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Tema 2: Características Metrológicas

y
(xn,yn)

}di

(x1,y1)

(x2,y2)

Instrumentación Electrónica
Departamento de Ingeniería Electrónica
Escuela Superior de Ingenieros
Universidad de Sevilla
Alfredo Pérez Vega-Leal
Introducción
Postulados de la teoría clásica de medida:
1. Las magnitudes medidas corresponden a observables preexistentes.
• La realidad del objeto medido es independiente de la interacción con el instrumento.
2. La interacción entre el objeto medido y el instrumento puede despreciarse.
• La interacción puede reducirse tanto que afecte al valor obtenido por debajo de la cota de error
esperada.
3. La existencia de un valor medio, de valor fijo, en ausencia de variaciones
sistemáticas (error sistemático) y/o sesgo estadístico (debido a una cantidad insuficiente de
muestras: pequeñas muestras).
4. El error aleatorio tiene una distribución gausiana.
• La variabilidad que da lugar al error aleatorio no afecta al valor medio.
• En el límite de población ideal, el histograma se convierte en una distribución.
• La distribución más simple: determinada por el valor de media y varianza es la
distribución gausiana.

Definición:

El error aleatorio se refiere a la variabilidad de la medida respecto de su valor


medio, una vez eliminado el error sistemático.

Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-2
Introducción
Valor Real Valor Medido

OBSERVABLE SEÑAL DATO MEDIDA PROCESO

MEDIO INSTRUMENTO OBSERVADOR

Resultado de la Medida: Formato: Representante ± Cota de error

Definición:

Las características metrológicas están relacionadas con la forma y calidad con que
se obtiene la medida.

• Determinación mediante ensayo de calibración.


Definición:

Las características no metrológicas están relacionadas con el correcto


funcionamiento del sistema.
• Se obtienen mediante otros ensayos regidos por normativas internacionales.

Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-3
Introducción
Definición: Modelo Generalizado
Todas estas características pueden ser Submodelo Submodelo
resumidas como: Estático Dinámico
Modelo generalizado del sistema de
medida. Características Características
- Sistemáticas - Sistemáticas
Modelo generalizado - Aleatorias - Aleatorias
• Parte sistemática y parte aleatoria.
• La parte sistemática.
• Cuantificada por medios matemáticos o gráficos.  ERROR SISTEMÁTICO
• La parte aleatoria: NO puede ser exactamente determinada.
• Cuantificada mediante métodos estadísticos.  ERROR ALEATORIO
• Objetivos:
 Conocer las características metrológicas del instrumento.
 Poder crear el modelo (matemático o gráfico) del instrumento.
 Poder identificar la relación entre la ‘medida’ y el valor real.
Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-4
Índice

1. Expresión de la medida
2. Sub-modelo estático
3. Sub-modelo dinámico
4. Modelo del sistema de medida

Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-5
1- Expresión de la medida
• El resultado de una medida viene afectado por causas no controladas en cualquier
experimento, lo que provoca una falta de repetibilidad total de la medida:
 Dos mediciones consecutivas del mismo objeto, en idénticas condiciones
experimentales, arrojan valores diferentes partiendo de un mismo nivel de
precisión.
• Los resultados de la medida del objeto se

(Frecuencias Estadísticas)
disponen en un histograma, denominado
histograma de medida.

Rep eticion es
(o distribución empírica)

• Eje de abcisas: valores numéricos


producidos por el instrumento de medición.
• Eje de ordenadas: cantidad de veces que
cada valor numérico se ha repetido. Valor Valor
Medidas
Mínimo Máximo

• La medida se expresará como :


Representante y Cota de error
Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-6
1- Expresión de la medida
(A) Representante.
Definición:

El representante de la magnitud puede definirse de dos formas:


a) El valor medio de la población de medidas realizadas (Criterio de media).
b) El valor de moda de la población de medidas realizadas (Criterio de mayoría).

Definición: • El representante de la medición o


valor de la magnitud tiene una exactitud
El representante es un número que
establecida por la cota de error.
centraliza el histograma de medidas.
Ejemplo 1: RTC
RT  R0 ·1   ·T 
Nota: en caso de tratarse de indicadores de una Mensurando: Ta [oC]
magnitud física, la salida: Salida medida: Resistencia [Ω]
• Se expresa con las mismas unidades de la entrada. M.F. de Salida: Resistencia [Ω]
• Pasa a denominarse “<magnitud> medida”. Ejemplo 2: Voltímetro
• Su magnitud física no tiene por qué coincidir con la Mensurando: Tensión [V]
Salida indicada: Tensión medida [V]
expresada. M.F. de Salida: Radiativa/Num.

Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-7
1- Expresión de la medida
(B) Cota de error.
MEDIDA

Representante Error

La cota de error indica el máximo error


que se comete al estimar una magnitud. Sistemático Aleatorio

Definiciónes:
f(M.F.) Δ Δ K·σ
La cota absoluta define el margen de
variación en que ningún representante va a K  1  68%
sobrepasar en ningún caso. K  2  95%
La cota estadística define la variabilidad K  3  99%
estadística (Kσ) del representante.

K: factor de cobertura. Expresa la


confianza estadística en el intervalo.
σ : desviación típica de la distribución
empírica (histograma).

La cota de error cumple dos funciones:


1. Establece el número de cifras significativas con las que se expresa el representante.
2. Realiza una predicción de confianza. Establece los márgenes de variación alrededor del
representante de los resultados de las medidas futuras.

Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-8
1- Expresión de la medida
(C) Enfoques y usos
Enfoque operativo:
K  1  68%
A) Representante: Criterio de moda.
B) Cota de error: Nivel de confianza absoluto. K  2  95%
K  3  99%
 El enfoque operativo es apropiado para:
• Poblaciones limitadas.
• Las cotas de error establecen
márgenes de seguridad.
• No es útil para medidas de precisión.

Enfoque estadístico:
A) Representante: Media aritmética.
B) Cota de error: Producto K·σ.

• Exige una cantidad de medidas infinitas (en sentido estricto) para el cálculo de la media y
de la desviación típica.

• Ante un número no infinito de medidas se emplean la media aritmética y la desviación


típica muestral como procedimiento de estimación de los estadísticos muestrales.

Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-9
1- Expresión de la medida
D) Modelo del sistema de medida
 Objetivo del modelo:
<< Cuantificar la medida por medios matemáticos o gráficos.>>
 Para conocer los errores hay que establecer un modelo de respuesta del
instrumento  ensayo de calibración.
 Ante un estímulo Xe, se obtiene una respuesta Yr.
 Factores externos Xi tienen respuesta desconocida.
 La calibración da la relación completa mediante:
A) función Y=f(Xe, Xi). y
B) tabla de correspondencia X/Yr. (xn,yn)

}di

(x1,y1)

(x2,y2)
La incertidumbre de la medida cuenta también
con las incertidumbres de las entradas. x
Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-10
Índice

1. Expresión de la medida
2. Sub-modelo estático
3. Sub-modelo dinámico
4. Modelo del sistema de medida

Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-11
2- Sub-modelo estático
1) Características aleatorias

1. Error aleatorio
 Cota absoluta.

 Cota estadística.

K·σ

Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-12
2- Sub-modelo estático
2) Características sistemáticas

1. RANGO
Pareja de valores de la magnitud física medida o generada:
A) Rango de entrada: valores mínimo (xmin) y máximo (xmax) a la entrada.
B) Rango de salida: los valores mínimo (ymin) y máximo (ymax) a la salida.
C) “Intervalo de medida” o “Fondo de escala” o “Rango” (span) ó “Rango dinámico”
o A la entrada: Xf=|Xmax-Xmin| Salida

o A la salida: Yf=|Ymax-Ymin| Ymax

Xmin Xmax

Ymin

Asociado a estos valores se habla de UMBRAL como:


Máxima variación de la señal de entrada que no provoca variación
detectable de la respuesta de un instrumento de medida, siendo la
variación de la señal de entrada lenta y monótona.
Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-13
2- Sub-modelo estático
…2) Características sistemáticas
2. RESOLUCIÓN
Cambio más pequeño en el valor medido (visualizador) que
puede percibirse de forma significativa.
Para un dispositivo visualizador digital: diferencia de la indicación que
corresponde al cambio de una unidad en la cifra menos significativa
3. ERROR
Desviación respecto del valor real (entrada) de la magnitud medida
Res
Salid a  D  X máx   D  X mín  Salida
out
Errormáx
2 Resolución 
out
Errormáx  Res
2B  1
D[x4] D[x4]
Res Res
D[x3] D[x3]
D[x2] D[x2]
Entrada Entrada
q q
D[x1] D[x1]
x1 x2 x3 x4 x1 x2 x3 x4 Xmáx
Xmí n CAD de red ondeo Xmáx Xmí n
CAD de truncamiento

Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-14
2- Sub-modelo estático
…2) Características sistemáticas
4. SENSIBILIDAD (También sensibilidad estática)
Cociente del incremento de la respuesta de un instrumento de medida por el
incremento correspondiente de la magnitud de entrada.
NOTA: puede depender del valor de la señal de entrada.

Zona muerta: Máximo intervalo en cuyo interior puede hacerse variar la señal de entrada en los
dos sentidos sin provocar una variación de la respuesta de un instrumento de medida.

Ejemplo PT1000:
Y Medida (HEL700 de Honeywell)
S Ymax
X Rango de entrada/salida:
ΔY R.E.  200º C ; 600º C 
ΔX
Mensurando
R.S .  250;3250 
Sensibilidad:
Xmin Xmax 
S RTD  3, 75
ºC
Ymin Error (Pt, clase B):
0,30C 0,12 

Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-15
2- Sub-modelo estático
…2) Características sistemáticas
5. LINEALIDAD
Capacidad de un instrumento de medición para proporcionar una indicación
(o medida) que tenga una relación lineal con una magnitud determinada
(distinta de una magnitud de influencia o interferente).
NOTA: El método de expresión de la falta de linealidad es diferente para los distintos tipos de
instrumentos y se establece en cada caso particular.

• Es lineal cuando la relación corresponde a una línea recta en su rango dinámico:


 Es posible ajustar una recta de regresión del tipo: y=a+bx
 Se evitan puntos extremos.

• La recta de regresión minimiza el error cuadrático medio.


máximo
errorabs
No linealidad (%)  100·
Fondo de escala

Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-16
2- Sub-modelo estático
…2) Características sistemáticas
… 5. LINEALIDAD

Ejemplo Termopar K:
Rango de entrada: 0-500oC
Recta de regresión: Vout  40·106 ·T ª
17
máximo
errorabs
No linealidad(%): NL (%)  100·  100·  3, 4%
Fondo de escala 500

Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-17
2- Sub-modelo estático
…2) Características sistemáticas
…5. LINEALIDAD
Aplicado a CAD y CDA:
1) NL Diferencial: para cada bit,
diferencia entre el paso de cuantización
medido y el teórico. Provoca ruido
2) NL Integral: para cada bit, diferencia
entre el valor medido y el teórico.
Provoca distorsión
En ambos casos se expresa en ‘bits’
• Valor máximo producido
• 1bit=1paso de cuantización

Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-18
2- Sub-modelo estático

ESP32

Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-19
2- Sub-modelo estático
…2) Características sistemáticas
6. SATURACIÓN
Es la pérdida paulatina de sensibilidad en las cercanías de los extremos
del rango de medida.

7. HISTÉRESIS
Es la tendencia de un dispositivo a conservar una de sus
propiedades, en ausencia del estímulo que la ha generado.
• Diferencia entre las dos curvas obtenidas en el ensayo de
calibración: H(x)=y(x)1-y(x)2

• El error de histéresis es el máximo valor de la histéresis


referido al fondo de escala de salida en tanto por ciento.
H
eH  ·100
• Causas típicas: Yf
• Efecto de campo H sobre materiales ferromagnéticos.
• Capacidades parásitasretardos.
Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-20
2- Sub-modelo estático
…2) Características sistemáticas
8. DERIVAS
Variación lenta de una característica
metrológica de un instrumento de medida
Derivas más importantes:
Xo
 Coeficiente de Temperatura TC 
T ª
 Deriva Temporal Xo
Dt 
horas

Vo  mV  Zener
TC 
T ª  ºC 
Multicomp - 1N746A

Vo  mV 
Dt 
horas  kh 

Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-21
Índice

1. Expresión de la medida
2. Sub-modelo estático
3. Sub-modelo dinámico
4. Modelo del sistema de medida

Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-22
3- Sub-modelo dinámico
Características sistemáticas Ejemplo:
1. VELOCIDAD Representante: media de ‘n=100’ muestras
La velocidad se especifica como: Tasa de muestreo interna: Tm=1ksps
“Número de lecturas por segundo”.  Velocidad máxima del instrumento:
1  medidas   muestras   medidas 
Velmax  ·Tm  10
2. TIEMPO DE SUBIDA n  muestras   s   s 

Tiempo de respuesta a un escalón.


- Limita la velocidad:
 Tiempo de subida 10% al 90%.
 Tiempo de subida al 63% (1/e).

tr  t63%  t 1
 RC
1 
 e

tr  t90%  t10% 
 2,3·R·C  0,1·R·C  2, 2·R·C

Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-23
3- Sub-modelo dinámico
Características sistemáticas
3. ANCHO DE BANDA 4. Error dinámico
 El ancho de banda describe la “Habilidad del  Error instantáneo:
instrumento de responder a señales que varían error  t   y  t   x  t 
en el tiempo en un rango determinado de
frecuencias”.

Sistemas de 1er orden: Sistemas de 2o orden:


5. Error aleatorio
dy d2y
a1  a0 y  x dy
a2 2  a1  a0 y  x
dt dt dt
Y s k Y s kn2
  2
X  s   ·s  1 X  s  s  2n s  n2

- Respuesta de 1 polo. - ¿Amortiguación?


- fr. de resonancia wn

Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-24
Índice

1. Expresión de la medida
2. Sub-modelo estático
3. Sub-modelo dinámico
4. Modelo del sistema de medida

Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-25
4- Modelo del sistema de medida
1) Submodelo estático
Permite determinar el valor de la medida junto con su incertidumbre.
(el tiempo no influye en el proceso de medida)
• Errores (variables ei) influyen sobre la recta de calibración.
• Influencia lineal  Y=a(ei)·x+b(ei)

a) El desplazamiento de cero
• paralelo a la recta de calibración.
 b 
b    ei · 

i  ei x

b) El desplazamiento de sensibilidad
• giro de la recta respecto del punto de
corte con el eje de abscisa.
 a 
a    ei · 

i  ei x Y   a  a   x  b  b

Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-26
4- Modelo del sistema de medida
1) Submodelo estático
• La incertidumbre (errores aleatorios ei) influyen sobre la recta/curva de calibración.
• El ‘Error Sistemático’ medido forma parte de la recta de calibración, no de la
incertidumbre.

Errores aleatorios
X f(X,ei) Y
a) Errores descritos mediante la cota absoluta
 Y  ei
Y  f  X , ei   Y    ei · 

i  ei X 
b) Errores descritos mediante la cota estadística ei Y
  ei  Y
 ei  Y
2
Y

Y  f X ,  ei    Y     e2i ·
2

i  ei


 X 

Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-27
4- Modelo del sistema de medida
a) DC: tanto por uno del desplazamiento de cero.
 
b    ei ·
b 1 b

i  ei

x
DCi   b  b   DCi  ei
b ei i

b) DS: tanto por uno del desplazamiento de sensibilidad.


  1 a
a    ei ·

a
 DSi   a  a   DSi  ei
i  ei x a ei i

 Si se combinan los incrementos en los parámetros


de la recta característica:
 n   m 
y  a·x  b  a·  DSi ·ei ·x  b·  DCi ·ei 
 i 0   i 0 

 Añadiendo las N.L.:


 n   m 
y  a·x  b  NL( x)  a·  DSi ·ei ·x  b·  DCi ·ei 
 i 0   i 0 

Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-28
4- Modelo del sistema de medida
Ejemplo 1: R  1 a 1 R2 1
R2 vout  vin 2  0  DS R1  a R   R 
R12 R1
R1  5k   1% R1  1 2

vin
R1 b  R1
R2  50k   1% 
A vout a  DS  1 a  1 1 1

 R2 a R2  R2 R1 R2

 R1

 n   m  R  R 1  R2 1 
vout  a·vin  b  a·  DSi ·ei ·vin  b·  DCi ·ei    2 vin   2 R1  R2  vin  10·vin  0, 2·vin
 i 0   i 0  R1  R R R1 R2 
 1 1  a a
a a

Ejemplo 2:
 Dmax  Dmin  210  1
R. E.: [0V; 5V] D LSB  Dmin  Entero Vin·   Vin ·  0  ErrCuantiz
Resolución: 10 bits  V max  Vmin  5 b
a
Salid a
 1 a
 ErrCuantiz
DS  0 vin Dout
D[x4]  a Err Cuantiz CAD
Res
b  0  DC  0
D[x3]
 Error
D[x2]
Entrada
Cuantiz
q
D[x1] El error de cuantización es ‘aleatorio’. Puede describirse mediante:
x1 x2 x3 x4
Xmí n CAD de red ondeo Xmáx a) Cota absoluta.
b) Cota estadística.

Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-29
4- Modelo del sistema de medida
2) Submodelo dinámico

Instrumentos de primer orden


• Parámetro: Constante de Tiempo .
• La ecuación diferencial que describe al instrumento:  y  y  x t 
• En el dominio de Laplace:
1
G(s) 
1  s

Instrumentos de segundo orden 1 2


• Se caracteriza por dos parámetros:  
y  y  y  x t 
• Frecuencia natural :n  n2 n
• Amortiguamiento: 
• En el dominio de Laplace: 1
G(s) 
1 2 2
s  s 1
n2
n

Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-30
Índice

1. Expresión de la medida
2. Sub-modelo estático
3. Sub-modelo dinámico
4. Modelo del sistema de medida

Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-31
Conclusiones
¿Cómo se expresa la medida?

¿Cuáles son las características


metrológicas del instrumento?

¿Cómo afectan a la medida los elementos


que componen el instrumento?

Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-32
Bibliografía
Básica

[1] http://www.cem.es/cem/metrología.

[2] Pérez García, Álvarez Antón. “Instrumentación Electrónica”. Thomson, 2004.

[3] W. D. Cooper y A. D. Helfrick, “Instrumentación electrónica moderna y técnicas


de medición”, Prentice Hall Hispanoamericana 1991.

Ejercicios y Problemas

[1] A. Pérez, “Boletín de ejercicios resueltos del tema”.

[2] A. Pérez, “Ejercicios de diseño y análisis de Instrumentación Electrónica”.

Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-33

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