Equotip 550 - Operating Instructions - Spanish - High

Manual de operación
60 Years of Innovation Swiss Precision since 1954

Índice de contenido
1. Seguridad y responsabilidad legal.............................4 5. Datos (explorador)....................................................29
1.1 Información general.............................................................. 4 5.1 Mediciones.......................................................................... 29
1.2 Responsabilidad legal.......................................................... 4 5.2 Verificaciones...................................................................... 31
1.3 Instrucciones de seguridad................................................. 4
1.4 Uso correcto......................................................................... 4
6. Asistentes..................................................................31
6.1 Asistente de medición........................................................ 32
1.5 Optimización del funcionamiento del sistema
6.2 Verificación del dispositivo................................................ 32
de batería.............................................................................. 4
6.3 Calibración de dirección de impacto (sólo Leeb)............ 32
2. Para empezar..............................................................5 6.4 Creación de curva de conversión..................................... 32
2.1 Instalación............................................................................. 5 6.5 Método combinado............................................................ 34
2.2 Menú principal...................................................................... 6 6.6 Asistente de mapeo (próximamente)................................ 34
3. Medición......................................................................7 7. Información...............................................................35
3.1 Ejecución de mediciones..................................................... 7 7.1 Documentos........................................................................ 35
3.2 Pantalla de medición.......................................................... 10 7.2 Carga archivos PDF desde una memoria USB............... 35
3.3 Métodos de medición........................................................ 12
3.4 Prueba de funcionamiento / verificación diaria
8. Sistema......................................................................36
8.1 Características.................................................................... 36
del instrumento................................................................... 24
8.2 Sondas................................................................................. 37
4. Configuración............................................................24 8.3 Hardware............................................................................. 37
4.1 Mediciones.......................................................................... 24 8.4 Fecha y hora....................................................................... 37
4.2 Verificación (prueba de funcionamiento y de 8.5 Idioma.................................................................................. 37
incertidumbre).....................................................................27 8.6 Información acerca del dispositivo................................... 37
4.3 Conversiones (conversiones de dureza).......................... 28
4.4 Informes............................................................................... 28
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9. Mantenimiento y soporte............................................ 38 12. Especificaciones técnicas........................................45
9.1 Mantenimiento....................................................................... 38 12.1 Instrumento......................................................................... 45
9.2 Concepto de soporte............................................................ 39 12.2 Fuente de alimentación...................................................... 46
9.3 Garantía estándar y garantía extendida.............................. 39 12.3 Equotip Leeb Dispositivos de impacto............................ 46
9.4 Eliminación de desechos...................................................... 39 12.4 Sonda Equotip Portable Rockwell.................................... 47
12.5 Sonda Equotip UCI............................................................. 47
10. Localización de fallos................................................. 40
10.1 Mediciones incorrectas / prueba de 13. Normas y directivas..................................................47
funcionamiento fracasada.................................................... 40
14. Información de pedido..............................................48
10.2 Ninguna lectura visualizada.................................................. 41
14.1 Unidades............................................................................. 48
10.3 Batería.................................................................................... 42
14.2 Dispositivos de impacto y sondas.................................... 48
10.4 Calibración de la pantalla táctil............................................ 42
14.3 Piezas y accesorios............................................................ 49
11. Software Equotip Link................................................ 42 14.4 Bloques de ensayo............................................................. 50
11.1 Inicio de Equotip Link............................................................ 42
11.2 Configuración de la aplicación ............................................ 42
11.3 Conexión con una unidad de pantalla táctil
Equotip 550............................................................................ 43
11.4 Conexión con una sonda Portable Rockwell...................... 43
11.5 Ajuste de la configuración.................................................... 43
11.6 Exportación de datos............................................................ 44
11.7 Exportación e importación de perfiles
de configuración.................................................................... 45
11.8 Exportación e importación de curvas de conversión........ 45
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 Índice de contenido
1. Seguridad y responsabilidad legal 1.3 Instrucciones de seguridad

No está permitido que el equipo sea manejado por niños o cualquier per-
1.1 Información general sona bajo influencia de alcohol, drogas o preparaciones farmacéuticas.
Este manual contiene información importante referente a la seguridad, Cualquier persona que no esté familiarizada con este manual deberá ser
el uso y el mantenimiento del Equotip 550. Lea el manual atentamente supervisada al estar usando el equipo.
antes del primer uso del instrumento. • Ejecutar el mantenimiento especificado adecuadamente y en el mo-
mento oportuno.
1.2 Responsabilidad legal
• Ejecutar una prueba de funcionamiento después de haber completado
Nuestras “Condiciones generales de venta y de entrega” tienen vigor en el mantenimiento.
cualquier caso. No habrá lugar a reclamos de garantía y de responsabili-
dad que resulten de daños personales y materiales si son la consecuen- 1.4 Uso correcto
cia de una o varias de las siguientes causas:
El instrumento únicamente deberá utilizarse para el uso previsto descrito
• La falta de usar el instrumento conforme a las condiciones de uso en el presente documento.
previstas descritas en este manual.
• Sustituir componentes defectuosos únicamente con repuestos origi-
• Una prueba de funcionamiento incorrecta para el manejo y el manteni- nales de Proceq.
miento del instrumento y sus componentes.
• Únicamente deberán instalarse o conectarse al instrumento acceso-
• La falta de observar los apartados del manual referentes a la prueba rios expresamente autorizados por Proceq. En caso de que se instalen
de funcionamiento, al manejo y al mantenimiento del instrumento y o conecten otros accesorios al instrumento, Proceq no asumirá res-
sus componentes. ponsabilidad alguna y se perderá la garantía del producto.
• Modificaciones no autorizadas del instrumento y sus componentes.
• Daños graves que sean el resultado de los efectos de cuerpos extra-
1.5 Optimización del funcionamiento del sistema de batería
ños, accidentes, vandalismo y fuerza mayor. Para aumentar el rendimiento de la batería se recomienda primero des-
cargarla completamente y, a continuación, cargarla completamente.
Toda la información contenida en esta documentación se presenta de
buena fe y se supone correcta. Proceq SA no asume garantía y excluye
cualquier responsabilidad con respecto a la integridad y/o la exactitud
de la información.
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2. Para empezar fuera del instrumento. En este caso se requerirán < 5.5 h para una
carga total.
El Equotip 550 se utiliza típicamente para la ejecución de ensayos de
dureza de superficies metálicas. El usuario puede elegir el principio de Botones
rebote Leeb, el principio Portable Rockwell o UCI, véase el capítulo “3.1 En la esquina superior derecha de la unidad se encuentran tres botones:
Ejecución de mediciones”. CONECTAR/DESCONECTAR: Pulsar para encender o regresar
En combinación con el dispositivo de impacto Equotip Leeb U, el ins- a la pantalla inicial. Pulsar y mantener pulsado para apagar.
trumento se usa para ejecutar ensayos de dureza de bobinas de papel, Tecla de función : Cambiar a la vista de pantalla total y de retor-
película o de lámina. no o cambiar entre la pantalla actual y el último documento pdf
visto (p. ej. el manual de operación).
2.1 Instalación
Botón ANTERIOR – Retorno a la pantalla anterior.
Para instalar la batería en la unidad de pantalla táctil Equotip, levantar el so-
porte del modo mostrado, insertar la batería y fijar la misma con el tornillo.
Ahorro de energía
El ahorro de energía puede programarse según se desee en la configura-
ción de Sistema/Alimentación, véase el capítulo “8.3 Hardware”.
Conexiones
Figura 1: Insertar la batería 12 USB Host

Conectores Snap-in USB Dispositivo
Existen tres LED de estado en el lado derecho de la pantalla. La luz cen- Ethernet
tral es el indicador de potencia y estará rojo durante la carga y cambiará Figura 2: Conexiones Fuente de alimentación
a verde al estar completamente cargada la batería. El LED inferior se usa
Para dispositivos de impacto Leeb USB Host:
para alguna notificación específica de la aplicación.
usar el conector Snap-in 1. Adicionalmente conectar ratón,
¡NOTA! Utilizar únicamente el cargador de batería entregado teclado o memoria USB.
Para la sonda UCI USB Dispositivo:
para cargar. usar los conectores Snap-in 1 ó 2. Conectar en PC.
• Una carga total requiere < 9 h (sin estar funcionando el instrumento) Para la sonda Portable Rockwell Ethernet:
usar el conector USB Host. Conexión a la red.
• El tiempo de carga será mucho más largo al estar usándose el ins- Fuente de alimentación:
trumento. Conectar la fuente de
• Opcionalmente se podrá usar un cargador rápido (n° de pieza 327 alimentación a través de esta
01 053) para cargar una batería de reserva o para cargar la batería conexión.
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2.2 Menú principal

Al encender se visualizará el menú principal. Se tendrá acceso directo a todas las funciones a través de la pantalla táctil. Regresar al menú anterior
pulsando el botón ANTERIOR o el icono de retorno (flecha) en la esquina superior izquierda de la pantalla táctil.
Configuración: Para una configu-

ración específica de la aplicación,
véase el capítulo “4. Configuración”
Medición: Datos (explorador): Administrador

Pantalla de visualización de de archivos para la revisión de da-
medición, véase el capítulo tos de medición en el instrumento,
“3. Medición”. véase el capítulo “5. Datos (explo-
rador)”.
Sistema: Configuración del

sistema, p. ej. idioma, opciones
de visualización, etc., véase el
capítulo “8. Sistema”.
Asistentes: Flujos de Información: Manual de opera-

trabajo relacionados a la ción y otros documentos de
tarea, véase el capítulo referencia, véase el capítulo
“6. Asistentes”. “7. Información”.
Figura 3: Menú principal
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3. Medición Después de que se haya ejecutado el último impacto, se visualizará la

dureza media y otras estadísticas de la serie de mediciones.
3.1 Ejecución de mediciones ¡NOTA! Asegurarse de que el tubo de carga regrese lenta-
mente a la posición inicial. Fijarse en que el tubo de carga no
3.1.1 Procedimiento de ensayos Leeb (excepto Leeb U) salte de regreso incontroladamente ya que esto podrá tener
Seleccionar compensación automática para la dirección de impacto “Au- como consecuencia un daño permanente del dispositivo.
tomática”, véase el capítulo “3.2.1 Elementos operativos”. Si “Automáti-
ca” no está permitida, ajustar la dirección de impacto (). Los dis- ¡NOTA! Si es posible, observar la práctica estándar en la eje-
positivos de impacto Equotip Leeb DL no soportan el modo automático. cución de ensayos de dureza según el método de rebote de
La dirección de impacto se deberá seleccionar de modo manual. Leeb tal y como se describe en las normas DIN 50156-1 (ma-
Seleccionar el grupo de materiales apropiado y las escalas de dureza y teriales metálicos), ASTM 956 (sólo para acero, fundición de
la cantidad de impactos por serie de mediciones apropiadas. Para una acero y fundición de hierro) u otras normas aplicables. Si las
información más detallada, véase el capítulo “4. Configuración”. Llevar mismas no están a disposición, se le recomienda al usuario
a cabo los impactos pasando por los ciclos del mecanismo de “carga, que tome la media de un mínimo de n = 3 impactos a una
posicionamiento y disparo”: distancia entre indentaciones de 3 a 5 mm (0.12 a 0.20”) para
1. Cargar el dispositivo de impacto cada lugar de la muestra que habrá de ser ensayado.
mientras que no esté en contacto
con la pieza de ensayo sostenién- ¡NOTA! No ejecutar ningún impacto en una zona que haya su-
dolo firmemente con una mano y frido una deformación a causa de otro impacto. Asimismo, no
hundiendo el tubo de carga con la cargar el dispositivo al estar éste ya posicionado en el nuevo
otra mano hasta que sea agarrado por lugar del ensayo ya que el material debajo del dispositivo podrá
el embrague. quedar afectado debido a solicitación previa, y el mandril de
2. Posicionar el anillo de soporte en la enclavamiento del dispositivo podrá quedar dañado.
pieza de ensayo. Procurar sobre todo
que el anillo de soporte esté comple-
tamente posicionado en la pieza de
ensayo sin que coincida con alguna
indentación de ensayo previa.
3. Para disparar un impacto, pulsar el
botón de disparo para lanzar el cuer-
po de impacto. Para ejecutar otro
impacto, repetir este ciclo.
Figura 4: Procedimiento de ensayos Leeb
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3.1.2 Procedimiento de ensayos Portable Rockwell 3.1.3 Procedimiento de ensayos UCI

1. Posicionar la sonda en la muestra a 1. Posicionar la sonda en la muestra
ensayar. Para superficies planas, la a ensayar. La sonda se deberá en-
base estándar es la más apro- contrar perpendicular a la superficie
piada. Para objetos cilíndricos se (± 5°). La base especial se puede
recomienda usar una de las bases usar para aumentar la repetibilidad y
especiales. Para lugares de difícil evitar la distorsión de los resultados,
acceso, se podrá usar un trípode. véase el capítulo “14. Información
Véase el capítulo “14. Información de pedido”.
de pedido”. 2. Presionar la sonda de modo lento
2. Presionar la sonda de modo lento pero firme contra la superficie hasta
pero firme contra la superficie para que se haya alcanzado la fuerza de
ejecutar la medición. Suprimir vibra- medición seleccionada. El instru-
ciones en la mayor medida posible mento indicará el momento de se-
y observar las instrucciones en la parar la sonda a través de un aviso
pantalla. en la pantalla y un sonido audible.
3. Soltar la sonda cuando el instru- 3. Separar la sonda del material. Es
mento indique lo mismo. También importante retirar la sonda com-
este movimiento se deberá llevar pletamente del objeto de ensayo.
a cabo de modo controlado. Si la De lo contrario, se podrán producir
sonda se suelta demasiado rápida- resultados sesgados.
mente, aparecerá una advertencia y
se deberá repetir la medición. Figura 6: Procedimiento de ensayos UCI
Figura 5: Procedimiento de ensayos Portable Rockwell
¡NOTA! Se visualizará una advertencia si el usuario ha aplica-
do una carga demasiado grande al presionar la sonda contra
la superficie. Por favor, evite sobrecargas frecuentes ya que
esto podría dañar la sonda en forma grave.
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3.1.4 Procedimiento de ensayos Leeb U

El Equotip 550 Leeb U habilita al usuario a diagnosticar defectos de bobi-
na, inconsistencias de dureza y un bobinado desigual de modo rápido y
preciso, previniendo de este modo problemas en operaciones de impre-
sión o de conversión.
El dispositivo de impacto Equotip Leeb U no soporta el modo de dirección
de impacto y el usuario deberá seleccionar la dirección de impacto apro-
piada de manera manual (90° hacia abajo, 45° hacia abajo, 0°).
Ya que no se usan ningunas curvas de conversión en los ensayos de du-
reza de bobinas, no se tendrá que seleccionar ningún grupo de materiales.
Llevar a cabo los impactos pasando por los ciclos “posicionar y disparar”.
1. Posicionar la sonda en la bobina a

ensayar. Asegurarse de que el ani-
llo de soporte esté completamente
posicionado en la bobina para
garantizar un impacto perpendicu-
lar a la superficie de ensayo.
2. Sosteniendo el dispositivo de
impacto firmemente con ambas
manos, deslizar el tubo de carga
suavemente hacia abajo para car-
gar y disparar un impacto.
Desplazar el dispositivo de impacto al
siguiente punto en la bobina y repetir el
procedimiento.
Figura 7: Procedimiento de ensayos Leeb U
¡NOTA! Algunas características mencionadas en este manual

de operación son específicas para las aplicaciones de ensa-
yos de dureza de metal y, por lo tanto, no están a disposición
para Equotip Leeb U.
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3.2 Pantalla de medición

3.2.1 Elementos operativos
Nombre de archivo: Introducir Modo de medición:
el nombre de archivo y tocar Cambiar de medición a conver-
Entrar. Las mediciones guarda- sión y viceversa.
Hora y estado de la batería
das se almacenarán automá-
ticamente. Esta función estará
bloqueada al estar activada la
gestión de nombres de archivo.
Dirección de impacto:
Para ajustar la dirección
de impacto de modo
manual si se necesita Configuración: Acceso
(sólo Leeb, estará en directo al menú de confi-
automático de modo guración.
predeterminado). (sólo se aplica a la serie
de mediciones actual)
Material: Seleccionar el Asistentes: Acceso Guardar: Almacenar datos de medición.

grupo de materiales a usar directo a los asis-
para conversiones (no tentes.
disponible para Leeb U). Eliminar: Eliminar la última medición.
Escala de medición: Seleccionar la escala de Rehacer: Reiniciar la serie de medicio-

dureza a visualizar (primaria y secundaria) (no nes o una medición singular.
disponible para Leeb U).
Figura 8: Pantalla de medición
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3.2.2 Vistas de medición El Equotip 550 es totalmente personalizable como dispositivo y puede
visualizar tres diferentes vistas de medición simultáneamente. Cada vista
se puede cambiar para satisfacer las exigencias del usuario simplemente
haciendo clic en el icono relacionado a la visualización particular en la
esquina superior derecha de cada pantalla.
Vista Señal: Visualización de la señal de sonda de la última
medición activa. Lo mismo podrá ser útil para evaluaciones
avanzadas.
Vista Estadísticas: Ver las estadísticas para la serie de medi-
ciones activa. Cantidad de impactos (n), Promedio (x ), Desvia-
ción estándar (σ), Mínimo/Máximo () y Rango () son visuali-
zados en la escala primaria.
Vista Tabla: Visualización de las mediciones para la serie activa
en formato de tabla.
Vista Conversión: Visualización del valor actual en la curva de
conversión.
Vista Barras: Visualización de las mediciones de la serie como
histograma.
Vista Perfil: Visualización de los resultados de medición en
forma de perfil.
Información: Visualización de la configuración de medición, p.
ej. longitud de la serie, tipo de sonda, grupo de materiales etc.
Vista Usuario: El usuario puede elegir entre ángulo de sonda,
mínimo, máximo, rango y tipo de sonda para los contenidos de
los campos. Para cambiar, tocar cada cuadro individual.
HL Vista Registro singular: Visualización del resultado de medi-
ción más reciente o seleccionado tanto en escala de dureza
primaria como en la escala de dureza secundaria.
ID + ID de muestra: Define el campo personalizado.
¡NOTA! Las vistas de pantalla no se pueden duplicar.
Figura 9: Vistas de medición
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3.3 Métodos de medición Durante una medición con los dispositivos de impacto Equotip 550 (D,
DL, DC, C, G, S y E), se lanza un cuerpo de impacto con un indentador
La familia de instrumentos Equotip 550 dispone de la capacidad de de bola contra la muestra a medir a fuerza de muelle, el cual a continua-
aceptar tres diferentes métodos de ensayo usando una sola unidad de ción rebotará. Antes y después del impacto, un imán permanente situado
indicación. dentro del cuerpo de impacto pasa a través de una bobina en la que se
induce una señal de tensión mediante el movimiento hacia delante y ha-
3.3.1 Equotip Leeb cia atrás. Esta señal de inducción se comporta de forma proporcional a
las velocidades respectivas. La relación de la velocidad de rebote vr y la
3.3.1.1 Principio de ensayos velocidad de impacto vi, multiplicada por 1000, produce el valor de dure-
za HL (dureza Leeb). HL es una medición directa de la dureza. La tercera
Botón de disparo o bien la cuarta letra de la unidad HL se refiere al dispositivo de impacto
HLD  dispositivo de impacto D.
vr
HL = ·1000
vi
Tubo de carga Equotip Leeb U
Aunque el dispositivo de impacto Equotip Leeb U está construido de di-
ferente modo para simplificar el proceso de medición, el principio básico
es el mismo.
Muelle de impacto
Mandril de enclavamiento
Tubo guía
Cable de conexión –
de 4 polos
Figura 11: Equotip Leeb Dispositivo de impacto U
Sensor de dispositivo de Los dispositivos de impacto Parotester del tipo U son soportados total-
impacto con ID ROM Cuerpo de impacto mente por el Equotip 550. Los dispositivos de impacto de los tipos P y
PG todavía pueden usarse pero la unidad es visualizada como HLU a
Anillo de soporte
pesar de que en realidad sería LP o bien LPG.
Figura 10: Vista esquemática de un dispositivo de impacto Leeb ¡NOTA! Los valores HLU se pueden comparar directamente
con LU en instrumentos Parotester existentes.
3.3.1.2 Preparación de la muestra 3.3.1.3 Normas

Evitar que la muestra reciba vibraciones durante el ensayo. Piezas delga- Descripciones breves de las normas de referencia:
das y ligeras deben fijarse de forma especial, véase el capítulo “3.3.1.6
DIN 50156 Ejecución de ensayos de dureza según el método Leeb
Ejecución de ensayos en muestras ligeras”. Asegurar que la superficie de
de materiales metálicos
la pieza de trabajo esté limpia, lisa y seca. Si es necesario, utilizar agen-
tes de limpieza adecuados para limpiar la superficie, tales como acetona ASTM A956 Método de ensayos estándar para ensayos de dureza
o isopropanol. No usar agua ni ningunos otros líquidos de limpieza. según el método Leeb de productos de acero
ASTM A370 Métodos de ensayos y definiciones para la ejecución de
¡NOTA! Favor de usar la placa comparadora de rugosidad ensayos mecánicos en productos de acero
superficial proporcionada para estimar la rugosidad media
ASTM E140 Tablas de conversión de dureza estándar para metales
de la pieza de ensayo antes de llevar a cabo los ensayos.
de la relación entre dureza Brinell, Vickers, Rockwell, su-
perficial, Knoop, escleroscopio y Leeb
ISO 18265 Materiales metálicos – Conversión de valores de dureza
ISO 16859 Ejecución de ensayos de dureza según el método Leeb
de materiales metálicos
Figura 12: Placa comparadora de rugosidad superficial
3.3.1.4 Condiciones de ensayo

Para asegurar lecturas de dureza adecuadas, deberán cumplirse las siguientes condiciones. Si no se cumple una o varias condiciones, el resultado
de medición podrá ser significantemente falso.
Tipo de dispositivo de impacto D/DC/DL/S/E G C

Preparación de Clase de grado de rugosidad ISO 1302 N7 N9 N5
superficie Máx. profundidad de rugosidad Rt (μm / μinch) 10 / 400 30 / 1200 2.5 / 100
Rugosidad promedio Ra (μm / μinch) 2 / 80 7 / 275 0.4 / 16
Masa mínima de la De forma compacta (kg / lbs) 5 / 11 15 / 33 1.5 / 3.3
muestra En soporte sólido (kg / lbs) 2 / 4.5 5 / 11 0.5 / 1.1
Acoplada en placa (kg / lbs) 0.05 / 0.2 0.5 / 1.1 0.02 / 0.045
Espesor mínimo de Sin acoplar (mm / inch) 25 / 0.98 70 / 2.73 15 / 0.59
la muestra Acoplada (mm / inch) 3 / 0.12 10 / 0.4 1 / 0.04
Espesor de capa de superficie (mm / inch) 0.8 / 0.03 0.2 / 0.008
Espacio mínimo Entre indentación y borde de la muestra (mm/ 5 / 0.2 8 / 0.3 4 / 0.16
inch)
Entre indentaciones (mm/inch) 3 / 0.12 4 / 0.16 2 / 0.08
Tamaño de inden- Con 300 HV, Diámetro (mm / inch) 0.54 / 0.021 1.03 / 0.04 0.38 / 0.015
tación en superficie 30 HRC Profundidad (μm / μinch) 24 / 960 53 / 2120 12 / 480
de ensayo Con 600 HV, Diámetro (mm / inch) 0.45 / 0.017 0.9 / 0.035 0.32 / 0.012
55 HRC Profundidad (μm / μinch) 17 / 680 41 / 1640 8 / 2560
Con 800 HV, Diámetro (mm / inch) 0.35 / 0.013 0.30 / 0.011
63 HRC Profundidad (μm / μinch) 10 / 400 7 / 280
Tabla 1: Requisitos de la pieza de ensayo Leeb
3.3.1.5 Selección del dispositivo de impacto Equotip Leeb

Para ensayos optimizados de diversos materiales metálicos y geometrías de la muestra, está a disposición una gama de dispositivos de impacto
según “Tabla 1: Requisitos de la pieza de ensayo Leeb”.
Tipo G: Energía de impacto incrementada. Para componentes

sólidos e inhomogéneos, p. ej. piezas de fundición o forjadas
pesadas.
Tipo DC: Dispositivo corto. Para el uso en Energía de impacto: 90 Nmm
espacios muy confinados, p. ej. en agujeros,
en cilindros o para mediciones internas Tipo D: Unidad universal. Para la mayoría
en máquinas ensambladas. Energía de de los requerimientos del usuario en la
impacto: 11 Nmm ejecución de ensayos de dureza.
Energía de impacto: 11 Nmm
Tipo S: Indentador de bola de Si3N4. Tipo C: Energía de impacto reducida.

Sobre todo para ensayos en el rango de Componentes de superficie endurecida,
dureza muy alto (por encima de 50 HRC revestimientos, componentes de
/ 650 HV): aceros de herramientas con pared delgada o sensibles al impacto
inclusiones de alto contenido de carburo. (indentación de medición pequeña).
Energía de impacto: 11 Nmm Energía de impacto: 3 Nmm
Tipo E: Indentador de bola de diamante.

Para ensayos en el rango de dureza muy
alto (por encima de 50 HRC / 650 HV):
aceros de herramientas con inclusiones Type DL: Sección frontal delgada.
de alto contenido de carburo. Más Para medición en espacios confinados, en la
durable que el tipo S. base de ranuras o en superficies rebajadas.
Energía de impacto: 11 Nmm Energía de impacto: 11 Nmm
Figura 13: Equotip Leeb Dispositivos de impacto
3.3.1.6 Ejecución de ensayos en muestras ligeras 3.3.1.7 Ejecución de ensayos en superficies curvas
Si las muestras son más ligeras que lo especificado en el capítulo El instrumento sólo funcionará correctamente si el indentador de bola se
“3.3.1.4 Condiciones de ensayo” o las secciones de muestra muestran encuentra precisamente en el extremo del tubo en el momento del impac-
una distribución desfavorable de las masas, las mismas podrán vibrar to. Al ensayar superficies cóncavas o convexas, el indentador de bola o
cuando el cuerpo de impacto da en el punto de ensayo. Esto causará bien no saldrá completamente del tubo de ensayo o bien saldrá dema-
una absorción de energía indeseable. Este tipo de muestras debe apo- siado. En tales casos, sustituir el anillo de soporte estándar con un anillo
yarse en alguna superficie de trabajo sólida. Si la masa cae por debajo adecuado, véase el capítulo “14. Información de pedido” o ponerse en
de los requerimientos específicos pero todavía excede la magnitud del contacto con el representante local de Proceq.
acoplamiento, el acoplamiento a alguna masa más grande ayudará a
prevenir vibraciones.
El acoplamiento debe satisfacer las exigencias siguientes:
• La superficie de contacto de la muestra y la superficie del soporte
sólido deben estar niveladas, planas y lisas.
• La muestra debe exceder el espesor de muestra mínimo para acopla-
miento (1 / 3 / 10 mm). Observar el procedimiento de acoplamiento.
• Aplicar una capa delgada de pasta de acoplamiento en la superficie de
contacto de la muestra.
• Presionar la muestra firmemente contra el soporte. Figura 14: Ejecución de ensayos Leeb en superficies curvas
• Empujar la muestra en un movimiento circular y ejecutar el impacto del
modo usual, verticalmente a la superficie acoplada.
¡NOTA! La tensión de la abrazadera puede afectar la muestra

lo cual puede afectar las medidas de dureza.
3.3.1.8 Ejecución de ensayos en muestras delgadas ¡NOTA! Es importante incluir todos los datos críticos referen-
Las tuberías y los tubos a veces presentan distribuciones de masas que tes a la geometría de la muestra a ensayar.
pueden afectar el resultado del ensayo de dureza según el método Leeb
debido a vibraciones. Por ejemplo durante la ejecución de ensayos de
tuberías in situ, los lugares del ensayo no podrán ser soportados por
superficies de trabajo ni ser sujetados. 3.3.1.9 Grupo de materiales
Para aprovechar la comodidad y la velocidad del ensayo según el mé- No será necesario seleccionar ningún material al estar midiendo en la es-
todo Leeb, el usuario podrá emplear una conversión personalizada des- cala nativa de rebote Leeb HL, ya que no se aplica ninguna conversión.
pués de haber ejecutado el siguiente procedimiento de calibración, por En contraste a esto, las conversiones de escalas de dureza sólo serán
ejemplo: correctas al haberse seleccionado el grupo de materiales apropiado.
• Se medirán pares de datos en muestras de referencia. Para las medicio- Bases de datos gratuitas en línea y los documentos de referencias de
nes de referencia Leeb HLDL, será decisivo que sean ejecutadas en pie- a bordo del Equotip 550 pueden ser útiles en la asignación de los ma-
zas que estén instaladas del mismo modo que las que deberán ensayarse teriales del usuario a uno de los grupos de materiales predeterminados.
in situ. Por ejemplo: dos muestras de tuberías “Pipe type 5 mm Duplex La aptitud de las conversiones deberá calificarse en muestras calibradas
soft” [tipo de tubería 5 mm Duplex blando] (730 HLDL / 255 HB) y “Pipe antes del uso. Para una información más detallada, favor de ponerse en
type 5 mm Duplex hard” [tipo de tubería 5 mm Duplex duro] (770 HLDL / contacto con algún representante de Proceq.
310 HB) se miden utilizando el dispositivo de impacto Equotip Leeb DL y
un dispositivo de ensayo Brinell respectivamente. ¡NOTA! Para un principio de ensayo dado (escala nativa), el
menú desplegable sólo listará los grupos de materiales para
• Ahora, la curva de conversión HLDL-HB original para “1 Acero y fun- los cuales hay conversiones disponibles.
dición de acero” será adaptada usando los dos puntos de datos. El
procedimiento detallado para crear curvas de conversión personaliza-
da en el Equotip 550 se describe en el capítulo “6.4 Creación de curva ¡NOTA! Si no está a disposición ninguna curva de conver-
de conversión”. sión, el usuario tendrá la posibilidad de crear su propia cur-
• Para medir “Pipe type 5 mm Duplex” en el futuro, podrá ser selecciona- va, véase el capítulo “6.4 Creación de curva de conversión”
do a través de “Material” – “Pipe type 5 mm Duplex”, usando la escala
de dureza “HB Brinell”, véase también el capítulo “6.4.3 Ejemplo de una
conversión personalizada (método de dos puntos)”.
¡NOTA! El usuario deberá determinar y calificar la adaptación

de las curvas de conversión para cada diámetro de tubo y
cada espesor de pared. Las directivas para el procedimiento
se proveen en “Nordtest Technical Report Series 424, Re-
ports 99.12/13” y en “ASME Final Report CRTD-91”.
D/DC DL S E G C
Acero y fundición de acero Vickers HV 81-955 80-950 101-964 84-1211 81-1012
Brinell HB 81-654 81-646 101-640 83-686 90-646 81-694
Rockwell HRB 38-100 37-100 48-100
HRC 20-68 21-68 22-70 20-72 20-70
HRA 61-88 61-88
Shore HS 30-99 31-97 28-104 29-103 30-102
Rm N/mm² σ1 275-2194 275-2297 340-2194 283-2195 305-2194 275-2194
σ2 616-1480 614-1485 615-1480 616-1479 618-1478 615-1479
σ3 449-847 449-849 450-846 448-849 450-847 450-846
Acero de herramientas para trabajo Vickers HV 80-900 80-905 104-924 82-1009 * 98-942
en frío Rockwell HRC 21-67 21-67 22-68 23-70 20-67
Acero inoxidable Vickers HV 85-802 * 119-934 88-668 * *
Brinell HB 85-655 105-656 87-661
Rockwell HRB 46-102 70-104 49-102
HRC 20-62 21-64 20-64
Fundición de hierro, grafito laminar Brinell HB 90-664 * * * 92-326 *
GG Vickers HV 90-698
Rockwell HRC 21-59
Fundición de hierro, grafito nodular Brinell HB 95-686 * * * 127-364 *
GGG Vickers HV 96-724
Rockwell HRC 21-60 19-37
Aleación de aluminio de fundición Brinell HB 19-164 20-187 20-184 23-176 19-168 21-167
Vickers HV 22-193 21-191 22-196 22-198
Rockwell HRB 24-85 24-86 23-85
Aleaciones de cobre/zinc (latón) Brinell HB 40-173 * * * * *
Rockwell HRB 14-95
Aleaciones de CuAI/CuSn (bronce) Brinell HB 60-290 * * * * *
Aleación de forja de cobre, de baja Brinell HB 45-315 * * * * *
aleación
*Curva de conversión personalizada / correlación
Tabla 2: Descripción general de conversiones disponibles
3.3.2 Equotip Portable Rockwell ¡NOTA! Mediante el cálculo de la profundidad de penetración

entre la precarga y la carga total, las discrepancias de rugo-
3.3.2.1 Principio de ensayos sidad superficial son ignoradas significantemente.
Durante la medición con la sonda Equotip 550 Portable Rockwell, un inden-
tador de diamante es hincado en la pieza de ensayo y, a continuación, es ¡NOTA! El principio de ejecución de ensayos de dureza en
desprendido del material. La profundidad de indentación es medida conti- Portable Rockwell le sigue al ensayo de Rockwell estaciona-
nuamente durante el proceso. La profundidad de indentación es calculada rio. En lo que se refiere al ensayo de Rockwell, no se reque-
después de reducir la carga total a precarga. rirá ningún ajuste para la dirección de ensayo. Sin embargo,
10 N 50 N 10 N
existen tres diferencias principales frente a los ensayos Roc-
kwell estacionarios tradicionales:
• Las cargas de ensayo son más bajas.
• El indentador Portable Rockwell es más filoso.
• Los periodos de permanencia durante el ensayo son más
cortos.
¡NOTA! “MM” simboliza “medición móvil mecánica”, un com-

Figura 15: Principio de ensayos Portable Rockwell plemento exigido por la norma alemana DIN 50157 para in-
dicar explícitamente las cargas más bajas aplicadas, el con-
3.3.2.2 Preparación de la muestra torno más filoso del indentador y los tiempos de carga más
breves durante una medición. La diferente denominación
Asegurar que la superficie de la pieza de trabajo esté limpia, lisa y seca.
es formal, es decir que los resultados de HMMRC deberían
Si es necesario, utilizar agentes de limpieza adecuados para limpiar la
estar muy cerca de o ser iguales a las lecturas de HRC es-
superficie, tales como acetona o isopropanol. No usar agua ni ningunos
tacionarias.
otros líquidos de limpieza.
3.3.2.3 Medición basada en DIN 50157

Ambas mediciones de profundidad d1 y d2 se ejecutarán para la precar-
ga, primero durante la aplicación (d1) y, a continuación, después de soltar
la carga total (d2). La diferencia entre d1 y d2 proviene de la respuesta de
deformación del material a la penetración.
3.3.2.4 Condiciones de ensayo 3.3.2.5 Instalación de la pinza de medición

Para asegurar lecturas de dureza adecuadas, deberán cumplirse las si- La pinza ha sido concebida para facilitar la ejecución de ensayos de
guientes condiciones. Si no se cumple una o varias condiciones, el resul- dureza en muestras muy delgadas o pequeñas.
tado podrá ser significantemente falso.
Configuración de Sonda Sonda Sonda Sonda de

Brazo en voladizo
la sonda de 50 de 50 N de 50 N 50 N con
N con base con trí- bases es-
con redonda pode peciales Tornillo del brazo
en voladizo
pinza estándar (ø
= 42 mm)
Espesor mínimo 1 mm con ~20 HB
de la pieza de
ensayo 130 μm con ~70 HRC
Tornillo mole-
teado
Espesor máximo
de la pieza de 40 mm No disponible
ensayo
Porta sonda
Condición de la Rugosidad media recomendada de la superficie
superficie de la
pieza de ensayo Ra < 2 μm para minimizar la dispersión de datos
La base Son Figura 16: Pinza Portable Rockwell

18 - 70 mm
deberá acep-
de radio de • Usar la herramienta de instalación llave Allen de 3 mm para soltar el brazo
Curvatura de la usarse tables
superficie la curvatura en voladizo. Girar el mismo 90°.
para curvatu-
ó 70 mm • Tomar la sonda y desmontar la base. El indentador de diamante per-
superficies ras muy
–∞
planas pequeñas manece montado.
Dureza máxima de • Enroscar la sonda en el sentido de las agujas del reloj en el porta sonda
la pieza de ensayo 70 HRC de la pinza (apretar a fuerza de mano).
Distancias míni- Tres veces el diámetro de una indentación de • Girar el brazo en voladizo de modo que su punta esté centrada sobre
mas ensayo la sonda. Apretar el tornillo del brazo en voladizo usando la herramien-
ta de instalación llave Allen de 3 mm.
Tabla 3: Requisitos de la pieza de ensayo Portable Rockwell
• El espacio libre recomendado entre la parte inferior del porta sonda
y la superficie de la muestra se encuentra entre 2 y 5 mm. Ajustar la
altura con los dos tornillos moleteados.
¡NOTA! En caso de que el conector de la sonda se encuentre 3.3.2.7 Instalación de la base estándar o el trípode
en una posición inconveniente, soltar el tornillo de ajuste. La base redonda estándar permite medi-
Asegurar que no se pierdan los muelles del mecanismo. Gi- ciones en objetos de ensayo a los cua-
rar el mecanismo a una posición conveniente, alineando el les sólo se tiene acceso desde un lado,
tornillo de ajuste con el canal de guía. Bloquear el tornillo como grandes láminas de metal. El trípo-
de ajuste de tal modo que el porta sonda todavía se deslice de se usará si la base plana no se puede
hacia arriba y abajo sin rozar el tornillo de ajuste. posicionar sin menear.
1. El indentador de diamante permane-
3.3.2.6 Consideraciones ce montado. Figura 17: Portable Rockwell
• Al medir muestras cilíndricas con los adaptadores Z4 ó Z4+28, ase- con trípode
2. Instalar la base en la sonda.
gurarse de que la muestra no sea torcida en el soporte de la pinza (ni
en el plano con el soporte de la pinza, ni rotatoriamente alrededor del 3.3.2.8 Instalación de la base especial
mismo). La mejor manera es apoyar la parte trasera de la pinza en una
mesa y sólo dejar sobresalir el soporte de muestra sobre el borde. Dos bases especiales extienden el rango de aplicaciones de Portable
Rockwell a piezas de ensayo cilíndricas.
• Al aplicar la carga, comprimir las palancas lentamente y permitir que
la muestra se adapte al soporte. Si es posible, no tocar la muestra al 1. El indentador de diamante permane-
medir. Al soltar, volver a agarrar la muestra. ce montado.
• Siempre que la geometría de la muestra (p. ej. el espesor de pared) lo 2. Instalar la base en la sonda.
permita, las mediciones a mano libre por lo general ofrecerán un mejor 3. Posicionar la base en la pieza de
funcionamiento de medición. Esto vale sobre todo para mediciones ensayo y soltar el tornillo de ajuste
en cilindros. en la base. A continuación, presionar
• Para barras de pequeño diámetro (o tuberías lo suficientemente rígi- la sonda hacia abajo, sobre la pieza
das), se ha diseñado el adaptador de muesca en V Z2 para la pinza. Al de ensayo y bloquear el tornillo de
instalar el soporte Z2, asegurarse de que el centro de la muesca en V ajuste.
Figura 18: Bases especiales
esté centrado debajo del porta sonda.
Portable Rockwell
3.3.2.9 Estándar de conversión 3.3.3.2 Preparación de la muestra

Mediciones en HV y HRC son correlaciones directas y, por lo mismo, Asegurar que la superficie de la pieza de trabajo esté limpia, lisa y seca.
no se requerirá ninguna conversión. El usuario dispone de la opción de Si es necesario, utilizar agentes de limpieza adecuados para limpiar la
ASTM E140 ó ISO 18265 para la conversión en cualquier otra escala. superficie, tales como acetona o isopropanol. No usar agua ni ningunos
otros líquidos de limpieza.
3.3.2.10 Grupo de materiales
Ya que Portable Rockwell se basa en el principio de indentación estática, 3.3.3.3 Normas para mediciones UCI
las conversiones de dureza dependen menos de las propiedades espe- Existen dos normas que describen las mediciones UCI o bien el instru-
cíficas del material en la mayoría de los casos. mento:
El usuario todavía tendrá la posibilidad de aplicar curvas de conversión DIN 50159 Ejecución de ensayos de dureza con el método UCI
personalizadas si lo requiere, véase el capítulo “6.4 Creación de curva ASTM A1038 Método de ensayos estándar para ensayos de dureza
de conversión”. con el método de impedancia de contacto ultrasónica
Para conversiones de una unidad de dureza a otra, el usuario puede
3.3.3 Equotip Ultrasonic Contact Impedance [impedancia de
seleccionar una de las siguientes normas:
contacto ultrasónica] (UCI)
ASTM E140 Tablas de conversión de dureza estándar para metales
3.3.3.1 Principio de ensayos de la relación entre dureza Brinell, Vickers, Rockwell, su-
perficial, Knoop, escleroscopio y Leeb
El método UCI usa el mismo diamante en forma de pirámide que el du-
ISO 18265 Conversión de valores de dureza
rómetro Vickers convencional. A diferencia de los ensayos Vickers, no
se requiere ninguna evaluación óptica de la indentación, permitiendo
mediciones rápidas y portátiles. El método UCI excita la vibración ul-
trasónica de una varilla. La carga de ensayo se aplica a través de un
resorte y típicamente será de 1 a 5 kg de fuerza (HV1 a HV5). Mientras
que el diamante penetra el material de modo forzado, la frecuencia de la
vibración de la varilla cambiará como reacción al área de contacto entre
el diamante y el material ensayado. El instrumento detecta el cambio de
la frequencia, lo convierte en un valor de dureza el cual es visualizado
inmediatamente en la pantalla.
3.3.3.4 Condiciones de ensayo

Para asegurar lecturas de dureza adecuadas, deberán cumplirse las siguientes condiciones. Si no se cumple una o varias condiciones, el resultado
de medición podrá ser engañoso.
Configuración de la sonda HV1 (~10 N) HV5 (~50 N)

Espesor mínimo requerido 5 mm / 0.2 inch
Peso mínimo requerido 0.3 kg / 0.66 lbs
Rugosidad superficial reque- Clase de grado N8 N10
rida
Rugosidad máxima 15 µm / 600 µinch 60 µm / 2400 µinch
Rugosidad promedio 3.2 µm / 125 µinch 12.5 µm / 500 µinch
Curvatura de la superficie aceptable Radio > 3 mm
Espacio mínimo De indentación al borde 5 mm / 0.2 inch
Entre indentaciones 3 mm / 0.12 inch
Tamaño de indentación en superficie de ensayo
300 HV, 30 HRC Profundidad 11.3 µm / 445 µinch 25.3 µm / 996 µinch

Diagonal 79.1 µm / 3114 µinch 177.1 µm / 6972 µinch
Profundidad 8 µm / 315 µinch 17.9 µm / 705 µinch
600 HV, 55 HRC
Diagonal 56 µm / 2205 µinch 125.3 µm / 4933 µinch
Profundidad 6.9 µm / 272 µinch 15.5 µm / 610 µinch
800 HV, 63 HRC
Diagonal 48.3 µm / 1900 µinch 108.5 µm / 4272 µinch
Tabla 4: Requisitos de la pieza de ensayo UCI
3.3.3.5 Instalación de la base especial ¡NOTA! La prueba de funcionamiento debería ejecutarse regu-
5º
5º La base predeterminada permite la ejecución de ensayos en larmente antes de usar el instrumento para verificar las funcio-
cualquier superficie. La sonda se deberá encontrar perpendi- nes mecánicas y electrónicas de la sonda y del dispositivo in-
cular a la superficie (± 5°). La base especial se puede usar para dicador. Este requisito también está incluido en las normas de
aumentar la repetibilidad y evitar la distorsión de los resulta- dureza pertinentes, véase el capítulo “13. Normas y directivas”
dos, véase el capítulo “14. Información de pedido”
1. Desenroscar y quitar la base estándar 4. Configuración
2. Enroscar y apretar la base especial firmemente en la sonda
¡NOTA! Para medir en lugares de acceso limitado, la sonda se

puede usar sin ninguna base. Al hacer esto, el lado de la varilla
de la sonda no deberá tocar ninguna superficie ni manejarse
ya que esto causará lecturas sesgadas.
3.3.3.6 Conversiones en otras unidades

El cambio de frequencia medido por la sonda UCI no sólo está influenciado
por la dureza sino también por sus propiedades elásticas. La curva de con-
versión predeterminada del cambio de frequencia a Vickers es válida para
acero de baja aleación de un módulo de elasticidad de 210 ± 10 GPa. Tan
pronto se tenga que ensayar algún material de un módulo de elasticidad
diferente, esta curva de conversión existente deberá ser adaptada. La mejor
manera de realizar esto será la calibración del instrumento en el material a
ensayar. El Equotip 550 ofrece lo mismo de modo rápido y sencillo. Una vez
que el valor de dureza se ha convertido en Vickers, puede ser convertido
además en cualquier otra unidad de dureza disponible en conformidad con Figura 19: Menú de configuración
o bien ASTM E140 ó ISO 18265. Otra opción es ajustar la conversión prede-
terminada basada en la medición de Portable Rockwell o Leeb. Para realizar
esto, véase el capítulo “6.5 Método combinado”. 4.1 Mediciones
Si se realizan cambios aquí, estarán ajustados para todas las series de
3.4 Prueba de funcionamiento / verificación diaria del ins- mediciones venideras. Si se va al menú de configuración a través de la
trumento pantalla de medición, los cambios sólo serán válidos para la serie de
Véase el capítulo “6.2 Verificación del dispositivo” y observar el pro- medición actual.
cedimiento en pantalla. Después del proceso de verificación, el ins-
trumento será completamente operativo y se podrá continuar con las
mediciones.
4.1.1 Tipo de sonda ¡NOTA! El dispositivo de impacto Equotip Leeb U no soporta

Los tipos de sonda son reconocidos automáticamente por el dispositi- curvas de conversión y, por lo tanto esta configuración no
vo. Se podrá ajustar una configuración predeterminada y la misma será está a disposición.
usada para cada dispositivo de medición. Si se va a la configuración de
Normas de conversión – Leeb
medición desde la pantalla de medición, se podrá seleccionar la sonda
La norma de conversión para dureza Shore HS puede ser la conversión
activa. predeterminada según ASTM E448 o la conversión japonesa según JIS
4.1.2 Administración de piezas de ensayo (próximamente) B7731.
Se pueden administrar conjuntos completos de configuraciones en este ¡NOTA! Las mediciones para ciertos tipos de acero pueden
menú. Le permite al usuario guardar, editar, volver a llamar o eliminar ser convertidas en la resistencia a la tensión según DIN EN
estos conjuntos. Esto se puede usar para obtener un acceso rápido a ISO 18265.
diferentes configuraciones de medición, p. ej. para diferentes piezas de Normas de conversión – Portable Rockwell
ensayo o aplicaciones. El método de medición predeterminado DIN 50157, es aplicable para la
ejecución de ensayos en todos los materiales metálicos, y por lo general
4.1.3 Parámetros de medición proporciona una mayor consistencia. Para las conversión, el usuario tie-
Material ne la posibilidad de elegir ISO o ASTM.
El grupo de materiales se puede seleccionar de la lista predeterminada;
adicionalmente podrán predefinirse grupos de materiales personalizados, Estándares de conversión – UCI
los cuales se visualizarán aquí. Para una información más detallada sobre El método de medición predeterminado se realiza en conformidad con
grupos de materiales relacionados con Leeb, favor de consultar el capítulo ASTM A1038 y DIN 50159. Para conversiones, el usuario podrá elegir o bien
“3.3.1.9 Grupos de materiales”, para Portable Rockwell el capítulo “3.3.2.10 ISO o ASTM.
Grupos de materiales”, y para UCI “3.3.3.6 Conversiones en otras unida-
des”. Dirección de impacto (sólo Leeb)
A excepción de los dispositivos DL y U, todos los dispositivos de impac-
Escalas primarias y secundarias to Leeb disponen de una compensación automática de la dirección. La
El usuario tiene la posibilidad de seleccionar dos diferentes escalas en misma se puede anular, y será posible ajustar la dirección de impacto de
las cuales se visualizarán las mediciones. modo manual. Para una información más detallada sobre la dirección de
impacto, Favor de consultar el capítulo “3.1.1 Procedimiento de ensayos
¡NOTA! La conversión HLD en HV, HB y HRC está normaliza-
da de acuerdo con ASTM E140. Para la conversión Portable Leeb (excepto Leeb U)”. La dirección de impacto no tiene ninguna impor-
Rockwell (µm) y UCI, se puede seleccionar ASTM E140 ó tancia para los dispositivos Portable Rockwell y UCI.
ISO 18265).
Carga del disparador (sólo UCI)
Para la sonda Equotip UCI, se puede seleccionar la carga con la cual se
disparará la medición en el rango de HV1 a HV5 (de 10 a 50 N). No se
podrá cambiar la carga del disparador una vez que se haya comenzado
© 2017 Proceq SA con la serie de mediciones. 25
Unidades (sólo Portable Rockwell) Nombre de archivo de serie de mediciones

Para la sonda Portable Rockwell, seleccionar unidades métricas o impe- Introducir el nombre de archivo para la serie de mediciones a guardar.
riales para la visualización de la profundidad de indentación. Esta posibilidad estará deshabilitada si está activada la gestión de nom-
bres de archivo.
4.1.4 ID de muestra Guardar en carpeta
Ajustar la ubicación de la carpeta en la cual el archivo de serie de me-
Después de la medición
diciones deberá ser guardado. Esta opción estará deshabilitada si está
Usar este ajuste para definir si se conservarán las ID de muestra actuales
activada la gestión de carpetas.
para la siguiente serie de mediciones o si se eliminarán las mismas.
Almacenar datos de señal (sólo Leeb)
Editar inscripciones Seleccionar para almacenar la forma de onda sin procesar para mediciones
Las inscripciones de los diferentes campos de ID de muestra se pueden Leeb. Para Portable Rockwell, la forma de la señal será almacenada auto-
eliminar o editar aquí. Para un aumento o una reducción rápidos, usar las máticamente para cada medición. Esta opción no está disponible para UCI.
flechas hacia arriba y abajo. Para agregar o quitar campos de entrada,
por favor véase el capítulo “8.1.2 Características generales”. ¡NOTA! El almacenamiento de los datos de señal tendrá
como consecuencia un mayor requerimiento de espacio de
4.1.5 Flujo de trabajo memoria de los archivos de mediciones.
Activar guía del usuario Habilitar advertencias

Seleccionar para la visualización de instrucciones y mensajes en la pan- Seleccionar para habilitar señales y sonidos de advertencia para indicar
talla al estar llevando a cabo una medición. mediciones falsas.
Usar algoritmo avanzado (sólo Portable Rockwell) Usar plantillas de informe
El algoritmo avanzado proporciona mediciones más rápidas. Esto es Aquí, se puede seleccionar una plantilla para el informe. La plantilla pre-
particularmente útil al estar ensayando algún material más blando. determinada será usada de modo predeterminado. Esta plantilla prede-
Terminación automática de serie terminada se puede seleccionar en el administrador de plantillas.
Terminar una serie automáticamente después de una cantidad de medi-
Operario
ciones ajustado. El usuario puede ajustar series de 1 a 1000 mediciones.
Aquí, se puede editar el operario del ensayo. Este nombre del operario
Manejo de comentarios de medición es almacenado para las mediciones siguientes pero no para las verifica-
Usar este ajuste para permitir o impedir que el usuario introduzca algún ciones.
comentario al completar una serie de mediciones. Al estar ajustado en
“libre”, lo mismo permitirá al usuario la introducción de algún comentario.
4.1.6 Límites Referencia del operario

Aquí se podrá introducir el nombre de operario de referencia si lo mismo
Habilitar límites superiores e inferiores se requiere. Este nombre será usado para los procesos de verificación.
Seleccionar para habilitar la visualización de límites de tolerancia supe- Si no se introduce ningún nombre, el usuario todavía podrá introducir el
riores e inferiores para las mediciones. Se adoptará una codificación de mismo durante el proceso de verificación.
colores para diferenciar entre los límites superiores e inferiores.
¡NOTA! Nuevo usuario: Se recomienda completar un “Tuto-
4.2 Verificación (prueba de funcionamiento y de incertidumbre) rial sobre ejecución de ensayos Leeb y Portable Rockwell”
Para ver la manera de ejecutar una verificación, favor de consultar el al respecto o ver una demostración por algún representante
capítulo “6.2 Verificación del dispositivo”. cualificado de Proceq.
4.2.1 Administración de bloques de ensayo ¡NOTA! La prueba de funcionamiento debería ejecutarse re-
gularmente antes de cada uso del instrumento para verificar
Es importante verificar la funcionalidad correcta del instrumento en algún las funciones mecánicas y electrónicas del dispositivo de im-
bloque de ensayo calibrado en la genuina escala nativa de la sonda que se pacto y del dispositivo indicador. Este requerimiento también
está usando. En la sección de administración de bloques de ensayo, se po- está incluido en las normas de dureza Leeb DIN y ASTM,
drán almacenar los datos de diferentes bloques de ensayo. Posteriormente, véase el capítulo “8.1 Características”
los bloques de ensayo listados aquí podrán ser usados durante el proceso
de verificación.
4.2.3 Normas de verificación e incertidumbre extendida
4.2.2 Flujo de trabajo
Se recomienda verificar el instrumento antes de ejecutar ensayos. Lo
Norma mismo le dará al usuario la seguridad adicional de que el dispositivo
Seleccionar la norma según la cual se deberá llevar a cabo la verificación. Se está funcionando correctamente y los datos de medición son exactos.
podrá elegir ISO, ASTM o alguna norma definida por el cliente. Aunque el proceso de verificación es similar en todas las normas Leeb y
Portable Rockwell (profundidad de penetración mecánica) y UCI, el usua-
Cuenta mínima de serie rio dispone de la opción de cumplir con la norma/verificación preferida.
Aquí se podrá seleccionar la cantidad mínima de mediciones requerida.
DIN 50156 Ejecución de ensayos de dureza según el método Leeb
Si se había seleccionado una norma previamente, este ajuste estará fi-
de materiales metálicos.
jado. DIN 50157 Ejecución de ensayos de dureza de materiales metálicos
con instrumentos de medición portátiles operando con
Cuenta máxima de la serie
profundidad de penetración mecánica.
Aquí se podrá seleccionar la cantidad máxima de mediciones permitida.
DIN 50159 Ejecución de ensayos de dureza con el método UCI.
Si se había seleccionado una norma previamente, este ajuste estará fi- ASTM A956 Método de ensayos estándar para ensayos de dureza
jado. según el método Leeb de productos de acero.
ASTM A1038 Método de ensayos estándar para ensayos de dureza 4.3.2 Curvas de conversión personalizadas
con el método de impedancia de contacto ultrasónica Véase el capítulo “6.4 Creación de curva de conversión”.
ISO 16859 Se publicará en 2015 y sustituirá DIN 50156.
Incerti- El análisis de incertidumbre de medición es aplicado
dumbre para entender las diferencias entre resultados de la
4.3.2.1 Compensación personalizada
extendida prueba y para determinar fuentes de error. La incerti- En algunos casos, el usuario tiene que medir la dureza en muchas muestras
(incertidumbre dumbre de un sistema de ensayos de dureza Equotip de tamaño y forma idénticos la cual está por debajo de los límites idea-
combinada) Leeb, Equotip Portable Rockwell o Equotip UCI consiste les de la exactitud. ASME y Nordtest han publicado estudios los cuales han
de un componente estadístico, un componente inheren- identificado y confirmado la validez de la estrategia de aplicar un factor de
te al dispositivo de medición y un componente derivado compensación para corregir las inexactitudes causadas por la geometría no
de la cadena metrológica entre la norma nacional y el ideal. Los métodos descritos en los capítulos “6.4 Creación de curva de con-
dispositivo del usuario (trazabilidad). versión” se pueden aplicar para crear este factor de compensación, el cual
Aunque la incertidumbre podría ser un asunto compli- será aplicado automáticamente en el resultado de la prueba del Equotip.
cado, Equotip 550 automáticamente calculará la incer-
tidumbre combinada del sistema. Toda la información 4.4 Informes
requerida ya está a disposición en los certificados de Aquí se puede ajustar el contenido de los informes de medición.
calibración proporcionados por Proceq. Por lo tanto, el
dispositivo únicamente requiere la adición de estos valo- 4.4.1 Explorador de imágenes
res en los campos especificados y la observación de los
Se pueden cargar imágenes, p. ej. logotipos de compañía, desde una me-
pasos sencillos en la pantalla para completar el proceso.
moria USB al dispositivo, para su utilización en los informes. Las imágenes
4.3 Conversiones (conversiones de dureza) deben mostrar el formato *.png o *.jpg, idealmente ser de 72dpi y una
resolución máxima de 496x652 píxeles.
No existe ninguna correlación directa entre ninguna de las escalas de
dureza. Por lo tanto, las conversiones se deberán determinar mediante Cargar imágenes desde una memoria USB
pruebas de comparación para cualquier aleación. Para realizar esto, seguir los pasos más abajo.
• Crear la carpeta “PQ-Import” en el directorio principal de la memoria
4.3.1 Conversiones estándar USB (no como subcarpeta de alguna otra carpeta) y llenarla con todos
Proceq ha desarrollado correlaciones para convertir las mediciones de los archivos pdf a cargar a la pantalla táctil Equotip
dureza Leeb en otras escalas de dureza comúnmente usadas basadas • Conectar la memoria USB en el conector USB Dispositivo en el lado
en grupos de aleaciones que muestran una relación estrecha. Las con- izquierdo de la pantalla táctil Equotip
versiones para HLD y Grupo de materiales 1 (aceros al carbono) están
normalizados según ASTM E140-12b. • Hacer clic en y confirmar haciendo clic en
• Las imágenes cargadas aparecerán en el explorador de imágenes
¡NOTA! La memoria USB deberá estar formateada en FAT o 5. Datos (explorador)

FAT32. No se soporta NTFS.
4.4.2 Explorador de plantillas de informe

Aquí, se pueden administrar las plantillas de informe. O bien se podrá
utilizar la plantilla predeterminada o se podrá crear y editar una plantilla
completamente personalizada. Las plantillas también se pueden copiar
o exportar a una memoria USB.
4.4.3 Informes en PDF

Es posible crear informes directamente en el instrumento en formato PDF
y almacenar los mismos en alguna memoria USB. Elegir los archivos de
medición en el explorador de datos de los cuales se deberá crear un in-
forme y marcar las casillas de los mismos. Tocar el botón para crear
los informes. El informe será creado con la plantilla de informe seleccio-
nada. Repetir esto para cada archivo. Para cada serie de mediciones se
creará un PDF separado.
Figura 20: Menú explorador de datos
¡NOTA! La opción de informe únicamente estará visible al
estar conectada una memoria USB en el instrumento.La me- 5.1 Mediciones
moria USB deberá estar formateada en FAT o FAT32. No se
soporta NTFS.
5.1.1 Almacenamiento de mediciones
Opcionalmente, también se podrá exportar el archivo de proyecto a la
memoria USB. Aquí, todos los archivos serán incluidas en un archivo. Si está deshabilitada la opción de terminación automática o no se alcan-
za una cantidad elegida de impactos, la serie se podrá cerrar y guardar
4.4.4 Informes en Equotip Link de modo manual tocando el botón de almacenamiento .
La alternativa para la creación de informes es el uso del software de PC Si la opción de terminación automática está habilitada, la serie de medi-
Equotip Link. Para más detalles, favor de consultar el capítulo “11. Sof- ciones será almacenada automáticamente tan pronto se haya alcanzado
tware Equotip Link”. una cantidad elegida de impactos.
El nombre bajo el cual se guardará la serie puede editarse en la esquina
superior izquierda.
Tocar un archivo guardado para abrir el mismo y regresar a la lista del

¡NOTA! Si el nombre de archivo ya existe, el nombre será
explorador de datos pulsando el botón ANTERIOR.
extendido con un número, el cual se incrementará con cada
archivo adicional.
Las mediciones almacenadas se pueden organizar en carpetas tocando
el botón de explorador de datos en la opción de carpeta nueva .
Introducir el nombre de la nueva carpeta y confirmar tocando el botón
ANTERIOR en la esquina superior izquierda.
La carpeta en la cual se almacenan las mediciones se puede seleccionar
en Configuración  Medición  Guardar en carpeta.
Figura 21: Vista Medición en el explorador de datos
5.1.2 Explorador de datos
En el menú principal, seleccionar Datos  Mediciones para revisar y ad-
5.1.3 Revisión de datos
ministrar los datos de medición guardados.
En la vista detallada de una serie de mediciones, se puede ver toda la
Cada carpeta y serie de mediciones se mostrará en una línea en la vista
información y la configuración puede editarse.
de explorador.
Todas las diferentes vistas pueden cambiarse en conformidad con las
Para cada serie se podrá ver la sonda usada, el valor medio de la serie,
necesidades del usuario.
el nombre de serie, la fecha y hora de la medición.
Para más detalles sobre las diferentes vistas, favor de consultar el capí-
La lista podrá ser ordenada tocando el encabezado correspondiente. La
tulo “3.2.2 Vistas de medición”.
pequeña flecha indica cual de las listas está ordenada.
5.1.4 Eliminación de archivos
De los archivos de medición almacenados se podrán eliminar impactos
individuales posteriormente. Para realizar esto, abrir la serie de medicio-
nes, tocar el valor a eliminar y tocar el botón ELIMINAR .
Los archivos de medición completos se pueden eliminar en el explorador
de datos. Para realizar esto, tocar la casilla de los archivos apropiados, y
los archivos seleccionadas serán eliminados al tocar el botón ELIMINAR
.
Para borrar todos los datos almacenados en el instrumento, en la carpe-
ta raíz, tocar la casilla en el extremo izquierdo de la hilera del encabezado
y, a continuación, tocar el botón ELIMINAR .
5.1.5 Copiar archivos 6. Asistentes

Para copiar una serie de mediciones, seleccionar el archivo y hacer clic
en el icono . Ir a la carpeta en la cual se deberá crear la copia y tocar
el icono para pegar el archivo. Al copiar algún archivo, se duplicarán
todos los atributos
¡NOTA! ¡El archivo no se puede agregar en la misma carpeta!
5.1.6 Cortar y pegar archivos

Para desplazar alguna serie de mediciones de un lugar al otro, marcar el
archivo correspondiente y tocar el icono . Ir a la carpeta a la cual se
deberá desplazar el archivo y tocar el icono para pegar el archivo.
5.2 Verificaciones
En el menú principal, seleccionar “Datos” y, a continuación, “Verifica-
ciones” para revisar y administrar datos de verificación guardados “6.2 Figura 22: Menú de asistentes
Verificación del dispositivo”.
Los asistentes son una característica única del Equotip 550. Estas sen-
Los datos de verificación se guardan y administran del mismo modo que cillas instrucciones paso a paso son para la mayoría de los usuarios, no
los datos de medición. Excepto que no está permitido ninguna elimina- importando de que tanta experiencia dispongan. Los asistentes interac-
ción. tivos ayudan a acelerar el flujo de trabajo y a mejorar la fiabilidad de la
Cada carpeta y serie de mediciones se mostrará en una línea en la vista medición.
de explorador. Todos los ajustes relacionados a los asistentes se pueden editar en Sis-
Adicionalmente, se visualizará el resultado de cada serie de datos de tema  Configuración de usuario. Véase también el capítulo “8.1 Carac-
verificación, o bien “aprobada” o “fracasada”. terísticas”.
¡NOTA! Para el dispositivo de impacto Equotip Leeb U sólo

está a disposición el asistente “Verificación del dispositivo”.
6.1 Asistente de medición 6.3 Calibración de dirección de impacto (sólo Leeb)

Este asistente particular ayuda a definir el mejor principio de medición, Cada dispositivo de impacto Leeb requiere una calibración para compen-
p. ej. el dispositivo de impacto adecuado para la aplicación, basado sar la dirección de impacto automáticamente. Lo mismo se llevará a cabo
simplemente en las geometrías de la muestra y las condiciones de la fácilmente usando este asistente.
superficie. Para comenzar, se deberá proporcionar información básica
para definir la pieza de ensayo. Cuando el dispositivo ha evaluado la ¡NOTA! Todos los dispositivos de impacto ya estarán calibra-
información, se visualizará una serie de recomendaciones en el orden de dos en la fábrica al enviarlos; sin embargo, a base de la uti-
su relevancia para la aplicación en cuestión. lización y la aplicación, se recomienda recalibrar la dirección
Después de haber completado el proceso inicial, el dispositivo recomien- de impacto antes del proceso de verificación en el capítulo
da la sonda apropiada, la gama de aplicación e información referente a la “6.2 Verificación del dispositivo”. Si el proceso no se com-
preparación. A continuación, se adoptará la configuración y comenzará pleta actualmente, se podrán obtener datos inexactos.
el proceso de medición inteligente.
¡NOTA! Este asistente también se puede iniciar desde el
¡NOTA! Favor de verificar que el número correcto de la serie,
menú Sistema  Sondas.
la dirección de impacto, el grupo de materiales, las escalas
y los límites estén definidos, así como el nombre de archivo
y carpeta.
6.4 Creación de curva de conversión
6.2 Verificación del dispositivo Si las conversiones predeterminadas no son apropiadas para el material
que se está ensayando, se recomienda crear una conversión/correlación
Durante el proceso de verificación, el usuario será guiado a través del personalizada. Este asistente guiará al usuario a través del proceso com-
procedimiento completo. Al terminar el procedimiento, el instrumento pleto de modo sencillo y proporcionará toda la información necesaria
será considerado verificado y los datos se almacenarán en la memoria referente a mediciones de comparación.
del dispositivo. Los datos de verificación también se almacenan mientras
que se está ejecutando la verificación; por lo tanto, se notará cualquier Lo mismo creará una curva de conversión totalmente nueva, la cual se
discrepancia que aparezca con el tiempo. usará para cualquier medición futura en el material en cuestión.
¡NOTA! Este asistente también se puede iniciar desde el 6.4.1 Minimización de errores de conversión
menú Sistema  Sondas. Los errores de conversión normalmente no excederán ±2 HR para las
escalas Rockwell y ±10 % para Brinell y Vickers siempre que se haya
seleccionado correctamente el grupo de materiales. En la mayoría de
¡NOTA! Se requerirá un bloque de ensayo de referencia de los casos, el error de conversión será considerablemente más bajo. Si
Proceq para completar este asistente con éxito. se requiere una mayor exactitud o si la aleación ensayada no es cubierta
por una de las conversiones estándar, el Equotip 550 proporciona una
variedad de métodos para definir conversiones específicas del material.
6.4.2 Métodos para la configuración de conversiones persona- 6.4.3 Ejemplo de una conversión personalizada (método de
lizadas dos puntos)
El Equotip 550 proporciona tres técnicas para obtener conversiones per- Los pares de datos (640 HLD / 41.5 HRC) y (770 HLD / 54.5 HRC) fueron
sonalizadas. Cada una se puede usar para todos los tres diferentes prin- medidos en dos muestras de referencia hechas de “acero especial”.
cipios de medición (ejemplo HLD  HRC): Para medir “acero especial” en el futuro usando una conversión HLD-
Método de un punto: La dureza Leeb HLD y la dureza de la escala de- HRC adaptada, la curva de conversión HLD-HRC original para “1 Acero y
seada (p. ej. HRC) se determinarán para una pieza de trabajo de referen- fundición de acero” es inclinada usando los dos puntos de datos. En este
cia. A continuación, una función de conversión HLD-HRC es adaptada a ejemplo, la conversión especial es definida como válida para el rango de
través de compensación vertical hasta que el par de datos de referencia 41 a 55 HRC.
medido se encuentre en la curva desplazada. Una vez que la curva ha sido creada, se le podrá seleccionar a través del
Método de dos puntos: Dos piezas de ensayo de referencia son en- grupo de materiales “Definido por el cliente” – “Acero especial”, usan-
sayadas, una lo más blanda posible y la otra lo más dura posible, para do la escala de dureza “HRC Rockwell C”, véase también el capítulo
encontrar dos pares de datos (p. ej. HLD / HRC). A continuación, una “3.3.1.8 Ejecución de ensayos en muestras delgadas”.
función de conversión HLD-HRC es adaptada mediante la adición de
una línea recta hasta que ambos pares de datos de referencia medidos
se encuentren en la curva inclinada.
Conversión polinómica: Si una conversión personalizada deberá ser
aplicada a través de un amplio rango de dureza, deberán medirse varias
piezas de ensayo de referencia para encontrar una base estable para
la interpolación. Se pueden programar polinomios de hasta el 5o orden
en el dispositivo indicador Equotip 550 determinando los coeficientes
polinomiales Ai en
HRC(HLD) = A0 + A1· HLD + A2· HLD2 + A3 · HLD3 + A4· HLD4 + A5· HLD5
véase la Guía Técnica Equotip bajo Información  Documentos o en la
sección de descargas de la página web de Proceq.
¡NOTA! Al estar usando una conversión polinomial de un

orden más alto, favor de asegurarse de disponer de coe-
ficientes de suficientes dígitos para evitar inexactitudes en
los cálculos. Figura 23: Conversión de dos puntos
6.5 Método combinado

Las conversiones de dureza predeterminadas existentes en los dispositi-
vos Equotip Leeb están basadas en geometrías específicas de las mues-
tras. Una sonda Portable Rockwell no tiene prácticamente ninguna res-
tricción en lo referente al espesor y la masa. Para aquellas muestras que
no satisfacen las exigencias de la especificación de Leeb, una simple
correlación personalizada basada en las mediciones Portable Rockwell
habilitará al usuario a aplicar un factor de corrección y crear una nueva
conversión de dureza. Este es un ejemplo en el cual se usa el método
combinado para adaptar un método de medición con la ayuda de otro,
para una aplicación que la configuración predeterminada no cubre. Sin
embargo, existen varias otras ocasiones en las que esta útil herramienta
ofrece una gran ayuda. Esto se puede lograr siguiendo el asistente de
método combinado en el Equotip 550. Este asistente permite la combi-
nación de Leeb y Portable Rockwell, UCI y Portable Rockwell, y también
la combinación de los métodos UCI y Leeb. En cada combinación, el
Figura 24: Menú de conversión personalizada método mencionado en segundo lugar es el método de referencia.
Este asistente guiará al usuario con cinco sencillos pasos a través del
6.4.4 Medición de muestras de referencia proceso entero, y finalmente creará la curva de conversión. Se le podrá
Las superficies de las muestras se deberán preparar con gran cuidado y, usar del modo correspondiente para otras aplicaciones. Para una infor-
si es posible, la muestra deberá mostrar las geometrías específicas para mación más detallada, favor de consultar la “Guía de aplicación Equotip”
evitar el uso del método de acoplamiento. en la página web de Proceq.
El funcionamiento del Equotip 550 deberá verificarse mediante el bloque
de ensayo Leeb antes de cada serie de mediciones. 6.6 Asistente de mapeo (próximamente)
El funcionamiento de la máquina de ensayo de dureza estática (HMMRC, El asistente de mapeo le permite al usuario crear un mapa de 2 dimen-
HV, HB, HRC, etc.) deberá ser verificado mediante los bloques de ensayo siones con lecturas. Lo mismo se usa para un ‘escaneado’ de un área
correspondientes a la respectiva escala y el respectivo rango de dureza. completa. Este asistente guiará al usuario durante el proceso entero,
desde la definición del área, a través de las mediciones, hasta el informe
Para obtener un par de valores comparativos, deberán calcularse los
final de medición.
valores medios de por lo menos 10 mediciones HL y de por lo menos
3 valores del ensayo estático. Estos valores deberán obtenerse de po-
siciones próximas en una zona de medición pequeña en función de la
aplicación.
7. Información para la automatización, etc.

• Más documentos podrán agregarse en un momento posterior.
¡NOTA! Se tendrá rápido acceso al documento visto más

recientemente pulsando la “tecla de función”. Para una in-
formación más detallada, véase el capítulo “2.1 Instalación”
7.2 Carga archivos PDF desde una memoria USB

Se pueden guardar documentos adicionales del formato PDF en el ins-
trumento. Para realizar esto, seguir los pasos más abajo.
• Crear la carpeta “PQ-Import” en el directorio principal de la memoria
USB (no como subcarpeta de alguna otra carpeta) y llenarla con todos
los archivos pdf a cargar a la pantalla táctil Equotip
• Ir a Información/Documentos
• Conectar la memoria USB en el conector USB Dispositivo en el lado
izquierdo de la pantalla táctil Equotip
Figura 25: Menú de información • Hacer clic en y confirmar haciendo clic en
• Los archivos PDF cargados aparecerán en el borde inferior de la lista
7.1 Documentos de documentos
Todos los archivos de documentación están almacenados en esta sec-
¡NOTA! La memoria USB deberá estar formateada en FAT o
ción del instrumento y podrán ser vistos directamente en caso necesario.
FAT32. No se soporta NTFS.
• Guía de inicio rápido: Proporciona una descripción general del instru-
mento incluyendo el volumen de suministro.
• Manual de operación: Este documento.
• Certificados: Certificados aplicables a este producto.
• Folleto de aplicación: Datos técnicos detallados acerca de los princi-
pios de medición, sus normas, la influencia de temperaturas elevadas,
instrucciones para uso pesado y demás.
• Paquete de la plataforma de control remoto: Se dan instrucciones
de cómo el instrumento se puede usar con el control remoto, p. ej.
8. Sistema Notificación de verificación: La verificación del instrumento se puede

ajustar en forzada, opcional o deshabilitada. Al estar ajustada en desha-
bilitada, el usuario no será forzado a ejecutar una verificación indirecta.
El ajuste “opcional” es sólo un recordatorio. Al estar seleccionados “for-
zada” u “opcional”, aparecerá una entrada en la cual se podrá elegir el
intervalo de verificación.
Campos personalizados: Aquí se pueden editar los campos de entrada
personalizados. Aparte de los cinco campos predeterminados que no se
pueden eliminar, se podrán agregar 20 campos adicionales.
8.1.3 Gestión de datos

Usar el administrador de carpetas
Activar esta opción para usar la gestión automática de carpetas del
modo configurado en el administrador de carpetas.
Administrador de carpetas
Aquí, se puede editar la ruta deseada. Se podrá crear un máximo de
Figura 26: Menú Sistema subcarpetas con datos elegibles. Tan pronto uno de estos datos cambia,
automáticamente se creará una nueva carpeta.
8.1 Características
Usar administrador de archivos
8.1.1 Configuración de bloqueo del dispositivo Activar esta opción para usar la denominación automática de archivos
Bloquear/desbloquear: Seleccionar esto para bloquear el instrumento y del modo configurado en el administrador de archivos.
protegerlo de cambios involuntarios.
Administrador de archivos
Contraseña: Una contraseña puede ser ajustada para la función de blo- Aquí se podrá configurar un nombre automático consistiendo de cuatro
queo/desbloqueo. Si se deja vacío el campo, no se requerirá ninguna diferentes campos de información.
contraseña para desbloquear la configuración de usuario.
Vista de nombre de archivo largo
8.1.2 Características generales Aquí, elegir entre la vista plena del nombre de archivo o si sólo un rango
Asistente de medición: Están disponibles tres opciones de cómo apli- seleccionado habrá de ser visualizado en la pantalla de medición. Este
car los asistentes de medición. ajuste sólo afectará el nombre en la pantalla de medición pero no en el
explorador o en los informes.
8.1.4 Características de la sonda 8.4 Fecha y hora

Para cada tipo de sonda existe una opción para proteger su configura- La fecha y la hora se ajustarán en este submenú. También se podrá mo-
ción. Adicionalmente, se podrán seleccionar las diferentes característi- dificar el formato de estos ajustes y el huso horario.
cas que se deberán proteger para cada tipo de sonda.
Restablecimiento de fábrica: Seleccionar las opciones para eliminar 8.5 Idioma
todos los datos importantes del dispositivo. Se podrá seleccionar el ajuste del idioma del instrumento. Están a dis-
posición once diferentes idiomas. El idioma del archivo de ayuda será el
¡NOTA! Este paso no se puede deshacer. ¡Los elementos eli-
mismo que para el resto del menú.
minados quedarán permanentemente destruidos!
8.6 Información acerca del dispositivo
8.2 Sondas Tocar el botón INFORMACIÓN en la esquina superior derecha para
Aquí se podrá ver la información referente a la sonda conectada. ver toda la información relacionada al dispositivo, p. ej. se podrá en-
Calibración de ángulo (sólo Leeb): La calibración de ángulo se puede contrar el nombre, la versión y el número de serie, así como el estado
repetir para esta sonda particular. Esta calibración únicamente se puede la batería. En esta página de información también se visualizarán la
de llevar a cabo para los dispositivos de impacto Equotip Leeb. dirección IP (si Ethernet está conectado y está a disposición un servidor
Verificación: La serie de medición de verificación se puede iniciar aquí. DHCP) y la dirección MAC del instrumento.
Para ver información acerca de otras sondas usadas, tocar el botón .

Número de serie de la sonda (sólo para Leeb U): Ya que el número de
serie no puede ser reconocido automáticamente, el usuario tendrá que
introducirlo aquí de modo manual.
8.3 Hardware
Aquí se podrá editar la configuración general relacionada a la interfaz de
usuario y las opciones de alimentación.
Sonido: Se podrá ajustar el volumen de las notificaciones acústicas o
bien apagar las mismas.
Pantalla: El usuario podrá ajustar la intensidad de la luz de la contraluz
de la pantalla.
Alimentación: Se podrá ajustar el periodo tras el cual el instrumento
atenuará la pantalla o se apagará, tanto para el funcionamiento a batería
como AC.
9. Mantenimiento y soporte ¡NOTA! Nunca sumergir el dispositivo en agua. No usar ni

aire comprimido, ni productos abrasivos, ni disolventes, ni
9.1 Mantenimiento lubricantes para limpiar el dispositivo.
El instrumento se debería calibrar una vez al año para asegurar medicio-
nes consistentes, fiables y exactas. Sin embargo, el intervalo de servicio 9.1.3 Almacenamiento
postventa se podrá basar en la experiencia real y el uso. Consultar las Almacenar el Equotip 550 únicamente en el embalaje original y en un
normas aplicables para obtener mayor información. lugar seco y libre de polvo.
9.1.1 Comprobación periódica del dispositivo
9.1.4 Recalibración para dirección de impacto (sólo Leeb)
Las pruebas de funcionamiento, véase el capítulo “4.2 Verificación (prueba
Para los dispositivos de impacto Leeb, la función de compensación se
de funcionamiento y de incertidumbre)” del instrumento se deberían llevar a
basa en parámetros específicos de cada dispositivo de impacto los cua-
cabo por lo menos una vez al año, o a más tardar después de 1000 impac-
les están almacenados en el dispositivo. La vigencia de la calibración
tos. En el caso de un uso poco frecuente, ejecutar la prueba antes de comen- activa se podrá comprobar a través de Sistema  Sondas  Calibración
zar y después de terminar con una serie de ensayos. Además, dejar que un de ángulo y pulsando el botón “Prueba”. Para cada dirección de impac-
centro de servicio al cliente de Proceq calibre el dispositivo una vez al año. to, la desviación de la curva deberá quedar por debajo de ±0.2 Leeb (HL).
¡NOTA! La unidad estará trabajando adecuadamente si el Los parámetros podrán cambiar con el paso del tiempo o debido a in-
promedio se encuentra en el rango de destino. De lo contra- fluencias externas. La recalibración de la función de compensación auto-
rio, favor de consultar el capítulo “10. Localización de fallos” mática en los dispositivos de impacto Equotip Leeb (excepto el tipo DL)
se recomienda sobre todo en las siguientes situaciones:
9.1.2 Limpieza • El dispositivo de impacto ha sido limpiado.
Dispositivo de impacto Leeb: Desenroscar el anillo de soporte. Quitar • El dispositivo de impacto no ha sido usado durante un tiempo pro-
el cuerpo de impacto del tubo guía. Limpiar el tubo guía con el cepillo longado.
limpiador.
• El cuerpo de impacto ha sido sustituido.
Volver a ensamblar.
Una recalibración se realizará mediante la selección consecutiva de “0°
Indentadores Leeb: Limpiar la bola de los cuerpos de impacto Leeb y
(verticalmente hacia abajo)”, “90° (horizontal)” y “180° (verticalmente hacia
el indentador de diamante Portable Rockwell con acetona o algún disol-
arriba)”.
vente similar. (¡No usar ni agua, ni detergentes basados en agua!)
Sondas Portable Rockwell y UCI: Limpiar las sondas y los indentado- 9.1.5 Actualización del sistema operativo y la aplicación del
res de diamante con un paño limpio y seco. Equotip 550
Caja: Limpiar la pantalla y la caja con un paño limpio y seco después de
Conectar el dispositivo en el ordenador. Las actualizaciones se pueden
cada uso. También limpiar los conectores hembra con un cepillo limpio
ejecutar usando Equotip Link de la manera siguiente:
y seco.
• Seleccionar el símbolo ACTUALIZACIÓN en Equotip Link 9.3 Garantía estándar y garantía extendida
• Seleccionar “Exprés” y confirmar con “Siguiente”. La garantía estándar cubre los componentes electrónicos del instrumen-
• Seleccionar el tipo de dispositivo y confirmar con “Siguiente”. to por 24 meses a partir de la fecha de adquisición. Los componentes
mecánicos del instrumento están cubiertos por una garantía de 6 meses.
• En el cuadro de diálogo “Seleccionar tipo de comunicación”, selec-
Es posible adquirir una garantía extendida por uno, dos o tres años adi-
cionar el tipo de comunicación usado entre el Equotip y el PC y, a
cionales para los componentes electrónicos del instrumento hasta 90
continuación, hacer clic en “Siguiente”.
días después de la fecha de adquisición.
• En el cuadro de diálogo “Resultado de búsqueda y selección de dis-
positivo”, asegurarse de que el número de serie del dispositivo en el 9.4 Eliminación de desechos
cuadro desplegable sea el dispositivo que debe actualizarse y, a con-
Está prohibido desechar equipos eléctricos junto con las basuras
tinuación, hacer clic en “Siguiente”.
domésticas. Observando las Directivas Europeas 2002/96/CE,
• Ahora, PqUpgrade explorará los servidores de Proceq con respecto a 2006/66/CE y 2012/19/CE referentes a basuras, equipos eléctri-
actualizaciones disponibles. Para realizar esto, se requerirá una cone- cos y electrónicos y su implementación, en conformidad con las leyes
xión a Internet. nacionales y locales, aquellas herramientas eléctricas y baterías que han
• Seguir la instrucciones en pantalla para finalizar la actualización. alcanzado el final de su vida útil deberán ser recogidas por separado y
devueltas a algún establecimiento de reciclaje compatible con el medio
¡NOTA! Aunque los datos guardados no son eliminados du- ambiente.
rante el proceso de actualización, se recomienda guardar los
datos almacenados antes de actualizar el firmware.
¡NOTA! La actualización “personalizada” se recomienda úni-

camente para usuarios avanzados.
9.2 Concepto de soporte

Proceq provee el soporte completo para este instrumento mediante
nuestro servicio postventa y establecimientos de soporte globales. Se
recomienda que el usuario registre su producto en www.proceq.com
para obtener las actualizaciones más recientes a disposición y otros
datos de valor.
10. Localización de fallos capítulo “3.3.1.6 Ejecución de ensayos en muestras ligeras”.

• Si el instrumento todavía muestra desviaciones excesivas, retornar el
10.1 Mediciones incorrectas / prueba de funcionamiento dispositivo a algún centro de servicio al cliente de Proceq autorizado
fracasada para que sea recalibrado / inspeccionado.
10.1.1 Leeb ¡NOTA! No volver a rectificar los bloques de ensayo o intentar

Durante la prueba de funcionamiento; si el promedio presenta una des- un nuevo pulido de los cuerpos de impacto. Esto afectará
viación del valor de consigna mayor que ±6 HL (± 12 HLU para Leeb U): la exactitud y también podrá deteriorar la funcionalidad del
Equotip 550.
• Comprobar primero si el bloque de ensayo está limpio, liso y seco.
Véase el capítulo “3.3.1.2 Preparación de la muestra”. Sustituir el blo-
que de ensayo si el espacio es insuficiente para ensayos adicionales. 10.1.2 Portable Rockwell
• Limpiar el cuerpo de impacto poniendo atención especial al indenta- Durante la prueba de funcionamiento; si el promedio presenta una des-
dor de bola en el extremo inferior y al perno de enclavamiento en el viación del valor de consigna mayor que ±2 HRC:
extremo superior del cuerpo. Sustituir el cuerpo de impacto en caso
• Confirmar que la base esté fijada firmemente en la sonda, o bien la
necesario.
sonda en la pinza.
• Limpiar el dispositivo de impacto.
• Limpiar el indentador poniendo atención especial en la parte frontal
• Comprobar el montaje y el desgaste del anillo de soporte. Comprobar (diamante) y la rosca del tornillo.
con respecto a depósitos. Limpiar o sustituir en caso necesario.
• Comprobar que el bloque de ensayo esté limpio, liso y seco. Véase
• Podrá haberse seleccionado un grupo de materiales o una escala de el capítulo “3.3.2.2 Preparación de la muestra”. Sustituir el bloque de
dureza incorrectos o algún ajuste incorrecto para la dirección de impac- ensayo si el espacio es insuficiente para ensayos adicionales.
to. Véase el capítulo “4. Configuración”.
• Comprobar el montaje y el desgaste del soporte y de la pinza. Com-
• La escala de dureza seleccionada no está en el rango admisible (nin- probar con respecto a depósitos. Limpiar o sustituir en caso necesa-
guna conversión). Seleccionar otra escala. rio.
• Comprobar si valores individuales están dispersados muy ampliamen- • Se podrá haber seleccionado una conversión incorrecta. Véase el ca-
te o quedan por debajo del límite continuamente. pítulo “4. Configuración”.
• El impacto es disparado mientras que el dispositivo no se está sos- • La escala de conversión seleccionada no está en el rango admisible
teniendo en posición perpendicular a la superficie. Esto podrá ocurrir (ninguna conversión). Seleccionar otra escala de dureza.
sobre todo al estar utilizando el dispositivo de impacto DL. Intentar
• El ensayo es ejecutado mientras que el dispositivo no está en posi-
usar el tubo de plexiglás DL para mejor alineamiento.
ción vertical sobre la superficie, lo cual por lo general originará una
• La muestra no está suficientemente soportada. Preparar la muestra advertencia en el cuadro de diálogo de guía. Esto podrá ocurrir sobre
para el impacto, p. ej. usando el método de acoplamiento, véase el todo al estar usando el trípode. Intentar usar otra base o proceder con
mayor precaución al alinear la sonda verticalmente sobre la superficie. • Comprobar el montaje y el desgaste de la base especial. Comprobar
• La pieza de ensayo no está soportada suficientemente. Preparar la con respecto a depósitos. Limpiar o sustituir en caso necesario.
pieza de ensayo para el ensayo, p. ej. soportándola con una pieza de • Si el ensayo se llevó a cabo sin que el dispositivo haya estado en posi-
metal más grande. ción perpendicular a la superficie, la lectura podrá ser engañosa. Esto
• Asegurar que la sonda no se incline / mueva sobre la superficie. Véase podrá ocurrir sobre todo al estar usando la base estándar. Intentar
el capítulo “3.3.1.7 Ejecución de ensayos en superficies curvas”. usar la base especial o proceder con mayor precaución al alinear la
sonda verticalmente sobre la superficie.
dispositivo a algún centro de servicio al cliente de Proceq autorizado • La pieza de ensayo no cumple los requisitos referentes a la geometría,
para que sea recalibrado / inspeccionado. o no está soportada suficientemente. Consultar el capítulo “3.3.3.4
Condiciones de ensayo” con respecto a los requisitos mínimos. Pre-
¡NOTA! No intentar un nuevo rectificado de los bloques de parar la pieza de ensayo para el ensayo, p. ej. soportándola con una
ensayo ni intentar usar indentadores que no sean de Proceq. pieza de metal más grande.
Esto afectará la exactitud y también podrá deteriorar la fun-
cionalidad del Portable Rockwell .
dispositivo a algún centro de servicio al cliente de Proceq autorizado
para que sea recalibrado / inspeccionado.
10.1.3 UCI
¡NOTA! No intentar un nuevo rectificado de los bloques de
Las tolerancias permitidas para la prueba de funcionamiento UCI varia- ensayo.
rán en función de la norma seleccionada. Según DIN 50159, no debería
divergir más del 5% del valor dado. Esta tolerancia se extenderá para
bloques de ensayo más duros. El Equotip 550 tiene en cuenta estos lími- 10.2 Ninguna lectura visualizada
tes en conformidad con la norma. • Comprobar la conexión de la sonda.
Según ASTM A1038, los valores no deberán divergir por más que un 3%, • Destornillando el anillo de soporte, comprobar si se está insertado un
sin importar la dureza que se está ensayando. cuerpo de impacto Equotip genuino (con la marca “equo”).
• Verificar si se ha seleccionado la configuración correcta, p. ej. ninguna • Comprobar que el anillo de soporte esté firmemente apretado en la
conversión activada. rosca del dispositivo de impacto.
• Limpiar el indentador poniendo atención especial en la parte frontal • Comprobar que el anillo de soporte esté firmemente fijado en la rosca
(diamante) y la rosca del tornillo. del dispositivo de impacto. Comprobar si el cuerpo de impacto está ar-
• Comprobar que el bloque de ensayo esté limpio, liso y seco. Véase mado y soltado al estar ejecutando el procedimiento de cargar – dispa-
el capítulo “3.3.3.2 Preparación de la muestra”. Sustituir el bloque de rar. Si esto no es el caso, podrá estar roto el mandril de enclavamiento
ensayo si el espacio es insuficiente para ensayos adicionales. del dispositivo de impacto o el cuerpo de impacto está insertado al
revés. Insertar el cuerpo de impacto correctamente o sustituir el dispo-
sitivo de impacto con un dispositivo de impacto básico Equotip Leeb.
10.3 Batería 11. Software Equotip Link

Si el dispositivo indicador no se enciende, recargar la batería usando la
fuente de alimentación, véase el capítulo “2.1 Instalación”. 11.1 Inicio de Equotip Link
La batería se puede sustituir con otra batería de iones de litio Equotip. Localizar el archivo “Equotip Link Setup.exe” en el ordenador
del usuario o en el DVD, y hacer clic en él. Seguir la instruccio-
¡NOTA! Si el tiempo de funcionamiento de la batería se está nes visualizadas en la pantalla. Asegurarse de que esté marca-
reduciendo perceptiblemente, ejecutar el pedido de una da la casilla de verificación de “Launch USB Driver install”.
nueva batería. El tiempo de vida de la batería habrá expirado
cuando el LED no se apaga aunque la batería ha estado car-
gándose durante varios días.
Peligro: únicamente usar la fuente de alimentación (12 V, 5
A) para cargar el Equotip 550.
10.4 Calibración de la pantalla táctil

En casos muy raros, o al utilizar una lámina de protección de la pantalla,
podrá ser necesario recalibrar el Equotip 550.
Para hacer esto, pulsar y mantener pulsado el botón de hardware central
(pantalla completa) por 10s. Durante el proceso de calibración, no tocar
la unidad de pantalla ya que lo mismo podrá sesgar la calibración.
Hacer doble clic en el icono de Equotip Link en el escritorio del usuario o

iniciar el programa a través del menú de inicio.
11.2 Configuración de la aplicación

El elemento de menú “Archivo – Configuración de la aplicación” le permi-
te al usuario escoger el idioma y el formato de fecha y hora que deberá
usarse.
11.3 Conexión con una unidad de pantalla táctil Equotip 550 11.4 Conexión con una sonda Portable Rockwell
Conectar la unidad de pantalla táctil Equotip 550 en un puerto USB o co- • Conectar la sonda Portable Rockwell en un PC usando el cable de
nectarla a Ethernet (servidor DHCP requerido). A continuación, seleccio- sonda entregado.
nar para descargar datos de la unidad de pantalla táctil Equotip 550. • Iniciar el software Equotip Link y hacer clic en el icono Portable Roc-
kwell para detectar la sonda Portable Rockwell. Hacer clic en el
Se visualizará la siguiente ventana: Seleccionar el tipo de comunicación botón “New” [nuevo] en el borde inferior de la pantalla.
apropiado. En caso de una conexión a Ethernet, favor de introducir la • Seleccionar la escala de dureza que habrá de visualizarse (escalas de
dirección IP del instrumento en el campo apropiado. Hacer clic en “Si- dureza).
guiente >”. • Seleccionar la cantidad de lecturas ”n” por serie de mediciones.
11.4.1 Datos de visualización

Las mediciones transferidas del Equotip 550 del usuario se visualizarán
en la pantalla:
Si se ha encontrado un Equotip 550, los detalles del mismo se visuali-

zarán en la pantalla. Hacer clic en el botón “Finalizar” para establecer la
comunicación.
Los archivos y las carpetas de medición almace-

nados en la pantalla táctil Equotip se visualizarán
del modo mostrado a la izquierda.
Hacer clic en el icono de doble flecha en la primera columna para ver
Hacer clic en el archivo de medición que habrá de más detalles.
transferirse. Si se han de transferir múltiples archi-
vos, seleccionar los mismos manteniendo pulsado 11.5 Ajuste de la configuración
el botón “Mayús” o “Ctrl”, o hacer clic en “Selec- Todos los ajustes, tales como grupo de materiales, escala, dirección de
cionar todos”. impacto y ambos límites se pueden cambiar posteriormente en Equotip
Link.
Si se han de cambiar los ajustes de múltiples series de mediciones, selec-
cionar cada una de ellas manteniendo pulsado el botón “Mayús” o “Ctrl”.
11.5.1 Ajuste de la fecha y la hora Hacer clic en el icono de “Exportar como archivo(s) CSV”.
Entonces, los datos serán exportados en forma de uno o
Hacer clic con el botón derecho del ratón en la columna “Fecha y hora”.
varios archivos Microsoft Office Excel separados por coma.
Las opciones de exportación pueden seleccionarse en la
ventana siguiente:
La hora se ajustará únicamente para la serie seleccionada.
11.6 Exportación de datos

Hacer clic en el icono de “Exportar como gráfico” para
Equotip Link le permite al usuario la exportación de objetos selecciona- abrir la siguiente ventana que permitirá la selección de las
dos o del proyecto completo. Para usar los datos para un análisis poste- varias opciones de exportación.
rior en programas de terceros, tales como p. ej. Microsoft Excel, los mis-
mos se podrán exportar como archivo separado por coma (CSV). Para
usar los datos directamente en algún informe, los datos de las series se
pueden exportar como gráfico. Como una tercera opción, los datos de
series seleccionadas se pueden imprimir directamente a través de una
impresora.
Hacer clic en el icono de impresora para, de modo directo, im-

primir un informe de la serie de mediciones seleccionada.
11.7 Exportación e importación de perfiles de configuración 12. Especificaciones técnicas

Para transferir la configuración seleccionada de un instrumento a otro, o
para hacer una copia de seguridad, hacer clic en “Equotip – Descargar 12.1 Instrumento
configuración de aplicación del dispositivo”. La configuración será alma-
Pantalla Pantalla de color de 7”, 800x480 píxeles
cenada como archivo en la carpeta especificada en el PC.
Memoria Memoria flash interna de 8 GB
Para volver a instalar una configuración almacenada, hacer clic en (hasta 1’000’000 de mediciones)
“Equotip – Cargar configuración de aplicación del dispositivo”.
Configuración regional Se soportan unidades métricas e imperia-
les, varios idiomas y zonas horarias
11.8 Exportación e importación de curvas de conversión
Batería Polímero de litio, 3.6 V, 14.0 Ah
Las curvas de conversión personalizadas creadas en el instrumento se
Duración de la batería > 8h (en modo de operación estándar)
pueden descargar al PC haciendo clic en “Equotip - Descargar conver-
sión de cliente”. Todas las conversiones de cliente disponibles en el ins- Entrada de alimentación 12 V +/-25 % / 1.5 A
trumento serán almacenadas en el PC, en la carpeta ...\Proceq\Equoti- Peso (del dispositivo de Alrededor de 1525 g (incl. batería)
pLink\Conversiones. visualización)
Para cargar una curva de conversión del PC del usuario, elegir “Equotip Dimensiones 250 x 162 x 62 mm
- Cargar conversiones de cliente”. Esto también es posible para curvas Altitud máx. 2’500 m sobre el nivel del mar
de conversión Equotip3 existentes. Humedad < 95 % HR, sin condensar
Temperatura de servicio De 0°C a 30°C (de 32 a 86°F)
(cargando, instrumento funcionando)
De 0°C a 40°C (de 32 a 104°F)
(cargando, instrumento apagado)
De -10°C a 50°C (de 14 a 122°F)
(no cargando)
Entorno Apto para uso interior y exterior
Clasificación IP IP 54
Grado de contaminación 2
Categoría de instalación 2
¡NOTA! El equipo de carga es sólo para uso en el interior

(ninguna clasificación IP).
12.2 Fuente de alimentación 12.3 Equotip Leeb Dispositivos de impacto

Modelo HK-AH-120A500-DH Rango de medición De 1 a 999 HL
Entrada 100-240 V / 1.6 A / 50/60 Hz Exactitud de medi- ± 4 HL (0.5 % a 800 HL)
ción ± 6 HLU (sólo Leeb U)
Salida 12 V DC / 5 A
Altitud máx. 2500 m sobre el nivel del mar Resolución 1 HL; 1 HV; 1 HB; 0.1 HRA; 0.1 HRB; 0.1 HRC;
0.1 HS; 1 MPa (N/mm2)
Humedad < 95%
Dirección de impacto Compensación automática (excl. sonda DL/U)
Temperatura de servicio De 0 a 40 °C (de 32 a 104 °F) Energía de impacto • 11.5 Nmm para las sondas D, DC, E, S
Entorno Uso exclusivo en interiores • 11.1 Nmm para sonda DL
Grado de contaminación 2 • 3.0 Nmm para sonda C
• 90.0 Nmm para sonda G
Categoría de instalación 2 • 200.0 Nmm para sonda U
Masa del cuerpo de • 5.45 g (0.2 onzas) para las sondas D, DC,
impacto E, S
• 7.25 g (0.26 onzas) para sonda DL
• 3.10 g (0.11 onzas) para sonda C
• 20.0 g (0.71 onzas) para sonda G
• 26.0 g (0.92 onzas) para sonda U
Indentador de bola • Carburo de tungsteno, 3.0 mm (0.12”) de
diámetro, para sondas C, D, DC
• Carburo de tungsteno, 2.78 mm (0.11”) de
diámetro, para sonda DL
• Carburo de tungsteno, 5.0 mm (0.2”) de
diámetro, para sonda G
• Cerámica, 3.0 mm (0.12”) de diámetro, para
sonda S
• Diamante policristalino, 3.0 mm (0.12”) de
diámetro, para sonda E
• Acero templado, 50.0 mm (1.97”) de diáme-
tro para sonda U
Temperatura de ser- De -10˚C a 50˚C (de 14 a 122°F)
vicio
12.4 Sonda Equotip Portable Rockwell 12.5 Sonda Equotip UCI

Dimensiones 112 x ø 40 mm (4.4 x ø 1.57 inch sin Dimensiones 155 x ø 40 mm (6.1 x ø 1.57 inch) sin base
base)
Peso 270 g (9.52 oz)
Peso 260 g (9.17 oz)
Fuente de alimentación a través de interfaz Proceq
Fuente de alimentación A través de USB (5 V, máx. 100 mA)
Rango de medición 20 – 2000 HV
Rango de medición De 0 a 100 µm; de 19 a 70 HRC; de 34
a 1080 HV Exactitud de medición ± 2 % (150 – 950 HV)
Exactitud de medición 1.5 HRC según DIN 50157 Resolución 1 HV; 0.1 HRC
Resolución 0.1 µm; 0.1 HRC; 1 HV Dirección de ensayo Cualquier dirección (sin necesidad de co-
rrección)
Dirección de ensayo Cualquier dirección (sin necesidad de
corrección) Cargas de disparador Selección de: HV1 (~10N), HV2 (~20N),
HV3 (~30N), HV4 (~40N), HV5 (~50N),
Cargas de ensayo 10 N / 50 N (sonda de 50 N)
Indentador de diamante Diamante Vickers en conformidad con ISO
Indentador de diamante Ángulo 100.0° ± 0.5°
6507-2
Temperatura de servicio De 0 a 50 °C (de 32 a 122 °F)
Temperatura de servicio De 0 a 50 °C (de 32 a 122 °F)
Humedad Sin condensar, 90 % máx.
Humedad Sin condensar, 90 % máx.
13. Normas y directivas

• ISO 16859
• ISO 18265
• DIN 50156 / 50157 / 50159
• ASTM A956 / E140 / A370 / A1038
• Directiva DGZfP MC 1
• Directiva VDI / VDE 2616 Hoja 1
• Nordtest Technical Report Series 424, Reports 99.12 / 99.13 / 99.36
• ASME CRTD-91
• GB/T 17394
• JB/T 9378
• JJG 747
• JIS B7731
14. Información de pedido 356 10 005 Equotip 550 UCI consistiendo de unidad de pantalla
táctil Equotip incl. batería, sonda Equotip UCI HV1-HV5,
14.1 Unidades cable de sonda UCI, bloque de ensayo UCI de ~850 HV,
fuente de alimentación, cable USB, placa comparadora
N° de pieza Descripción de rugosidad superficial, DVD con software, documenta-
356 10 001 Equotip 550 consistiendo de pantalla táctil Equotip incl. ción, correa de carga y estuche de transporte
batería, fuente de alimentación, cable USB, placa com- 356 10 006 Equotip 550 Leeb U (para papel, película y láminas)
paradora de rugosidad superficial, DVD con software, consistiendo de pantalla táctil Equotip incl. batería,
documentación, correa de carga y estuche de transporte dispositivo de impacto Equotip Leeb U, cepillo limpiador,
356 10 002 Equotip 550 Leeb D consistiendo de pantalla táctil Equo- cable de sonda, fuente de alimentación, cable USB,
tip incl. batería, Equotip Basic Leeb dispositivo de impac- DVD con software, documentación, correa de carga y
to D, cuerpo de impacto D, anillos de soporte (D6,D6a), estuche de transporte
cepillo limpiador, cable de dispositivo de impacto, bloque 356 10 020 Equotip 550 Portable Rockwell & UCI Kit consistiendo
de ensayo ~775 HLD / ~56 HRC, pasta de acoplamiento, de Equotip 550 UCI (356 10 005) y Equotip Sonda
fuente de alimentación, cable USB, placa comparadora Portable Rockwell 50 N (356 00 600)
de rugosidad superficial, DVD con software, documenta-
ción, correa de carga y estuche de transporte 356 10 021 Equotip 550 Portable Rockwell & Leeb D Kit con-
sistiendo de Equotip 550 Leeb D (356 10 002) y Equo-
356 10 003 Equotip 550 Leeb G consistiendo de pantalla táctil Equo-
tip Sonda Portable Rockwell 50 N (356 00 600)
tip incl. batería, Equotip Basic Leeb dispositivo de impac-
to G, cuerpo de impacto G, anillos de soporte (G6,G6a), 356 10 022 Equotip 550 Leeb D & UCI Kit consistiendo de Equotip
cepillo limpiador, cable de dispositivo de impacto, bloque 550 Leeb D (356 10 002), Sonda Equotip UCI HV1-HV5
de ensayo ~570 HLG / ~340 HB, pasta de acoplamiento, (356 00 700) y Bloque de ensayo Equotip UCI ~850HV,
fuente de alimentación, cable USB, placa comparadora calibración ISO 6507-3 HV5 (357 54 100)
de rugosidad superficial, DVD con software, documenta-
ción, correa de carga y estuche de transporte
14.2 Dispositivos de impacto y sondas
356 10 004 Equotip 550 Portable Rockwell consistiendo de pantalla
táctil Equotip incl. batería, sonda Equotip Portable Roc- Descripción
kwell de 50 N, manguito de protección de goma, cable
N° de pieza Dispositivo de impacto incl. anillo de soporte, cuerpo
de sonda, bloque de ensayo ~62HRC, fuente de alimen-
tación, cable USB, placa comparadora de rugosidad de impacto, cable
superficial, DVD con software, documentación, correa 356 00 500 Equotip Leeb Dispositivo de impacto C
de carga y estuche de transporte
356 00 100 Equotip Leeb Dispositivo de impacto D
356 00 110 Equotip Leeb Dispositivo de impacto DC 327 01 061 Fuente de alimentación
356 00 120 Equotip Leeb Dispositivo de impacto DL 711 10 013 Cable de fuente de alimentación EE.UU. de 0.5 m (1.7 ft)
711 10 014 Cable de fuente de alimentación RU de 0.5 m (1.7 ft)
356 00 400 Equotip Leeb Dispositivo de impacto E
711 10 015 Cable de fuente de alimentación CE de 0.5 m (1.7 ft)
356 00 300 Equotip Leeb Dispositivo de impacto G 327 01 053 Cargador rápido
356 00 200 Equotip Leeb Dispositivo de impacto S 356 00 081 Equotip Placa comparadora de rugosidad superficial
360 04 600 Equotip Leeb Dispositivo de impacto U 350 01 015 Equotip Pasta de acoplamiento
356 00 082 Lámina anti reflejo para unidad de pantalla táctil
Sólo dispositivo de impacto
Equotip Leeb Cable de dispositivo de impacto de
353 00 501 Equotip Basic Leeb Dispositivo de impacto C 356 00 080
1.5 m (5 ft)
353 00 101 Equotip Basic Leeb Dispositivo de impacto D
Equotip Leeb Cable de prolongación de dispositivo de
353 00 111 Equotip Basic Leeb Dispositivo de impacto DC 353 00 086
impacto de 5 m (15 ft)
353 00 121 Equotip Basic Leeb Dispositivo de impacto DL Equotip Leeb Cable de dispositivo de impacto U de
356 00 083
353 00 401 Equotip Basic Leeb Dispositivo de impacto E 1.5 m (5 ft)
353 00 301 Equotip Basic Leeb Dispositivo de impacto G 350 01 004 Equotip Cuerpo de impacto D/DC
353 00 201 Equotip Basic Leeb Dispositivo de impacto S 350 71 311 Equotip Cuerpo de impacto DL
360 04 032 Equotip Basic Leeb Dispositivo de impacto U 350 71 413 Equotip Cuerpo de impacto S
350 08 002 Equotip Cuerpo de impacto G
356 00 600 Equotip Sonda Portable Rockwell 50 N 350 07 002 Equotip Cuerpo de impacto E
(para Equotip 550 ó PC) 350 05 003 Equotip Cuerpo de impacto C
356 00 700 Sonda Equotip UCI HV1-HV5 360 04 504 Equotip Cuerpo de impacto U
350 01 009 Equotip Anillo de soporte D6
14.3 Piezas y accesorios
350 01 010 Equotip Anillo de soporte D6a
N° de pieza Descripción 350 08 004 Equotip Anillo de soporte G6
327 01 043 Correa de carga completa 350 08 005 Equotip Anillo de soporte G6a
327 01 033 Batería completa
350 71 314 Equotip Anillo de soporte DL
351 90 018 Cable USB de 1.8 m (6 ft)
360 04 531 Equotip Anillo de soporte U Soporte Equotip Portable Rockwell Z4 para pinza de
354 01 228
Equotip Conjunto de anillos de soporte (12 uds.) apro- medición (para tubos y tuberías de hasta Ø 28 mm)
353 03 000
piados para D/DC/C/E/S 356 00 720 Base especial Equotip UCI
Equotip Leeb Cepillo limpiador de dispositivo de
350 01 008 14.4 Bloques de ensayo
impacto D/DC/C/E/S
Equotip Leeb Cepillo limpiador de dispositivo de N° de pieza Descripción
350 08 006
impacto G
357 11 500 Equotip Bloque de ensayo C, ~565 HLC / <220 HB,
Cepillo limpiador de dispositivo de impacto Equotip
360 04 502 calibración de fábrica de Proceq
Leeb U
Equotip Leeb Palo de carga para dispositivo de 357 12 500 Equotip Bloque de ensayo C, ~665 HLC / ~325 HB,
350 01 007 calibración de fábrica de Proceq
impacto DC
Equotip Leeb Manguito de plexiglás para dispositivo 357 13 500 Equotip Bloque de ensayo C, ~835 HLC / ~56 HRC,
350 71 316
de impacto DL calibración de fábrica de Proceq
Grupo indicador para Equotip Leeb Dispositivo de 357 11 100 Equotip Bloque de ensayo D/DC, <500 HLD / <220 HB,
360 04 530
impacto U calibración de fábrica de Proceq
357 12 100 Equotip Bloque de ensayo D/DC, ~600 HLD / ~325 HB,
354 01 139 Equotip Cable de sonda Portable Rockwell de 2 m (6 ft) calibración de fábrica de Proceq
354 01 200 Equotip Portable Rockwell Pinza de medición 357 13 100 Equotip Bloque de ensayo D/DC, ~775 HLD /
~56 HRC, calibración de fábrica de Proceq
354 01 130 Equotip Portable Rockwell Trípode
357 13 105 Equotip Bloque de ensayo D/DC, ~775 HLD, un lado,
354 01 250 Equotip Portable Rockwell Base especial RZ 18 - 70 calibración de fábrica de Proceq
354 01 253 Equotip Portable Rockwell Base especial RZ 70 - ∞ 357 11 120 Equotip Bloque de ensayo DL, <710 HLDL / <220 HB,
Equotip Portable Rockwell Manguito de protección de calibración de fábrica de Proceq
354 01 137
goma 357 12 120 Equotip Bloque de ensayo DL, ~780 HLDL / ~325 HB,
Soporte Equotip Portable Rockwell Z2 para pinza de calibración de fábrica de Proceq
354 01 243
medición
357 13 120 Equotip Bloque de ensayo DL, ~890 HLDL / ~56 HRC,
Soporte Equotip Portable Rockwell Z4+28 para pinza calibración de fábrica de Proceq
354 01 229 de medición (para tubos y tuberías más grandes que
Ø 28 mm)
357 13 400 Equotip Bloque de ensayo E, ~740 HLE / ~56 HRC, Calibraciones de bloques de ensayo
calibración de fábrica de Proceq N° de pieza Descripción
357 14 400 Equotip Bloque de ensayo E, ~810 HLE / ~63 HRC, Equotip Leeb Calibración adicional de bloque de ensa-
357 10 109 yo HLD/HLDC
calibración de fábrica de Proceq
Equotip Leeb Calibración adicional de bloque de
357 31 300 Equotip Bloque de ensayo G, <450 HLG / <200 HB, 357 10 129
ensayo HLDL
calibración de fábrica de Proceq Equotip Leeb Calibración adicional de bloque de
357 10 209
357 32 300 Equotip Bloque de ensayo G, ~570 HLG / ~340 HB, ensayo HLS
calibración de fábrica de Proceq Equotip Leeb Calibración adicional de bloque de
357 10 409
ensayo HLE
357 13 200 Equotip Bloque de ensayo S, ~815 HLS / ~56 HRC, Equotip Leeb Calibración adicional de bloque de
calibración de fábrica de Proceq 357 10 509
ensayo HLC
357 14 200 Equotip Bloque de ensayo S, ~875 HLS / ~63 HRC, Equotip Leeb Calibración adicional de bloque de
357 30 309
calibración de fábrica de Proceq ensayo HLG
Equotip Leeb Calibración adicional de bloque de ensa-
360 04 503 Equotip Bloque de ensayo U, ~560 HLU, calibración 357 90 909
yo HL, DIN 50156-3
de fábrica de Proceq
357 90 919
yo HB, ISO 6506-3
357 41 100 Equotip Portable Rockwell Bloque de ensayo 357 90 929
yo HV, ISO 6507-3
~20 HRC, calibración ISO 6508-3 HRC Equotip Leeb Calibración adicional de bloque de ensa-
357 90 939
357 42 100 Equotip Portable Rockwell Bloque de ensayo yo HR, ISO 6508-3
~45 HRC, calibración ISO 6508-3 HRC
Equotip Portable Rockwell Calibración adicional de
357 44 100 Equotip Portable Rockwell Bloque de ensayo 357 90 918
bloque de ensayo HB, ISO 6506-3
~62 HRC, calibración ISO 6508-3 HRC Equotip Portable Rockwell Calibración adicional de
357 90 928
357 51 100 Bloque de ensayo Equotip UCI ~300HV, calibración bloque de ensayo HV, ISO 6507-3
ISO 6507-3 HV5 Equotip UCI Calibración adicional de bloque de ensayo
357 90 940
357 52 100 Bloque de ensayo Equotip UCI ~550HV, calibración HB, ISO 6506-3
ISO 6507-3 HV5 Equotip UCI Calibración adicional de bloque de ensayo
357 90 941
HR, ISO 6508-3
357 54 100 Bloque de ensayo Equotip UCI ~850HV, calibración
Equotip UCI Calibración adicional de bloque de ensayo
ISO 6507-3 HV5 357 90 942
HV1, ISO 6507-3
Proceq Europe Proceq Middle East
Ringstrasse 2 P. O. Box 8365, SAIF Zone,
CH-8603 Schwerzenbach Sharjah, Emiratos Árabes Unidos
Teléfono: +41 -43-355 38 00 Teléfono: +971-6-557-8505
Fax: +41 -43-355 38 12 Fax: +971-6-557-8606
[email protected] [email protected]
Proceq UK Ltd. Proceq SAO Ltd.

Bedford i-lab, Priory Business Park Rua Paes Leme, 136, cj 610
Stannard Way Pinheiros, São Paulo
Bedford MK44 3RZ Brasil Cep. 05424-010
Reino Unido Teléfono: +55 11 3083 38 89
Teléfono +44-12-3483-4515 [email protected]
[email protected]
Proceq China
Proceq USA, Inc. Unit B, 19th Floor
117 Corporation Drive Five Continent International Mansion, No. 807
Aliquippa, PA 15001 Zhao Jia Bang Road
Teléfono: +1-724-512-0330 Shanghai, 200032
Fax: +1-724-512-0331 Teléfono: +86 21-63177479
[email protected] Fax: +86 21 63175015
[email protected]
Proceq Asia Pte Ltd
12 New Industrial Road
#02-02A Morningstar Centre
Singapore 536202
Teléfono: +65-6382-3966
Fax: +65 -6382-3307
[email protected]
Proceq Rus LLC

Ul.Optikov 4
Korp. 2, lit. A, Office 410
197374 St. Petersburg
Rusia
Teléfono/Fax: + 7 812 448 35 00
[email protected]
Sujeto a modificaciones. Copyright © 2017 por Proceq SA, Schwerzenbach, Suiza. Todos los derechos reservados.
82035601S ver 05 2017

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Manual de operación

60 Years of Innovation Swiss Precision since 1954

1. Seguridad y responsabilidad legal 1.3 Instrucciones de seguridad

Figura 1: Insertar la batería 12 USB Host

2.2 Menú principal

Configuración: Para una configu-

Medición: Datos (explorador): Administrador

Sistema: Configuración del

Asistentes: Flujos de Información: Manual de opera-

Figura 3: Menú principal

3. Medición Después de que se haya ejecutado el último impacto, se visualizará la

3.1.2 Procedimiento de ensayos Portable Rockwell 3.1.3 Procedimiento de ensayos UCI

3.1.4 Procedimiento de ensayos Leeb U

1. Posicionar la sonda en la bobina a

¡NOTA! Algunas características mencionadas en este manual

3.2 Pantalla de medición

Material: Seleccionar el Asistentes: Acceso Guardar: Almacenar datos de medición.

Escala de medición: Seleccionar la escala de Rehacer: Reiniciar la serie de medicio-

¡NOTA! Las vistas de pantalla no se pueden duplicar.

Figura 9: Vistas de medición

3.3.1.2 Preparación de la muestra 3.3.1.3 Normas

Figura 12: Placa comparadora de rugosidad superficial

3.3.1.4 Condiciones de ensayo

Tipo de dispositivo de impacto D/DC/DL/S/E G C

3.3.1.5 Selección del dispositivo de impacto Equotip Leeb

Tipo G: Energía de impacto incrementada. Para componentes

Tipo S: Indentador de bola de Si3N4. Tipo C: Energía de impacto reducida.

Tipo E: Indentador de bola de diamante.

¡NOTA! La tensión de la abrazadera puede afectar la muestra

¡NOTA! El usuario deberá determinar y calificar la adaptación

3.3.2 Equotip Portable Rockwell ¡NOTA! Mediante el cálculo de la profundidad de penetración

¡NOTA! “MM” simboliza “medición móvil mecánica”, un com-

3.3.2.3 Medición basada en DIN 50157

3.3.2.4 Condiciones de ensayo 3.3.2.5 Instalación de la pinza de medición

Configuración de Sonda Sonda Sonda Sonda de

La base Son Figura 16: Pinza Portable Rockwell

3.3.2.9 Estándar de conversión 3.3.3.2 Preparación de la muestra

3.3.3.4 Condiciones de ensayo

Configuración de la sonda HV1 (~10 N) HV5 (~50 N)

300 HV, 30 HRC Profundidad 11.3 µm / 445 µinch 25.3 µm / 996 µinch

¡NOTA! Para medir en lugares de acceso limitado, la sonda se

3.3.3.6 Conversiones en otras unidades

4.1.1 Tipo de sonda ¡NOTA! El dispositivo de impacto Equotip Leeb U no soporta

Unidades (sólo Portable Rockwell) Nombre de archivo de serie de mediciones

Activar guía del usuario Habilitar advertencias

4.1.6 Límites Referencia del operario

¡NOTA! La memoria USB deberá estar formateada en FAT o 5. Datos (explorador)

4.4.2 Explorador de plantillas de informe

4.4.3 Informes en PDF

Tocar un archivo guardado para abrir el mismo y regresar a la lista del

5.1.5 Copiar archivos 6. Asistentes

¡NOTA! ¡El archivo no se puede agregar en la misma carpeta!

5.1.6 Cortar y pegar archivos

¡NOTA! Para el dispositivo de impacto Equotip Leeb U sólo

6.1 Asistente de medición 6.3 Calibración de dirección de impacto (sólo Leeb)

¡NOTA! Al estar usando una conversión polinomial de un

6.5 Método combinado

7. Información para la automatización, etc.

¡NOTA! Se tendrá rápido acceso al documento visto más