IE 02 Carmetro
IE 02 Carmetro
IE 02 Carmetro
y
(xn,yn)
}di
(x1,y1)
(x2,y2)
Instrumentación Electrónica
Departamento de Ingeniería Electrónica
Escuela Superior de Ingenieros
Universidad de Sevilla
Alfredo Pérez Vega-Leal
Introducción
Postulados de la teoría clásica de medida:
1. Las magnitudes medidas corresponden a observables preexistentes.
• La realidad del objeto medido es independiente de la interacción con el instrumento.
2. La interacción entre el objeto medido y el instrumento puede despreciarse.
• La interacción puede reducirse tanto que afecte al valor obtenido por debajo de la cota de error
esperada.
3. La existencia de un valor medio, de valor fijo, en ausencia de variaciones
sistemáticas (error sistemático) y/o sesgo estadístico (debido a una cantidad insuficiente de
muestras: pequeñas muestras).
4. El error aleatorio tiene una distribución gausiana.
• La variabilidad que da lugar al error aleatorio no afecta al valor medio.
• En el límite de población ideal, el histograma se convierte en una distribución.
• La distribución más simple: determinada por el valor de media y varianza es la
distribución gausiana.
Definición:
Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-2
Introducción
Valor Real Valor Medido
Definición:
Las características metrológicas están relacionadas con la forma y calidad con que
se obtiene la medida.
Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-3
Introducción
Definición: Modelo Generalizado
Todas estas características pueden ser Submodelo Submodelo
resumidas como: Estático Dinámico
Modelo generalizado del sistema de
medida. Características Características
- Sistemáticas - Sistemáticas
Modelo generalizado - Aleatorias - Aleatorias
• Parte sistemática y parte aleatoria.
• La parte sistemática.
• Cuantificada por medios matemáticos o gráficos. ERROR SISTEMÁTICO
• La parte aleatoria: NO puede ser exactamente determinada.
• Cuantificada mediante métodos estadísticos. ERROR ALEATORIO
• Objetivos:
Conocer las características metrológicas del instrumento.
Poder crear el modelo (matemático o gráfico) del instrumento.
Poder identificar la relación entre la ‘medida’ y el valor real.
Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-4
Índice
1. Expresión de la medida
2. Sub-modelo estático
3. Sub-modelo dinámico
4. Modelo del sistema de medida
Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-5
1- Expresión de la medida
• El resultado de una medida viene afectado por causas no controladas en cualquier
experimento, lo que provoca una falta de repetibilidad total de la medida:
Dos mediciones consecutivas del mismo objeto, en idénticas condiciones
experimentales, arrojan valores diferentes partiendo de un mismo nivel de
precisión.
• Los resultados de la medida del objeto se
(Frecuencias Estadísticas)
disponen en un histograma, denominado
histograma de medida.
Rep eticion es
(o distribución empírica)
Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-7
1- Expresión de la medida
(B) Cota de error.
MEDIDA
Representante Error
Definiciónes:
f(M.F.) Δ Δ K·σ
La cota absoluta define el margen de
variación en que ningún representante va a K 1 68%
sobrepasar en ningún caso. K 2 95%
La cota estadística define la variabilidad K 3 99%
estadística (Kσ) del representante.
Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-8
1- Expresión de la medida
(C) Enfoques y usos
Enfoque operativo:
K 1 68%
A) Representante: Criterio de moda.
B) Cota de error: Nivel de confianza absoluto. K 2 95%
K 3 99%
El enfoque operativo es apropiado para:
• Poblaciones limitadas.
• Las cotas de error establecen
márgenes de seguridad.
• No es útil para medidas de precisión.
Enfoque estadístico:
A) Representante: Media aritmética.
B) Cota de error: Producto K·σ.
• Exige una cantidad de medidas infinitas (en sentido estricto) para el cálculo de la media y
de la desviación típica.
Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-9
1- Expresión de la medida
D) Modelo del sistema de medida
Objetivo del modelo:
<< Cuantificar la medida por medios matemáticos o gráficos.>>
Para conocer los errores hay que establecer un modelo de respuesta del
instrumento ensayo de calibración.
Ante un estímulo Xe, se obtiene una respuesta Yr.
Factores externos Xi tienen respuesta desconocida.
La calibración da la relación completa mediante:
A) función Y=f(Xe, Xi). y
B) tabla de correspondencia X/Yr. (xn,yn)
}di
(x1,y1)
(x2,y2)
La incertidumbre de la medida cuenta también
con las incertidumbres de las entradas. x
Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-10
Índice
1. Expresión de la medida
2. Sub-modelo estático
3. Sub-modelo dinámico
4. Modelo del sistema de medida
Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-11
2- Sub-modelo estático
1) Características aleatorias
1. Error aleatorio
Cota absoluta.
Cota estadística.
K·σ
Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-12
2- Sub-modelo estático
2) Características sistemáticas
1. RANGO
Pareja de valores de la magnitud física medida o generada:
A) Rango de entrada: valores mínimo (xmin) y máximo (xmax) a la entrada.
B) Rango de salida: los valores mínimo (ymin) y máximo (ymax) a la salida.
C) “Intervalo de medida” o “Fondo de escala” o “Rango” (span) ó “Rango dinámico”
o A la entrada: Xf=|Xmax-Xmin| Salida
Xmin Xmax
Ymin
Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-14
2- Sub-modelo estático
…2) Características sistemáticas
4. SENSIBILIDAD (También sensibilidad estática)
Cociente del incremento de la respuesta de un instrumento de medida por el
incremento correspondiente de la magnitud de entrada.
NOTA: puede depender del valor de la señal de entrada.
Zona muerta: Máximo intervalo en cuyo interior puede hacerse variar la señal de entrada en los
dos sentidos sin provocar una variación de la respuesta de un instrumento de medida.
Ejemplo PT1000:
Y Medida (HEL700 de Honeywell)
S Ymax
X Rango de entrada/salida:
ΔY R.E. 200º C ; 600º C
ΔX
Mensurando
R.S . 250;3250
Sensibilidad:
Xmin Xmax
S RTD 3, 75
ºC
Ymin Error (Pt, clase B):
0,30C 0,12
Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-15
2- Sub-modelo estático
…2) Características sistemáticas
5. LINEALIDAD
Capacidad de un instrumento de medición para proporcionar una indicación
(o medida) que tenga una relación lineal con una magnitud determinada
(distinta de una magnitud de influencia o interferente).
NOTA: El método de expresión de la falta de linealidad es diferente para los distintos tipos de
instrumentos y se establece en cada caso particular.
Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-16
2- Sub-modelo estático
…2) Características sistemáticas
… 5. LINEALIDAD
Ejemplo Termopar K:
Rango de entrada: 0-500oC
Recta de regresión: Vout 40·106 ·T ª
17
máximo
errorabs
No linealidad(%): NL (%) 100· 100· 3, 4%
Fondo de escala 500
Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-17
2- Sub-modelo estático
…2) Características sistemáticas
…5. LINEALIDAD
Aplicado a CAD y CDA:
1) NL Diferencial: para cada bit,
diferencia entre el paso de cuantización
medido y el teórico. Provoca ruido
2) NL Integral: para cada bit, diferencia
entre el valor medido y el teórico.
Provoca distorsión
En ambos casos se expresa en ‘bits’
• Valor máximo producido
• 1bit=1paso de cuantización
Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-18
2- Sub-modelo estático
ESP32
Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-19
2- Sub-modelo estático
…2) Características sistemáticas
6. SATURACIÓN
Es la pérdida paulatina de sensibilidad en las cercanías de los extremos
del rango de medida.
7. HISTÉRESIS
Es la tendencia de un dispositivo a conservar una de sus
propiedades, en ausencia del estímulo que la ha generado.
• Diferencia entre las dos curvas obtenidas en el ensayo de
calibración: H(x)=y(x)1-y(x)2
Vo mV Zener
TC
T ª ºC
Multicomp - 1N746A
Vo mV
Dt
horas kh
Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-21
Índice
1. Expresión de la medida
2. Sub-modelo estático
3. Sub-modelo dinámico
4. Modelo del sistema de medida
Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-22
3- Sub-modelo dinámico
Características sistemáticas Ejemplo:
1. VELOCIDAD Representante: media de ‘n=100’ muestras
La velocidad se especifica como: Tasa de muestreo interna: Tm=1ksps
“Número de lecturas por segundo”. Velocidad máxima del instrumento:
1 medidas muestras medidas
Velmax ·Tm 10
2. TIEMPO DE SUBIDA n muestras s s
tr t63% t 1
RC
1
e
tr t90% t10%
2,3·R·C 0,1·R·C 2, 2·R·C
Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-23
3- Sub-modelo dinámico
Características sistemáticas
3. ANCHO DE BANDA 4. Error dinámico
El ancho de banda describe la “Habilidad del Error instantáneo:
instrumento de responder a señales que varían error t y t x t
en el tiempo en un rango determinado de
frecuencias”.
Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-24
Índice
1. Expresión de la medida
2. Sub-modelo estático
3. Sub-modelo dinámico
4. Modelo del sistema de medida
Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-25
4- Modelo del sistema de medida
1) Submodelo estático
Permite determinar el valor de la medida junto con su incertidumbre.
(el tiempo no influye en el proceso de medida)
• Errores (variables ei) influyen sobre la recta de calibración.
• Influencia lineal Y=a(ei)·x+b(ei)
a) El desplazamiento de cero
• paralelo a la recta de calibración.
b
b ei ·
i ei x
b) El desplazamiento de sensibilidad
• giro de la recta respecto del punto de
corte con el eje de abscisa.
a
a ei ·
i ei x Y a a x b b
Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-26
4- Modelo del sistema de medida
1) Submodelo estático
• La incertidumbre (errores aleatorios ei) influyen sobre la recta/curva de calibración.
• El ‘Error Sistemático’ medido forma parte de la recta de calibración, no de la
incertidumbre.
Errores aleatorios
X f(X,ei) Y
a) Errores descritos mediante la cota absoluta
Y ei
Y f X , ei Y ei ·
i ei X
b) Errores descritos mediante la cota estadística ei Y
ei Y
ei Y
2
Y
Y f X , ei Y e2i ·
2
i ei
X
Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-27
4- Modelo del sistema de medida
a) DC: tanto por uno del desplazamiento de cero.
b ei ·
b 1 b
i ei
x
DCi b b DCi ei
b ei i
Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-28
4- Modelo del sistema de medida
Ejemplo 1: R 1 a 1 R2 1
R2 vout vin 2 0 DS R1 a R R
R12 R1
R1 5k 1% R1 1 2
vin
R1 b R1
R2 50k 1%
A vout a DS 1 a 1 1 1
R2 a R2 R2 R1 R2
R1
n m R R 1 R2 1
vout a·vin b a· DSi ·ei ·vin b· DCi ·ei 2 vin 2 R1 R2 vin 10·vin 0, 2·vin
i 0 i 0 R1 R R R1 R2
1 1 a a
a a
Ejemplo 2:
Dmax Dmin 210 1
R. E.: [0V; 5V] D LSB Dmin Entero Vin· Vin · 0 ErrCuantiz
Resolución: 10 bits V max Vmin 5 b
a
Salid a
1 a
ErrCuantiz
DS 0 vin Dout
D[x4] a Err Cuantiz CAD
Res
b 0 DC 0
D[x3]
Error
D[x2]
Entrada
Cuantiz
q
D[x1] El error de cuantización es ‘aleatorio’. Puede describirse mediante:
x1 x2 x3 x4
Xmí n CAD de red ondeo Xmáx a) Cota absoluta.
b) Cota estadística.
Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-29
4- Modelo del sistema de medida
2) Submodelo dinámico
Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-30
Índice
1. Expresión de la medida
2. Sub-modelo estático
3. Sub-modelo dinámico
4. Modelo del sistema de medida
Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-31
Conclusiones
¿Cómo se expresa la medida?
Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-32
Bibliografía
Básica
[1] http://www.cem.es/cem/metrología.
Ejercicios y Problemas
Instrumentación Electrónica
Tema 2: Características Metrológicas p. 2-33