año 2019 se exponen a
continuación:
metro: El metro es la longitud del trayecto recorrido en el vacío por la luz durante 1/299792 458
de segundo [17 CGPM (1983)]
kilogramo: El kilogramo es la unidad de masa; es igual a la masa del prototipo internacional del
kilogramo [3 CGPM (1901)]. Dicho patrón es la masa de platino iridiado que se conserva desde
1889 en el BIPM.
segundo: El segundo es la duración de 9 192 631 770 períodos de la radiación correspondiente a

la transición entre los dos niveles hiperfinos del estado fundamental del átomo de cesio 133 [13
CGPM (1967)]
10
amperio: El amperio es la intensidad de una corriente constante que, mantenida en dos
conductores paralelos, rectilíneos, de longitud infinita, de sección circular despreciable y
colocados a una distancia de un metro el uno del otro en el vacío, produce entre estos
conductores una fuerza igual a 2x10-7 newton por metro de longitud [9 CGPM (1948)]
kelvin: El kelvin, unidad de temperatura termodinámica, es la fracción 1/273,16 de la
temperatura termodinámica del punto triple del agua [13 CGPM (1967)]
mol: El mol es la cantidad de sustancia de un sistema que contiene tantas entidades como
átomos hay en 0,012 kilogramos de carbono 12. Cuando se emplea el mol, las entidades
elementales deben ser especificadas y pueden ser átomos, moléculas, iones, electrones, otras
partículas o agrupamientos especificados de tales partículas [14 CGPM (1971)]
candela: La candela es la intensidad luminosa, en una dirección dada, de una fuente que emite
una radiación monocromática de frecuencia 540x1012 hercios y cuya intensidad radiante, en esta
dirección, es 1/683 vatios por esterorradián [16 CGPM (1979)].
En la última revisión del SI aprobada en noviembre de 2018 por la 26ª asamblea de la CGPM,
que entró en vigor el 20 de mayo de 2019, Día Mundial de la Metrología, se redefinen las sietes
unidades básicas del SI, en base a valores fijos de constantes universales, de los cuales derivan
las unidades básicas. Las definiciones de las unidades básicas del SI quedaron establecidas
como se indica a continuación:
metro: El metro, símbolo m, es la unidad SI de longitud. Se define al fijar el valor numérico de

la velocidad de la luz en el vacío, c, en 299 792 458, cuando se expresa en la unidad m s -1,
donde el segundo se define en función de la frecuencia del Cesio ∆νCs.
kilogramo: El kilogramo, símbolo kg, es la unidad SI de masa. Se define al fijar el valor

numérico de la constante de Planck, h, en 6,626 070 15 x 10−34, cuando se expresa en la unidad
J·s, igual a kg·m2·s–1, donde el metro y el segundo se definen en función de c y ∆νCs.
segundo: El segundo, símbolo s, es la unidad SI de tiempo. Se define al fijar el valor numérico

de la frecuencia de la transición hiperfina del estado fundamental no perturbado del átomo de
cesio 133, ∆νCs, en 9 192 631 770, cuando se expresa en la unidad Hz, igual a s-1.
amperio: El amperio, símbolo A, es la unidad SI de corriente eléctrica. Se define al fijar el valor

numérico de la carga elemental, e, en 1,602 176 634 ´ 10−19, cuando se expresa en la unidad C,
igual a A·s, donde el segundo se define en función de ∆νCs.
kelvin: El kelvin, símbolo K, es la unidad SI de temperatura termodinámica. Se define al fijar el

valor numérico de la constante de Boltzmann, k, en 1,380 649 x 10−23, cuando se expresa en la
unidad J·K-1, igual a kg·m2·s2·K-1, donde el kilogramo, el metro y el segundo se definen en
función de h, c y ∆νCs.
mol: El mol, símbolo mol, es la unidad SI de cantidad de sustancia. Un mol contiene

exactamente 6,022 140 76 x 1023 entidades elementales. Esta cifra es el valor numérico fijo de la
constante de Avogadro, NA, cuando se expresa en la unidad mol-1, y se denomina número de
Avogadro. La cantidad de sustancia, símbolo n, de un sistema, es una medida del número de
entidades elementales especificadas. Una entidad elemental puede ser un átomo, una molécula,
un ion, un electrón, o cualquier otra partícula o grupo especificado de partículas.
candela: La candela, símbolo cd, es la unidad SI de intensidad luminosa en una dirección dada.
Se define al fijar el valor numérico de la eficacia luminosa de la radiación monocromática de
frecuencia 540 x 1012 Hz, Kcd, en 683, cuando se expresa en la unidad lm·W−1, igual a
11
cd·sr·W−1, o a cd·sr·kg−1·m−2·s3, donde el kilogramo, el metro y el segundo se definen en
función de h, c y ∆νCs.
Unidades del SI derivadas
Las unidades del SI derivadas se definen como productos de potencias de las unidades básicas.
Cuando el factor numérico de este producto es uno, las unidades derivadas se llaman
unidades derivadas coherentes. Las unidades básicas y las unidades derivadas coherentes del
SI forman un conjunto coherente denominado conjunto de unidades SI coherentes. El término
“coherente” se significa que las ecuaciones entre los valores numéricos de las
magnitudes toman exactamente la misma forma que las ecuaciones entre las magnitudes
propiamente dichas.
Algunas de las unidades derivadas coherentes en el SI reciben nombres especiales. La tabla 1.2
enumera 22 unidades SI con nombres especiales. Junto con las siete unidades básicas
(Tabla 1.1), forman el núcleo del conjunto de unidades SI. Todas las demás unidades
SI son combinaciones de algunas de estas 29 unidades.
Tabla 1.2. Unidades del SI derivadas
Las siete unidades básicas y las 22 unidades con nombres y símbolos especiales se pueden usar
combinadamente para expresar las unidades de otras magnitudes derivadas. Dado que el número
de magnitudes no tiene límite, no es posible proporcionar una lista completa de magnitudes y
unidades derivadas. La Tabla 1.3 muestra algunos ejemplos de magnitudes derivadas y las
correspondientes unidades derivadas coherentes expresadas en función de las unidades básicas.
También la Tabla 1.4 muestra ejemplos de unidades derivadas coherentes cuyos nombres y
símbolos también incluyen unidades derivadas. El conjunto completo de unidades SI incluye
12
tanto el conjunto coherente como los múltiplos y submúltiplos formados utilizando los prefijos
SI.
Tabla 1.3. Ejemplos de unidades derivadas coherentes del SI, expresadas en función de las
unidades básicas
Tabla 1.4. Ejemplos de unidades derivadas coherentes SI cuyos nombres y símbolos incluyen
unidades derivadas coherentes SI con nombres y símbolos especiales
13
Es importante enfatizar que cada magnitud física tiene solo una unidad SI coherente, aunque
esta unidad se puede expresar en diferentes formas usando algunos de los nombres y símbolos
especiales.
Sin embargo, lo contrario no es cierto, porque en general varias magnitudes diferentes pueden
compartir la misma unidad SI. Por ejemplo, para la magnitud capacidad calorífica así como para
la magnitud entropía, la unidad SI es el julio por kelvin. De manera similar, para la magnitud
básica corriente eléctrica y para la magnitud derivada fuerza magnetomotriz, la unidad SI es el
amperio. Por ello, es importante no usar solo la unidad para especificar la magnitud.
14
BIBLIOGRAFÍA
AENOR, Asociación Española de Normalización y Certificación, http://www.aenor.es
Beltrán, J.: La gestión de los procesos metrológicos. Análisis e integración de un sistema de

gestión de las mediciones (ISO 10012:2003), AENOR, Madrid, 2004.
Carro, J.: Curso de Metrología Dimensional. Sección de Publicaciones de la ETSII de la

Universidad Politécnica de Madrid, Madrid, 1978.
Carro, J.: Trazabilidad. Sección de Publicaciones de la ETSII de la Universidad Politécnica de

Madrid, Madrid, 2000.
CEM, Centro Español de Metrología, http://www.cem.es.
CEN, Comité Européen de Normalisation, http://www.cenorm.be.
Diccionario de la Lengua Española. 22ª edición, Real Academia Española, Madrid, 2001.
ENAC, Entidad Nacional de Acreditación, http://www.enac.es.
ISO, International Organization for Standarization, http://www.iso.org
Ley 3/1985, de 18 de marzo, de Metrología. BOE nº 67 de 19 de marzo de 1985, Madrid.
Ley 21/1992, de 16 de julio, de Industria. BOE, nº 176 de 23 de julio de 1992, págs.

25498- 25506, Madrid.
Norma UNE-EN ISO 10012:2003. Sistemas de gestión de las mediciones. Requisitos para
los procesos de medición y los equipos de medición. AENOR, Madrid, 2003.
Norma UNE 82009:1999 (ISO 5725:1994). Exactitud (veracidad y precisión) de resultados

y métodos de medición (6 partes). AENOR, Madrid, 1999.
Norma UNE 82100-0:1996 (ISO 31-0:1992). Magnitudes y unidades. Parte 0:

Principios generales. AENOR, Madrid, 1996.
Norma UNE 82103:1996 (ISO 1000:1992). Unidades SI y recomendaciones para el empleo de

sus múltiplos y submúltiplos y de algunas otras unidades. AENOR, Madrid, 1996.
Norma UNE 82100-1:1996 (ISO 31-1:1992). Magnitudes y unidades. Parte 1: Espacio y

tiempo. AENOR, Madrid, 1996.
Oficina Internacional de Pesas y Medidas.: El sistema Internacional de medidas (SI). CEM., 9ª

edición, 2019.
Real Decreto 2200/1995, de 28 de diciembre, por el que se aprueba el Reglamento de

la Infraestructura para la Calidad y la Seguridad Industrial. BOE, nº 32 de 6 de febrero de
1996, págs. 3929-3941, Madrid.
Sánchez Pérez, A.M.; Carro, J.: Fundamentos de Metrología. Sección de Publicaciones de

la ETSII de la Universidad Politécnica de Madrid, Madrid, 1999.
15
Tema 2: Anexo
Tabla 1. Valores para los grados de tolerancia normalizados para dimensiones nominales por
debajo de 3150 mm
Figura 1. Representación esquemática de la posición de intervalo de tolerancia (desviación
fundamental) relativa a la dimensión nominal
Tabla 2. Valores de las desviaciones fundamentales por los ejes a a j
Tabla 3. Valores de las desviaciones fundamentales para los ejes k a zc
Tabla 4. Valores de las desviaciones fundamentales A a M para agujeros
Tabla 5. Valores de las desviaciones fundamentales N a ZC para agujeros
1
Tabla 1. Valores para los grados de tolerancia normalizados para dimensiones nominales por debajo de 3150 mm
2
EI, ES Desviaciones fundamentales de agujeros
ei, es Desviaciones fundamentales de ejes
Figura 1. Representación esquemática de la posición de intervalo de tolerancia (desviación
fundamental) relativa a la dimensión nominal
3
Tabla 2. Valores de las desviaciones fundamentales por los ejes a a j
a
No deben usarse las desviaciones fundamentales a y b con dimensiones nominales ≤ 1 mm
4
Tabla 3. Valores de las desviaciones fundamentales para los ejes k a zc
5
Tabla 4. Valores de las desviaciones fundamentales A a M para agujeros
a
Las desviaciones fundamentales A y B no deben usarse para dimensiones nominales ≤ 1 mm
b
Caso especial: para la clase de tolerancia M6 en el rango por encima de 250 mm y hasta 315
mm inclusive, ES=-9µm (en lugar de 11 µm según el cálculo)
6
Tabla 5. Valores de las desviaciones fundamentales N a ZC para agujeros
7
Tabla 5. Valores de las desviaciones fundamentales N a ZC para agujeros (continuación)
8
Tema 2: Normalización. Sistema ISO de tolerancias

2.1. Introducción a la Normalización
La normalización es una actividad de gran importancia en el mundo actual, que participa en la regulación
técnica de las actividades productivas, los productos y los procesos, para conseguir una mayor unificación
en la oferta productiva, la reducción de gamas y de stocks, un mejor entendimiento entre fabricantes y
usuarios. Por ello la normalización contribuye a la disminución de las barreras comerciales basadas en
especificidades de carácter tecnológico y colabora eficazmente en la mejora de la calidad y competitividad
de los sectores productivos.
La actividad normalizadora se realiza a través de organismos de normalización, que elaboran, mantienen,

actualizan y diseminan las normas, así como en la aceptación generalizada de dichas normas por parte de
las administraciones públicas, los sectores productivos, el mercado, y los consumidores y usuarios finales
de los productos y servicios. Una norma es un documento, de carácter técnico, que contiene
especificaciones de procesos y productos, que ha sido elaborada y es respaldada por un organismo con
competencias en normalización y que es de aplicación voluntaria. En la elaboración de una norma prima el
acuerdo generalizado entre los sectores y partes implicadas y generalmente recoge el fruto de la
experiencia, del sentido común y del consenso.
En el párrafo anterior se ha considerado el término productos en sentido amplio, tal como contempla la
normativa en materia de calidad [UNE 9000, 2015] y por tanto, comprende tanto los productos materiales
como las aplicaciones informáticas y los servicios.
El campo objeto de la normalización es muy amplio y abarca un amplio abanico de actividades; a modo de
ejemplo, baste citar las denominaciones de algunos Comités Técnicos de Normalización del organismo
español de normalización, AENOR, tales como los siguientes:
AEN/CTN 14 “Soldadura y técnicas conexas”

AEN/CTN 15 “Máquinas-herramienta”
AEN/CTN 16 “Herramientas”
AEN/CTN 36 “Siderurgia”
AEN/CTN 38 “Metales ligeros y sus aleaciones”
AEN/CTN 45 “Óptica oftálmica”
AEN/CTN 59 “Industrias del cuero, calzado y derivados”
AEN/CTN 66 “Gestión de la calidad y evaluación de la conformidad”
AEN/CTN 82 “Metrología y calibración”
AEN/CTN 174 “Servicios de traducción”
AEN/CTN 182 “Hoteles y apartamentos turísticos”
AEN/CTN 213 “Electrodomésticos”
Se aprecia que existen Comités en áreas muy alejadas del campo técnico y de la práctica de la ingeniería.
2.2. ISO, CEN y AENOR
Como primer intento serio de normalización a nivel internacional, cabe citar la Federación Internacional
de Asociaciones Nacionales de Normalización (ISA), establecida en 1926.
Inmediatamente después del fin de la II Guerra Mundial, fue creada en Londres, por veintiocho
organizaciones nacionales de normalización, la Organización Internacional de Normalización (ISO), que
desde 1946 viene constituyendo el organismo de normalización de referencia a nivel internacional y cuyo
1
principal objeto es la elaboración, edición, mantenimiento y actualización de las normas internacionales
ISO. En la actualidad tiene el estatus de organización no-gubernamental que asocia a unos 163 organismos
de normalización, uno por cada país, y su sede está en la ciudad suiza de Ginebra. Su actividad
normalizadora se desarrolla a través de 249 Comités Técnicos (TC, Technical Committees) que son de
carácter especializado, comprendiendo cada uno de ellos un campo técnico específico. A continuación se
relacionan los TC de ISO con mayor vinculación con la Ingeniería de Fabricación:
ISO/TC 10 “Technical product documentation”

ISO/TC 29 “Small tools”
ISO/TC 39 “Machine tools”
ISO/TC 44 “Welding and allied processes”
ISO/TC 119 “Powder metallurgy”
ISO/TC 176 “Quality management and quality assurance”
ISO/TC 213 “Dimensional and geometrical product specifications and verification”
Además de ISO, y para temas específicos, se tienen otros organismos internacionales de normalización,
tales como:
IEC International Electrotechnical Commission

ITU International Telecommunication Union
En el ámbito europeo se tienen tres organismos con competencias en el campo de la normalización:
CEN Comité Europeo de Normalización

CENELEC Comité Europeo de Normalización Electrotécnica
ETSI Instituto Europeo de Normalización de las Telecomunicaciones
El primero de ellos -el CEN, con sede en Bruselas- es el que tiene competencias en la mayoría de los
campos de la normalización, siendo el responsable de las normas EN (European Standards), y por ello
constituye el organismo homólogo a ISO en el ámbito europeo.
En España el organismo nacional de normalización es la Asociación Española de Normalización y

Certificación (AENOR), según Orden ministerial de 26 de febrero de 1986 y desde entonces responsable
de las normas UNE (acrónimo de Una Norma Española). Como antecedente inmediato de AENOR se
tiene el Instituto de Racionalización y Normalización (IRANOR), creado el 11 de diciembre de 1945
dentro del seno del Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC) y que fue el primer organismo
responsable de la normativa UNE. Con ello la normativa UNE tienen una antigüedad de más de 60 años.
2.3. Familia de normas UNE sobre “Sistema ISO de tolerancias y ajustes”
La “Familia de normas UNE sobre el Sistema ISO de tolerancias y ajustes” está constituida por los dos
documentos –actualmente vigentes- siguientes:
UNE-EN ISO 286-1:2011 (ISO 286-1:2010).- “Especificación geométrica de productos (GPS).

Sistema de codificación ISO para las tolerancias en dimensiones lineales. Parte 1: Base de
tolerancias, desviaciones y ajustes.”
UNE-EN ISO 286-2:2011 (ISO 286-2:2010).- “Especificación geométrica de productos (GPS).

Sistema de codificación ISO para las tolerancias en dimensiones lineales. Parte 2: Tablas de las
2
clases de tolerancia normalizadas y de las desviaciones límite para agujeros y ejes.”
Como puede apreciarse la norma UNE-EN ISO 286 (parte 1 y parte 2) viene a corresponder con la norma
internacional que establece el Sistema ISO; esto es, la ISO 286 (part 1 and part 2) de 2010.
Por su parte, en UNE se tiene también la norma:
UNE 82001:1991.- “Terminología de los ajustes y tolerancias”, que no tiene correspondencia con la
normativa internacional y constituye una aportación del Comité AEN/CTN 82 para favorecer el empleo de
los términos relacionados con las tolerancias y ajustes, así como su traducción a los idiomas francés, inglés
y alemán.
2.4. Antecedentes de la normativa actual sobre el “Sistema ISO de tolerancias y ajustes”
Antecedentes ISO:
El Sistema ISO de tolerancias y ajustes está establecido en los documentos normativos internacional ISO
286-1:1988 e ISO 286-2:1988. Anteriormente dicho sistema se recogía en la recomendación ISO/R
286:1962.
Antecedentes UNE:
La norma UNE 82001:1991.- “Terminología de los ajustes y tolerancias” ha sido editada el 1991-01-21 y
anula a la UNE 5023:1962 “Terminología de las tolerancias”, editada el 1962-03-15.
El núcleo del Sistema ISO de tolerancias y ajustes -actualmente establecido por las normas UNE-EN ISO
286-1:2011 y UNE-EN ISO 286-2:2011 ha tenido tres versiones anteriores en UNE y una en UNE-EN:
Versión de 1954-1955:
UNE 4026:1954
UNE 4027:1955
UNE 4028:1955
Versión experimental de 1975-1977:
UNE 4026:1975 EX
UNE 4040:1977 EX
UNE 4026:1979
UNE 4040:1981
UNE-EN 20286:1996
3
2.5. Noción de tolerancia y enfoque básico del Sistema ISO
La variabilidad intrínseca de los fenómenos de todo tipo, y en especial de los procesos de fabricación,
provoca que los resultados de dichos fenómenos no tengan una exactitud total, sino que sus propiedades
varíen en entornos próximos al valor esperado. En el caso de las fabricaciones mecánicas, cuando se
quieren obtener, con un cierto nivel de exactitud, piezas con las dimensiones especificadas en el plano, se
suele alcanzar piezas con valores dimensionales próximos a los deseados, aunque no exactamente
idénticos. Ello, como se ha indicado, siempre que se esté considerando un cierto nivel de exactitud, ya que
si la capacidad discriminatoria del método de medida es baja (división de escala grande, en términos
relativos), sí pueden obtenerse dimensiones iguales a las del plano.
No obstante, en la mayor parte de los procesos productivos no resulta necesario alcanzar la exactitud
absoluta, sino que basta con que los resultados obtenidos se encuentren “lo suficientemente próximos” al
valor deseado. El hecho de admitir la existencia de esta variabilidad y la necesidad de especificar la
proximidad de los resultados frente al valor objetivo es el fundamento del concepto de tolerancia y del
desarrollo tecnológico y normativo realizado en torno a las tolerancias.
El “Sistema de codificación ISO para las tolerancias en dimensiones lineales” (en adelante designado
únicamente como Sistema de codificación ISO) recoge la experiencia de más de un siglo en torno a la
tolerancia y al montaje entre piezas afectadas de tolerancia (esto es, a los ajustes) y constituye el sistema de
tolerancias y ajustes de mayor grado de utilización ya que ha sido adoptado por la práctica totalidad de los
países y sectores industriales. El estudio del Sistema de codificación ISO, además de su innegable interés
técnico, constituye el paradigma de la actividad normalizadora en el campo de la ingeniería de fabricación
y ha sido la actividad originaria sobre la que se ha ido nucleando el desarrollo y consolidación de ISO.
La situación técnica en la que surge la tolerancia, su especificación y el planteamiento que establece el

Sistema de codificación ISO para el tratamiento de las tolerancias se plantea –secuencialmente- en lo que
sigue.
Fase 1.- Se acota una pieza a un valor determinado o dimensión nominal

Dimensión nominal
4
Fase 2.- No obstante, se admite que las piezas a obtener puedan tener variaciones respecto a dicha medida
nominal siempre que sus medidas estén en el intervalo de tolerancia especificada y cuya dimensión es la
tolerancia.
Intervalo de tolerancia
Dimensión nominal
Una primera posibilidad para expresar una tolerancia es mediante sus medidas límites: medida máxima y
medida mínima, tal como se indica en el siguiente croquis.
Fase 3.- Frente a la acotación de la tolerancia dada en la fase anterior, el Sistema de codificación ISO
plantea que la información relativa a una tolerancia sea expresada tal y como se muestra en la siguiente
figura para el caso de un agujero:
5
1 Intervalo de tolerancia
2 Convención de signos para las desviaciones
a Dimensión nominal
b Límite superior dimensional
c Límite inferior dimensional
d Desviación del límite superior
e Desviación del límite inferior (en este caso es la desviación fundamental)
f Tolerancia
Desde aquí conviene ya indicar que, en el Sistema ISO, los símbolos en mayúsculas corresponden a
agujeros (en sentido genérico, espacios de las piezas) mientras que los que se indican en minúsculas hacen
referencia a ejes (o elementos materiales de las piezas).
6
Fase 4.- El Sistema de codificación ISO impone la condición de que la medida nominal siempre tenga un
valor entero en milímetros, por lo que además de la situación mostrada en las fases 2 y 3 se podrán tener
casos tales como las siguientes:
Dimensión nominal
Esto es, en el Sistema de codificación ISO las tolerancias no tienen por qué estar siempre “centradas”en
relación con la línea cero y el intervalo de tolerancia, incluso puede quedar la línea cero completamente
fuera del intervalo de tolerancia. La condición que sí impone es Sistema ISO es –como ya se ha indicado-
que las cotas nominales sean enteras en milímetros.
Fase 5.- La manera más inmediata de especificar una tolerancia es mediante la “designación numérica
absoluta”; esto es, dado que toda tolerancia es, en esencia, un intervalo, su expresión más inmediata es
designarla como tal intervalo. Por ejemplo, una tolerancia podría expresarse como (79,924; 79,970), lo
que indicaría que la medida mínima es 79,924 mm y la máxima 79,970 mm, por lo que el valor de la
tolerancia sería:
tolerancia = 79,970 – 79,924 = 0,046 mm
Esta expresión de la tolerancia se corresponde con el segundo croquis de la Fase 2, en el que puede
apreciarse que queda indeterminada su situación con respecto de la línea cero.
Una primera conclusión que se obtiene de lo anterior es que para la completa definición de una medida con
tolerancia se precisan tres valores, en este caso:
medida mínima + medida máxima + línea cero
Fase 6.- Como se ha indicado en la Fase 3, la alternativa que propone ISO a la hora de especificar una
tolerancia se basa en indicar las desviaciones superior e inferior así como la línea cero. Con ello se tiene la
“designación numérica relativa”, que expresaría la tolerancia del ejemplo de la fase anterior como:
−0,030
80−0,076
Ello es, en realidad, el intervalo (79,924 ; 79,970) considerando la línea cero en la dimensión nominal de
80 mm. En este caso la especificación de la medida con tolerancia se realiza a partir de los tres parámetros
siguientes:
Desviación límite superior + desviación límite inferior + línea cero

7
Fase 7.-Como se viene apreciando, para la completa especificación de una medida con tolerancia hacen
falta tres valores y, también se aprecia, que las características esenciales de una medida con tolerancia son
las tres siguientes:
dimensión nominal + valor de la tolerancia + posición del intervalo de tolerancia
El Sistema de codificación ISO recoge esta interpretación y estructura en base a ella su “designación
simbólica” que consta de tres términos:
- un valor numérico entero en milímetros que corresponde a la dimensión nominal

- una o dos letras (mayúsculas en el caso de agujeros y minúsculas en el de ejes) que expresan
la posición del intervalo de tolerancia
- un número de una o dos cifras (entre 1 y 18, ambos inclusive para nominales inferiores o
iguales a 3150 mm; y los mismos dieciocho números con el añadido del 01 y de 0 para
nominales inferiores o iguales a 500 mm) y que indican el grado de tolerancia normalizado
Con ello, la medida con tolerancia del ejemplo que se viene considerando se designaría -en el caso de que
se tratara de un eje- mediante:
80f8
ya que según los valores tabulados del Sistema codificación ISO, para el nominal de 80 mm, el valor de la
tolerancia de grado 8 es de 0,046 mm y la desviación superior de un eje nominal 80 mm y de posición f es
de 0,030 mm.
2.6. Sistema ISO de tolerancias y ajustes
En el apartado anterior se ha visto la noción de tolerancia y diversas maneras de especificarla. De ello se

deduce una primera ventaja de la normalización, en general, y del Sistema de codificación ISO, en
particular, que es el modelo de designación normalizada de las medidas con tolerancia que establece
dicho sistema. Quizás esa ventaja resultaría suficiente para la justificación de la existencia del propio
Sistema de codificación ISO.
Ahora bien, hay otras dos ventajas mucho más importantes que derivan del planteamiento y aplicación del
Sistema ISO, a saber: El empleo del sistema ISO establece un cierto tallaje de tolerancias a emplear y
además reduce la dispersión de tolerancias a emplear en el diseño y fabricación.
Las tres ventajas indicadas en los párrafos anteriores han sido –de momento- enunciadas en base,
únicamente, a la aplicación del Sistema de codificación ISO a medidas con tolerancia, pero alcanzan una
mayor significación cuando se consideran como elementos constitutivos de ajustes, tal como se verá en un
apartado posterior.
Sin la existencia de un sistema de tolerancias, cuando los ingenieros proyectistas se enfrentan al dilema de
definir una determinada cota con tolerancia, tienen ante sí un enorme abanico de posibilidades del que
deben extraer una única opción. Un ejemplo ilustrativo de lo anterior podría ser que un proyectista tuviera
la necesidad de establecer una cota de 79,995 mm afectada de una tolerancia de, aproximadamente, media
décima de milímetro. Es muy probable que la opción que eligiera no coincidiría con la de otros técnicos
que se hubieran enfrentado ante el mismo problema.
8
Posibles alternativas podrían ser:
+0,20 0
79,995 ± 0,025 79,99 ± 0,03 80 ± 0,03 80−0,30 80−0,50
y estas son sólo 5 de las casi infinitas posibilidades existentes. Si el trabajo de este proyectista va a formar
parte –como sucede normalmente- de un conjunto complejo en el que sus distintos componentes se
diseñan y fabrican en sitios diferentes, esa excesiva libertad de especificación puede dar lugar a
situaciones no deseadas.
Por el contrario, el Sistema de codificación ISO va filtrando las infinitas posibilidades para producir un
marco más concreto y estructurado, aunque lo suficientemente amplio para posibilitar cualquier
alternativa tecnológica. A continuación se expone el Sistema ISO y se hace referencia a las tablas y figura
que lo desarrollan.
- La primera regla que establece el Sistema ISO –como ya se ha indicado con anterioridad- es
la obligatoriedad de expresar siempre las dimensiones nominales en valores enteros en
milímetros. Ello supone una importante homogeneización en la especificación de las cotas
con tolerancia; de hecho en el ejemplo que se viene exponiendo, quedarían descartadas las
dos primeras alternativas.
- La segunda es la adopción de una estructura “por clases” para la medidas nominales. De

hecho se establecen 21 “grupos dimensionales” para medidas nominales inferiores o iguales
a 3150 mm. Dichos grupos dimensionales son:
Medida nominal (mm)

Por encima Hasta e incluido
- 3
3 6
6 10
10 18
18 30
30 50
50 80
80 120
120 180
180 250
250 315
315 400
400 500
500 630
630 800
800 1000
1000 1250
1250 1600
1600 2000
2000 2500
2500 3150
9
Estos grupos dimensionales van a ser de empleo en la tabulación de los valores de la
tolerancia y de la posición del Sistema ISO, por lo que supone un segundo nivel de
homogeneización, al asignar los mismos valores de la tolerancia y de las desviaciones a
todas las medidas nominales que pertenezcan al mismo grupo dimensional. En las tablas
de la posición, para algunas posiciones los grupos dimensionales están subdivididos. En el
caso del ejemplo que se viene considerando, la medida nominal de 80 mm pertenece al
grupo dimensional: 50-80.
- En tercer lugar se tienen los valores de las tolerancias según el grado de tolerancia
normalizado y el grupo dimensional al que pertenece la medida nominal. Estos valores
están recogidos en la tabla 1 del Anexo del Tema. Ello da 404 valores posibles dentro del
Sistema ISO para la tolerancia, algunos de ellos son poco frecuentes o de carácter teórico
(los grados 1 a 5 para nominales mayores de 500 mm y los grados 14 a 18 para nominales
inferiores o iguales a 1 mm). Sin embargo este número, aparentemente elevado, resulta
mucho menor y más estructurado que las elevadísimas posibilidades que se tienen fuera del
Sistema ISO. En el ejemplo, para el grupo dimensional 50-80 y una tolerancia
aproximadamente igual a media décima (~0,050 mm = 50 µm), la Tabla 1 indicaría un
grado de tolerancia de 8.
- Por último, para la especificación de la posición se parte de la consideración de la

desviación fundamental. En el Sistema ISO se considera desviación fundamental de una
tolerancia la que define el límite más próximo con respecto a la línea cero. Por ejemplo, si
se observa la Figura 1 del Anexo al Tema, se aprecia que en “ejes” entre las posiciones “a”
y “h” (ambas incluidas) la desviación fundamental es la desviación superior, al estar más
próxima a la línea cero. La siguiente tabla recoge las cuatro situaciones definitorias de las
desviaciones fundamentales.
Desviación fundamental
Ejes Agujeros
Posiciones
“a” a “g” (o “j”) Desviación límite superior (es) -
“h” Desviación límite superior (es = 0) -
“js” Indiferente;tolerancia centrada -
“k” a “zc” Desviación límite inferior (ei) -
“A” a “G”(o “J”) Desviación límite inferior (EI)
-
Desviación límite
“H” -
inferior (EI = 0)
Indiferente; tolerancia
“JS” -
centrada
Desviación límite superior
“K” a “ZC” -
(ES)
10
Entrando en las tablas 2 y 3 del anexo del tema para ejes con el valor de la desviación fundamental se
obtiene el símbolo de la posición, o viceversa. Igualmente, las tablas 4 y 5 dan la relación entre las
desviaciones fundamentales y símbolos para los agujeros. En el ejemplo (Fase 6) la cota con tolerancia se
especificaba mediante las desviaciones superior e inferior como:
−0,030
80−0,076
y se trataba de un “eje”. Como la desviación más cercana al nominal es -0,030 mm, la desviación
fundamental será la superior, que toma el valor -0,030 mm. Al ser negativa se tratará de un símbolo
comprendido entre la “a” y la “g” y entrando en la Tabla 2 con el nominal 80 mm y la desviación
fundamental es = -0,030 mm, se obtiene la posición “f”.
Con lo que en el caso del ejemplo se obtiene la designación simbólica:
80f8
que ya se había indicado con anterioridad.
Como se puede comprobar, al ir aplicando el mecanismo del Sistema ISO de tolerancias y ajustes van
quedando justificadas las ventajas que se anunciaban para este sistema al inicio del apartado; que eran:
-Proporciona una designación normalizada de las medidas con tolerancia.

-Establece un cierto tallaje de tolerancias a emplear
-Reduce la dispersión de tolerancias a emplear en el diseño y fabricación.
BIBLIOGRAFÍA

Domingo, R.; González, C.; Sebastián, M.A.: Técnicas de mejora de la calidad. Colección “Cuadernos de
la UNED”, nº 195, UNED, Madrid, 2004.
ISO, International Organization for Standarization, http://www.iso.org.

Kalpakjian, S.; Schmid, S.R.: Manufactura, ingeniería y tecnología. 4ª edición, Pearson Educación,
México DF, 2002.
Norma UNE-EN ISO 10012:2003. Sistemas de gestión de las mediciones. Requisitos para los procesos de
medición y los equipos de medición. AENOR, Madrid, 2003.
Norma UNE-EN 20286-1:1996 (ISO 286-1:1988). Sistema ISO de tolerancias y ajustes. Parte 1: Base de
tolerancias, desviaciones y ajustes. AENOR, Madrid, 1996.
Norma UNE-EN 20286-2:1996 (ISO 286-2:1988). Sistema ISO de tolerancias y ajustes. Parte 1: Tablas de
los grados de tolerancia normalizados y de las desviaciones límite de los agujeros y de los ejes. AENOR,
Madrid, 1996.
11
Norma UNE-EN ISO 286-1:2011 (ISO 286-1:2010). Especificación geométrica de productos (GPS).
Sistema de codificación ISO para las tolerancias en dimensiones lineales. Parte 1: Base de tolerancias,
desviaciones y ajustes. AENOR, Madrid, 2011.
Norma UNE-EN ISO 286-2:2011 (ISO 286-2:2010). Especificación geométrica de productos (GPS).
Sistema de codificación ISO para las tolerancias en dimensiones lineales. Parte 2: Tablas de las clases de
tolerancia normalizadas y de las desviaciones límite para agujeros y ejes. AENOR, Madrid, 2011.
Norma UNE 82001:1991. Terminología de los ajustes y tolerancias. AENOR, Madrid, 1991.
Norma UNE 82009:1999 (ISO 5725:1994). Exactitud (veracidad y precisión) de resultados y métodos de
medición (6 partes). AENOR, Madrid, 1999.
Pérez, J.M.: Tecnología Mecánica I. Sección de Publicaciones de la ETSII de la Universidad Politécnica
de Madrid, Madrid, 1999.
Sánchez Pérez, A.M.; Carro, J.: Fundamentos de Metrología. Sección de Publicaciones de la ETSII de la
Sebastián, M.A.; Bargueño, V.; Novo, V.: Gestión y control de calidad. 2ª edición, Colección “Cuadernos
de la UNED”, nº 133, UNED, Madrid, 2000.
12
Tema 03. Ejercicios de autoevaluación.

EJERCICIO 01.- Calibración de un micrómetro milesimal de exteriores
Se calibra un micrómetro milesimal de exteriores con un bloque patrón de nominal 10

mm e incertidumbre U0 = ± 0,0008 mm. En dicha calibración se realizan 10 medidas
sobre el patrón, obteniéndose los siguientes valores:
10,001 10,002 10,000 10,001 10,001 10,001 10,003 10,001 9,999 10,001
Posteriormente se mide, una única vez, la cota de una cierta pieza obteniéndose en el
indicador del instrumento el valor de 10,123 mm.
Se pide calcular el valor de la longitud de la cota medida y su incertidumbre asociada.
Dato: En todos los casos se considerará un factor de recubrimiento de valor 2.
Solución
Según se indica en los apartados “Procesos de calibración y de medición” y “Proceso

combinado de calibración-medición” de los Apuntes del Tema 3 y dados los datos y
resultados de este caso, se tiene:
Proceso de calibración:
x0 = 10 mm
u0 = 0,0008/2 = ± 0,0004 mm
nc = 10 medidas
x’c = 10,001 mm
sc = 0,00105 mm
Cc = x0 – x’c = 10 – 10,001 = - 0,001 mm
uc = ± [u02 + sc2/nc]1/2 = ± [0,00042 + 0,001052/10]1/2 = ± 0,00052 mm
Proceso de medición:
nm = 1 medida
x’m = 10,123 mm
sm ≈ sc = 0,00105 mm
um = ± [sc2/nm]1/2 = ± 0,00105 mm
Proceso combinado de calibración-medición:
x = x’m + Cc = 10,123 + (-0,001) = 10,122 mm
u = ± [um2 + uc2]1/2 = ± [0,001052 + 0,000522]1/2 = ± 0,00117 mm
U = ± k·U = ± 2·0,00117 = ± 0,00234 ≈ ± 0,003 mm
Por lo que el resultado solicitado es: 10,122 ± 0,003 mm
Nota: Aunque en los cálculos intermedios se consideren más cifras decimales, los
resultados de una medición deben ser expresados con las mismas cifras significativas
que la división de escala del instrumento utilizado. En este caso el instrumento de
medida es milesimal, por lo que el resultado se ha expresado con 3 cifras decimales.
EJERCICIO 02.- Calibración de un micrómetro milesimal-centesimal
¿Cuál sería la situación que se tendría si el micrómetro milesimal de exteriores del

ejercicio 01 fuera considerado como centesimal?
Se pide calcular el valor de la longitud de la cota medida y su incertidumbre asociada

bajo la hipótesis de que se tratara de un instrumento con división de escala de valor 0,01
mm.
Solución
Si el instrumento fuera centesimal los valores obtenidos en la calibración dados en

el ejercicio anterior quedarían redondeados a la segunda cifra decimal más próxima;
esto es:
10,00(1) 10,00(2) 10,00(0) 10,00(1) 10,00(1)

10,00(1) 10,00(3) 10,00(1) 10,00(9,999) 10,00(1)
por lo que los diez resultados de la calibración tendrían el valor 10,00 mm; esto es se
trata de un instrumento “sin variabilidad” para la división de escala centesimal.
x0 = 10 mm
u0 = ± 0,0008/2 = ± 0,0004 mm
nc = 10 medidas
x’c = 10,00 mm
sc = 0,00 mm
Cc = x0 – x’c = 10 – 10,00 = 0 mm
uc = ± [u02 + sc2/nc]1/2 = ± [0,00042 + 02/10]1/2 = ± 0,00(04) = ± 0,00 mm
nm = 1 medida
x’m = 10,12(3) = 10,12 mm
sm ≈ sc = 0,00 mm
um = ± [sc2/nm]1/2 = ± 0,00 mm
x = x’m + Cc = 10,12 + 0 = 10,12 mm
u = ± [um2 + uc2]1/2 = ± [0,002 + 0,002]1/2 = ± 0,00 mm
U = ± k·U = ± 0,00 mm
Por lo que aplicando escrupulosamente el método correspondiente a los instrumentos “con

variabilidad”, el resultado solicitado sería:
10,12 ± 0,00 mm
Ahora bien, se aprecia que el procedimiento va dando en cada paso soluciones triviales, por lo
que no parece el más apropiado para este tipo de instrumentos. Por otra parte, si bien la
variabilidad de este instrumento es prácticamente inexistente, el hecho de asignar
sistemáticamente a las mediciones efectuadas con el mismo una incertidumbre nula no
parece resultar muy adecuado.
En estos casos y tal como se ha indicado en el Caso 3 de los Apuntes del Tema 3, la
incertidumbre no se obtiene por un procedimiento de base estadística, sino mediante
consideraciones empíricas y en estos casos suele acotarse la variabilidad del
instrumento en “media división de escala”, lo que en este caso supondría ±0,005 mm.
Es decir, el resultado solicitado en el ejercicio debería expresarse como:
10,12 ± 0,005 mm
Un resultado alternativo más riguroso –y siempre del lado de la seguridad- sería asignar a la
incertidumbre “una división de escala” –dado que corresponde a la capacidad mínima
de resolución del instrumento de medida-. Bajo dicho supuesto el resultado sería:
10,12 ± 0,01 mm
EJERCICIO 03.- Calibración de una medidora de una coordenada
Con una máquina medidora de una coordenada se efectúan diez mediciones

consecutivas a un patrón de nominal 150 mm e incertidumbre expandida ± 0,82 µm,
obteniéndose los siguientes valores:
150,002 150,003
150,001 150,002
150,001 150,002
150,003 150,002
150,001 150,003
Determinar la incertidumbre de calibración y el valor de la incertidumbre expandida

asignable a las mediciones, sin reiteración, que se efectúen con dicho instrumento sobre
mensurandos de valor próximo a 150 mm.
Solución
A efectos de su calibración su comportamiento resulta similar al de un micrómetro

milesimal de exteriores, si bien su campo de medida es mucho más amplio y admite
más posibilidades de medición . A continuación se facilita el croquis de una máquina
medidora de una coordenada:
x0 = 150 mm
u0 = ± 0,00082/2 = ± 0,00041 mm
nc = 10 medidas
x’c = 150,002 mm
sc = 0,00082 mm
Cc = x0 – x’c = 150 – 150,002 = - 0,002 mm
uc = ± [u02 + sc2/nc]1/2 = ± [0,000412 + 0,000822/10]1/2 = ± 0,00049 mm
nm = 1 medida (no hay reiteración)
sm ≈ sc = 0,00082 mm
um = ± [sc2/nm]1/2 = ± sc = ± 0,00082 mm
Cc = -0,002 mm
u = ± [um2 + uc2]1/2 = ± [0,000822 + 0,000492] = ± 0,00096 mm
U = ± k·U = ± 2·0,00096 = ± 0,00192 mm
Por lo que el resultado solicitado es:
Incertidumbre de calibración, Uc = ± 2·0,00049 = ± 0,00098 ≈ ± 0,001 mm
Incertidumbre asignable a las mediciones, U = ± 0,00192 ≈ ± 0,002 mm
Nota: Aunque en los cálculos intermedios se consideren más cifras decimales, los
resultados de una medición deben ser expresados con las mismas cifras significativas
que la división de escala del instrumento utilizado. En este caso el instrumento de
medida es milesimal, por lo que los resultados se han expresado con 3 cifras decimales.
Tema 3: Variabilidad de las mediciones.

Incertidumbre.
3.1. Introducción a la exactitud de las mediciones
Cuando se realizan mediciones sucesivas a un mismo mesurando en condiciones de repetibilidad, no

siempre se obtienen los mismos resultados o medidas; esta variabilidad del proceso de medición afecta a
la precisión de las medidas y por tanto debe ser cuantificada y acotada. Por otra parte, también se tienen
desviaciones o sesgos que deben ser determinados para la consecución de la veracidad de dichas
mediciones. Todo ello debe ser conocido y abordado a efectos de obtener y garantizar mediciones con el
nivel de exactitud requerido. A continuación se van a exponer diversas consideraciones, así como los
oportunos tratamientos operativos para la cuantificación de la exactitud (veracidad y precisión) de las
mediciones.
A efectos de comprender las distintas alternativas que pueden tenerse en los procesos de medición, se
van a considerar “cuatro casos” tipificados que pueden resultar ilustrativos de las situaciones más
frecuentes en la práctica metrológica.
Caso 1.- Supóngase que con un determinado instrumento de medida centesimal se efectúan 5 mediciones
a un cierto mesurando de valor desconocido, obteniéndose los siguientes valores numéricos:
10,02 10,02 10,02 10,02 10,02
Los anteriores resultados de la medida permiten enunciar los siguientes comentarios:
- El grado de agrupamiento de las medidas es máximo para el caso de medición con el

instrumento centesimal (división de escala de 0,01) empleado.
- Hubiera bastado realizar una única medición, en lugar de repetirla hasta 5 veces (realización
de 5 replicaciones)
- El resultado de la medida es, obviamente, 10,02.
- Se desconoce si el valor real de la magnitud medida es 10,02 o un valor próximo, dado que no
se dispone información adicional acerca del instrumento empleado ni de su nivel de “ajuste”.
- No se conoce la “incertidumbre” asociada a la medición efectuada, ni puede llegar a

determinarse con la información disponible.
Adviértase que se ha evitado indicar la magnitud que se está considerando, así como la correspondiente
unidad de medida, al resultar el presente razonamiento válido para cualquier tipo de magnitud.
Caso 2.- Supóngase que con un cierto instrumento de medida centesimal se efectúan 5 mediciones a un
mismo mesurando de valor desconocido, obteniéndose los siguientes valores numéricos:
10,03 10,02 10,00 9,99 10,02
Con los valores obtenidos se pueden enunciar los siguientes comentarios:
1
- El grado de agrupamiento de las medidas no es total, apreciándose una cierta
“variabilidad” de rango 0,04 (diferencia entre los valores mayor y menor), es decir de
4 divisiones de escala del instrumento.
- No hubiera bastado con realizar una única medición, en lugar de repetirla hasta 5
veces. Una única medición hubiera proporcionado el valor 10,03 (el primero de la
serie) que en este caso es uno de los valores extremos del conjunto de las medidas.
- El mejor resultado de la medida podrá ser el valor entero de divisiones de escala que
sea más próximo a la media aritmética de las medidas:
x’ = (10,03+10,02+10,00+9,99+10,02)/5 = 10,012 ≈ 10,01
- Se desconoce si el valor real de la magnitud medida es 10,01 o un valor próximo, dado

que no se dispone información adicional acerca del instrumento empleado ni de su
nivel de “ajuste”.
- No se conoce la “incertidumbre” asociada a la medición efectuada, ni puede

determinarse con la información disponible.
Caso 3.- Supóngase que con un determinado instrumento de medida centesimal se efectúan 5
mediciones a un mismo patrón de valor conocido 10 y cuya incertidumbre puede ser considerada
despreciable frente a la centésima apreciada por el instrumento aquí utilizado, obteniéndose los
siguientes valores numéricos:
10,02 10,02 10,02 10,02 10,02
Los anteriores resultados de la medida permiten enunciar los siguientes comentarios:
- El grado de agrupamiento de las medidas es máximo para el caso de medición con el

instrumento centesimal (división de escala de 0,01) empleado.
- Hubiera bastado realizar una única medición, en lugar de repetirla hasta 5 veces
(realización de 5 replicaciones).
- El resultado de la medida es, obviamente, 10,02.
- El instrumento tiene un desajuste o “sesgo” de 0,02 en exceso (es decir mide dos
divisiones de escala en exceso). Por lo tanto, o bien se ajusta físicamente el
instrumento o a todas las medidas que se hagan con él habrá que restar el valor 0,02.
- No se conoce la “incertidumbre” asociada a la medición efectuada aunque al haberse

tenido un agrupamiento máximo, puede acotarse la variabilidad del instrumento en un
valor de ½ división de escala (una vez ajustadas o corregidas las medidas con el valor
0,02 anteriormente indicado); esto es: Ι ≤ ± 0,005.
Caso 4.- Supóngase ahora que con un cierto instrumento de medida centesimal se efectúan 5
mediciones a un cierto patrón de valor conocido 10 y cuya incertidumbre puede ser considerada
despreciable frente a la centésima apreciada por el instrumento aquí utilizado, obteniéndose los
siguientes valores numéricos:
10,03 10,02 10,00 9,99 10,02
Con los valores obtenidos se pueden enunciar los siguientes comentarios:
2
- El grado de agrupamiento de las medidas no es total, apreciándose una cierta
“variabilidad” de rango 0,04 (diferencia entre los valores mayor y menor), es decir
de 4 divisiones de escala del instrumento.
- No hubiera bastado con realizar una única medición, en lugar de repetirla hasta 5
veces. Una única medición hubiera proporcionado el valor 10,03 (el primero de la
serie) que en este caso es uno de los valores extremos del conjunto de las medidas.
- El mejor resultado de la medida podrá ser el valor entero de divisiones de escala que
sea más próximo a la media aritmética de las medidas:
x’ = (10,03+10,02+10,00+9,99+10,02)/5 = 10,012 ≈ 10,01
- El instrumento tiene un desajuste o “sesgo” de 0,012 en exceso (es decir mide algo
más de una división de escala en exceso). Por lo tanto, o bien se ajusta físicamente el
instrumento o a todas las medidas que se hagan con él habrá que restar el valor 0,01
y queda un “resto” de sesgo de 0,002.
- No se conoce la “incertidumbre” asociada a la medición efectuada, aunque con la

información disponible, puede acotarse (de una manera aproximada) la variabilidad
del instrumento en un valor de 4 divisiones de escala (± 0,02 alrededor del valor de
la media aritmética redondeada), valor al que habría que añadir el valor de 0,002 en
concepto de “resto” del sesgo no corregible. Ello daría un valor a la “incertidumbre”
(una vez ajustadas o corregidas las medidas con el valor 0,02 anteriormente
indicado) de: Ι ≤ ± 0,022 ≤ ± 0,025; dado que no tiene sentido considerar valores
menores que la media división de escala del instrumento.
3.2. Procesos de calibración y de medición
En el apartado anterior, se aprecia que los casos 3 y 4 corresponden a un proceso de medición

ciertamente singular –ya que realmente mide una pieza (patrón) ya medida previamente y cuyo
valor obtenido se conoce-. Pues bien, dicho proceso singular se viene denominando “calibración” y
gracias a él se pueden determinar las siguientes características metrológicas del instrumento o
método de medición:
- Variabilidad de las mediciones efectuadas por el instrumento (aquí se ha cuantificado

mediante el parámetro de dispersión más sencillo o “rango”).
- Desviación o sesgo del instrumento, a efectos de su corrección física o de su

compensación matemática.
- Incertidumbre asociada al “proceso de medición del patrón” o “calibración”.
Por su parte las situaciones contempladas en los casos 1 y 2 resultan más comunes y lógicas,
dado tienen por objeto la medición de un mensurando desconocido. A continuación se va a
exponer la operativa, los resultados y el tratamiento de los mismos en los procesos de
“calibración” y de “medición”.
Calibración.- Tal como se ha visto en el apartado anterior, la calibración de un instrumento, o

método de medición, en un punto de su escala de medida consiste en la realización de nc
mediciones reiteradas sobre un patrón de valor x0 e incertidumbre u0 (o también, U0 para un
factor de incertidumbre o factor de recubrimiento k0), con las siguientes peculiaridades:
nc debe ser en todo caso igual o mayor que 5 y en Metrología Dimensional suele ser 10.
La calibración proporciona las medidas: xci (i = 1,2,...,nc)
3
Las medidas de la calibración de un instrumento o patrón se realizan bajo condiciones
de repetibilidad, esto es: mismo mesurando, mismo equipo, mismo método de medida,
mismo lugar, mismas condiciones ambientales y en un intervalo de tiempo lo
suficientemente pequeño.
Los resultados que se extraen del proceso de calibración son los siguientes:
xci : medidas de calibración (i = 1,2,...,nc)

x’c : media aritmética de las medidas de calibración (x’c = Σ xci /nc)
sc : desviación típica de las medidas de calibración
∆xc , Cc : corrección o ajuste de calibración (∆xc = x0 - x’c)
uc : incertidumbre asociada a la determinación de la corrección de calibración (∆xc) o
incertidumbre de calibración. Como la determinación de x0 tiene asociada la
varianza u02 y la de x’c una varianza de valor sc2/nc ; la evaluación de la corrección
de calibración (∆xc = x0 - x’c) llevará asociada una varianza: uc2 = u02 + sc2/nc
Uc : incertidumbre expandida de calibración para un factor de incertidumbre o factor
de recubrimiento kc (Uc = kc⋅ uc)
Medición.- Por su parte un proceso de medición, en sentido estricto, se basa en la realización de

nc mediciones reiteradas (generalmente nm ≤ 3 y frecuentemente nm = 1), sobre un mensurando;
teniéndose las siguientes características:
La medición proporciona las medidas: xmj (j = 1,2,...,nm)
Las medidas efectuadas en cada proceso de medición se realizan bajo condiciones de
repetibilidad (ello sólo tiene sentido en los casos en que sea nm > 1), si bien el conjunto
de los distintos procesos de medición realizados con un cierto equipo suelen realizarse
bajo condiciones de reproducibilidad (entre ellos y también en relación con las
correspondientes calibraciones), esto es: mismo equipo y mismo método de medida,
pero no necesariamente con idénticas condiciones de utilización: mesurando, lugar,
condiciones ambientales e intervalos de tiempo lo suficientemente grandes.
Los resultados que se extraen del proceso de medición son:
xmj : medidas (j = 1,2,...,nm)

x’m : media aritmética del proceso de medición (x’m = Σ xmi /nm)
sm : desviación típica de las medidas; al tenerse un número insuficiente de medidas
(nm ≤ 3) no resulta posible el cálculo directo de la desviación típica, por ello sm se
estima mediante el valor de sc obtenido en la calibración (sm ≅ sc). Ello resulta
correcto si se admite la hipótesis de que tanto la calibración como las sucesivas
medidas en servicio pertenecen a una misma población.
um : incertidumbre asociada estrictamente al proceso de medición. Su valor viene dado
a partir de la varianza asociada a la media aritmética de la medición x’m , que
toma el valor: um2 = sm2/nm ≅ sc2/nm .
Um : incertidumbre expandida de medición para un factor de incertidumbre o factor de
recubrimiento km (Um = km⋅ um)
3.3. Proceso combinado de calibración-medición
En la práctica metrológica se realizan procesos combinados de calibración-medición; para ello

se calibra un instrumento o patrón, se obtienen y registran todos los resultados del proceso de
calibración, se fija un periodo de tiempo para la validez de la calibración y durante dicho
periodo se efectúa un cierto número de mediciones. El resultado final de cada una de tales
mediciones va a venir condicionado tanto por sus propios resultados, como por los de la
calibración en que se apoya dicha medición.
4
En efecto, el resultado de todo proceso de calibración-medición proporciona el valor
convencionalmente verdadero (x) de la magnitud medida o, simplemente, el valor resultante de
la medida, que debe ir asociado a una cierta incertidumbre (u o U).
En términos generales, los valores que tomen x y u deberán ser función de los valores y
resultados de la calibración y de la medición. En efecto:
x : valor resultante de la medida (x = x’m + ∆xc)

u : incertidumbre asignable al valor resultante de la medida. El valor de la varianza
asociada a esta incertidumbre será la suma de la varianza de x’m y de ∆xc , ya que x =
x’m + ∆xc.
Esto es:
u2 = um + uc = sc2/nm + (u02 + sc2/nc) = u02 + sc2 (1/nc + 1/nm)
de donde se obtiene la incertidumbre expandida (U) asignable al resultado global de la

medida, según:
U = k⋅u
Siendo k el factor de recubrimiento, cuyos valores usuales en Metrología Dimensional suelen

ser 2 ó 3.
Puede apreciarse que tanto el resultado final de la medida (x) como el de su incertidumbre
asociada (U) son función de los valores y resultados tenidos en operaciones metrológicas
anteriores al propio proceso de medición que se está realizando. En efecto, las expresiones de x
y de U tienen las siguientes formas:
x = F (x0, x’c, x’m) = f (x0, xci, nc, xmj, nm)

U = Φ (k, u0, uc, um) = ϕ (k, u0, sc, nc, nm)
Puede apreciarse que en ambas expresiones hay términos correspondientes a tres instantes
metrológicos diferentes:
Instante actual: Proceso de medición (k, xmj, nm)

Instante anterior próximo: Proceso de calibración del instrumento (xci, nc, sc)
Instante anterior lejano: Proceso de calibración del patrón empleado en la
calibración del instrumento (x0, u0)
Ello justifica la necesidad de la trazabilidad en la práctica metrológica y demuestra que la

medición científico-tecnológica no es una acción aislada, sino que necesita del “proceso
metrológico” indicado en un Tema anterior.
5
BIBLIOGRAFÍA
Beltrán, J.: La gestión de los procesos metrológicos. Análisis e integración de un sistema de

gestión de las mediciones (ISO 10012:2003), AENOR, Madrid, 2004.


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ISO, International Organization for Standarization, http://www.iso.org
Ley 21/1992, de 16 de julio, de Industria. BOE, nº 176 de 23 de julio de 1992, págs. 25498-
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Norma UNE-EN ISO 10012:2003. Sistemas de gestión de las mediciones. Requisitos para los
procesos de medición y los equipos de medición. AENOR, Madrid, 2003.
Norma UNE 82009:1999 (ISO 5725:1994). Exactitud (veracidad y precisión) de resultados y

métodos de medición (6 partes). AENOR, Madrid, 1999.
Real Decreto 2200/1995, de 28 de diciembre, por el que se aprueba el Reglamento de la

Infraestructura para la Calidad y la Seguridad Industrial. BOE, nº 32 de 6 de febrero de 1996,
págs. 3929-3941, Madrid.
Sánchez Pérez, A.M.; Carro, J.: Fundamentos de Metrología. Sección de Publicaciones de la

ETSII de la Universidad Politécnica de Madrid, Madrid, 1999.
6
Tema 4. Instrumentos y métodos de medición

4.1. Introducción
Un instrumento de medida es todo conjunto de mecanismos que aplicado a un mensurando permite obtener
valores de una determinada magnitud física del mismo, y se define en el Vocabulario Internacional de
Metrología como “dispositivo destinado a utilizarse para hacer mediciones, sólo o asociado a uno o varios
dispositivos anexos”. Así mismo define “sistema de medida” como “conjunto completo de instrumentos de
medida y otros equipos ensamblados para ejecutar mediciones específicas”.
Las principales cualidades y características metrológicas de los instrumentos o aparatos de medida son las
siguientes:
Campo de medida: Es el intervalo de valores que pueden tener los mensurandos a medir
adecuadamente con el instrumento. Un instrumento puede tener varios campos de medida.
Alcance: Es el mayor valor del mensurando que puede evaluar correctamente el instrumento de
medida considerado. Es, por tanto, el mayor valor del campo de medida.
División de escala: Intervalo entre dos valores sucesivos de la escala del instrumento. Corresponde
con la capacidad de significación de las medidas efectuadas con dicho instrumento.
Precisión del instrumento: Es la propiedad de un instrumento de medida de proporcionar valores

próximos al verdadero de la magnitud medida. Comprende el buen agrupamiento de las medidas
(poca variabilidad) y el correcto ajuste de las mismas (proximidad entre la media de un conjunto de
medidas y el valor verdadero). En realidad la “precisión” en sentido estricto sólo hace referencia al
“grado de agrupamiento de las medidas”, dado que los posibles desajustes pueden ser corregidos,
bien actuando físicamente sobre el instrumento o mediante corrección algebraica de las medidas
efectuadas con el mismo.
Reversibilidad: Capacidad de un instrumento en facilitar indicaciones próximas entre sí, tanto si se

utiliza según un sentido creciente como decreciente.
4.2. Métodos de medida
Se entiende por “método de medida” el “adecuado conjunto de operaciones efectuado con patrones y/o
instrumentos, así como las correspondientes a la toma de datos y cálculos que tienen lugar para la
realización de la medición de una magnitud y obtener su medida”. Y se define “procedimiento de medida”
como el conjunto de operaciones, descritas de forma específica, utilizadas en la ejecución de mediciones
particulares según un método dado. En este documento viene descrita toda la medición necesaria para que el
operador realice la medición de forma adecuada, sin información adicional.
1
Los métodos de medida pueden clasificarse según varios criterios, los de mayor interés son los
siguientes:
- En relación con la magnitud que se mide:
Directos: Cuando se mide la magnitud que se quiere evaluar. Generalmente en estos casos sólo
intervienen, durante el propio proceso de medición, el mensurando y el instrumento. Por
ejemplo, para determinar el valor del diámetro de un disco cilíndrico, se mide con un
instrumento apropiado directamente la longitud del mismo.
Indirectos: Cuando se mide una magnitud diferente a la que se quiere evaluar, obteniéndose
ésta a partir de aquélla mediante la aplicación de una ley física o una expresión algebraica. En
estos métodos se pueden presentar, fundamentalmente, dos casos:
Ambas magnitudes son del mismo tipo e interviene una expresión matemática. Por
ejemplo en el caso de medidas indirectas de longitud suelen tener que aplicarse
procedimientos geométricos que se expresan mediante fórmulas.
Ambas magnitudes son de diferente tipo, debiendo intervenir una ley física que
relaciona a las mismas. Por ejemplo la determinación de la temperatura mediante un
termómetro de mercurio (se “mide directamente” una longitud para evaluar una
temperatura) y la medición de las masas mediante balanza o báscula (se miden pesos
para determinar masas, interviniendo la aceleración de la gravedad).
- En relación con la manera de medir el mensurando:
Absolutos: Cuando se aborda la medición del total de la magnitud del mensurando.
Diferenciales o por comparación: Cuando se evalúa la diferencia de magnitud que presenta el

mensurando frente a un patrón de valor conocido y generalmente próximo al del mensurando.
2
Aunque en una primera apreciación pueden llegar a confundirse los términos “directo” y “absoluto”,
así como los de “indirecto” y diferencial”, realmente estas designaciones se corresponden con aspectos
conceptuales diferentes, pudiendo darse las combinaciones indicadas en la siguiente tabla:
Directo Indirecto
Absoluto Sí Sí
Diferencial No Sí
Un ejemplo de método “absoluto-directo” lo constituye la medida del diámetro de un cilindro mediante

un “micrómetro de exteriores”; uno de “absoluto-indirecto” es la evaluación de la temperatura Celsius
con un termómetro de mercurio y un caso de “diferencial-indirecto” es la medición “por comparación”
de un bloque patrón longitudinal mediante comparador y otro de mayor precisión.
Realmente, cualquier medición “diferencial” exige la suma algebraica de la magnitud del patrón y de la
“diferencia” entre ésta y la del mensurando. Por ello todo método de medida “diferencial” no podrá ser
“directo”, sino siempre “indirecto”.
- Según el propio método de medida:
Métodos de desviación: Son aquellos en los que el valor del mensurando queda determinado
por la “desviación” de un dispositivo indicador analógico (p.e.: aguja) o digital (p.e.: display).
Métodos de cero: Son los que los efectos causados por el mensurando y la magnitud de
referencia sobre el dispositivo indicador producen una situación de equilibrio, dando como
resultado “cero”. Un ejemplo de estos métodos es el “pesado” en una balanza de tipo
“romana”.
Métodos de sustitución: Son aquellos métodos en los que se evalúa un patrón y se “sustituye”
por el mensurando, de valor sensiblemente igual. Este método viene a coincidir con la medida
diferencial o por comparación.
Métodos de recuento: Se tiene en casos en los que la magnitud posee carácter discreto y la
evaluación se efectúa mediante “contaje” o “recuento” de sus elementos constituyentes.
- Según el tipo de resultado que proporcionan:
Por variables: Cuando el resultado de la medición es expresable mediante valores numéricos.

Corresponde con el caso de medición en sentido estricto.
3
Por atributos: Cuando el resultado de la evaluación es un “juicio de valor” o “atributo”, por
ejemplo: “sí” o “no”, “vale” o “no vale”, “apto” o “no apto”, “pasa” o “no pasa”, etc.
Corresponde con la verificación, comprobación o ensayo. En el caso dimensional pertenecen
a este tipo la verificación los “calibres de límites” o “calibres pasa/no pasa”.
Por clases: Es un caso particular de método por atributos pero que agrupa los resultados en
más de dos categorías, generalmente con límites numéricos. Por ejemplo: menor que 10;
entre 10 y 11; entre 11 y 12; entre 12 y 13; mayor que 13.
Tradicionalmente resultaba más rápida y barata la medición por atributos que la medición por variables,
por lo que era más utilizada en los casos en que había que efectuar gran número de mediciones iguales,
tales como sucedía en la fabricación de grandes series. Por el contrario, la medición por variables
proporciona mayor “riqueza” de información acerca de los mensurandos. En la actualidad, gracias a la
instrumentación automatizada y al tratamiento computarizado de los resultados de las medidas, puede
llevarse a cabo la medición por variables a costos similares a la medición por atributos.
4.3. Clasificación de instrumentos de Metrología Dimensional
El Centro Español de Metrología (CEM) -máximo órgano técnico español en el ámbito metrológico
creado por Real Decreto 415/1985, de 27 de marzo, en cumplimiento de lo dispuesto en la Ley
3/1985, de 18 de marzo, de Metrología- ha publicado distintas Clasificaciones de Instrumentos de
Metrología (campos eléctrico, dimensional, etc.). Se va a considerar únicamente la “Clasificación de
Instrumentos de Metrología Dimensional”, cuya 1ª edición data de 1984, la 2ª de 1992 y la última de
2002.
Los objetivos de esta clasificación son:
Normalizar la clasificación de estos instrumentos, de acuerdo con una cierta numeración decimal,
para homogeneizar la publicación de informaciones referentes a los mismos.
Normalizar su denominación técnica correcta en idioma español y la denominación equivalente en

otros idiomas, para facilitar la redacción y estudio de trabajos e informes relativos a dichos
instrumentos.
Establecer un criterio numérico para la clasificación de documentación referente a ellos en centros

de metrología (catálogos, fichas, artículos, etc.).
Facilitar la identificación de cualquier instrumento de metrología dimensional y su clasificación de

acuerdo con un criterio racional en orden a las magnitudes físicas que mide, (dimensiones, formas,
posiciones, oscilaciones o calidad superficial), a su categoría metrológica (patrón, máquina fija,
4
instrumento portátil, calibre o accesorio), a su forma de medida (directa o indirecta, absoluta o por
comparación), y a su sistema de amplificación (mecánico, eléctrico, neumático, óptico, etc. ).
Publicar una somera descripción de cada tipo de instrumento, junto con un ejemplo gráfico, lo que
puede ser de utilidad en el campo de la enseñanza. A este respecto se ha procurado realizar el
trabajo de forma que resulte lo más fácilmente comprensible por sí mismo.
Esta publicación del CEM considera bajo la designación genérica de “instrumento”, tanto patrones
como instrumentos, propiamente dichos, y todo tipo de equipos metrológicos.
Los criterios de clasificación seguidos en la publicación considerada son:
- Categoría metrológica:
• Patrón de calibración
• Máquina de tipo fijo
• Instrumento de tipo portátil
• Calibre para medida por atributos
• Accesorio de medida
- Magnitudes físicas mensurables:

• Macrogeometría: Dimensiones, formas, posiciones y oscilaciones
• Microgeometría: Calidad superficial
- Sistema de amplificación:
• Mecánico
• Electrónico
• Neumático
• Óptico
• Mixto de los anteriores
- Sistema de medida:
• Medidas directas/indirectas
• Medidas absolutas/diferenciales (o por comparación)
Los grupos quedan codificados de la siguiente manera:
01. PATRONES DE LONGITUD

01.01 Lámparas patrón de longitud de onda
01.02 Bloques patrón longitudinales
01.03 Accesorios para bloques patrón longitudinales
01.04 Columnas verticales de bloques patrón
01.05 Barras patrón de extremos
01.06 Patrones cilíndricos de diámetro
01.07 Bolas patrón
01.08 Reglas patrón
01.09 Angulares patrón
01.10 Bolas patrón seccionadas
01.11 Columnas de bloques patrón escalonados
01.12 Cubos patrón de posicionamiento
01.13 Interferómetros
5
01.14 Láminas patrón de espesor
01.15 Sistemas interferométricos láser de medida
01.16 Paralelas patrón
01.17 Patrones de diámetro interior de tres planos
01.18 Láseres estabilizados
02. MEDIDA DE LONGITUDES (ABSOLUTA)

02.01 Reglas de trazos
02.02 Pies de Rey
02.03 Sondas de Regla
02.04 Medidoras de una coordenada horizontal
02.05 Medidoras de una coordenada vertical
02.07 Medidoras de tres coordenadas
02.08 Cabezas micrométricas
02.09 Sondas micrométricas
02.10 Micrómetros de exteriores
02.11 Micrómetros de interiores de dos contactos
02.12 Micrómetros de interiores de tres contactos
02.13 Micrómetros especiales
02.14 Calibres de límites lisos
02.15 Láseres de medida por proyección
02.16 Micrómetros de acanaladuras
02.17 Micrómetros de exteriores de tres o más contactos
02.18 Reglas verticales de trazos
03. MEDIDA DE LONGITUDES (POR COMPARACIÓN)

03.01 Comparadores mecánicos
03.02 Comparadores neumáticos
03.03 Comparadores electrónicos
03.04 Comparadores ópticos
03.05 Soportes de comparador
03.06 Accesorios de comparador
03.07 Montajes multicota
03.08 Bancos de calibración de comparadores
03.09 Alesómetros de dos contactos
03.10 Alesómetros de tres contactos
03.11 Medidoras de diámetros por comparación
03.12 Comparadores incrementales o de exploración fotoeléctrica
03.13 Bancos de calibración de bloques patrón longitudinales
03.14 Medidores de espesores
03.15 Comparador de compás
03.16 Alesómetro de contactos partidos
04. PATRONES ANGULARES

04.01 Polígonos patrón
04.02 Bloques patrón angulares
04.03 Plantillas angulares
04.04 Reglas circulares
05. MEDIDA DE ÁNGULOS

05.01 Transportadores de ángulos
6
05.02 Platos divisores
05.03 Regla de senos
05.04 Niveles de medida
05.05 Autocolimadores
05.09 Mesas de senos
05.10 Niveles de horizontalidad
06. MEDIDA DE RECTITUD, PLANITUD, ALINEACIÓN Y PERPENDICULARIDAD

06.01 Reglas de rectitud
06.02 Escuadras de perpendicularidad
06.03 Columnas de perpendicularidad
06.04 Patrones de planitud de vidrio
06.05 Mesas de planitud
06.07 Anteojos de alineación
06.09 Bloques en uve
06.11 Clinómetros
06.12 Medidores de perpendicularidad
06.15 Platos planoparalelos de vidrio
07 MEDIDA DE REDONDEZ
07.01 Patrones de redondez
07.02 Medidoras de redondez
07.03 Medidoras de perfil de levas
07.04 Platos giratorios
08 MEDIDA DE ROSCAS
08.01 Patrones para micrómetros de roscas
08.02 Calibres de límites para roscas
08.03 Micrómetros de roscas
08.04 Medidoras de paso de rosca
08.05 Medidoras de diámetro de rosca
08.06 Cuchillas triangulares para medida de roscas
08.07 Patrones de diámetro de rosca
08.10 Patrones de paso de rosca
08.11 Plantillas de perfil de rosca
08.12 Máquinas universales para la medida de roscas
08.13 Medidoras de diámetro medio de roscas
09 MEDIDA DE ENGRANAJES
09.01 Pies de rey de engranajes
09.04 Medidoras de engranajes por rodadura
10 MEDIDA DE FORMAS EN GENERAL

10.01 Perfilómetros de palpador mecánico
10.02 Microscopios de medición
10.03 Proyectores de perfiles
10.04 Plantillas de formas
10.05 Calibres de límites de formas
10.06 Lupas graduadas
10.07 Perfilómetros de captador óptico
7
11 CALIDAD SUPERFICIAL
11.01 Patrones de rugosidad
11.02 Patrones visotáctiles de rugosidad
11.03 Microscopios de corte óptico
11.04 Rugosímetros de palpador mecánico
11.05 Microscopios interferenciales
11.06 Reflectómetros
11.07 Patrones de amplificación
11.08 Rugosímetros de palpador óptico
Para cada uno de los instrumentos clasificados, se aporta la siguiente información:
a) Número de identificación precedido de la letra D (Dimensional) y cuatro cifras, las dos

primeras para indicar el grupo general a que pertenecen dentro de la metrología dimensional,
y las dos siguientes para ordenación dentro de dicho grupo.
b) Denominación que se considera más correcta desde un punto de vista técnico, y que se
recomienda utilizar.
c) Denominaciones en otros idiomas, cuando se conocen.
d) Descripción muy somera y general de las características fundamentales de cada instrumento,
de acuerdo con los criterios de ordenación indicados anteriormente.
e) Procedimiento de calibración, editado por el CEM, existente en el momento de la publicación
de la Clasificación de los Instrumentos de Metrología Dimensional.
f) Intervalos de calibración recomendados. El intervalo T1 es el máximo admisible en todo caso y
el intervalo T2 es aquel otro valor máximo al que puede reducirse el valor de T1, cuando se
presente alguna de las siguientes circunstancias:
- Elevada frecuencia de utilización
- Condiciones de empleo desfavorables (talleres, personal no cualificado, suciedad, etc.)
- Requisitos especiales de seguridad (Sanidad, Defensa, Justicia, etc.)
g) Ejemplo en hoja aparte, con la figura de al menos un instrumento del tipo descrito.
8
BIBLIOGRAFÍA


CEM: Clasificación de instrumentos de Metrología Dimensional. Centro Español de Metrología,

Madrid, 2002.
CEM: Vocabulario Internacional de Metrología. Conceptos fundamentales y generales, y términos

asociados, Centro Español de Metrología, Madrid, 2012.
Ley 21/1992, de 16 de julio, de Industria. BOE, nº 176 de 23 de julio de 1992, págs. 25498-25506,
Madrid.
Real Decreto 2200/1995, de 28 de diciembre, por el que se aprueba el Reglamento de

la Infraestructura para la Calidad y la Seguridad Industrial. BOE, nº 32 de 6 de febrero de 1996,
págs. 3929-3941, Madrid.
Sánchez Pérez, A.M.; Carro, J.: Fundamentos de Metrología. Sección de Publicaciones de la ETSII
de la Universidad Politécnica de Madrid, Madrid, 1999.
9
Tema 5: Patrones de longitud y medición de

longitudes
5.1. PATRONES DE LONGITUD
5.1.1. Introducción
Como ya ha sido indicado, los patrones son dispositivos que no efectúan mediciones por sí solos, pero que
participan o pueden participar en la aplicación de los métodos de medida y son también de empleo en la
calibración de instrumentos, máquinas de medida y otros patrones.
También ha sido visto que el campo de actuación de la Metrología Dimensional abarca distintas
manifestaciones de la “longitud” o “espacio”, siendo los principales ámbitos de dicha disciplina los siguientes:
- longitudes
- ángulos
- formas
- superficies
En este apartado se van a considerar los principales patrones de longitud, que van a ser seleccionados y
estudiados según la metodología específica que se expone en el siguiente apartado.
5.1.2. Metodología de estudio
Para abordar el estudio de los temas 5 y 6, del Programa de la asignatura, se ha desarrollado una metodología
específica que se basa en la consideración secuencial de las siguientes fuentes:
- Clasificación de Instrumentos de Metrología Dimensional” del CEM

- Procedimientos de calibración del CEM
- Normas UNE vigentes
-Libro y monografías
De ellas, las tres primeras presentan una especial significación dado que corresponden a documentación
tecnológica editada por entidades con máximas competencias reguladoras en el ámbito de la Metrología
Dimensional.
En efecto, el Centro Español de Metrología (CEM) es un organismo autónomo adscrito a la Secretaría General
de Industria del Ministerio de Industria, Turismo y Comercio, creado en cumplimiento de lo dispuesto en la
Ley 3/1985, de 18 de marzo, de Metrología, y constituye el máximo órgano técnico español en el ámbito
metrológico. Por su parte la Asociación Española de Normalización y Certificación (AENOR) es el organismo
nacional de normalización, y a través de la Comisión Técnica de Normalización AEN/CTN 82 “Metrología y
calibración” desarrolla las actividades de normalización en materias metrológicas.
A partir de dichas tres fuentes, se van a seleccionar los patrones –e instrumentos en su caso- a estudiar en cada
uno de los temas indicados, así como buena parte de los contenidos a desarrollar en relación con cada uno de
tales patrones e instrumentos.
1
5.1.3. Grupos de patrones de longitud
Como se ha indicado en el apartado anterior, a partir de la “Clasificación de Instrumentos de

Metrología Dimensional” y de los procedimientos de calibración del CEM, así como de las normas
UNE vigentes se tiene la situación acerca de los patrones de longitud que se presenta en el cuadro
siguiente:
Clasificación CEM Procedimientos para la

Normas UNE
CATEGORÍA/Grupo calibración del CEM
D 01. PATRONES DE
LONGITUD
D.01.01. Lámparas patrón de
longitud de onda
D.01.02. Bloques patrón Procedimiento DI-014 para la UNE-EN ISO 3650:2000
longitudinales calibración de bloques patrón “Especificación geométrica de
longitudinales por comparación productos (GPS). Patrones de
mecánica longitud. Bloques patrón”
D.01.03. Accesorios para
bloques patrón longitudinales
D.01.04. Columnas verticales UNE 82318:1994 “Micróme-
de bloques patrón tros verticales y peanas”
D.01.05. Barras patrón de
extremos
D.01.06. Patrones cilíndricos Procedimiento DI-016 para la
de diámetro calibración de patrones
cilíndricos de diámetro interior
y exterior
D.01.07. Bolas patrón
D.01.08. Reglas patrón Procedimiento DI-013 para la
calibración de reglas patrón de
trazos
D.01.09. Angulares patrón
D.01.10. Bolas patrón
seccionadas
D.01.11. Columnas de bloques
patrón escalonados
D.01.12. Cubos patrón de
posicionamiento
D.01.13. Interferómetros
D.01.14. Láminas patrón de
espesor
2
D.01.15. Sistemas
interferométricos láser de
medida
D.01.16. Paralelas patrón
D.01.17. Patrones de diámetro
interior de tres planos
D.01.18. Láseres estabilizados
En los apartados siguientes se van a considerar los siguientes patrones de longitud:
Bloques patrón longitudinales

Columnas verticales de bloques patrón
Patrones cilíndricos de diámetro
Reglas patrón
Debe advertirse que del conjunto de patrones de longitud comprendidos en la Clasificación del CEM
han sido seleccionados aquellos que tienen publicado el correspondiente procedimiento de calibración
CEM o una norma UNE específica.
5.1.4. Bloques patrón longitudinales
Los bloques patrón longitudinales son piezas con forma de paralelepípedo rectángulo en la que dos
de sus caras opuestas son lo suficientemente planas y paralelas y materializan una longitud con gran
exactitud. Los bloques patrón suelen ser de acero o de material cerámico y en el caso de nominales
menores a 100 mm se suelen suministrar en juegos (también llamados cajas, por el recipiente en que
se alojan) con bloques de varios nominales que permiten formar todos los valores de longitud
inferiores e iguales a 100 mm con un cierto escalonamiento mínimo (división de escala). Una de las
principales características de estos bloques es que el alto grado de pulido de sus superficies de medida
posibilita la unión de bloques por adherencia, de tal manera que el espacio ocupado por la unión es
despreciable para la inmensa mayoría de los usos industriales.
A continuación se muestra una caja de 47 bloques patrón, en el que el escalonamiento mínimo es de

0,005 mm.
3
La dotación de este juego es la siguiente:
Número
Escalonamiento Nominales de los bloques
de
(mm) (mm)
bloques
0,005 1,005 1
0,01 1,01; 1,02; 1,03; ... ; 1,09 9
0,1 1,1; 1,2; 1,3; ...; 1,9 9
1 1; 2; 3; 4; ... ; 24 24
25 25; 50; 75; 100 4
Como se aprecia, consta de 47 piezas; el rango de los nominales de dichas piezas es de 1,005 mm a
100 mm y su escalonamiento (que viene marcado por el bloque de mayor número de cifras decimales
significativas) es de 0,005 mm.
Uno de los juegos de bloques patrón longitudinales más usual es el de 112 bloques, que permite un
escalonamiento continuo de 0,0005 mm y que tiene la siguiente composición:
4
Número
Escalonamiento Nominales de los bloques
de
(mm) (mm)
bloques
0,0005 1,0005 1
0,001 1,001; 1,002; ...; 1,009 9
0,01 1,01; 1,02; 1,03; ... ; 1,49 49
0,5 0,5; 1,0; 1,5; ...; 24,5 49
25 25; 50; 75; 100 4
Ello permite la obtención de cualquier nominal compatible con el campo de medida del juego y con
su escalonamiento. Así, por ejemplo, la obtención de un patrón de longitud de valor nominal 16,643
mm con una caja de 112 bloques se podría hacer mediante los bloques de 1,003 mm; 1,14 mm y 14,5
mm. Obsérvese que la selección de los bloques debe iniciarse con la del bloque que garantiza la cifra
decimal más alejada de la coma (en este caso el 0,003; es decir, se elige en primer lugar el bloque de
1,003 mm).
5
La geometría de los bloques patrón longitudinales viene determinada por:
- la longitud del bloque patrón, l, o más usualmente por la longitud nominal, ln
- la sección transversal rectangular, a·b; que coincide con la sección de las caras de
medida, si bien teniendo en cuenta la existencia de un redondeo o achaflanado de
las aristas de valor no superior a 0,3 mm.
Cabe indicar que pese a que se ha indicado que la forma más usual de empleo de los bloques patrón
longitudinales es en juegos de hasta 100 mm, también se pueden disponer individualmente y en
nominales de hasta 1000 mm. Las dimensiones normalizadas de los bloques patrón son:
6
a (mm) b (mm)
ln (mm)
nominal tolerancia nominal tolerancia
0,5 ≤ ln ≤ 10 30 9
0 -0,05
-0,3 -0,20
10 < ln ≤ 1000 35 9
El nivel de exactitud de la longitud del bloque patrón, l, viene establecida según 4 grados, que se
designan como:
Grado 0
Grado de calibración, K
Grado 1
Grado 2
Debe indicarse, que los grados K y 1 tienen una precisión de su longitud idéntica, si bien los de grado
K son de empleo exclusivo para la calibración de otros bloques patrón por comparación mecánica y
tienen características metrológicas complementarias más rigurosas que los de Grado 1 (tolerancia de
la variación de longitud, estabilidad dimensional con el tiempo y tolerancia de planitud de las caras
de medida).
La incertidumbre expandida de cada bloque patrón viene dada por la tolerancia de la longitud del
bloque, te, o “máxima desviación de longitud permitida, en cualquier punto de las caras de medida,
respecto a la longitud nominal”. Los valores normalizados de la tolerancia de la longitud del bloque,
en función de las longitudes nominales, se recoge en la tabla siguiente.
Longitud nominal Tolerancia de la longitud del bloque, te (µm)

ln (mm) Grado 0 Grado K Grado 1 Grado 2
0,5 ≤ ln ≤ 10 ± 0,12 ± 0,2 ± 0,2 ± 0,45
10 < ln ≤ 25 ± 0,14 ± 0,3 ± 0,3 ± 0,6
25 < ln ≤ 50 ± 0,2 ± 0,4 ± 0,4 ± 0,8
50 < ln ≤ 75 ± 0,25 ± 0,5 ± 0,5 ±1
75 < ln ≤ 100 ± 0,3 ± 0,6 ± 0,6 ± 1,2
100 < ln ≤ 150 ± 0,4 ± 0,8 ± 0,8 ± 1,6
150 < ln ≤ 200 ± 0,5 ±1 ±1 ±2
200 < ln ≤ 250 ± 0,6 ± 1,2 ± 1,2 ± 2,4
250 < ln ≤ 300 ± 0,7 ± 1,4 ± 1,4 ± 2,8
300 < ln ≤ 400 ± 0,9 ± 1,8 ± 1,8 ± 3,6
400 < ln ≤ 500 ± 1,1 ± 2,2 ± 2,2 ± 4,4
7
500 < ln ≤ 600 ± 1,3 ± 2,6 ± 2,6 ±5
600 < ln ≤ 700 ± 1,5 ±3 ±3 ±6
700 < ln ≤ 800 ± 1,7 ± 3,4 ± 3,4 ± 6,5
800 < ln ≤ 900 ± 1,9 ± 3,8 ± 3,8 ± 7,5
900 < ln ≤ 1000 ±2 ± 4,2 ± 4,2 ±8
5.1.5. Columnas verticales de bloques patrón
Son elementos verticales en forma de columna dentro de la cual hay un elemento desplazable
verticalmente mediante un tornillo micrométrico de precisión. En el elemento móvil se sitúan bloques
patrón longitudinales con las caras de medida situadas horizontalmente y el conjunto se emplea
apoyándolo sobre el plano de referencia de una mesa de planitud. Las columnas verticales de bloques
patrón se emplean para realizar mediciones “por comparación” de alturas mediante montajes con
comparador. Dicha comparación se puede efectuar respecto a la cara superior de los bloques patrón,
o “cara de medida normal”, o con la cara inferior de los bloques, o “cara de medida inversa”.
Los modelos más frecuentes de las columnas verticales de bloques patrón son los que corresponden
a “campos de medida” de 11 a 310 mm, 11 a 460 mm y 11 a 610 mm, respectivamente.
8
Gracias al empleo de soportes accesorios o peanas se puede aumentar el “alcance” de estos patrones
(montando la columna sobre una peana), siendo las alturas normalizadas de las peanas: 150, 250, 300
y 600 mm.
5.1.6. Patrones cilíndricos de diámetro
Son piezas de acero o de carburo metálico que materializan con elevada exactitud formas cilíndricas,
tanto exteriores como interiores. En el primer caso son patrones de diámetro exterior y en el caso de
nominales de hasta 20 mm se suelen denominar varillas calibradas:
Y en el segundo, son patrones de diámetro interior y se conocen también como anillos patrón:
9
Los patrones cilíndricos de diámetro exterior suelen caracterizar su grado de precisión mediante la
tolerancia de su diámetro, que para el grado de calidad más usual suele ser la indicada en la tabla
siguiente:
Patrones cilíndricos de diámetro exterior

Diámetro nominal (mm) Tolerancia del
diámetro (mm)
0,3 ÷ 3 ±0,0004
3 ÷ 10 ±0,0005
10 ÷ 30 ±0,001
30 ÷ 100 ±0,002
Por su parte los anillos patrón o patrones cilíndricos de diámetro interior suelen tener los valores de
tolerancia expresados en la tabla dada a continuación.
Patrones cilíndricos de diámetro interior

Diámetro nominal (mm) Tolerancia del
diámetro (mm)
0,15 ÷ 3 ±0,0006
3÷5 ±0,0008
5 ÷ 10 ±0,0012
10 ÷ 18 ±0,0015
18 ÷ 30 ±0,002
10
5.1.7. Reglas patrón
Son reglas de metal o de vidrio que en una de sus caras tienen una escala de alta precisión. En el caso
de las reglas metálicas los trazos de las escalas están grabados y en las de vidrio suelen estar
fotograbados.
Estas reglas a veces constituyen el patrón interno de un instrumento y llevan asociado un dispositivo
transductor para completar el “instrumento de medida”, que pueden ser de los siguientes tipos:
- Mecánico-ópticos: reglas de trazos con captado por lupa

- Electrónicos: reglas inductivas o capacitivas
- Óptico-digital: reglas con tratamiento digital de una característica óptica
11
Las reglas patrón pueden también adoptar la forma circular de empleo en dispositivos de rotación y
el instrumento obtenido a partir de ellas puede proporcionar mediciones “absolutas” o
“incrementales”.
12
5.2. INSTRUMENTOS PARA LA MEDICIÓN ABSOLUTA DE LONGITUDES
Los instrumentos para la medición de longitudes pueden ser subdivididos en dos grupos:
Instrumentos de medición absoluta de longitudes

Instrumentos de medición de longitudes por comparación
En el este apartado se van a considerar los principales instrumentos de medición absoluta de

longitudes, que van a ser seleccionados y estudiados según la metodología específica ya expuesta
en el apartado anterior, quedando para el siguiente apartado 5.3. el estudio de los instrumentos
de medición de longitudes por comparación.
5.2.2. Grupos de instrumentos de medición absoluta de longitudes
A partir de la “Clasificación de Instrumentos de Metrología Dimensional” y de los procedimientos de

calibración del CEM, así como de las normas UNE vigentes, la situación de los instrumentos de
medición absoluta de longitudes es la que se presenta en el cuadro siguiente:
D 02. MEDIDA DE
LONGITUDES
(ABSOLUTA)
Proc. DI-012 para la
D.02.01. Reglas de trazos calibración de reglas
rígidas de trazos
UNE-EN ISO 13385-1:2012.
“Especificación geométrica de
productos (GPS). Equipo de
medición dimensional. Parte 1:
Calibres; características metrológicas
y de diseño
D.02.02. Pies de rey Proc. DI-008 para la
UNE-EN ISO 13385-2:2012
(calibres) calibración de pies de rey
producto (GPS). Equipo de medición
dimensional. Parte 2: Sondas de
profundidad; características
metrológicas y de diseño”. (ISO
13385-2:2011)
D.02.03. Sondas de regla calibración de sondas de
reglas
D.02.04 Medidoras de una
calibración de medidoras de
coordenada horizontal
una coordenada horizontal
13
D.02.05 Medidoras de una Proc. DI-004 para la
coordenada vertical calibración de medidoras de
una coordenada vertical
D.02.06. Medidoras de dos
coordenadas
UNE-EN ISO 10360-6:2002
productos (GPS). Ensayos de
calibración de medidoras de
aceptación y de verificación
D.02.07. Medidoras de tres tres coordenadas
periódica de máquinas de medición
coordenadas
por coordenadas (MMC). Parte 6:
Estimación de errores en
determinacion de elementos
gausianos asociados”
D.02.08. Cabezas
calibración de cabezas
micrométricas
micrométricas
D.02.09. Sondas
calibración de sondas
micrométricas
micrométricas
D.02.10. Micrómetros de calibración de micrómetros UNE 82306:1980 “Micrómetros de
exteriores de exteriores de dos exteriores”
contactos
D.02.11. Micrómetros de calibración micrómetros de
interiores de dos contactos interiores de dos contactos

D.02.12. Micrómetros de calibración de
interiores de tres contactos micrómetros de interiores de
tres contactos
D.02.13. Micrómetros calibración de
especiales micrómetros exteriores de
tres contactos
UNE 4031:1976 “Verificación de
tolerancias de piezas lisas.
Generalidades. Calibres de límites”
UNE 4032:1979 “Verificación de
tolerancias de piezas lisas. Medida y
D.02.14. Calibres de
empleo de los calibres de límites”
límites fijos
UNE 4033:1983 “Tolerancias de
fabricación y desgaste admisible de
calibres”
UNE 4034:1979 “Marcado e
identificación de los calibres de
límites”
D.02.15. Láseres de
medida por proyección
14
D.02.16. Micrómetros
para
acanaladuras
D.02.17. Micrómetros de
exteriores de tres (o más)
contactos
D.02.18. Reglas verticales Proc. DI-011 para la
de trazos calibración de
flexómetros
D.02.19. Reglas flexibles calibración de
flexómetros
En los apartados siguientes se van a considerar los siguientes instrumentos de medición de longitudes:
Calibres
Micrómetros de exteriores
Medidoras de tres coordenadas
Salvo en el caso de los calibres, del conjunto de instrumentos de longitud comprendidos en la

Clasificación del CEM han sido seleccionados aquellos que tienen vigentes, de una manera
simultánea, el correspondiente procedimiento de calibración CEM y normativa UNE específica.
5.2.3. Calibre
El calibre o pie de rey es el instrumento de medición de longitud más sencillo, en esencia se trata de
una regla graduada, con dispositivos añadidos a fin de mejorar sus prestaciones en los procesos de
medición, principalmente en lo relativo al sistema de amplificación y al palpado.
La mejora en el sistema de amplificación se basa en el empleo de un nonius o nonio, que, en su

configuración más elemental, consta de una regla secundaria montada sobre elemento desplazable
(corredera) y que tiene grabada una escala con 10 trazos en la longitud correspondiente a 9 mm de la
escala principal; así, el instrumento puede apreciar décimas de milímetro en lugar de milímetros.
15
En las siguientes figuras se representa un ejemplo que va a permitir apreciar el fundamento del nonio.
En efecto, se va a suponer que se efectúa una medición con un calibre que no dispusiera de nonio y
que se obtiene la situación mostrada en la siguiente figura:
El resultado de la medición estaría entre 1 mm y 2 mm, siendo el resultado de la medida de 1 mm –

ya que el trazo indicador está más próximo al trazo 1 que al 2. En esta situación sería aventurado
efectuar una interpolación visual para facilitar un valor de las décimas de milímetro de dicha medida;
además ello queda totalmente desaconsejado, y a que carece de sentido metrológico cualquier
resultado expresado en unidades inferiores a la división de escala de un instrumento.
Si, por el contrario, la corredera dispusiera de un nonio, entonces la división de escala del instrumento
sería de 0,1 mm y podrían apreciarse y registrarse las décimas de milímetro.
+
En este caso, el resultado de la medida será de 1,3 mm. Dicho resultado se ha obtenido añadiendo al
valor entero en milímetros, el valor en décimas que corresponde al trazo del nonio que coincide con
un trazo de la escala principal, en este caso el 3; esto es, añadiendo a 1 mm el valor de 3 décimas de
milímetro. En el siguiente esquema se aprecia el fundamento del nonio:
El valor de la medida es L, que se obtiene por diferencia entre la longitud sobre la regla, lr, y la
longitud sobre el nonio, ln; esto es:
L = lr -ln = 4 mm – 3 (9/10) mm = 4 - 27/10 = 4 - 2,7 = 1,3 mm
16
Por su parte, la mejora en el palpado se consigue asociando palpadores a la regla (palpadores fijos) y
al dispositivo deslizante (palpadores móviles). En los calibres convencionales se suelen tener los tres
tipos de palpadores siguientes:
- palpadores para mediciones de longitudes exteriores, o palpadores de exteriores

- palpadores de interiores
- sonda o palpador para profundidades
Las figuras siguientes provenientes de la Norma UNE-EN ISO 13385:2012 muestran dos ejemplos
de diseño de calibre: uno para mediciones internas, externas y de profundidad con corredera con
tornillo de sujeción o dispositivo de fijación, y otro para mediciones internas y externas con
dispositivo de ajuste fino.
17
También cabe indicar que el alcance de estos instrumentos suele estar –en los modelos más
convencionales y frecuentes – en torno a los 150 mm; siendo su campo de medida de 0 a 150 mm. En
las figuras siguientes se aprecia el modo de aplicación de este instrumento en la medición de un
diámetro exterior y de otro interior, respectivamente. En la siguiente figura se visualiza la sonda
cuando la corredera ha sido desplazada al máximo (instrumento en la posición de su alcance).
18
Medición de un diámetro exterior con un calibre
Medición de un diámetro interior con un calibre
Además de los calibres con el nonio elemental que ha sido descrito, que tienen una división de escala
de 0,1 mm, suelen ser también comunes los pies de rey con nonio que proporcionan divisiones de
escala de 0,05 mm y de 0,02 mm.
También se tienen calibres cuyo sistema de amplificación se desarrolla mediante un mecanismo de

piñón y corona (gear & pinion) e indicación por esfera circular y manilla, que suelen tener una
división de escala de 0,02 mm.
19
Calibre con indicador por esfera y manilla
Más recientemente, se han desarrollado calibres digitales que sustituyen con éxito a los analógicos y
que además de disponer de divisiones de escala de una centésima, 0,01 mm, permiten su conexión a
dispositivos electrónicos e informáticos para la transmisión y tratamiento automático de los resultados
de las mediciones. Se advierte que estos micrómetros digitales mantienen la misma estructura y
aspecto general que los primitivos pies de rey con nonio y, por tanto, suelen disponer de los mismos
tres juegos de palpadores (de exteriores, de interiores y sonda). En la siguiente figura se muestra un
calibre digital, en cuyo indicador se aprecia su capacidad para expresar 5 cifras, 3 para milímetros y
2 para centésimas (2 cifras decimales):
5.2.4. Micrómetros de exteriores
Los instrumentos que reciben el apelativo de micrométricos suelen corresponder a dispositivos

basados en el mecanismo de tornillo-tuerca. En el caso de los micrómetros de exteriores suelen llevar
asociados al cuerpo fijo (tuerca) un arco en cuyo extremo distal se sitúa el palpador fijo, mientras que
en el proximal está el palpador móvil formando cuerpo con el tornillo.
20
Micrómetro de exteriores
En estos instrumentos, el paso de los elementos roscados es de 0,5 mm; o lo que es lo mismo, cada
dos vueltas el palpador móvil se desplaza 1 mm. El tambor giratorio, asociado al tornillo, está dividido
en 50 partes iguales, por lo que este instrumento –en su disposición más elemental- aprecia centésimas
de milímetro; esto es, su división de escala es de 0,01 mm. Por tanto, el resultado de la medida se
conforma mediante un valor en milímetros que corresponde a los trazos “destapados” por el tambor
giratorio sobre la escala grabada sobre una generatriz del cilindro interior fijo y por las centésimas de
milímetro que señale la escala del tambor giratorio. Al respecto –y dado que el paso de rosca es de
0,5 mm- habrá que tener en cuenta, en cada caso, si se está en la primera vuelta de un cierto milímetro
(centésimas de 0 a 49) o en la segunda vuelta (centésimas de 50 a 99); ello se suele controlar gracias
a unos trazos intermedios –generalmente más cortos y grabados al otro lado de la generatriz- que se
tienen entre cada dos milímetros consecutivos. Así en la figura siguiente, el resultado de la medida
es: 11,97 mm; dado que está completamente “destapado” el milímetro 11 (11 mm) y el trazo de la
parte de arriba (+0,5 mm), además el tambor marca la centésima 47 (+0,47 mm), luego: 11 + 0,5 +
0,47 = 11,97 mm. Debe advertirse que en este modelo concreto de micrómetro centesimal de
exteriores no se considera completamente destapado el milímetro 12, ya que su prolongación hasta
cortar a la línea de referencia estaría tapada por el tambor giratorio.
Medida de un diámetro con un micrómetro de exteriores
21
A continuación se facilita un croquis, derivado de la Norma UNE 82306:1980, que proporciona las
principales denominaciones de los elementos de un micrómetro de exteriores.
Elementos principales de un micrómetro de exteriores
Como puede apreciarse, los micrómetros hasta ahora considerados son de división de escala
centesimal (DE = 0,01 m m) y su campo de medida de 0 – 25 mm, por lo que para poder cubrir el
rango de longitudes comprendidas entre 0 y 100 mm hará falta un juego de cuatro instrumentos de
este tipo, tal como el que se muestra en la siguiente figura.
Juego de micrómetro de exteriores que cubre un campo de medida de 0 a 100 mm
Añadiendo un nonio al cilindro fijo situado frente a la escala graduada del tambor móvil, se pueden
conseguir micrómetros de exteriores milesimales (DE = 0,001 mm), tales como el mostrado en la
siguiente figura.
22
Micrómetro milesimal de exteriores
No obstante, este tipo de instrumentos está prácticamente en desuso ya que están siendo sustituidos
con éxito por los micrómetros de exteriores digitales, que también tienen división de escala milesimal,
que son más fáciles de leer, más baratos y permiten la exportación de los resultados a equipos
informáticos. A continuación se muestra un modelo de micrómetro milesimal de exteriores.
Micrómetro digital milesimal de exteriores
En la Norma UNE 82306:1980 se proporcionan los valores de los errores máximos admisibles para
los micrómetros de exteriores en los instrumentos con alcance igual o menor a 500 mm, que se
facilitan en la tabla siguiente:
Tabla 1. Errores máximos admisibles micrómetros de exteriores
Campo de medida (mm) Error de indicación admisible, F (µm)

0 – 25 y 25 – 50 ±4
50 – 75 y 75 – 100 ±5
100 – 125 y 125 – 150 ±6
23
150 – 175 y 175 – 200 ±7
200 – 225 y 225 – 250 ±8
250 – 275 y 275 – 300 ±9
300 – 325 y 325 – 350 ± 10
350 – 375 y 375 – 400 ± 11
400 – 425 y 425 – 450 ± 12
450 – 475 y 475 – 500 ± 13
En el “Procedimiento DI-005 para la calibración de micrómetros de exteriores de dos contactos”

[CEM, 2003] se consideran dos situaciones diferentes para la calibración de instrumentos de este
tipo:
Instrumentos con DE < 0,01 mm

Instrumentos con DE ≥ 0,01 mm
Los instrumentos del primer grupo van a producir una apreciable variabilidad en los resultados de las
mediciones con reiteración realizadas bajo condiciones de repetibilidad, tal como se tenía en los casos
2 y 4 del Tema 3 y por tanto el cálculo de las incertidumbres hay que realizarlo mediante técnicas
estadísticas, mientras que los instrumentos con división de escala centesimal van a presentar una
variabilidad mínima –o nula-, y la determinación de su incertidumbre habrá que hacerla mediante
consideraciones empíricas y tecnológicas (casos 1 y 3 del Tema 3). Esto viene contemplado en la
Guía para la expresión de la incertidumbre de medida [CEM, 2000] al considerar dos tipos de
incertidumbre:
Incertidumbre tipo A, cuando se calcula mediante técnicas estadísticas

Incertidumbre tipo B, cuando se determina por otros procedimientos
En dicho Procedimiento DI-005 se configuran los dos modelos de calibración como se indica en la
siguiente tabla:
Número de
Tipo de micrómetros Grado de los Número de puntos de
reiteraciones en la
exteriores bloques patrón calibración
calibración
DE < 0,01 mm 1 ó superior 11 puntos 10
2 ó superior 6 puntos 1 en 5 puntos y 10 en 1
DE ≥ 0,01 mm
punto
En la tabla se han indicado para cada una de las dos situaciones contempladas, el grado de los bloques
patrón longitudinales a emplear en la calibración [Norma UNE-EN ISO 3650:2000], así como el
número de puntos del campo de medida en que hay que realizar las calibraciones y el número de
reiteraciones a efectuar en la calibración en cada punto.
5.2.5. Medidoras de tres coordenadas
Las medidoras de tres coordenadas son máquinas no portables que suelen disponer de una m esa de
granito para posicionar la pieza a medir y de un cabezal en el que se monta el palpador. El palpador
se desplaza según los tres ejes coordenados (X, Y, Z) –de ahí el nombre que reciben estas máquinas
medidoras- y tiene dispositivos electrónicos de captación, así como un sistema informático para
24
suministrar –con exactitud elevada- la posición del extremo del palpador.
Estas máquinas han tenido recientemente un importante desarrollo y han posibilitado un enfoque
diferente a la hora de abordar la actividad metrológica. Permiten tanto la m edición de series de
piezas, como la evaluación de piezas con superficies complejas y suelen estar automatizadas con
control numérico.
La siguiente figura muestra dos modelos de máquinas medidoras de tres coordenadas de distintos
campos de medida y con diferentes soluciones tecnológicas.
Máquinas medidoras de tres coordenadas
25
La incertidumbre de estas máquinas, para k = 2 y nominales menores de 1000 mm, suele valer: U
(µm) ≤ ± 1,7 + 3·L(mm)/1000 ; esto es:
Incertidumbres en función de la longitud nominal

Longitud nominal
Incertidumbre (µm)
(mm)
100 ± 2,0
200 ± 2,3
300 ± 2,6
500 ± 3,2
700 ± 3,8
900 ± 4,4
26
5.3. MEDICIÓN DE LONGITUDES POR COMPARACIÓN
Una vez vistos en el tema anterior los instrumentos de medición absoluta de longitudes, en el presente tema se
van a considerar los principales instrumentos de medición de longitudes por comparación, que van a ser
seleccionados y estudiados según la metodología específica que viene siendo usual a lo largo del curso.
5.3.2. Grupos de instrumentos de medición de longitudes por comparación
A partir de la “Clasificación de Instrumentos de Metrología Dimensional” y de los procedimientos de calibración

del CEM, así como de las normas UNE vigentes, la situación de los instrumentos de medición de longitudes por
comparación es la que se presenta en el cuadro siguiente:
D 03. MEDIDA DE
LONGITUDES
(PORCOMPARACIÓN)
D.03.01. Comparadores Proc. DI-010 para la UNE 82310:1985 “Comparadores
mecánicos calibración de de cuadrante”
comparadores mecánicos
D.03.02. Comparadores
neumáticos
electrónicos
ópticos
D.03.05. Soportes de
comparador
D.03.06. Accesorios de
comparador
D.03.07. Montajes multicota
D.03.08. Bancos de calibración Proc. DI-002 para la
de comparadores calibración de bancos de
calibración de
comparadores
D.03.09. Alesómetros de dos
contactos
D.03.10. Alesómetros de tres
contactos
D.03.11 Medidoras de
diámetros por comparación
incrementales o de
27
exploración fotoeléctrica
D.03.13. Bancos de
calibración de bloques patrón
longitudinales
D.03.14. Medidores de
espesores
D.03.15. Comparador de
compás
D.03.16. Alesómetros de
contactos partidos
En el siguiente apartado se van a considerar, únicamente, los comparadores mecánicos, dado que se
trata del único grupo de instrumentos de esta categoría que dispone, simultáneamente, de procedimiento
de calibración CEM y de norma UNE específica.
5.3.3. Comparadores mecánicos
Los comparadores mecánicos se basan en un mecanismo de cremallera-piñón (rack & pinion) que
transmite de una manera amplificada los desplazamientos del palpador a una aguja indicadora que se
desplaza sobre una escala circular graduada.
28
Esta familia de instrumentos no proporciona medidas absolutas de una longitud, sino las diferencias
de longitud entre dos longitudes de valores próximos. De hecho, estos instrumentos tienen un campo
de medida bastante reducido –lo más frecuente es que sea de hasta 10 mm para los de división de
escala centesimal y de 5 milímetros para los milesimales-.
Como puede apreciarse, los comparadores precisan de un útil de sujeción y posicionamiento, que suele
ser simple (soporte de comparador) o más completa (base de comparador), de un plano de referencia
–que puede ir asociado a la propia base o ser una mesa de planitud- y un patrón o pieza de referencia a
partir de la cual se efectúa la medición diferencial o por comparación. En la siguiente figura se muestra
un comparador mecánico montado en una base, sobre la que se encuentra apoyado un bloque patrón
longitudinal y la pieza a medir.
El método básico de medición con un comparador mecánico consta de los pasos siguientes:
- Se monta el comparador en el soporte o en la base y se apoya el patrón –o pieza de referencia-

y la pieza que contiene el mensurando sobre el plano de referencia –o mesa de planitud-.
- Se aplica el comparador al patrón -o elemento de referencia- de nominal l0 y se pone “a cero”
el indicador del comparador.
- Desplazando sobre el plano de referencia el patrón y la pieza –o bien el soporte con el
comparador- de aplica el palpador del instrumento sobre el mensurando.
29
- Se toma la lectura del indicador (li) en dicha situación en que el palpador esté sobre el
mensurando. - Se calcula la medida del mensurando como medición indirecta, mediante la
expresión:
lm = l0 + li
- Se determina la incertidumbre de lm como función de los elementos de la medición indirecta y

de sus respectivas incertidumbres; esto es:
U(lm) = f [l0 ; li ; U(l0) ; U(li)]
Concretamente, en la medición básica aquí descrita, se tiene que:
U(lm) = [U2(l0) + U2(li)]1/2
La Norma UNE 82310:1985 considera dos grupos de comparadores mecánicos –o comparadores de

cuadrante, como se denominan en dicha norma-, a saber:
- Comparadores con división de escala de 0,01 mm y campo de medida de hasta 10 mm

- Comparadores con división de escala de 0,001 mm y campo de medida de hasta 5 mm
Por su parte, el Procedimiento de calibración DI-010 del CEM considera también comparadores con
división de escala menor de 0,001mm y contempla dos procedimientos diferentes de calibración de
comparadores mecánicos:
- Procedimiento de calibración (discreto) con bloques patrón longitudinales (D.01.02 en la

Clasificación del CEM) y un patrón de planitud; procedimiento no recomendado para
instrumentos en los que el alcance sea superior a 1000 veces la división de escala.
- Procedimiento de calibración (continuo) con banco de calibración de comparadores (D.03.08).
El banco de calibración de comparadores suele ser un dispositivo basado en una cabeza
micrométrica cuyo palpador móvil actúa contra el palpador del comparador a calibrar y permite
la medición –con suficiente exactitud- de los desplazamientos de éste.
Ambos procedimientos constan de tres operaciones:
- Determinación de las desviaciones de la escala del comparador para desplazamientos

ascendentes (valores crecientes de las lecturas del instrumento)
- Determinación de las desviaciones de la escala del comparador para desplazamientos
descendentes (valores decrecientes de las lecturas del instrumento)
- Determinación de la variabilidad del instrumento en condiciones de repetibilidad
Para las dos primeras operaciones se efectúan mediciones en, al menos, 11 puntos del campo de medida,
que cubran la práctica totalidad de dicho campo de medida y que sean, aproximadamente, equidistantes.
30
En cada punto se hará una única medición en el caso de comparadores con división de escala mayor o
igual a 0,001 mm y 3 mediciones para los de división de escala menor de 0,001 mm. Con ello se
determina la desviación (error) de indicación, fe, (UNE 82310:1985) que es “la diferencia entre el punto
más alto y el más bajo del gráfico de las desviaciones efectuadas en todo el campo de medida
(efectuadas en un mismo sentido del desplazamiento –creciente o decreciente-). Dicha desviación de
indicación puede obtenerse tanto para la operación de medición con desplazamientos ascendentes,
como para la de desplazamientos descendentes.
También se puede considerar la desviación (error) de indicación total, ftotal, (UNE 82310:1985) como
“la diferencia entre el punto más alto y el más bajo del conjunto de los dos gráficos (el de sentido
creciente y el de sentido decreciente) de las desviaciones efectuadas en todo el campo de medida”. El
croquis siguiente muestra un ejemplo de gráfico de las desviaciones de un comparador en 11puntos del
campo de medida, obtenido en una calibración, en el que se aprecian las desviaciones de indicación –
en sentido ascendente y descendente- y la desviación de indicación total.
Para la determinación de la variabilidad del comparador se deberán realizar dos series de medidas con
6 reiteraciones, una de dichas series palpando en el punto de calibración de mayor longitud y la otra en
el de menor longitud. La variabilidad se puede cuantificar mediante la desviación típica muestral de los
resultados obtenidos en las series reiteradas afectada por el correspondiente factor de recubrimiento.
No obstante, la Norma UNE 82310:1985 considera la repetibilidad, fw, simplemente como “la
diferencia entre el valor mayor y el menor obtenidos al reiterar la medición en un determinado punto
del campo de medida”.
En función de los valores máximos admisibles para las desviaciones (principalmente fe y ftotal), así como
de la variabilidad (repetibilidad), fw, la Norma UNE 82310:1985 contempla dos niveles de calidad
(Calidad 1 y Calidad 2) para los comparadores mecánicos de división de escala 0,01 mm y 0,001 mm.
31
Los valores máximos admisibles dados en la UNE 82310:1985 para estos parámetros, según el nivel de
calidad de los instrumentos, es el siguiente:
División de escala Campo de medida fe ftotal μm fw

Calidad
mm mm μm μm
1 10 12 3
3
2 15 18 5
1 12 14 3
0,01 5
2 17 20 5
1 15 17 3
10
2 25 28 5
1 2 4 2
2
2 4 6 3
0,001
1 3 5 2
5
2 6 8 3
BIBLIOGRAFÍA

CEM, Centro Español de Metrología, http://www.cem.es

Madrid, 2002.


asociados Centro Español de Metrología, Madrid, 2012.
ENAC, Entidad Nacional de Acreditación, http://www.enac.es
Hexagon Metrology, http://www.brownandsharpe.com/
Mitutoyo, http://www.mitutoyo.co.jp/eng/index.html
Ley 3/1985, de 18 de marzo, de Metrología BOE, nº 67 de 19 de marzo de 1985, Madrid.
Ley 21/1992, de 16 de julio, de Industria. BOE, nº 176 de 23 de julio de 1992, Madrid.
32
Norma UNE-EN ISO 10360-6:2002 “Especificación geom étrica de productos (GPS).
Ensayos de aceptación y de verificación periódica de máquinas de medición por

coordenadas (MMC). Parte 6: Estimación de errores en determinación de elementos
gausianos asociados”, AENOR, Madrid, 2002.
Norma UNE-EN ISO 13385-1:2012. “Especificación geométrica de productos (GPS).

Equipo de medición dimensional. Parte 1: Calibres; características metrológicas y de
diseño"
Norma UNE-EN ISO 13385-2:2012 “Especificación geométrica de producto (GPS).

Equipo de medición dimensional. Parte 2: Sondas de profundidad; características
metrológicas y de diseño”
Norma UNE-EN ISO 3650:2000 “Especificación geométrica de productos (GPS). Patrones

de longitud. Bloques patrón”, AENOR, Madrid, 2000. Norma UNE 82310:1985
“Comparadores de cuadrante”, AENOR, Madrid, 1985.
Norma UNE 82306:1980 “Micrómetros de exteriores”, AENOR, Madrid, 1980.
Norma UNE 82318:1994 “Micrómetros verticales y peanas”, AENOR, Madrid, 1994.
Procedimiento DI-002 para la calibración de bancos de calibración de comparadores, CEM,

Madrid, 1999.
Procedimiento DI-005 para la calibración de m icrómetros de exteriores de dos contactos,

CEM, Madrid, 2003.
Procedimiento DI-013 para la calibración de reglas patrón de trazos, CEM, Madrid, 1999.
Procedimiento DI-014 para la calibración de bloques patrón longitudinales por

comparación mecánica, CEM, Madrid, 2000.
Procedimiento DI-008 para la calibración de pies de rey, CEM, Madrid, 2000
Procedimiento DI-010 para la calibración de comparadores mecánicos, CEM, Madrid,
1999.
33
Procedimiento DI-016 para la calibración de patrones cilíndricos de diámetro interior y
exterior, CEM, Madrid, 2000.
Procedimiento DI-027 para la calibración de medidoras de tres coordenadas, CEM, Madrid,

2003.
Real Decreto 2200/1995, de 28 de diciembre, por el que se aprueba el Reglamento de la

Infraestructura para la Calidad y la Seguridad Industrial. BOE, nº 32 de 6 de febrero de
1996, págs. 3929-3941, Madrid.
Tecmicro, http://www.tecmicro.es/
Tecnimetal, http://www.tecnimetalsa.es/index.htm
Tesa, http://www.tesabs.ch/
Unceta, http://www.unceta.com/index.asp
34
Tema 6. Patrones de ángulo y medición de ángulos

6.1. PATRONES DE ÁNGULO
En este apartado se van a considerar los principales patrones de ángulo, que van a ser seleccionados
y estudiados según la metodología específica que viene siendo usual a lo largo del curso.
6.1.2. Grupos de patrones de ángulo
A partir de la “Clasificación de Instrumentos de Metrología Dimensional” y de los procedimientos

de calibración del CEM, así como de las normas UNE vigentes, la situación de los patrones de
ángulo es la que se presenta en el cuadro siguiente:
D 04. PATRONES
ANGULARES
D 04.01. Polígonos patrón Proc. DI-032 para la
calibración de
polígonos patrón
D 04.02. Bloques patrón Proc. DI-017 para la
angulares calibración de bloques
patrón angulares
D 04.03. Plantillas angulares
D 04.04. Reglas circulares
En el siguiente apartado se van a considerar, por tanto, los bloques patrón angulares y los polígonos
patrón, dado que se trata de los únicos grupos de patrones de esta categoría que disponen, de
procedimiento de calibración CEM vigente.
6.1.3. Bloques patrón angulares
Los bloques patrón angulares son piezas prismáticas rectas –de acero, de material cerámico o de
vidrio- de sección trapecial cuyas caras inclinadas entre sí materializan un ángulo con elevada
exactitud. Los bloques patrón angulares representan con respecto a los ángulos, lo mismo que los
bloques patrón longitudinales en relación con las longitudes y tienen idénticas características
genéricas que éstos. Esto es:
- sus caras de medida son muy planas y pulidas, siendo posible la adherencia entre las caras
de los distintos bloques;
- se suministran en juegos -o cajas- con nominales seleccionados para poder cubrir, por
composición de bloques, la totalidad de los nominales de su campo de medida con la
división de escala del juego.
1
Entre las diferencias más significativas que presentan los bloques patrón angulares frente a los
longitudinales caben las dos siguientes:
- es posible disponer del bloque correspondiente al nominal de la división de escala del
juego; esto es existe el bloque de 1”. Sin embargo era del todo imposible la realización
física de un bloque longitudinal de 1 µm entre caras; recurriéndose en este caso a disponer
de un bloque de 1,001 mm.
- los bloques patrón angulares pueden unirse “en adición” o “en sustracción” –según se
aprecia en el croquis adjunto- con lo que se precisa un número bajo de bloques angulares
para poder barrer todos los nominales del campo de medida.
La primera composición de bloques es “en adición”, obteniéndose un patrón angular de

nominal 20º; y la segunda es “en sustracción” y el patrón obtenido es el de 10º. Adviértase
que estos bloques llevan un identificativo sobre el sentido del ángulo (+ en el lado
divergente de las caras del diedro y – en el convergente); ello que es gratuito en el caso de
bloques de 15º o mayores, resulta de ayuda para los de 3º y 5º, y es del todo necesario para
los bloques de ángulos menores. La siguiente fotografía muestra una composición de los
bloques de 5º y 15º para constituir un patrón de nominal 20º.
2
A continuación se muestra una caja de 14 bloques patrón angulares (16 piezas, dos de las cuales no
son bloques angulares), con la que se consigue cubrir los nominales de hasta 90º con un
escalonamiento mínimo de 10”.
La dotación de este juego es la siguiente:
Número
Nominales de los bloques
Unidad de
(mm)
bloques
grado (º) 1º; 3º; 5º; 15º; 30º; 45º 6
minuto (’) 1’; 3’; 5’; 10’; 20’; 30’ 6
segundo (”) 10”; 30” 2
3
Como se aprecia, consta de 14 piezas; el rango de los nominales de dichas piezas es de 10” a 45º y
su escalonamiento (que viene marcado por el bloque de menor ángulo) es de 10”.
Uno de los juegos de bloques patrón longitudinales más usual es el de 17 bloques, que permite un
escalonamiento de 1”. Su composición típica es la siguiente:
Número
Nominales de los bloques
Unidad de
(mm)
bloques
grado (º) 1º; 3º; 5º; 15º; 30º; 45º, 7
90º
minuto (’) 1’; 3’; 5’; 20’; 30’ 5
segundo (”) 1”; 3”; 5”; 20”; 30” 5
Para la calibración de los bloques patrón angulares se pueden emplear los dos procedimientos
siguientes:
- Mediante el empleo de un plato divisor –D.05.02- en una máquina medidora de tres

coordenadas –D.02.07-
- Con regla de senos –D.05.03-; bloques patrón longitudinales –D.01.02-; comparador
mecánico –D.03.01- o electrónico –D.03.03-; soporte de comparador –D.03.05-; y mesa de
planitud –D.06.05-.
Las máximas desviaciones angulares admisibles para los bloques patrón angulares, suelen ser las
siguientes:
Desviación máxima admisible del ángulo entre dos caras adyacentes,

dα (”)
Juego Grado de precisión de Grado de precisión de Grado de precisión
trabajo (Tool Room) calibración especial (Laboratory
(Inspection Grade) Master)
14 bloques angulares y
± 2” - -
escalonamiento de 10”
17 bloques angulares y
± 1” ± 0,5” ± 0,2”
escalonamiento de 1”
6.1.4. Polígonos patrón
Los polígonos patrón son piezas prismáticas rectas –de acero o de vidrio- cuya sección es un
polígono regular de número par de lados; de tal manera que los diedros constituidos entre dos caras
consecutivas materializan el ángulo correspondiente con elevada exactitud. A fin de identificar los
distintos diedros que se tienen en un polígono patrón, las caras de éste suelen estar numeradas
correlativamente. Las caras de los polígonos patrón tienen que ser extremadamente planas y con
buenas propiedades de reflexión, por lo que en la literatura inglesa suelen ser denominados optical
polygons (polígonos ópticos). Los polígonos patrón, además de ser patrones angulares para los
ángulos nominales que corresponden al polígono regular de su sección, también pueden emplearse
4
como patrón de los nominales suplementarios a ellos. Esto es, un polígono patrón de ℓ caras, podrá
emplearse como patrón de ángulo para los nominales α0 y (180º - α0), de valores:
α0 = 360º/ℓ ; 180º - α0 = 180º - 360º/ℓ = 180º (1 - 2/ℓ)
El procedimiento de calibración DI-032 únicamente considera polígonos con número de lados par,
y, en concreto, sólo los indicados en la siguiente tabla:
ℓ α0 180º - α0
4 90º 90º
6 60º 120º
8 45º 135º
12 30º 150º
16 22º 30’ 157º 30’
18 20º 160º
24 15º 165º
36 10º 170º
72 5º 175º
En la figura adjunta se representa el croquis de un polígono patrón de seis lados (ℓ = 6; α0 = 60º).
y a continuación se representa un modelo comercial de 12 lados (ℓ = 12; α0 =

30º).
5
Los polígonos patrón se calibran con uno o dos instrumentos ópticos de precisión (autocolimadores
-D.05.05-), estando el polígono montado sobre un plato divisor –D.05.02- (generalmente un plato
divisor horizontal de precisión de accionamiento manual o controlado numéricamente) y se emplean
para la calibración de, entre otros, los siguientes equipos de medición:
D.02.07. Medidoras de tres coordenadas (con cuarto eje)

D.05.02. Platos divisores
D.05.08. Mesas graduadas circulares
Las máximas desviaciones angulares admisibles para los ángulos que se tienen entre caras
adyacentes de los polígonos patrón vienen dadas en la siguiente tabla:
Desviación máxima admisible del ángulo entre dos caras adyacentes,

dα (”)
ℓ
Grado de precisión de Grado de precisión de Grado de precisión
calibración (grado 1) referencia (grado 0) especial (grado 00)
4 a 12 ± 2” ± 1” ± 0,2”
16 a 72 ± 5” ± 2” ± 1”
6
6.2. MEDICIÓN DE ÁNGULOS
En este apartado se van a considerar los principales instrumentos de medición de ángulos que van a
ser seleccionados y estudiados según la metodología específica que viene siendo usual a lo largo del
curso. Debe indicarse que los métodos indirectos para la medición de ángulos se expondrán en el
tema relativo a métodos indirectos de medida.
6.2.2. Grupos de instrumentos de medición de ángulos
A partir de la “Clasificación de Instrumentos de Metrología Dimensional” y de los procedimientos

de calibración del CEM, así como de las normas UNE vigentes, la situación de los instrumentos de
medición de ángulos es la que se presenta en el cuadro siguiente:
D 05. MEDIDA DE
ÁNGULOS
D.05.01. Transportadores de Proc. DI-003 para la
ángulos calibración de transportadores
de ángulos
D.05.02. Platos divisores Proc. DI-026 para la
calibración de mesas
giratorias
D.05.03. Reglas de senos Proc. DI-019 para la
calibración de reglas de senos
D.05.04. Niveles de medida UNE 82308:1985 “Niveles de
burbuja”
D.05.05. Autocolimadores Proc. DI-033 para la
calibración de
autocolimadores
D.05.06. Bloques
semicirculares
D.05.07. Medidoras verticales
de conos
D.05.08. Mesas graduadas
circulares
D.05.09. Mesas de senos
D.05.10 Niveles de
horizontalidad
D.05.11. Platos divisores de
puntos
D.05.12. Reglas de senos de
dos ejes
D.05.13. Reglas de tangentes
7
En el siguiente apartado se van a considerar, únicamente, los transportadores de ángulos, los platos
divisores, las reglas de senos y los niveles de burbuja, dado el interés metrológico de los mismos y de
para esas categorías se dispone, o bien del correspondiente procedimiento de calibración CEM, o de
norma UNE específica.
6.2.3. Transportadores de ángulos
Los transportadores de ángulos están constituidos por dos reglas de canto generalmente biselado y de
dos cuerpos circulares concéntricos. Una de las reglas (regla fija) se encuentra fijada al cuerpo circular
que contiene una regla circular de trazos (transportador), mientras que la otra regla (regla móvil) va
asociada al otro cuerpo circular que contiene el indicador, constituido por un trazo o, más
frecuentemente, por un nonio.
6.2.4. Platos divisores
Los platos divisores son instrumentos empleados para el posicionamiento y la medición de ángulos,
utilizándose en muchas ocasiones como un elemento accesorio de una máquina medidora de tres
coordenadas.
Consiste en un plato giratorio, provisto de ranuras y taladros sobre su superficie para la sujeción de
piezas, ligado a una regla circular, con algún sistema apropiado de amplificación y lectura.
8
Plato divisor
6.2.5. Reglas de senos
Las reglas de senos son patrones que permiten materializar ángulos con muy elevada precisión
mediante el uso de bloques patrón longitudinales.
Están formadas por una pieza de sección rectangular, generalmente de acero, sobre la que se fijan dos
cilindros de igual diámetro a una distancia D, de forma que sus ejes queden paralelos entre sí y a igual
distancia de la superficie opuesta (patrón de longitud).
9
6.2.6. Niveles de burbuja
Son instrumentos para la medida directa de ángulos con elevada precisión en los que el índice de
lectura o posicionamiento es una burbuja de vapor, móvil dentro de un tubo transparente curvado y
parcialmente lleno de un líquido apropiado.
10
BIBLIOGRAFÍA


Madrid, 2002.

asociados. Centro Español de Metrología, Madrid, 2012.
Farago, F.T.; Curtis, M.: Handbook of Dimensional Measurement. Third edition, Industrial
Press, New York, 1994.
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Norma UNE 82310:1985 “Comparadores de cuadrante”, AENOR, Madrid, 1985.
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Tesa, http://www.tesabs.ch/
Unceta, http://www.unceta.com/index.asp
11
Tema 7. Ejercicios de autoevaluación
Ejercicio 1
Indicar si resulta posible la formación de un patrón angular de un ángulo de 7,5º con una
incertidumbre menor de ±2’, mediante el empleo de una regla de senos de longitud entre
los centros de sus rodillos de 200 ± 0,002 mm y un juego de bloques patrón longitudinales
de 112 piezas y grado 1.
Solución:
Según se aprecia en la página 3 del Tema 9, la expresión del ángulo α formado por un
montaje de regla de senos y bloques patrón longitudinales viene dado por:
𝐻
𝑠𝑒𝑛 ∝= 𝐷 (1)
siendo H la longitud constituida por uno o varios bloques patrón y D, la longitud entre los
centros de los rodillos de la regla de senos.
Sustituyendo los valores numéricos, se tiene que la altura de bloques patrón que hay que
componer para formar un ángulo de 7,5º es:
H=200*sen 7,5º=0,1305=26,105 mm
Por lo que, para obtener la altura calculada, utilizando un número mínimo de bloques
patrón del juego de bloques considerado en el ejercicio, se seleccionarían los siguientes:
3 bloques patrón de nominales: 24 mm + 1,10 mm +1,005 mm = 26,105 mm
Para determinar la incertidumbre asociada al ángulo α, se aplica la ley propagación de

varianzas a la expresión (1) teniendo que:
𝑢𝐻 𝐻
𝑐𝑜𝑠 ∝ ∙ 𝑢∝ = + ∙𝑢 ;
𝐷 𝐷2 𝐿
Donde uα, es la incertidumbre típica del ángulo α, uH, la incertidumbre típica la longitud
de los bloques patrón y uL, la incertidumbre típica de la distancia entre ejes de la regla de
senos.
Despejando uα, se tiene:
1 𝑢
𝐻
𝑢∝ = 𝐷 ∙ (𝑐𝑜𝑠∝ + 𝑡𝑔 ∝∙ 𝑢𝐿 ) (2)
1
Para determinar la incertidumbre de la altura nominal compuesta por varios bloques
patrón, se aplica, asimismo, la ley de propagación de varianzas. Se tiene que:
2
𝑈𝐻2 = 𝑈24
2 2
+ 𝑈1,10 + 𝑈1,005
De la tabla de la página 6 del tema 5 obtenemos las incertidumbres expandidas de los

bloques patrón considerados, teniendo en cuenta su longitud nominal y su grado de
calidad. Con lo que la incertidumbre expandida de H es igual a:
UH= 0,4123 µm
Considerando un factor de recubrimiento de 2, la incertidumbre típica quedaría igual a:
uH = 0,4123/2= 0,2061 µm
Y la incertidumbre típica de la distancia entre ejes de la regla de senos, uL:
uL = 0,002/2=0,001 mm
Sustituyendo los valores numéricos en la expresión (2) se tiene que:
uα=9,682*10-5 rad=0,0055º=0,33’
Multiplicando por el factor de recubrimiento de 2 se obtiene que la incertidumbre del

patrón de 7,5º es igual a:
Uα= 0,66’∼1’≤± 2’
Por lo que sí es posible formar un patrón angular de 7,5º con una incertidumbre menor de
2’.
2
Ejercicio 2
La medida de un bloque de longitud l se ha llevado a cabo mediante el empleo de un

bloque patrón de longitud nominal de 12 mm e incertidumbre de 0,8 µm para un factor
de recubrimiento de 2, y un reloj comparador de división de escala de 0,001 mm e
incertidumbre de 1 µm para un factor de recubrimiento de 2. Las medidas de las
desviaciones del bloque con respecto al bloque de referencia obtenidas con el reloj
comparador expresadas en mm se indican a continuación.
0,001 0,002 0,002 0,002 0,001 0,003 0,003 0,001 0,001 0,001
Se pide determinar la longitud l del bloque y su incertidumbre asociada para un factor de

recubrimiento de 3.
Solución:
La longitud l del bloque se obtiene como medición indirecta a través de la siguiente
expresión:
l = l0 + 𝑙̅𝑖
Donde l0 es la longitud del bloque patrón de referencia y 𝑙̅𝑖 la media de las desviaciones
apreciadas por el reloj comparador.
Con lo que se tiene que:

l = 12+0,017=12,017 mm
Para calcular la incertidumbre asociada a la medida de la longitud del bloque l, aplicando
la ley de propagación de varianzas, se obtiene:
𝑢𝑙2 = 𝑢𝑙20 + 𝑢𝑙2𝑖 + 𝑢𝑐𝑜𝑚𝑝𝑎𝑟𝑎𝑑𝑜𝑟

2
Donde ul, es la incertidumbre típica asociada a la medida de l, u0, la incertidumbre típica

asociada al bloque patrón y uli, la incertidumbre típica asociada a la variabilidad de las
medidas obtenidas con el reloj comparador y ucomparador, la incertidumbre típica del
instrumento.
La incertidumbre típica asociada al bloque patrón, u0 y la incertidumbre típica del
instrumento, ucomparador, para un factor de recubrimiento de 2 se obtienen del siguiente
modo:
u0,= 0,8/2=0,4 µm y ucomparador=1/2=0,5 µm
La incertidumbre típica asociada a la variabilidad de las medidas viene dada por:
3
𝑠𝑙𝑖
𝑢𝑙𝑖 = ; uli= 0,26 µm
√𝑛
Por lo que la incertidumbre del bloque ul es igual a:
ul=(0,42+0,52+0,262)1/2=0,6910 µm
La incertidumbre expandida del bloque Ul para un factor de recubrimiento de 3:
Ul=0,6910*3 =2,073 µm=0,002073 mm
Por lo que la longitud del bloque sería igual a: 12,017±0,003 mm
4
Tema 8. Medición de formas

8.1 Introducción
En este tema se van a exponer las principales características de la Metrología de
superficies que limitan a las piezas en lo que afecta a su forma y sus acabados superficiales.
Esto en última estancia, no es más que el estudio tanto a nivel macroscópico como
microscópico de las superficies de las piezas.
8.2 Caracterización de formas
8.2.2 Consideraciones metrológicas sobre las superficies de las piezas

Por superficie de una pieza se entiende el lugar geométrico de los puntos que limitan al
material que constituye la pieza. Este sencillo concepto no es posible aplicarlo de manera tan
inmediata a materiales porosos, en los que la superficie se extiende también por el interior de
la pieza. Considerando lo relativamente poco extensa utilización de este tipo de materiales en
la construcción de las piezas habituales, prescindiremos de ellos.
De manera concisa, se consideran los siguientes conceptos en el estudio de superficies:
 Superficie real: es aquella que separa el material de la pieza del medio que la rodea.
 Superficie efectiva: es la determinada por los medios de medida convencionales y

que podríamos denominar también como “superficie conocida”. Es una
aproximación a la superficie real a través del medio de medida, por lo que dependerá
del grado de precisión de éste último.
 Superficie geométrica: es la superficie ideal, teórica o nominal definida en el plano

de la pieza.
Las superficies de las piezas deben cumplir unas determinadas especificaciones de

manera que la pieza pueda ejecutar correctamente las funciones que tiene encomendadas. En
general, el correcto funcionamiento de estas funciones exige una uniformidad de las
superficies a distintos niveles. Estos niveles pueden considerarse en varios planos, uno de los
cuales podría considerarse el plano de la superficie (geométrico, metalúrgico, mecánico,..), ó
bien el grado de acercamiento que realicemos en la superficie (macroscópico, microscópico).
En nuestro contexto, nos centraremos dentro de las desviaciones geométricas y
consideraremos las superficies a través de su representación bidimensional por medio de los
denominados perfiles obtenidos por la intersección de los diferentes tipos de superficies antes
citados, con el plano de medida. Esta consideración viene indicada por el frecuente empleo de
métodos de exploración mediante palpador, en los que el plano de medida es aquel que
contiene los movimientos del palpador durante su exploración. Tal plano de medida es
sensiblemente perpendicular a la superficie explorada.
1
Las desviaciones de la superficie (evaluada a través de sus perfiles) muestran las
diferencias entre la superficie efectiva y la geométrica. Convencionalmente estas desviaciones
se dividen dentro de grupos, que según DIN son:
 Clase 1. Desviaciones de perfil. Obtenidas mediante la observación de toda la

superficie.
 Clase 2. Desviaciones de ondulación. Obtenidas mediante la observación de una

porción de la superficie. De esta forma se obtienen las restantes clases también; son
esencialmente periódicas, y en casos es posible apreciar las superposición de ondas
de diferente longitud de onda, λ, y diferente amplitud A.
 Clase 3. Desviaciones de rugosidad geométrica. Son esencialmente desviaciones que

presentan una distribución regular, y están producidas por los surcos o marcas que
dejan las herramientas de corte durante el arranque del material.
 Clase 4. Desviaciones de rugosidad “natural”. Son esencialmente irregularidades de

naturaleza aleatoria producidas por multitud de factores que intervienen en el proceso
de creación de una superficie (falta de homogeneidad del material de una pieza,
vibraciones, procesos no estacionarios, filo recrecido, etc).
 Clase 5. Desviaciones de rugosidad estructural. Son irregularidades producidas por

efectos físico-químicos, como son la formación de cristales, ataque químico,
corrosión, etc. Se suelen considerar de manera alternativa o incluidas dentro de la
clase de desviaciones de rugosidad natural.
 Clase 6. Otro tipo de desviaciones. Normalmente de valor tan reducido que no son
detectables por los procedimientos metrológicos comunes. Están determinados
fundamentalmente por la red cristalina o granular del material base.
Perfil completo
Desviaciones de perfil
Desviaciones de ondulación
Desviaciones de rugosidad geométrica
Desviaciones de rugosidad natural
Figura 1.- Representación gráfica de las clases de desviaciones de forma y acabado superficial
2
Desde el punto de vista práctico, solo se consideran tres tipos de desviaciones:
 Desviaciones de primer orden (clase 1) o desviaciones de forma.

Convencionalmente, aquellas en las que la relación entre la longitud de onda y la
amplitud de la irregularidad es superior a 100, es decir, λ/A˃100.
 Desviaciones de segundo orden (clase 2) o desviaciones de ondulación.

Convencionalmente, aquellas en las que λ/A<50 y la longitud de onda es mayor de
un valor definido lc, denominado longitud de corte (cut-off) ó longitud básica, es
decir λ˃lc. Usualmente, este valor de lc se toma como 0,8 mm.
 Desviaciones de tercer orden (clases de 3 a 5), o desviaciones de rugosidad.

Convencionalmente, aquellas en las que λ/A<50 y además λ/A< lc.
Evidentemente, estos valores son aproximados y orientativos, y solo a estos últimos

efectos deben ser considerados. También puede apreciarse una zona de indefinición entre 50 y
100 para el coeficiente entre longitud de onda y amplitud, que viene a materializar la
ambigüedad de los límites expuestos. Como comparación, DIN establece valores de 1000 a
100 para la clase 2: ondulación, y 100 a 5 para las clases 3 a 5: rugosidad.
8.2.2 Desviaciones de forma

En esta categoría se consideran las desviaciones de primer orden antes citadas.
Ocasionalmente, se incluyen también las de segundo orden, al estar la mayoría de las piezas
empleadas en mecánica compuestas por superficies geométricas bien definidas, y de forma
sencilla muchas de ellas (planos y cilindros), la evaluación de los defectos de forma se hace
directamente respecto de la forma geométrica materializada bien en forma de patrón, o
internamente dentro del instrumento de medida.
Esto es de gran ayuda, y está íntimamente relacionado con la indicación sobre planos de
los defectos máximos admisibles sobre una pieza (tolerancias de forma y posición).
Así sobre un determinado elemento geométrico (plano, cilindro,…) se indica su

tolerancia por una línea terminada en flecha apuntando al contorno del elemento o a la
superficie (Figura 2), en una línea de referencia sobre la superficie (Figura 3) o en la
prolongación de una línea de cota (Figura 4).
Figura 2. Indicación de tolerancia al contorno o prolongación del elemento, aplicable a la línea y

a la superficie
3
Figura 3. Indicación de tolerancia en una línea de referencia sobre la superficie
Figura 4. Indicación de tolerancia en la prolongación de una línea de cota: a) eje, b) plano

medio, c) centro de un elemento geométrico
En la Tabla 1 se recogen las características geométricas que son objeto de tolerancia.

Los grupos que se contemplan en dicha tabla son los siguientes:
Considerando el elemento aislado:
- Rectitud
- Planitud
- Redondez
- Cilindridad
- Perfil de una línea
- Perfil de una superficie
Considerando elementos geométricos relacionados por su orientación:
- Paralelismo
- Perpendicularidad
- Angularidad
Considerando elementos geométricos relacionados por su localización:
- Posición
- Concentricidad entre dos centros
- Coaxialidad entre dos ejes
- Simetría
4
Considerando la relación existente entre elementos geométricos e incluyendo otras

posibles desviaciones:
- Alabeo radial
- Alabeo axial
Tabla1. Símbolos de características geométricas
A menos que se indique explícitamente, estas tolerancias afectan a toda la superficie o

longitud del elemento afectado. Algunas de estas tolerancias son de mayor amplitud que otras.
Así aparecen inclusiones mutuas, como por ejemplo, la cilindridad, que abarca la redondez y
la rectitud. En piezas de perfiles no sencillos, se recurre a la acotación y verificación según
tres tipos de procedimientos: por radios, por coordenadas cartesianas, por coordenadas
cilíndricas, con posibilidad de indicación de desviaciones admisibles mediante tolerancias de
forma o tolerancias dimensionales (Figura 5):
- Por radios
- Por coordenadas cartesianas
- Por coordenadas cilíndricas
5
a)
b)
c)
Figura 5. Diversos tipos de acotación y especificación de tolerancias sobre perfiles: a)
Por radios, b) Por coordenadas cartesianas y c) Por coordenadas cilíndricas
8.3 Evaluación de las dimensiones de forma

En este apartado se dará una breve explicación esquemática de los principales métodos
de evaluación de desviación de forma. Esta exposición por su brevedad y fundamentalmente
por la amplitud y complejidad del tema, es necesariamente parcial e indicativa de distintos
procedimientos, cuyo análisis y estudio cae fuera de los límites planteados. Dentro del estudio
de los métodos de evaluación de forma se suelen excluir algunos tipos específicos que tienen
suficiente amplitud y particularidad como para formar un capítulo aparte en el campo de la
metrología dimensional. Tales serían los dedicados a roscas, en el que se analizan las formas
helicoidales y trapezoidales, junto con mediciones dimensionales y de ángulo, y que
normalmente se aplican a calibre y patrones con los que a su vez se suelen verificar las piezas
fabricadas. Los engranajes, donde se miden las formas del perfil (cicloidal o de evolvente),
junto con la posición relativa de los dientes, medidos con máquinas que materializan la forma
examinada o por medio de la comparación en funcionamiento con una rueda patrón, y con
máquinas medidoras por coordenadas los más complejos.
Capítulo aparte son las medidas de conos, reducidas en muchos casos a combinaciones
de medidas longitudinales y angulares y su comparación con un patrón.
Finalmente, dentro de los casos particulares no contemplados en este tema, citaremos

las desviaciones de posición que se consideran desde el punto de vista académico como
desviaciones longitudinales. Así pues, el análisis de formas queda reducido a las formas
sencillas:
6
- Rectitud
- Planitud
- Redondez
- Cilindridad
- Paralelismo
- Perpendicularidad
- Coaxilidad
- Simetría
Así como a las diversas formas de tipo genérico englobadas bajo denominaciones:
- Línea cualquiera
- Superficie cualquiera
De manera esquemática, se indican a continuación los distintos métodos de evaluación

de desviaciones de forma.
Las desviaciones de rectitud y planitud a través de las siguientes figuras, de la figura 6 a

la 16.
a) b)
Figura 6. Mesa de planitud y comparador (plano de referencia: el materializado por la

mesa): a) comparador fijo-pieza móvil, b) comparador móvil-pieza
Figura 7. Regla y bloques patrón Figura 8. Regla y comparador

7
Figura 9. Medidora por coordenadas Plano de
referencia: el materializado por tres puntos y la Figura 10. Palanca con comparador
regla patrón o guías de la máquina medidora
Figura 11. Nivel (burbuja o electrónico). Plano de referencia: el materializado por tres puntos
Figura 12. Anteojo y mira
Figura 13. Autocolimador
8
Figura 14. Regla óptica
Figura 15. Láser. Plano de referencia: el materializado por tres puntos y el eje óptico utilizado
a) b) c)
Figura 16. a) Interferometria con vidrio óptico. Plano de referencia: la superficie del vidrio, b) Regla
9
cuchillo, c) Mesa de planitud de referencia (mármol de contacto)
Para evaluar las desviaciones de redondez y cilindridad se emplean métodos de
referencia intrínseca (Figura 17), de exploración (Figura 18) y de evaluación (Figura 19).
a) b) c)
Figura 17. Métodos de referencia intrínseca (la propia pieza y el elemento de medida) a) plano, b)
bloque en V, c) entre puntos
a) b)
Figura 18. Métodos de exploración, a) pieza fija y palpador móvil b) pieza móvil y palpador fijo
10
a)
b)
c)
11
d)
Figura 19. Métodos de evaluación: a) zona mínima, ZM b) círculo inscrito máximo, CI, c) círculo
circunscrito mínimo, CC, d) mínimos cuadrados, MC
Por medición reiterada de redondez sobre distintos elementos se obtienen las

desviaciones de coaxialidad. En las máquinas medidoras de redondez, es frecuente realizar
también medidas de perpendicularidad entre planos perpendiculares al eje de la pieza y este
último a una de las generatrices, y la rectitud y paralelismo entre distintas generatrices o
planos transversales.
Además de los casos citados, procedimientos habituales para la evaluación de

desviaciones de perpendicularidad se realizan mediante: comparación (Figura 20), eje óptico
(Figura 21), máquinas medidoras por coordenadas (Figura 22) y comparación con patrón
(Figura 23).
Figura 20. Método de evaluación de perpendicularidad mediante comparador reloj
12
a) b)
Figura 21. Método de evaluación de perpendicularidad mediante eje óptico: a) autocolimador, b) láser
a) b)
Figura 22. Máquina medidora por Figura 23. Comparación con patrón: a)
coordenadas escuadra, b) cilindro
El paralelismo puede evaluarse mediante exploración de uno de los elementos tomando

como referencia al otro, utilizando por ejemplo un comparador, o mediante mediciones
sucesivas sobre ambos elementos utilizando una referencia común.
En cuanto a la coaxialidad y simetría, comentar de la primera, que anteriormente ha sido

expuesta en su realización combinada con la redondez, y que la evaluación de la simetría
plana se reduce a un problema de posición y/o equidistancia de dos elementos cuyo
paralelismo se ha comprobado.
Para finalizar se van a mostrar los métodos para evaluar la forma de una línea
cualquiera superficie cualquiera. Corresponden a los casos más genéricos aquí expuestos, y
por tanto, se incluyen en los anteriores. Se evalúan por métodos sencillos a través de sus
perfiles, mediante métodos ópticos (Figura 24), comparación con patrón (Figura 25), registro
por comparación (Figura 26) y calibres patrón (Figura 27).
13
a) b)
Figura 24. a) Microscopio y plantilla, b) Proyector de perfiles y plantilla
Figura 25. Conjunto de comparadores Figura 26. Perfilógrafos
a) b) c)
Figura 27. Máquina medidora por coordenadas: a) cartesianas, b) polares, c) representación de

superficie por ordenador
a)
b)
Figura 28. Calibres patrón: a) exteriores, b) interiores
14
8.4 Bibliografía
[1]. ENAC, Entidad Nacional de Acreditación, http://www.enac.es

[2]. Farago, F.T.; Curtis, M.: Handbook of Dimensional Measurement. Third edition,
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[3]. ISO, International Organization for Standarization, http://www.iso.org.
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AENOR, Madrid, 2017.
[6]. Norma UNE 1128:1995 (ISO 5459:1981). Dibujos técnicos. Tolerancias geométricas.
Referencias y sistemas de referencia para tolerancias geométricas. AENOR, Madrid,
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[7]. Norma UNE-EN ISO 5458:1999 (ISO 5458:1998). Especificación geométrica de
productos (GPS). Tolerancias geométricas. Tolerancias de posición. AENOR, Madrid,
1999.
[8]. Norma UNE-EN ISO 286-1:2011. Especificación geométrica de productos (GPS).
Sistema de codificación ISO para las tolerancias en dimensiones lineales. Parte 1: Base
de tolerancias, desviaciones y ajustes. AENOR, Madrid, 2011.
[9]. Norma UNE-EN ISO 286-2:2011. Especificación geométrica de productos (GPS).
Sistema de codificación ISO para las tolerancias en dimensiones lineales. Parte 2:
Tablas de las clases de tolerancia normalizadas y de las desviaciones límite para
agujeros y ejes. (ISO 286-2:2010). AENOR, Madrid, 2011.
[10]. Norma UNE 82001:1991. Terminología de los ajustes y tolerancias. AENOR, Madrid,
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[11]. Norma UNE 82307:1994. Medidas de redondez y de perfiles curvos. Diagrama de
bloques de un sistema medidor. Términos, definiciones y parámetros de redondez.
AENOR, Madrid, 1994.
[12]. Pérez, J.M.: Tecnología Mecánica I. Sección de Publicaciones de la ETSII de la
15
Tecnologías
Industriales
Tema 9. Medición de rugosidad

12.1. Introducción
Una de las consecuencias del desarrollo tecnológico es la gran cantidad de máquinas y

mecanismos, cuyos componentes mecánicos han de ponerse en contacto, rozándose sus
superficies a altas velocidades. En estos casos, el acabado superficial se convierte en un
aspecto fundamental y muy influyente para el desgaste, fricción, fatiga y duración de
dichos elementos mecánicos. Un buen conocimiento de la geometría de la pieza, tanto en
su forma macrogeométrica como microgeométrica, es esencial en los ajustes de precisión,
siendo uno de los primeros factores a tener en cuenta.
Así mismo, el avance tecnológico produce un aumento de las exigencias de calidad y

precisión en la producción de piezas mecánicas. En la fabricación de piezas, no es posible
obtener un acabado superficial perfecto como el diseñado en los planos, debido a los
defectos microgeométricos que aparecen en las superficies mecanizadas. En este sentido, el
acabado superficial se presenta como un indicador de la calidad y precisión de un proceso
de fabricación de piezas mecanizadas.
Estos defectos microgeométricos originan efectos perjudiciales en las máquinas y

mecanismos, tales como: la pérdida de precisión y exactitud de las medidas, originan
juegos y holguras en los ajustes móviles, disminuyen el apriete en los ajustes fijos,
producen mala estanqueidad en montajes herméticos y generan vibraciones, que afectan de
forma importante a su funcionamiento.
La metrología microgeométrica es la disciplina que se encarga de la observación, estudio y

evaluación de los defectos superficiales, y de los procedimientos de medida utilizados para
determinarlos. Estas irregularidades se originan por los desajustes y/o deficiencias en el
proceso de fabricación, que producen los defectos de ondulación; y por las huellas dejadas
por el propio proceso en las superficies, que generan los defectos de rugosidad.
En los últimos años, ha aumentado la necesidad de estudiar y normalizar los acabados

superficiales de las piezas mecánicas, requiriendo métodos de medición cada vez más
1
precisos, como complemento previo a la fijación de los ajustes y las tolerancias. La
rugosidad se ha convertido en uno de los indicadores más utilizados a todos los niveles,
para definir la calidad del acabado de una superficie.
El estado superficial de las piezas mecanizadas, ha de cumplir unas especificaciones que se

determinan por la función que van a desarrollar. No siempre el acabado superficial con
menos rugosidad, es el más óptimo o rentable, determinándose en función de cualidades
como: tolerancias dimensionales, ajustes, rozamiento, lubricación, resistencia a la fatiga y
al desgaste, y/o su aspecto superficial.
Para evaluar la calidad superficial, existen una gran variedad de alternativas instrumentales
que se adaptan a cualquier requerimiento de precisión y precio, desde los equipos portátiles
de taller de manipulación y posicionamiento manual, hasta los dedicados a investigación
totalmente automatizados e informatizados, basados en tecnologías electromecánicas,
ópticas o neumáticas, desapareciendo los procedimientos viso-táctiles.
En los últimos años, gracias a los avances tecnológicos en el campo de la metrología, se ha

producido una mejora sustancial de los instrumentos de medida, que ha producido un
aumento de sus prestaciones, caracterizando de forma clara el estado de una superficie
mediante valoraciones numéricas, eliminando los juicios de valor viso-táctiles, muy
dependientes de las apreciaciones personales del inspector. Además de esto, el avance
tecnológico ha producido un abaratamiento de los equipos e instrumentos de media de la
calidad superficial, facilitando su uso generalizado a nivel industrial.
12.2. Evolución de la medición del acabado superficial
La caracterización de los acabados superficiales, se empieza a utilizar de forma seria

entorno al año 40 en Estados Unidos, con procedimientos viso-táctiles de las superficies
que clasificaban sus calidades con palabras, tales como: basto, fino, alisado, pulido,
especular, etc., que requerían de la capacidad humana en sus sentidos del tacto y de la
vista, siendo un procedimiento muy poco objetivo por la gran dependencia del factor
humano, además de no ser operaciones de medida.
2
El paso siguiente hacia la mejora de los procesos cualitativos de caracterización de los
acabados superficiales, fueron los patrones viso-táctiles denominados “Rugotex” que
permitían diferenciar las rugosidades en clases o grupos fácilmente distinguibles a simple
vista o por el tacto, pero que no podían definir el grado de rugosidad y ondulación de la
superficie.
Alrededor de los años 60, comienzan a implantarse los procedimientos cuantitativos

basados en sistemas electromecánicos, que traducían señales eléctricas proporcionadas por
un transductor que se desplazaba verticalmente recorriendo la geometría de la superficie.
A partir de este momento, los avances tecnológicos han ido perfeccionando este tipo de
sistemas y creando otros nuevos, basados todos ellos en procedimientos: mecánicos,
neumáticos, capacitativos, inductivos y ópticos, siguiendo una línea evolutiva donde los
componentes electrónicos han ido aumentando progresivamente, en busca de una mayor
facilidad de manejo, versatilidad y precisión de las medidas.
En la actualidad, los procedimientos neumáticos han quedado prácticamente en desuso,

siendo los procedimientos inductivos y ópticos los sistemas más empleados en los
instrumentos de medida de la calidad superficial. Un elemento importante que se ha ido
introduciendo de forma generalizada en los sistemas mencionados, son los soportes
informáticos que proporcionan una mayor capacidad de análisis de las señales producidas,
y una gran versatilidad en el análisis de resultados y su posterior presentación.
El análisis de los defectos microgeométricos que aparecen en las superficies, se puede

efectuar por procedimientos cuantitativos, que proporcionan valores numéricos de las
desviaciones de las irregularidades, o por procedimientos cualitativos, que permiten
caracterizar o comparar dichas irregularidades. Estos últimos tienen un uso más
restringido, ya que se trata de procedimientos de análisis con menos precisión, no se
someten a una adecuada calibración y tienen un mayor número de influencias externas que
les afectan. A continuación, se presentan los sistemas de medidas más utilizados por ambos
procedimientos:
1) A través de un palpador que recorre la geometría de una línea de la superficie,

denominada perfil, obtenida por la intersección con un plano normal perpendicular
3
a las estrías de la misma. Este sistema es el utilizado por los perfilómetros del
Sistema M o rugosímetros de perfil, cuyo uso está muy generalizado, tanto a nivel
industrial, como docente e investigador. Permite determinar de forma muy precisa
parámetros de caracterización de los defectos microgeométricos, pero solamente en
el perfil medido. Proporciona una serie de parámetros normalizados que
caracterizan los defectos superficiales de tal forma, que permiten determinar lo que
se denomina la superficie efectiva, que a todos los efectos sustituye a la superficie
real. Para efectuar la reconstrucción de una superficie efectiva por el procedimiento
del perfil, sería necesario la medición de un número elevado de perfiles, tantos
como requiera el nivel de precisión. Pero las reconstrucciones tridimensionales de
superficies no tienen interés a nivel práctico, ya que no permiten relacionar los
procedimientos de fabricación y las calidades de las superficies que generan, así
como las propiedades funcionales de la pieza y la calidad superficial de la misma.
Existen dos sistemas en los palpadores de contacto, que convierten las
pequeñísimas oscilaciones verticales de la punta del palpador, en variaciones
proporcionales de la tensión de salida del transductor, que corresponde a: los
transductores inductivos o piezoeléctricos. En el inductivo, las oscilaciones
verticales hacen variar el entrehierro de una bobina y por lo tanto su inducción. En
el piezoeléctrico, las oscilaciones verticales de la punta del palpador desplazan una
bilámina de cuarzo piezoeléctrico con su extremo rígidamente empotrado,
produciendo variaciones de tensión entre ambas láminas proporcionales a su
desplazamiento. En ambos sistemas, las señales producidas por los transductores
son amplificadas y traducidas por los sistemas electrónicos del rugosímetro, para
proporcionar los distintos parámetros que caracterizan las desviaciones verticales
de la rugosidad. La novedad aparece en estos últimos años, con los palpadores sin
contacto basados en una radiación láser, que ofrecen las ventajas de mayor
sensibilidad y un significativo aumento del campo de medida de las desviaciones
verticales en determinados perfiles, pero su coste es mucho más elevado.
2) Dentro de los procedimientos cualitativos, uno de los sistemas más utilizados es la

exploración de superficies por procedimientos ópticos, que proporcionan una visión
o caracterización global de las irregularidades presentes en la superficie. Algunos
de los instrumentos más utilizados son:
4
 Los microscopios ópticos y electrónicos, a través de los cuales es posible
observar la textura o disposición de irregularidades sobre la superficie.
 Los surfascopios, basados en una fuente de radiación luminosa que se refleja

en la superficie, apreciándose distintos tipos de sombras que permiten
caracterizar los acabados superficiales.
 Los microscopios de rugosidades de doble objetivo, que permiten valorar o

caracterizar la rugosidad de una superficie en clases de rugosidad
normalizadas, por comparación con un patrón de rugosidad mediante sus dos
objetivos.
3) Existen otros procedimientos de carácter cualitativo, como los reflectómetros o

brillómetros, que hacen uso de una fuente de radiación luminosa, midiéndose los
valores de la radiación directa y radiación reflejada por la superficie a estudio. Se
utilizan especialmente en superficies con buenas propiedades de reflexión, como las
superficies metálicas de materiales inoxidables.
4) Los últimos avances en los instrumentos de medida en el campo de la metrología

microgeométrica, permiten la reconstrucción de la superficie real en tres
dimensiones, mediante el palpado puntual continuo en toda la superficie, pudiendo
un mismo instrumento medir las desviaciones de los defectos: dimensionales, de
forma, de ondulación y de rugosidad. A partir de la superficie tridimensional real
obtenida, se puede efectuar cualquier tipo de análisis de la misma, además de
obtener los parámetros de rugosidad, ondulación y cotas dimensionales reales.
Se pueden encontrar ciertas relaciones entre los resultados que se obtienen por
procedimientos cuantitativos y los cualitativos, como por ejemplo, en el caso de los
reflectómetros o brillómetros, pueden presentarse variaciones significativas con el mismo
acabado superficial, al utilizarse distintos materiales, oxidación y suciedad en la superficie,
en general aquellas causas que producen alteración de las propiedades reflectoras de la
superficie.
5
La posible evolución futura de los instrumentos o sistemas de medida microgeométricos es
difícil de predecir. Una de las grandes limitaciones de estos equipos, es la medición en
proceso, debido principalmente a las vibraciones producidas, aunque existen en la
actualidad gran variedad de equipos portátiles de taller, que permite efectuar controles a
pie de proceso. En la actualidad, una de las posibles vías de desarrollo de estos sistemas, es
el perfeccionamiento del palpado continuo de superficies para su reconstrucción
tridimensional real de las mismas, permitiendo mediante sistemas informáticos el análisis
dimensional y microgeométrico, así como la simulación de las condiciones de
funcionamiento a las que van a estar sometidas, pudiendo estudiar su comportamiento
frente al rozamiento, resistencia a la fatiga y al desgaste, lubricación, etc.
12.3. Acabado superficial en procesos de eliminación de material
El acabado superficial que se obtiene al final de una operación de mecanizado por

eliminación de material, depende fundamentalmente de dos aspectos relacionados con el
proceso de fabricación:
 El acabado superficial ideal, que es el resultado de la geometría de la herramienta

utilizada en el mecanizado, y del avance o velocidad de avance de la misma.
 El acabado superficial natural, que depende de las irregularidades presente en el

proceso de mecanizado.
El acabado superficial ideal, corresponde al mejor acabado que se puede obtener de un

proceso de mecanizado, que se puede determinar de forma teórica, mediante una expresión
matemática, que relaciona el avance de la herramienta con la geometría de ésta, obteniendo
el valor del parámetro de rugosidad Ra que caracteriza el estado superficial de la pieza
mecanizada. Pero generalmente, el acabado superficial de las piezas obtenidas en el
proceso, difiere del acabado superficial ideal, debido a fenómenos inherentes al propio
proceso de mecanizado, como por ejemplo:
 La variación de la geometría de la herramienta debida al desgaste del filo que

introduce modificaciones importantes en las condiciones de corte.
6
 La aparición de vibraciones, o cualquier otro tipo de irregularidades en los
movimientos de la máquina-herramienta, que provoca imperfecciones en el acabado
superficial.
 La formación de viruta discontinua que suelen provocar defectos en la superficie

mecanizada.
En la práctica, las condiciones de fabricación no permitan obtener acabados superficiales

ideales, siendo el acabado superficial natural el que contribuye en mayor medida al
acabado final de las superficies. Por este motivo, cuando en un proceso de mecanizado por
eliminación de material se necesita caracterizar la calidad de las superficies obtenidas, es
necesario evaluar dicho acabado mediante control metrológico.
En los acabados superficiales, aparecen tres tipos de defectos que se puede clasificar por
su importancia, según la magnitud de sus desviaciones:
 Las imperfecciones superficiales, que corresponden a irregularidades de gran

magnitud en la superficie, que aparecen de forma aislada, cuyos ejemplos más
comunes son las rayaduras y las grietas.
 Las ondulaciones, de menor magnitud que las fallas superficiales, pero con
desviaciones verticales importantes que aparecen de forma regular en la superficie a
modo de onda senoidal, de longitud de onda mayor que un valor especificado
(generalmente  = 0,8 mm).
 La rugosidad, que corresponde a las irregularidades superficiales más pequeñas,

apareciendo también de forma regular como una onda senoidal de longitud de onda
menor que la ondulación.
Este conjunto de defectos superficiales componen la textura superficial de una pieza

mecanizada, determinándose cada uno de ellos con distintos instrumentos de medida. La
forma más generalizada de caracterizar el acabado superficial es a través del parámetro de
rugosidad aritmética media Ra, si bien en algunos procesos de mecanizado el empleo de
este parámetro es insuficiente para caracterizar el acabado superficial y es necesario
emplear otros parámetros.
7
12.4. Medición del acabado superficial
A medida que se desarrollan las tecnologías mecánicas, se da mayor importancia al estado

superficial de las piezas que integran las máquinas y mecanismos, resultante del proceso
empleado para su fabricación. Este aspecto tiene una gran importancia en propiedades de
las superficies como: la capacidad de lubricación, desgaste, rozamiento y resistencia a la
fatiga que afectan directamente al funcionamiento de los mismos.
La necesidad de medir con mayor precisión el estado superficial de las piezas

manufacturadas, es un requerimiento cada vez más exigente para conocer el estado real de
las superficies mecanizadas, que permite un mejor control de los procesos de fabricación y
ayuda a predecir el comportamiento futuro de las piezas diseñadas.
En la fabricación de piezas, no es posible obtener un acabado superficial perfecto como el

que se diseña en los planos, debido a los defectos que aparecen en las superficies
mecanizadas, causados por deficiencias y desajustes en el proceso de fabricación que
genera los defectos de ondulación, o las huellas del mecanizado que produce los defectos
de rugosidad.
Si se amplía suficientemente cualquier superficie de una pieza, se observa que presenta un

perfil irregular cuyas características geométricas no se pueden definir con un único
parámetro o valor numérico. Pero existen parámetros que dan información suficiente de las
características microgeométricas que presentan las superficies de las piezas
manufacturadas, que permiten caracterizar el estado superficial real de las mismas y acotar
las desviaciones que sufren respecto del acabado superficial perfecto.
En general, las superficies que conforman un elemento o pieza se clasifican en relación a su

función como:
- Superficie funcional. El término se refiere al tipo de superficies que presentan

contacto directo y dinámico con otras, es decir, que van a experimentar movimientos
relativos de rotación o traslación respecto a superficies de otro u otros elementos.
Debido a su trabajo, necesitan de un acabado superficial muy fino para evitar pérdidas
importantes de energía y calentamientos por rozamiento.
- Superficie de apoyo. Son superficies que mantienen un contacto estático, y por tanto
8
sin rozamiento dinámico, con otras, por lo que no necesitarán un acabado demasiado
fino.
- Superficie libre. Se refiere a aquellas superficies que no van a presentar contacto

alguno con otras, por lo que podremos especificar un acabado basto, siempre que éste
sea regular. En este caso priman generalmente condicionantes estéticos a los
meramente funcionales.
12.5. Defectos microgeométricos
En este apartado, se definen algunos conceptos básicos que se van a emplear en el estudio
de los defectos superficiales, siendo fundamentales para el seguimiento y la comprensión
del proceso de medición.
 Superficie real: Superficie que limita el cuerpo y lo separa del medio

circundante
(figura 1).
Superficie real
Figura 1. Representación de una superficie real ampliada
 Superficie geométrica: Superficie ideal cuya forma nominal está especificada por
el dibujo definido en los documentos técnicos (figura 2).
9
Superficie geométrica
Figura 2. Superficie geométrica
 Superficie de referencia: Superficie a partir de la cual se determinan los

parámetros de rugosidad. Esta superficie tiene la misma forma de la superficie
geométrica y su posición coincide con la orientación de la superficie real.
 Corte normal: Sección producida por un plano normal a la superficie de referencia.

En la práctica, esta sección se obtiene por la intersección de la superficie de
referencia, con un plano perpendicular al plano tangente a un elemento de la
superficie de la pieza, sin tener en cuenta la rugosidad (figura 3).
Corte normal
Figura 3. Corte normal en la superficie de referencia
 Irregularidades: Son los defectos o diferencias entre la superficie teórica del plano
y la superficie real de la pieza.
10
 Perfil: Línea de intersección de una superficie con un plano.
 Perfil real: Intersección de la superficie real con un plano normal (figura 4)
Perfil real
Figura 4. Representación ampliada de un perfil real de una superficie.
 Perfil geométrico: Perfil resultante de la intersección de la superficie geométrica

con un plano (figura 5).
Perfil geométrico
Figura 5. Perfil geométrico
 Perfil transversal: Es el perfil resultante de la intersección de una superficie con un

plano normal perpendicular a la dirección de las estrías (figura 6).
11
Perfil transversal
Figura 6. Representación ampliada de un perfil transversal en una superficie.
Perfil teórico
Perfil Real
Figura 7. Representación ampliada del perfil real y el perfil teórico de una superficie.
El perfil macrogeométrico (figura 8), está definido por una onda senoidal con gran
longitud de onda respecto a su amplitud (como referencia orientativa /A > 100).
12
Perfil teórico
Forma teórica
Perfil Macrogeométrico
Figura 8. Representación ampliada del perfil macrogeométrico de una superficie.
Si se elimina el perfil macrogeométrico, aparece el perfil microgeométrico (véase figura

9), que se define por una relación de referencia entre la longitud de onda y la amplitud de
/A < 50, compuesto por el perfil de ondulación y el perfil de rugosidad.
Perfil teórico
Perfil de rugosidad
Perfil de ondulación
Perfil Microgeométrico
Figura 9. Perfil microgeométrico compuesto por el perfil de ondulación y el perfil de rugosidad.
La ondulación corresponde a aquellas ondas que superan una determinada longitud de

onda llamada longitud básica o de corte, la cual puede variar dentro de ciertos límites
(como referencia orientativa  > 1). La rugosidad la forman las ondas cuya longitud es
inferior a la longitud básica o de corte elegida (en este caso  < 1).
13
Cuando se mecaniza una determinada pieza, la superficie resultante o superficie real,
difiere de la superficie definida en el plano de fabricación o superficie teórica. Estas
diferencias geométricas que existen entre ambas superficies, que corresponden a las
distancias verticales entre los puntos del perfil y la línea de referencia, se denominan
desviaciones del perfil, y se clasifican en cuatro grupos:
 Desviaciones dimensionales
 Desviaciones macrogeométricas 
 Desviaciones de forma
 Desviaciones de ondulación
 Desviaciones microgeométricas 
 Desviaciones de rugosidad
14
 Desviaciones dimensionales (figura 10): Se definen como las diferencias verticales
entre la dimensión real del elemento geométrico considerado y la dimensión teórica
especificada en el plano. Estas desviaciones se determinan, generalmente, por el
palpado de unos pocos puntos de la superficie de la pieza.
Perfil teórico
Desviaciones
dimensionales Forma teórica
Desviaciones
de forma
Perfil Macrogeométrico
Figura 10. Desviaciones dimensionales y desviaciones de forma
 Desviaciones de forma (figura 10): Son las diferencias verticales que existen entre
el perfil macrogeométrico y la forma teórica definida en los planos de diseño de la
pieza (en este caso un plano horizontal). Su evaluación se realiza por el palpado de
un número adecuado de puntos o por palpado continuo de la superficie.
 Desviaciones de ondulación (figura 11): Se definen como las diferencias verticales

existentes entre el perfil macrogeométrico y el perfil de ondulación.
Perfil macrogeométrico Desviaciones

de ondulación
Perfil de ondulación
Figura 11. Desviaciones de ondulación entre el perfil macrogeométrico y el perfil de ondulación.
15
 Desviaciones de rugosidad (figura 12): Son las diferencias entre el perfil de
ondulación y el perfil de rugosidad. Ambas desviaciones se determinan con el
palpado continuo de un conjunto de perfiles, adecuadamente elegidos en la superficie
de la pieza a estudio.
Desviaciones
Perfil de ondulación de rugosidad
Perfil de rugosidad
Figura 12. Desviaciones de rugosidad entre el perfil de ondulación y el perfil de rugosidad.
Las desviaciones dimensionales y las desviaciones de forma son objetivo de la metrología

dimensional, mientras que las desviaciones de ondulación y las desviaciones de rugosidad
son objetivo de la metrología microgeométrica.
El resultado de las mediciones de los distintos tipos de desviaciones, proporciona los datos
suficientes para representar una superficie que se denomina superficie efectiva, que varía
dependiendo de la precisión de los instrumentos de medida utilizados, por lo que hay que
considerarla como una aproximación a la superficie real, aunque sustituye a ésta a todos los
efectos.
12.6. Medición de la rugosidad
La rugosidad se puede medir por medio de procedimientos ópticos, neumáticos y

electromecánicos, como se ha comentado en apartados anteriores. El instrumento de medida de
la rugosidad superficial más utilizado a todos los niveles, es el rugosímetro de palpador, cuyas
características se definen en la norma UNE-EN ISO 3274.
16
El procedimiento de medición consiste en el desplazamiento de un palpador sobre la superficie
a estudio, que recorre las irregularidades de un perfil real de la misma, convirtiendo los
desplazamientos verticales de la punta del palpador en señales eléctricas que el rugosímetro
amplifica, filtra y procesa, para proporcionar como resultado una representación de un perfil
efectivo de la superficie y un conjunto de parámetros que caracterizan su rugosidad.
Para captar de forma correcta los defectos de rugosidad de la superficie, el palpador debe
realizar el recorrido perpendicular a las estrías producidas por el mecanizado de la pieza,
como se muestra en la figura 15. De esta forma, se mide un perfil real que presente las
mayores irregularidades geométricas.
Correcto Incorrecto
Figura 15. Recorrido del palpador sobre la superficie.
En la norma UNE-EN ISO 4287 se recogen los términos, definiciones y parámetros que se
utiliza en el estudio de la rugosidad superficial por el método del perfil. Se habla
fundamentalmente de tres tipos de perfiles:
- Perfil primario, P. Es el perfil efectivo de la superficie. Representa la mejor aproximación al

perfil real que se puede medir con el procedimiento empleado.
- Perfil de rugosidad, R. Se obtiene del perfil primario al suprimir las componentes de

gran longitud de onda (baja frecuencia) aplicando el filtro λc o cut-off, con lo que se
suprimen las ondulaciones.
- Perfil de ondulación, W. Se obtiene del perfil primario al suprimir las componentes de

gran longitud de onda aplicando el filtro λf y las componentes de pequeña longitud de
onda (alta frecuencia) mediante el filtro λc (figura 13).
17
El filtro λs es el filtro que define la separación entre las componentes de rugosidad y las
componentes de longitud de onda aún más corta, presentes en la superficie.
El filtro λc es el filtro que define la separación entre las componentes de rugosidad y las de
ondulación.
El filtro λf es el filtro que define la separación entre las componentes de rugosidad y las
componentes de longitud de onda aún más larga, presentes en la superficie (figura 8).
Figura 13. Características de la medición de la rugosidad superficial
Figura 14. Características de transmisión de los perfiles de rugosidad y ondulación.
El avance de diferentes técnicas de medición ha dado lugar a soluciones de mayor

complejidad, precisión y menor incertidumbre. Muestra de ello son los métodos ópticos de
medición de la rugosidad basados en el análisis de una superficie tridimensional.
18
La norma UNE EN ISO 25178 clasifica los métodos para evaluar calidad superficial en tres
tipos: métodos de trazado lineal, métodos de topografías de áreas y métodos de integración
superficial (figura 15).
Figura 15. Clasificación de los métodos de medición de calidad superficial
12.7. Sistema de evaluación de las desviaciones de rugosidad
Para evaluar el acabado superficial, como se ha comentado anteriormente, el método más

comúnmente empleado es el método del perfil, que consiste en la adquisición de un perfil de la
superficie a nivel submicrométrico, el cual se filtra para separar sus componentes de alta y baja
frecuencia, que corresponden al perfil de rugosidad y de ondulación, respectivamente. En la
actualidad, existen diversos tipos de filtro que se recogen en la norma 16610 aunque el más
usado o el éstandar es el filtro de Gauss.
La obtención y análisis de los perfiles antes mencionados (perfil primario, P, perfil de
ondulación, W y perfil de rugosidad, R) no se llevan a cabo en la totalidad de la superficie de
la pieza, sino en determinadas longitudes de perfil tomadas en diversas partes de la
superficie.
19
El sistema de referencia definido por la normativa UNE-EN ISO 4287 utiliza la línea de
mínimos cuadrados como línea de referencia para la medida de las desviaciones del perfil de
rugosidad:
 Línea media: Es la línea de los mínimos cuadrados del perfil, que divide el perfil de
tal forma que la suma de los cuadrados de las desviaciones a partir de esta línea es
mínima (figura 14).
Y
Le
L
Línea de los mínimos

cuadrados del perfil
Figura 14. Línea media de mínimos cuadrados del perfil.
A continuación, se definen los parámetros que condicionan la evaluación de la rugosidad de

los perfiles recogidos en la norma UNE-EN ISO 4287, que se deben seleccionar en el
rugosímetro, siendo fundamentales en el proceso de medida:
 Longitud de muestreo o básica (lp, lr, lw): Longitud en la dirección del eje X,
utilizada para identificar las irregularidades que caracterizan al perfil en evaluación.
NOTA: Las longitudes de muestreo de los perfiles de rugosidad, lr, y de ondulación,
lw, son iguales en valor numérico a las longitudes de onda características de los filtros
de perfil λc y λf respectivamente. La longitud de muestreo del perfil primario, lp, es
igual a la longitud de evaluación.
20
Y Le
X
L1 L2 L3 L4 L5
L1=L2=L3=L4=L5  Longitudes básicas
Figura 18. Longitudes básicas y longitud de evaluación de un perfil.
 Longitud de evaluación (ln): Longitud, en la dirección del eje X, utilizada para

evaluar el perfil. NOTA: La longitud de evaluación puede comprender una o varias
longitudes de muestreo.
Tabla 1. Longitudes básicas de muestreo de rugosidad para la medición de Ra
Parámetros de caracterización de la rugosidad superficial
La rugosidad superficial se puede definir como el conjunto de irregularidades superficiales de

paso relativamente pequeño, correspondiente a las huellas dejadas en la superficie real por el
procedimiento de elaboración y/o por otras influencias.
Para cada uno de los tres tipos de perfil definidos en la norma UNE-EN ISO 4287 (perfil
primario, P, perfil de rugosidad, R, perfil de ondulación, W) existen diversos parámetros que
cuantifican dichas irregularidades expresadas en valores numéricos en micrómetros (µm). La
21
mayoría de los parámetros tratan de medir las alturas de los picos y las profundidades de los
valles, aunque existen también parámetros que determinan el grado de espaciamiento del
perfil.
Algunos de los parámetros definidos se muestran a continuación:

Parámetros de amplitud (pico y valle):
Máxima altura del perfil, Pz, Rz, Wz. Suma de la altura máxima del pico Zp y de la máxima
profundidad del valle, Zc, comprendidas en la longitud de muestreo (figura 19).
Figura 19. Máxima altura del perfil
Parámetros de amplitud (valores medios de ordenadas):

Desviación media aritmética del perfil evaluado, Pa, Ra, Wa. Es la media aritmética de los
valores absolutos de las ordenadas z(x) comprendidas en una longitud de muestreo.
1 l
l 0
Y
Ra  y(x) dx
Ra Línea media
X
Le
22
Figura 20. Definición de parámetro Ra.
Desviación media cuadrática del perfil evaluado, Pq, Rq,Wq, Media cuadrática de los valores
de las ordenadas z(x) comprendidas en una longitud de muestreo.
En ocasiones, la evaluación de la calidad superficial mediante el método del perfil de una

superficie, no es suficientemente completa para su correcta determinación. Existen procesos de
mecanizado como, por ejemplo, los procesos de bruñido que dan lugar a superficies con una
geometría irregular cuya caracterización resulta más precisa mediante el empleo de parámetros
extraídos de superficies topográficas.
En la norma UNE-EN ISO 25178 se recogen los términos, definiciones y parámetros para la
determinación de la calidad superficial a partir de un análisis topológico superficial (figura 21).
Figura 21. Ejemplo de una imagen topográfica obtenida mediante un método de topografía
superficial mediante una serie de perfiles z(x) paralelos
A continuación, se muestran algunos de los parámetros de altura que se definen en dicha

norma y que están relacionados directamente con los parámetros bidimensionales:
23
Máxima altura de pico de la superficie evaluada, Sp. La mayor de las alturas de los picos, Sp,
comprendida en el área de definición (A). El área de definición es la porción de la superficie
de evaluación para la definición de parámetros que caracterizan la superficie una vez filtrada.
Máxima profundidad de valle de la superficie evaluada, Sv. La mayor de profundidades de
los valles comprendida en el área definición.
Máxima altura de la superficie evaluada, Sz. Suma del valor máximo de altura y el valor
máximo de valle dentro del área de definición.
Desviación media aritmética de la superficie evaluada, Sa. Media aritmética del valor
absoluto de las ordenadas dentro del área de definición:
Desviación media cuadrática de la superficie evaluada, Sq: Valor cuadrático medio de los
valores de ordenadas dentro del área definición:
Indicación de los estados superficiales
La indicación de estados superficiales en los dibujos técnicos se recoge en las normas UNE-
EN ISO 1302 y en UNE- EN ISO 25178, donde se presentan los símbolos e indicaciones
complementarias que se utilizan habitualmente para definir y determinar estados
superficiales. Existen varias especificaciones del estado superficial que pueden definirse en
un dibujo: valor de la rugosidad, proceso de fabricación que debe emplearse para su acabado,
longitud básica, dirección de las estrías de mecanizado y sobremedida para mecanizado.
Estas especificaciones se colocan en distintas posiciones del símbolo de indicación de la

calidad superficial como se muestran en la figura 18, donde el símbolo (1) indica que el
calidad superficial exige un mecanizado con arranque de viruta, mientras que el símbolo
(2) tiene como principal significado no permitir el arranque de viruta en el mecanizado.
24
b b
a c(f) a c(f)
e d e d
(1) (2)
Figura 18. Símbolos de indicación de estados superficiales.
a  Valor de la rugosidad Ra en micrómetros, o número de la clase de rugosidad

Proceso de fabricación, tratamiento o recubrimiento.
b  Longitud básica
c  Dirección de las estrías
d  Sobremedida
e  Otros valores de la rugosidad (entre paréntesis)
De estas especificaciones, las que están directamente relacionadas con la medición de la

rugosidad en superficies son: la rugosidad media aritmética (Ra) a y la longitud básica c. La
especificación a se puede indicar de las formas siguientes:
 Con un valor numérico único que indica el valor máximo de la rugosidad aritmética
media Ra (como se muestra en la figura 18).
 Con dos valores numéricos que corresponden al valor máximo y mínimo de la

rugosidad aritmética media Ra (como indica la figura 19).
 Con los números de clase de rugosidad definidos en la tabla 1, que indican intervalos de
rugosidad aritmética media Ra.
25
a1 a1
a2 a2
(1) (2)
Fig. 19. Indicación de la rugosidad máxima y mínima en la superficie.
La indicación de la calidad superficial en los dibujos técnicos, se coloca directamente sobre

las superficies a las que se refiere o en su prolongación. Los símbolos y las indicaciones
deben orientarse de tal forma, que se puedan leer desde la base o desde la derecha del dibujo.
Las formas de indicación de la rugosidad y características especiales de calidad superficial
de una pieza, y la forma de colocarlos en los planos de diseño, se definen en la norma
UNE-EN ISO 1302.
Valor de la rugosidad Ra (µm) Clase de rugosidad
50 N12
25 N11
12,5 N10
6,3 N9
3,2 N8
1,6 N7
0,8 N6
0,4 N5
0,2 N4
0,1 N3
0,05 N2
0,025 N1
Tabla 1. Valor en micrómetros de los números de clase de rugosidad.
Las indicaciones de la calidad superficial de áreas se presentan en la norma UNE-EN ISO

25178. Los símbolos usados son muy parecidos a los definidos en la norma UNE-EN ISO 1302
a los que se les añade un rombo (tabla ).
26
Tabla 2. Símbolos gráficos para la indicación de calidad superficial de áreas
27
BIBLIOGRAFÍA
UNE-EN ISO 12085:1998

Especificación geométrica de producto (GPS). Calidad superficial: Método del perfil. Parámetros
ligados a los detalles.
UNE-EN ISO 1302:2002
Especificación geométrica de productos (GPS). Indicación de la calidad superficial en la
documentación técnica de productos.
UNE-EN ISO 13565-1:1998
Especificación geométrica de productos (GPS). Calidad superficial: Método del perfil; superficies
con propiedades funcionales distintas, según el nivel de profundidad. Parte 1: Filtrado y
condiciones generales de medida.
UNE-EN ISO 13565-2:1998
Especificación geométrica de productos (GPS). Calidad superficial: Método del perfil; superficies
con propiedades funcionales distintas, según el nivel de profundidad. Parte 2: Caracterización de
alturas mediante la curva de porcentaje de material (Curva de Abbott).
UNE-EN ISO 13565-3:2001
Especificación geométrica de productos (GPS). Calidad superficial: Método del perfil. Superficies
con propiedades funcionales distintas según el nivel de profundidad. Parte 3: Caracterización de
alturas mediante la curva de probabilidad de material.
UNE-EN ISO 16610-1:2015
Especificación geométrica de productos (GPS). Filtración. Parte 1: Perspectiva general y conceptos

de básico
UNE-EN ISO 25178-1:2016
Especificación geométrica de productos (GPS). Calidad superficial. Áreas. Parte 1: Indicación de

la textura superficial.
UNE-EN ISO 25178-2:2013
Especificación geométrica de productos (GPS). Calidad superficial. Áreas. Parte 2: Términos

definiciones y parámetros de calidad superficial.
UNE-EN ISO 25178-6:2010
Especificación geométrica de productos (GPS). Calidad superficial. Áreas. Parte 6: Clasificación

de métodos para medir la calidad superficial.
Especificación geométrica de productos (GPS). Calidad superficial: Método del perfil.
Características nominales de los instrumentos de contacto (palpador).
Especificación geométrica de productos (GPS). Calidad superficial: Método del perfil. Términos,
definiciones y parámetros del estado superficial.
Especificación geométrica de producto (GPS). Calidad superficial: Método del perfil. Reglas y
28
procedimientos para la evaluación del estado superficial.
UNE-EN ISO 5436-1:2001
Especificación geométrica de productos (GPS). Calidad superficial: Método del perfil; patrones.
Parte 1: Medidas materializadas.
UNE-EN ISO 5436-2:2012
Especificación geométrica de productos (GPS). Calidad superficial: Método del perfil; patrones de
medición. Parte 2: Software patrón para la medición.
29
Tema 10. El laboratorio de metrología

10.1. Introducción
En el presente tema se van a considerar las principales actividades metrológias de un laboratorio de

metrología o centro de medición. Ello constituye un conjunto de acciones encaminadas a garantizar la
trazabilidad de los instrumentos y patrones del laboratorio, así como a coordinar las distintas
operaciones de calibración de tales instrumentos y patrones para favorecer su disponibilidad
petrológica.
Los apuntes que a continuación se facilitan han sido elaborados por el Profesor Javier Carro de la
Universidad Politécnica de Madrid para el Curso de Experto en Calidad Industrial del Programa de
Formación Continua de la UNED y posteriormente editados –en versión corregida y aumentada- por la
Sección de Publicaciones de la E.T.S. de Ingenieros Industriales de la UPM, bajo el título de
“Trazabilidad”.
Las referencias concretas a un laboratorio corresponden al Laboratorio de Metrología y Metrotecnia de

la E.T.S. de Ingenieros Industriales de la Universidad Politécnica de Madrid (c/ José Gutiérrez Abascal,
2; 20006-Madrid).
2.1 Introducción
En metrología se define la trazabilidad de una medida como la propiedad consistente

en poder referir dicha medida a patrones apropiados, generalmente internacionales o
nacionales, a través de una cadena ininterrumpida de comparaciones. La forma en que
se efectúa la unión con los patrones, se denomina enlace con los patrones ( 1 J.
La correcta trazabilidad de un laboratorio de metrología es el respaldo de los re
sultados que proporciona y de las incertidumbres que asigna a los mismos, así como la
base fundamental de su posible acreditación como miembro del Servicio Oficial de Ca
libración de la nación a la que pertenezca. La adecuada organización y mantenimiento
de los laboratorios o salas de metrología de las industrias de fabricación es esencial para
el desarrollo de sus sistemas de calidad.
Una trazabilidad completa se consigue mediante el mantenimiento de un "plan de
calibración" permanente, así como la participación periódica en "intercomparaciones"
de medidas.
2.2 Plan de calibración
En metrología se denomina plan de calibración a la organización del conjunto de los

patrones, instrumentos de medida y elementos accesorios existentes en un laboratorio
o,en general,· en un centro de medición, para efectuar la calibración de los mismos
metódicamente, de forma que se pueda asegurar en todo momento la incertidumbre de
las medidas que con todos ellos se realicen.
A los efectos del plan de calibración, se denominan patrones tanto a los patrones
propiamente dichos ( materialización del valor de una magnitud física), como a los instru
mentos que intervienen en la calibración de otro elemento y se denominan instrumentos
a los de tipo terminal que, una vez calibrados. ya sólo se usan para medir.
Cualquier forma de organización y desarrollo de un plan de calibración, que cumpla
el objetivo final de asegurar la incertidumbre asignada a cada elemento y procedimiento
de medida, es válida, pero en la práctica se va imponiendo un esquema tradicional,
basado en los cuatro componentes siguientes:
* Diagrama de niveles
* Fichero de instrucciones
* Archivo de resultados
* Etiquetas de calibración
Estos componentes básicos se complementan, en cada caso particular, con otros

documentos auxiliares, generalmente de tipo informático, adecuados y preparados es
pecíficamente por cada centro o laboratorio de medición.
ANEXO 1.- DIAGRAMA DE NIVELES
ANEXO 2.- DIAGRAMA DE TRAZABILIDAD INTERNA DEL
GRUPO D-014
BIBLIOGRAFÍA




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Grado en Ingeniería en

Tema 1: Introducción a la Metrología

La medición de las magnitudes físicas requiere, en primera aproximación, el concurso de diversos

- Magnitud a medir o mensurando

En la actualidad, la designación genérica de Metrología constituye un amplio paraguas bajo el que

- La medición con exactitud, relacionada directamente con la calidad y, más

- Valor del mensurando obtenido tras el proceso de medida.

1.2. El campo de actuación de la Metrología Dimensional

En estas líneas se va a considerar, casi exclusivamente, la “Metrología Dimensional” o “Metrología

La denominación de “espacio” ha sido empleada en épocas pretéritas y en la actualidad es la

En la normativa UNE se consideran, preferente pero no exclusivamente, las siguientes

La Metrología Dimensional es de especial importancia en el ámbito de las fabricaciones mecánicas

Quizá la característica más importante de la "medición científica" o Metrología lo constituya la

"Cualidad de la medida que permite referir la precisión de la misma a un patrón aceptado o

La existencia de trazabilidad en las medidas clasifica a éstas en tres grupos:

- Medidas trazables y por tanto metrológicas.

Algunas otras definiciones de términos empleados en Metrología son:

Exactitud (accuracy): Grado de concordancia existente entre el resultado de la medida o

Veracidad (trueness): Grado de concordancia existente entre el valor medio obtenido de

Precisión (precision): Cualidad de un método de medida o instrumento que expresa el

Incertidumbre (uncertainty): Expresión cuantitativa del grado de precisión de las

Repetibilidad: Es el grado de concordancia existente entre los sucesivos resultados

Reproducibilidad: Es el grado de concordancia existente entre resultados individuales

Diseminación: Se entiende por "diseminación de unidades de medida" al proceso que,

1.4 Aproximación histórica a las unidades de medida anteriores al “metro”

1 pie = 4 palmus (palmas) = 12 uncias (onzas) = 16 digitus (dedos)

Por su parte, como múltiplos del paso se tenían:

1 stadium (estadio) = 125 pasos (~185 m)

- Favorecer el desarrollo del comercio y el intercambio de mercancías

Por lo general, en el continente europeo siguieron empleándose unidades de longitud basadas en el

En la Francia altomedieval, Carlomagno (724-814) intentó implantar un sistema único de unidades,

Sistema toledano de medidas (siglos Sistema británico actual

Unidades de longitud en la Edad Moderna.- En Inglaterra, Enrique VII (1457-1509) procedió en

Un coetáneo de Wren y de Huygens, el teólogo francés y párroco de la iglesia de San Pablo de

1.5. Breve historia del “metro” y del Sistema Internacional de Unidades SI

En 1798 el Instituto de Francia, organismo continuador de la labor de la Academia de Ciencias,

El 29 de noviembre de 1800, la Comisión del Instituto de Francia, bajo la presidencia de Laplace,

El metro como unidad internacional.- La Conferencia Internacional de Pesas y Medidas (CIPM)

- Establecer los patrones fundamentales y las escalas de las principales magnitudes

"El metro es la longitud igual a 1 650 763,73 longitudes de onda en el vacío, de la

Esta es la definición del metro que se encuentra vigente en la actualidad.

En 1985 se promulga la Ley 3/1985 de Metrología, de 18 de marzo, que establece el Sistema

1.6. El Sistema Internacional de Unidades SI

A continuación se exponen los principales elementos que componen el Sistema Internacional de

Unidades básicas del SI.

Tabla 1.1.Unidades básicas del SI

El principio general para la escritura de los símbolos de las unidades es el siguiente:

segundo: El segundo es la duración de 9 192 631 770 períodos de la radiación correspondiente a

metro: El metro, símbolo m, es la unidad SI de longitud. Se define al fijar el valor numérico de

kilogramo: El kilogramo, símbolo kg, es la unidad SI de masa. Se define al fijar el valor

segundo: El segundo, símbolo s, es la unidad SI de tiempo. Se define al fijar el valor numérico

amperio: El amperio, símbolo A, es la unidad SI de corriente eléctrica. Se define al fijar el valor

kelvin: El kelvin, símbolo K, es la unidad SI de temperatura termodinámica. Se define al fijar el

mol: El mol, símbolo mol, es la unidad SI de cantidad de sustancia. Un mol contiene

Unidades del SI derivadas

Tabla 1.2. Unidades del SI derivadas

AENOR, Asociación Española de Normalización y Certificación, http://www.aenor.es

Beltrán, J.: La gestión de los procesos metrológicos. Análisis e integración de un sistema de

Carro, J.: Curso de Metrología Dimensional. Sección de Publicaciones de la ETSII de la

Carro, J.: Trazabilidad. Sección de Publicaciones de la ETSII de la Universidad Politécnica de