UNIVERSIDAD AUTÓNOMA DE QUERÉTARO

FACULTAD DE QUÍMICA

“METROLOGÍA Y CALIBRACIÓN DE
ESPECTROFOTÓMETROS UV-VISIBLE Y
ESPECTRÓMETROS FT-IR”

MEMORIAS DE TRABAJO

QUE PARA OBTENER EL TÍTULO DE

QUÍMICO FARMACÉUTICO BIÓLOGO

PRESENTA

ALEJANDRO NÚÑEZ VILCHIS

DIRIGIDA POR

M. en C. GUSTAVO PEDRAZA ABOYTES

SANTIAGO DE QUERÉTARO, QUERÉTARO, 2014

ÍNDICE GENERAL

Contenido Página
ÍNDICE GENERAL. i
ÍNDICE DE CUADROS. iii
ÍNDICE DE FIGURAS. iv
RESUMEN.
1. INTRODUCCIÓN. 1
1.1 Metrología. Conceptos e importancia. 1
1.2 Institutos Nacionales de Metrología, Centro Nacional
de Metrología y laboratorios secundarios. 3
1.3 Sistema Internacional de Unidades. 4
1.4 Incertidumbre. 8
1.5 Entidad mexicana de acreditación y Norma ISO 17025. 12
2. ANTECEDENTES. 12
2.1 Metrología Óptica. 12
2.2 Espectrofotometría UV-Visible. 15
2.3 Calibración de la escala fotométrica. 20
2.4 Calibración de la escala de longitud de onda. 21
2.5 Espectroscopia Infrarroja. 24
2.6 Calibración de la escala de número de onda. 30
3. OBJETIVOS. 31
3.1 General 31
3.2 Específicos 31
4. METODOLOGÍA. 31
4.1 Material de referencia certificado. 31
4.2 Procedimiento de calibración. 31
4.3 Calibración de espectrómetros de Infrarrojo medio. 31
4.4 Calibración de espectrofotómetros UV-Visible. 32
5. RESULTADOS. 32
5.1 Película de poliestireno. 32

i
 5.2 Procedimiento de calibración de espectrómetros FT-IR y
parámetros espectrales. 34
5.3 Resultados de la calibración de un espectrómetro FT-IR medio. 36
5.4 Resultados de la calibración de un espectrofotómetro UV-Visible. 41
6. DISCUSIÓN. 48
7. CONCLUSIONES. 59
8. REFERENCIAS 61
ANEXOS 64

ii
ÍNDICE DE CUADROS.

Cuadro Página
1 Magnitudes, nombres y símbolos de las unidades del SI. 5
2 Factores de cobertura (k) asignados a niveles de confianza. 11
3 Valores certificados de número de onda (σ) e incertidumbres
con k = 2 de la película de poliestireno. 33
4 Parámetros espectrales usados en la calibración del FT-IR. 35
5 Resultados de la calibración del FTIR-PE (valores en cm-1). 36
6 Error normalizado en la medición del material de referencia. 38
7 Resultados de ANOVA para los errores sistemáticos. 39
8 Resultados de la calibración de la escala de longitud
de onda del UV/VIS-HP (valores en nm). 42
9 Resultados de la calibración de la escala fotométrica. 45
10 Resultados de la calibración de la escala fotométrica (cont.) 46
11 Resultados de la calibración a 750 nm. 57
12 Calores certificados del filtro 3 a 750 nm de longitud de onda. 58

iii
ÍNDICE DE FIGURAS

Figura Página
1 Distribución normal y sus niveles de confianza. 11
2 Representación gráfica de la relación entre reflectancia (ρ)
y color. 13
3 Sistema transparente (arriba) y de reflexión (abajo) para
medición de índice de refracción. 14
4 Espectro electromagnético en longitud de onda en metros
(escala superior) y en frecuencia en Hz (escala inferior) 15
5 Esquema de un espectrofotómetro UV-Visible de haz simple. 18
6 Instrumento patrón del Sistema Nacional de Espectrofotometría. 19
7 Espectro de los FDN en el intervalo visible. 21
8 Filtros óxido de didimio (derecha) y óxido de holmio en
solución (izquierda). 22
9 Espectros del óxido de holmio (arriba) y del óxido de
didimio (abajo) a un ABE = 1 nm 24
10 Distribución de la radiación IR en el espectro electromagnético. 25
11 Vibraciones moleculares ocasionadas por radiación IR. 26
12 Diseño óptico de un espectrómetro infrarrojo dispersivo. 27
13 Diseño óptico de un espectrómetro FT-IR. 28
14 Representación gráfica del funcionamiento del ATR. 29
15 Material de referencia certificado por el CENAM. 32
16 Espectro infrarrojo del material de referencia certificado. 34
17 Espectro infrarrojo de la película de poliestireno
obtenido en el FTIR-PE. 37
18 Distribución de los errores sistemáticos. 39
19 Diagramas de caja y bigotes de las mediciones en el FT-IR/PE. 40
20 Diagramas de caja y bigotes de las mediciones en el
FT-IR/PE (cont.) 41

iv
21 Espectro visible del filtro de didimio (arriba) y ultravioleta
visible del óxido de holmio obtenidos en el UV/VIS-HP. 43
22 Distribución del error y la incertidumbre expandida. 44
23 Curva simulada del error sistemático del instrumento. 44
24 Distribución del error sistemático en escala fotométrica. 47
25 Unidad fundamental del poliestireno. 48
26 Tacticidad del poliestireno. 49
27 Método del Centro de gravedad para determinar posición
de picos. 50
28 Carta de trazabilidad de la película de poliestireno. 51
29 Descripción gráfica de la prueba de error normalizado. 53

v
RESUMEN

Este trabajo explicará el concepto y las aplicaciones de la metrología en la

sociedad desde sus inicios hasta la época actual. Particularmente tocará el tema de
la metrología óptica y la calibración de los instrumentos de medición de ésta área,
específicamente espectrofotómetros UV-Visible y Visible, así como de los
materiales de referencia que se utilizan para los mismos fines. Todo esto, a manera
de exponer las actividades que he realizado, desde febrero de 2013, en la empresa
HEEL Laboratoire, S. de R. L. de C. V., la cual es un laboratorio secundario de
metrología dedicado a la calibración de los equipos y materiales antes
mencionados. Contendrá, además, parte de un proyecto de ampliación del alcance
para poder ofrecer el servicio de calibración de espectrómetros FT-IR.
 1. INTRODUCCIÓN.
1.1 Metrología. Conceptos e importancia.
La metrología se define como la ciencia encargada del estudio, el procesamiento y
la interpretación de las mediciones. Esta ciencia abarca diversas actividades como
son: realizar mediciones con instrumentos analíticos (desde su fundamento físico-
químico), cálculo y corrección de errores sistemáticos, determinación de
incertidumbres de medida, normalización de magnitudes, entre otras.
La metrología puede dividirse en diversas áreas dependiendo del uso que se le dé,
estas son: metrología industrial, metrología legal y metrología científica.
La metrología industrial se refiere a al uso de instrumentos de medición en el
campo de la industria. La metrología legal es aquella encargada de la protección
del consumidor y por lo mismo va ligada indirectamente a la metrología industrial.
Ambas dependen ampliamente de la metrología científica, ya que es la encargada
de mantener las mediciones a través de los patrones de referencia, por definición
es de carácter internacional y realiza actividades de investigación y reproducción de
las magnitudes (Cárdenas, 2011). En torno a la clasificación, a partir de este
momento, al decir metrología en estas memorias de trabajo se entenderá como
metrología científica a menos que se indique lo contrario.
Al hablar de metrología se deben conocer diversos conceptos que se aplican de
manera universal, con la finalidad de normalizar estos conceptos en el año de 1997
se formó una comisión que estaría encargada de la redacción de dos importantes
documentos, la comisión era el Comité Común para Guías de la Metrología (Joint
Committee for Guides in Metrology o JCGM) y los documentos eran la Guía para la
Expresión de Incertidumbre en la Medición (Guide to the Expression of Uncertainty
in Measurement o GUM) y el Vocabulario Internacional de Términos Básicos y
Generales en Metrología (International Vocabulary of Basic and General Terms in
Metrology o VIM). Dicho comité se conformó por representantes de diversas
instituciones entre las que se encuentran la Oficina Internacional de Pesos y
Medidas (BIPM), la Unión Internacional de Química Pura y Aplicada (IUPAC) y la
Organización Internacional de Estandarización (ISO), entre otras.

1
El VIM, actualmente en su tercera edición, expone un conjunto de conceptos
(básicos y generales) asociados con la metrología, también contiene diagramas e
información adicional que ayuda a complementar los conceptos principales.
Además, dichos conceptos están identificados con un sencillo sistema con el
objetivo de facilitar su lectura y búsqueda.
De acuerdo a este documento, la “metrología” se define como la ciencia de la
medición y sus aplicaciones, incluidos sus aspectos teóricos y prácticos.
Si bien el concepto de “magnitud” no está indicado en este documento, se le
relaciona con el de “cantidad” y lo define como la propiedad de un fenómeno,
cuerpo o sustancia a la cual se puede asignar un número con relación a una
referencia. Ligado a este concepto, tenemos también el de “mensurando” que viene
a ser la magnitud propuesta para medirse.
Pero el concepto más importante es el de “medición” definida como el proceso que
consiste en obtener experimentalmente uno o varios valores que pueden atribuirse
razonablemente a una magnitud. Entiéndase la palabra “proceso” como todo lo que
va desde la preparación del fenómeno, cuerpo a sustancia a medir hasta la
interpretación y corrección de errores de medida. Una medición está fundamentada
en un principio de medición , que es la base científica o fundamento teórico del
método, y deriva en un procedimiento de medida definida como la descripción
detallada de una medición conforme a uno o más principios de medida y a un
método dado y que incluye los cálculos necesarios para obtener un resultado de
medida.
La importancia de la metrología reside en que, de manera universal, se deben
utilizar patrones de referencia con los cuáles se puedan comparar todos los
instrumentos de medición y, con ellos, realizar mediciones metrológicamente
normalizadas. Esta comparación entre patrón e instrumento se conoce como
calibración y está definida como la operación que, bajo condiciones específicas,
establece una relación entre el valor obtenido de una magnitud con las
incertidumbres de medida provistas por estándares de medición (patrones de
referencia) y que además sirve, usando esta relación, para obtener un resultado de

2
medida correspondiente a una indicación (Joint Comittee for Guides in Metrology,
2008).

1.2 Institutos Nacionales de Metrología, Centro Nacional de Metrología y

laboratorios secundarios.
Existen, en todo el mundo, instituciones cuya función es la de estandarizar las
mediciones (es decir, calibrar los instrumentos) de empresas, públicas y privadas,
con la finalidad de normalizar las mediciones, Los laboratorios de metrología se
clasifican en primarios y secundarios. Un Laboratorio Primario es aquella
organización poseedora de los patrones nacionales (o en su defecto de un grupo
de países) de medida. Las incertidumbres de sus equipos y materiales son, por
definición, las más pequeñas de toda el área a la que representa. Los Institutos
Nacionales de Metrología (INM) deben formar parte del Comité Internacional de
Pesos y Medidas (CIPM) el cuál se reúne cada 4 años para discutir y decidir
asuntos en contexto de metrología, esta reunión es la Conferencia General de
Pesos y Medidas (CGPM). La incorporación al CIPM, implica firmar el Acuerdo de
Reconocimiento Mutuo (CIPM MRA), los objetivos de este acuerdo son:
- Establecer el grado de equivalencia entre los estándares nacionales de
medida de cada INM.
- Proporcionar el reconocimiento mutuo de los certificados de calibración y
medición emitidos por los INM’s.
- Proporcionar al gobierno y otras entidades un fundamento teórico seguro
que permita realizar acuerdos más amplios en cuanto a negocios
comerciales, de viaje y de regulación. (Wallard y Hänsch, 2007)
Una subdivisión del CIPM es la Oficina Internacional de Pesos y Medidas (BIPM por
sus siglas en francés) quien mantiene los patrones primarios, incluido el del
kilogramo. Cabe mencionar que la masa actualmente es la única magnitud cuyo
patrón es un objeto y no un fenómeno de elevada reproducibilidad.
México cuenta, desde Julio de 1992, con el Centro Nacional de Metrología
(CENAM) quien se incorpora al CIPM MRA en Octubre de 1999. Es el laboratorio
nacional de referencia en materia de mediciones y fue creado con el fin de apoyar

3
al Sistema Metrológico Nacional. Es responsable de establecer y mantener los
patrones nacionales, ofrecer servicios metrológicos como calibración de
instrumentos y patrones, certificación y desarrollo de materiales de referencia,
cursos especializados en metrología, asesorías y venta de publicaciones,
cumpliendo con todo esto las responsabilidades de un INM. Además, en
concordancia con el Acuerdo de Reconocimiento Muto, mantiene un estrecho
contacto con otros laboratorios nacionales y con organismos internacionales con el
fin de asegurar el reconocimiento internacional de los patrones nacionales de
México y promover la aceptación de los productos y servicios del mismo.
Antes mencionaba que existían laboratorios primarios y secundarios de metrología,
siendo los primarios los INM’s. Los secundarios, son empresas dedicadas a la
calibración de instrumentos y materiales de referencia pero que no cuentan con los
patrones primarios de medición. Sus estándares (instrumentos y materiales) son
calibrados por un INM, en México corresponde al CENAM y poseen un certificado
emitido por el mismo. Esto les otorga la facultad de ofrecer el servicio de calibración
transmitiendo el correspondiente error e incertidumbre de medida de sus patrones
certificados. Las ventajas principales de los laboratorios secundarios son el costo y
la disponibilidad, los INM tienen una agenda apretada y si se quiere obtener un
servicio de calibración del mismo la lista de espera es de varios meses, además de
que sus costos son elevados puesto que se garantiza que la incertidumbre es la
más baja del país. Actualmente, las normas nacionales e internacionales, solicitan
a laboratorios de ensayo y prueba, es decir aquellos que realizan cualquier tipo de
medición como parte de sus actividades cotidianas, que sus instrumentos de
medida tengan trazabilidad a los patrones nacionales por lo que no es necesario
que éstos sean calibrados por el CENAM pero si por Laboratorios Secundarios que
posean esta trazabilidad y por lo mismo se les transmita.

1.3 Sistema Internacional de Unidades.

A lo largo de la historia se han tenido que establecer patrones de medida en
conformidad con las necesidades de la sociedad, se tiene evidencia que la unidad
patrón más antigua es la del pie del príncipe de Gudea de Lagash, esta medida

4
consiste en una regla sobre el regazo de una estatua que representa al príncipe y
data del año 2050 a. C. La regla está dividida en 16 partes (llamadas “dedos”) y fue
utilizada en la antigua Persia durante muchos años (Cardenas-Espinosa, 2001). Así
como este, se pueden mencionar distintos ejemplos de patrones. Por lo mismo, uno
de los objetivos de la Revolución Francesa fue la de trabajar con un sistema de
unidades único, lo cual se logra en el año de 1875 al formar el Comité Internacional
de Pesos y Medidas (CIPM) y, con la firma del tratado llamado “La Convención del
Metro”, se establece al Sistema Métrico Decimal como universal, sin embargo, en el
siglo XX existía un caos científico debido a que cada área del conocimiento había
establecido su propio sistema de medición (CGS, MKS, MKSA y MTS), por lo que
en el año de 1960 el CIPM realiza la XI Conferencia General de Pesos y Medidas
que efectuó dos mejoras en el área de metrología. La primera es cambiar el patrón
de longitud (metro) que hasta entonces era una barra de aleación platino-iridio, por
la longitud de onda luminosa del isótopo 86 del Kriptón. La segunda mejora fue
adoptar al Sistema Internacional de Unidades (SI) para uso universal.
El SI contempla siete unidades/magnitudes fundamentales las cuáles se muestran
en el Cuadro 1 (Nava-Jaimes y col., 2001).

Cuadro 1. Magnitudes, nombres y símbolos de las unidades del SI

Magnitud Unidad Símbolo

Longitud metro M
Masa kilogramo Kg
Tiempo segundo S
Corriente eléctrica ampere A
Temperatura
kelvin K
termodinámica
Intensidad luminosa candela Cd
Cantidad de sustancia mol mol

5
Cada magnitud fundamental se obtiene mediante un patrón universal que son
mantenidos y reproducidos de manera constante por la BIPM, que viene a ser el
brazo científico del CIPM y que además calibra los patrones nacionales de los
INM’s.
Antes se mencionó que actualmente el único patrón material es el kilogramo, que
es la masa igual a la del prototipo internacional (un artefacto hecho de platino –
iridio resguardado por la BIPM), desde la 1ª CGPM en 1889 este ha sido el patrón
universal y la única modificación realizada ha sido la de adicionar el término “masa”
para evitar la confusión con el término “peso” que es una magnitud distinta. La
masa es la cantidad de materia contenida en un objeto, dicho objeto es afectado en
todo momento por una aceleración gravitacional provocando una fuerza de
atracción, dicha fuerza se conoce como peso.
Todos los demás patrones están basados en fenómenos físicos de elevada
reproducibilidad con la finalidad de disminuir su incertidumbre ya que, por
definición, un patrón o material de referencia debe ser lo suficientemente
homogéneo y estable como para poder ser utilizado para asignar valores a
fenómenos u objetos. A continuación se enumeran y exponen de manera general
los principios que establecen el valor de cada una de las 6 unidades base restantes
del SI:
- El valor del metro (m), que es la unidad base de la magnitud de masa, ha
cambiado a lo largo de la historia, desde ser definido como la
diezmillonésima fracción del meridiano cero hasta la actual (17ª CGPM –
1983) que es la distancia recorrida por la luz en el vacío en una fracción de
1/299792458 de segundo, fundamentado en la velocidad de la luz en el
vacío. Reproducida por medio de un láser estabilizado en un vacío.
- El segundo, unidad de tiempo, es la duración de 9192631770 periodos de la
radiación correspondiente a la transición entre los dos niveles hiperfinos del
estado fundamental del átomo de Cesio 133, debido a que la frecuencia de
transición del Cesio 133 en su estado base es de 9192631770 Hz. Esta es,
desde la 13ª CGPM celebrada en 1967, la definición del segundo y muy
importante para establecer el Tiempo Universal Coordinado (UTC). El UTC

6
 es la escala de tiempo atómico que es usado para la coordinación de
actividades científicas y tecnológicas a nivel mundial, constituye la base de
todos los sistemas de tiempo civil y es el tiempo transmitido por radio
señales. A diferencia de la escala del Tiempo Universal (UT), que está
referido al Meridiano de Greenwich y que se obtiene mediante
observaciones astronómicas, el UTC se obtiene mediante las mediciones de
los relojes atómicos de los INM’s alrededor del mundo. A pesar de esto,
ambas escalas deben coordinarse de manera que la diferencia entre ellas
sea menor a 0.9 segundos.
- La unidad base de corriente eléctrica es el ampere y está definida, desde
1948 (9ª CGPM), por la cantidad de corriente que, mantenida entre dos
conductores rectilíneos paralelos de longitud infinita y de sección circular
despreciable colocados a un metro de distancia en el vacío, producirá una
fuerza de 2*10-7 N/m. Surge a partir de la constante magnética
μ0=1.256637*10-6 N/A2 y se reproduce por el efecto Josephson.
- La definición de la unidad de temperatura termodinámica fue adoptada
desde la 10ª CGPM en 1954 y, al igual que con el kilogramo, solo ha sido
modificada en la redacción y forma de la definición en la 13ª CGPM donde
se cambió de “grado Kelvin” a “Kelvin” el cual es la fracción 1/273.16 de la
temperatura termodinámica del punto triple del agua (con una composición
isotópica definida). En principio, es debido a que experimentalmente la
temperatura en el punto triple del agua es de exactamente 273.16 K.
- Un mol es la cantidad de sustancia de un sistema que contenga tantas
entidades elementales como átomos hay en 0.012 kilogramos de Carbono
12 (14ª CGPM – 1971). Se llega a esta definición sabiendo (mediante
espectrometría de masas) que la masa molar del 12C es exactamente 12
g/mol. Un mol equivale exactamente al Número de Avogadro que es
6.022*1023.
- Finalmente la candela (unidad base de la intensidad luminosa) se define en
la 16ª CGPM en el año de 1979 como la intensidad luminosa, en una
dirección dada de una fuente que emite una radiación monocromática de

7
 frecuencia 540*1012 Hz y cuya intensidad energética en esa dirección es de
1/683 watt por esterradián.
Además el SI contempla unidades y magnitudes derivadas de las fundamentales
como el área (m2), la fuerza (N), la potencia (W), etcétera (Martínez-Benjamín,
2001; Wilson y Buffa, 2003; Bureau International des Poids et Mesures, 2006).

1.4 Incertidumbre.
El resultado de una medición es de poca utilidad si no se acompaña de algún
indicador de la calidad de esa medición, para dicho propósito se emplea el término
incertidumbre.
Existen múltiples definiciones de Incertidumbre, incluso el Vocabulario Internacional
de Metrología (VIM) ha mencionado distintas de ellas en cada una de sus tres
ediciones. Sin embargo, antes de indicar un significado generalizado de
Incertidumbre, es necesario conocer otros conceptos que nos ayudan a
comprenderla.
Error de medida es el valor obtenido de una medición menos el valor de referencia.
El error sistemático es una componente del error de medida que, tras realizar
mediciones repetidas, permanece constante o varía de manera predecible, a
diferencia del error aleatorio que, al igual que el anterior en mediciones repetidas,
será el que varía impredeciblemente. Durante una medición se pueden obtener
distintos valores de la magnitud medida conocidos como Resultados de Medición,
el más certero de ellos es el Valor Verdadero que es aquel valor de una magnitud
consistente con la definición de la magnitud, a grandes rasgos es el valor que no
posee incertidumbre ni error. Es imposible dar con este valor pero es importante
para comprender la incertidumbre. La indicación y el Valor Nominal van de la mano
ya que ambas son valores proporcionados por el instrumento de medición pero el
primero es aquel que se muestra al realizar el procedimiento y el segundo es el que
sirve de guía para su utilización apropiada. Finalmente el Valor Medido es el valor
de la una magnitud que representa un resultado de medición, de acuerdo a la GUM
es el resultado que ha sido corregido de todos los efectos sistemáticos
significativos reconocidos.

8
El VIM, en sus diferentes ediciones, ha definido Incertidumbre de Medida de la
siguiente manera:
- VIM 3ª edición, concepto 2.26: Parámetro no negativo que caracteriza la
dispersión de los valores atribuidos al mensurando, basado en información
usada.
- VIM 2ª edición, concepto 3.9: Parámetro asociado con el resultado de una
medición, que caracteriza la dispersión de los valores que podrían
razonablemente atribuirse al mensurando.
- VIM 1ª edición, concepto 3.09: Una estimación que caracteriza el intervalo
de valores dentro de los cuales se halla el valor verdadero de un
mensurando.
De cada significado podemos extraer información importante. Por ejemplo, de
acuerdo al VIM 2ª edición sabemos que la incertidumbre de medida debe estar
asociado al resultado de una medición, es decir al Valor Medido, resultado de la
corrección del error sistemático al Valor Nominal o Indicación. Aprovechando el
concepto, es importante mencionar que todo Valor nominal o indicación a la que no
se le aplique una corrección, se reporta el valor con la incertidumbre
correspondiente a la cual se le adicionará el error sistemático que no se corrigió. En
cuanto al término “razonablemente” quiere decir que debe tener un fundamento
matemático que garantice que esa dispersión es adecuada al mensurando, esto se
reafirma en la definición del VIM 3ª edición al mencionar “basado en información
usada”. A pesar de reportarse como “±incertidumbre” eso no implica que sea un
parámetro negativo, significa que el valor verdadero puede estar por encima o por
debajo del valor medido (o valor nominal). Tomando en cuenta la definición del VIM
1ª edición, acerca de que es un intervalo, es decir que tiene límites establecidos, en
donde podemos encontrar al valor verdadero. Si bien no podemos encontrar al
valor verdadero de un mensurando, si podemos afirmar que se encuentra en el
intervalo que representa a la incertidumbre.
Existen varias clasificaciones de incertidumbre (inclusive una desviación estándar
es una incertidumbre estándar), pero todas ellas pueden clasificarse en dos grupos
principales:

9
 - La Incertidumbre tipo A es aquella incertidumbre estándar de medida que se
ha obtenido mediante un análisis estadístico de los valores obtenidos bajo
condiciones de medición definidas. Ejemplos: repetibilidad, reproducibilidad,
precisión.
- La Incertidumbre tipo B es aquella incertidumbre estándar determinada por
medios distintos a la incertidumbre tipo A. Ejemplos: valores publicados, el
certificado del material de referencia, exactitud de un instrumento de
medición.
Toda medición tiene fuentes de incertidumbre y ellas deben clasificarse
dependiendo la manera en que fueron obtenidas en A o B, para después formar
parte de la Incertidumbre Combinada que es aquella incertidumbre obtenida
usando todas las anteriores mediante un cálculo matemático. Este cálculo se
refiere a una función que correlaciona las incertidumbres estándar y es conocida
como Ley de propagación de incertidumbres y es la que se muestra a continuación:

𝑢𝑐 (𝑦) = √𝑢2 (𝑥𝑖 ) + ⋯ + 𝑢2 (𝑥𝑁 )

Pero podemos notar que para obtener este parámetro, las incertidumbres estándar
deben estar en las misma unidades que el mensurando, en muchas ocasiones, las
incertidumbres tipo A y B pueden no estar expresadas en la misma escala que el
mensurando, por ejemplo si se evalúa la incertidumbre causada por la temperatura
en la medición de un material de metal, o la generada al realizar cambios de
unidades de un sistema a otro. Cuando entre las fuentes de incertidumbres existen
ejemplos de esto, debe realizarse un presupuesto de incertidumbre que es la
declaración de una incertidumbre de medida, de los componentes de esa
incertidumbre y de su cálculo y combinación. Con este documento, se pueden
observar todas las fuentes de incertidumbre, el valor numérico de su incertidumbre,
las unidades, el modelo matemático que se usa para la conversión, el valor
obtenido de la incertidumbre asociada y el porcentaje de impacto que tiene cada
fuente en la incertidumbre combinada.
Con todo esto, podemos afirmar que la Incertidumbre finalmente es un parámetro
estadístico, por tanto, la expresión de ésta debe poseer un nivel de confianza

10
conocido como probabilidad de cobertura que es la probabilidad de que el conjunto
de los valores verdaderos de un mensurando estén contenidos en un intervalo de
cobertura especificado. Este intervalo es equivalente a la Incertidumbre expandida
y será igual al producto de una incertidumbre estándar combinada por un factor
numérico entre uno y tres conocido como factor de cobertura (Internation Joint
Comittee for Guides in Metrology, 2008). El factor de cobertura será elegido en
función del nivel de confianza, suponiendo distribución normal (Figura 1), que se
quiera asignar al valor de incertidumbre expandida (Cuadro 2).

Cuadro 2. Factores de Cobertura (k) asignados a

niveles de confianza.

Factor de
Nivel de Confianza
Cobertura (k)
68.27% 1
90% 1.645
95% 1.960
95.45% 2
99% 2.576
99.73 3

Figura 1. Distribución normal y sus

niveles de confianza.

11
 1.5 Entidad mexicana de acreditación y Norma ISO 17025.
Con la finalidad de asegurar que los servicios de calibración sean seguros,
confiables y de alta calidad para el cliente, la Organización Internacional de
Estandarización (ISO) a través de la Comisión Electrotécnica Internacional emiten
la Norma: ISO/IEC 17025:2005 General requirements for the competence of testing
and calibration laboratories. En México, la norma equivalente es la NMX-EC-17025-
IMNC-2006 Requisitos generales para la competencia de los laboratorios de
ensayo y de calibración. Siendo el punto de “requisitos técnicos” el apartado que
expone todos aquellos lineamientos que un laboratorio de calibración debe tomar
en cuenta para poder ser acreditado en esta norma.
La entidad mexicana de acreditación, a. c. (ema) es la primera entidad que tiene
como objetivo acreditar a los laboratorios de calibración y otros Organismos de la
Evaluación de la Conformidad en esta norma. Una acreditación es el acto por el
cual una entidad de acreditación reconoce la competencia técnica y confiabilidad de
los laboratorios.

2. ANTECEDENTES.
2.1 Metrología Óptica.
La Optical Society (OSA) define a la óptica como el estudio de la luz, de la manera
como es emitida por los cuerpos luminosos, de la forma en que se propaga a través
de los cuerpos transparentes y de la forma en que es absorbida por otros cuerpos.
La luz ocupa un sitio en el espectro electromagnético intermedio entre las ondas
largas de radio y los rayos cortos X y gamma que va desde la luz infrarroja hasta la
radiación ultravioleta. Sin embargo, todo este rango está regido por las mismas
leyes básicas, y por tanto, el estudio de la radiación electromagnética se aplica de
alguna manera a otras partes del espectro (Smith y Thompson, 1979).
En base a estas aseveraciones, la metrología óptica es la encargada del estudio de
las mediciones que impliquen la interacción de la materia con la radiación
electromagnética. Actualmente, existen muchos instrumentos analíticos que utilizan
como fundamento teórico la incidencia de radiación electromagnética (visible,
ultravioleta o infrarroja), proveniente de una fuente emisora, sobre una sustancia,

12
para obtener la medida de un mensurando. Por ejemplo, los espectrocolorímetros
emiten radiación visible (dentro del intervalo entre 400 y 750 nm en longitud de
onda) sobre una superficie no transparente y miden el mensurando conocido como
reflectancia difusa (ρ), fundamentado en que todo objeto o sustancia colorida
absorberá cierta cantidad de esta radiación y reflejará la restante, de esta manera
el color que el ojo percibe es el correspondiente a la energía reflejada a la longitud
de onda correspondiente (Figura 2).

Figura 2. Representación gráfica de la relación

entre reflectancia (ρ) y color.

Además, con cálculos, se pueden obtener las medidas de coordenadas de color y

valores triestímulo que son magnitudes derivadas de la reflectancia difusa (Shah y
Gandhi, 1990). Otro ejemplo de instrumentos ópticos para análisis son los
refractómetros. Estos instrumentos tienen la capacidad de medir dos mensurandos
equivalentes que son el índice de refracción (η) y el porcentaje de sacarosa/sal
(sólidos disueltos) conocido también como % Brix o º Brix, ambas fundamentadas
en el cambio del ángulo de un haz de luz, a una longitud de onda dada, al pasar de
un medio. El índice de refracción de las sustancias es una propiedad intensiva de
las mismas y por lo mismo no importará la cantidad de elemento o compuesto, éste
siempre tendrá el mismo índice de refracción, siendo la temperatura la principal
causante (y mayor fuente de incertidumbre) de que esta magnitud varíe. Por otro
lado, también se sabe que el índice de refracción es directamente proporcional (a
temperatura constante) a la densidad de la solución, lo que ayuda a medir el %Brix
o porcentaje de sacarosa disuelto en la misma. Se usa comúnmente el término de

13
sacarosa o azúcar disuelto pero aplica también para sales, proteínas, ácidos,
etcétera, presentes en la solución. Los refractómetros son ampliamente utilizados
en la industria de alimentos y existen tanto analógicos como digitales, además hay
dos sistemas para medir el índice de refracción los cuáles son: el sistema
transparente y el sistema de reflexión (Figura 3).

Figura 3. Sistema transparente (arriba) y de reflexión

(abajo) para medición de índice de refracción.

Estos instrumentos, como todos, trabajan con un error y una incertidumbre propios
los cuáles deben ser determinados mediante una calibración, la cual les otorgará
trazabilidad al CENAM o a algún otro INM.
El CENAM mantiene los patrones nacionales para estas magnitudes y que, a pesar
de no ser constantes físicas, son instrumentos (o soluciones) con incertidumbre
muy baja y con trazabilidad a patrones internacionales. Por ejemplo, en
refractometría con sistema transparente de medición el patrón nacional es un

14
refractómetro tipo ABBE marca Bausch & Lomb modelo 33.46.10 certificado y
trazable al Sistema de Referencia de Refractometría y su incertidumbre es de
±0.00031 unidades en índice de refracción. Para refractómetros con sistema de
reflexión se utilizan soluciones certificadas elaboradas por laboratorios calibrados
por el NIST (National Institute of Standars and Technology), Instituto Nacional de
Metrología de Estados Unidos.
Por otro lado, el patrón nacional de reflectancia es el Sistema Nacional de
Espectrofotometría y que consta de un espectrofotómetro de alta exactitud,
estabilidad y reproducibilidad y un juego de materiales de referencia certificados,
ambos son calibrados periódicamente por el NIST.
Si bien, los espectrocolorímetros y los refractómetros son instrumentos ópticos de
gran importancia en análisis cualitativos, existen unos que tienen mayores
propiedades y usos en varios sectores, desde industria hasta investigación, éstos
son los espectrofotómetros UV-Visible y que son el motivo de éstas memorias de
trabajo.

2.2 Espectrofotometría UV-Visible.

Se sabe que el espectro electromagnético está constituido por una amplia gama de
ondas de distinta energía que es dependiente de la longitud de onda (λ) y/o de la
frecuencia (ν) de la misma (Figura 4). Éstas ondas, emitidas por distintas fuentes,
pueden ser tan pequeñas (del orden de 10 -12 metros) como los rayos gamma o tan
grandes (del orden de 104 metros) como son las radiofrecuencias.

Figura 4. Espectro electromagnético en longitud de onda en metros (escala

superior) y en frecuencia en Hz (escala inferior)

15
La espectrofotometría UV-Visible es una técnica del área óptica que utiliza
radiación electromagnética en los intervalos ultravioleta (de 200 nm a 400 nm
aproximadamente) y visible (de 400 nm a 750 nm aproximadamente) para realizar
análisis cualitativos y cuantitativos de muestras transparentes. Se fundamenta en
que, toda sustancia transparente en la que incida un haz de luz a cierta longitud de
onda absorberá una cantidad de esa energía proporcional a la composición, y
particularmente a la concentración, de la sustancia y transmitirá la energía restante.
En química es una técnica de absorción molecular debido a que moléculas
orgánicas e inorgánicas absorban en mayor o menor cantidad a diferentes
longitudes de onda dependiendo del tipo de enlaces que posean (sistemas
conjugados) y a las transiciones electrónicas más probables (McMurry, 2012) o de
si poseen grupos cromóforos y cromógenos y al encontrarse disueltas producen
soluciones coloridas (Vincent-Vela y col., 2006). El primer espectrofotómetro
funcional fue inventado en la década de 1920 por Arthur Hardy y utilizaba
fotoceldas de cesio para detectar el espectro. Previo a esta invención se utilizaban
espectrógrafos, inventados por Walter Noel Hartley en 1877, los cuales
contribuyeron (junto con los espectrómetros de masas) en el descubrimiento de
nuevos elementos (Tilstone y col., 2006). Desde entonces han ido evolucionando y
en la actualidad podemos encontrar espectrofotómetros analógicos y digitales, de
haz simple y doble haz, de barrido automático o manual, y sus combinaciones.
Pero a pesar de esto, es importante recalcar que todos ellos funcionan bajo el
mismo fundamento científico.
Todo espectrofotómetro UV-Visible o Visible consta de ciertas partes elementales
para funcionar, éstas son: fuente de radiación, sistema monocromador,
compartimiento de muestras, detector y una serie de espejos colimadores y
rendijas de entrada y salida cuya función es la de afinar los haces de luz y mejorar
la medición.
Las fuentes de radiación en estas técnicas son lámparas de distintos tipos, la luz
Ultravioleta es producida en la mayoría de los casos por una lámpara de Deuterio
que emite radiación de 190 nm a 360 nm de longitud de onda, mientras que la luz
visible la genera una lámpara de tungsteno-halógeno y va de 320 nm a 2500 nm

16
(IR-cercano), en ambas su funcionalidad es dependiente de la temperatura de la
lámpara y es por esto que previo a usar el instrumento es necesario dar un periodo
de estabilización (aproximadamente 30 minutos). También existe la lámpara de
Xenón que emite radiación en las dos regiones y que, al contrario de las anteriores,
no requiere estabilizarse ya que solo enciende cuando analiza y en forma de pulsos
frecuentes. Posterior a la generación de la radiación, ésta pasa al selector de
longitud de onda que en la mayoría de los casos es un monocromador que consta
de un slit (rendija) de entrada, un espejo colimador, que homogeneiza la trayectoria
de la luz y logra que toda ella incida uniformemente sobre el siguiente componente,
un prisma o una red de reflexión los cuáles dispersarán la luz blanca o ultravioleta
en todas sus longitudes de onda, otro espejo cóncavo que dirigirá la luz hacia una
superficie en donde se encuentra el slit de salida. El elemento dispersor (prisma o
red) es el que posee movimiento en el instrumento y que generará los cambios
controlados de longitud de onda. El slit de salida es un elemento importante a tomar
en cuenta, ya que éste determinará la resolución de las bandas de absorción de un
barrido, es decir, controlará lo que se conoce como Ancho de Banda Espectral
(ABE) y que se define como la separación de los parámetros del monocromador
necesaria para mover la imagen de la rendija de entrada enfrente de la rendija de
salida, entre menor sea el ABE mayor será la resolución de las bandas, lo que
causará mayor ruido. Cada espectrofotómetro tiene una ancho de banda espectral
distinto y en los más actuales se puede controlar. Al haber seleccionado la longitud
de onda, esta radiación casi monocromática pasa al compartimiento de muestras
que usualmente contiene la celda con la sustancia a analizar. Finalmente, la luz
transmitida es dirigida al sistema transductor o detector del instrumento, este es, en
la mayoría de los casos un fototubo que consta de un cátodo muy sensible a la
radiación, al incidir en él la radiación proveniente de la muestra, electrones del
cátodo se dirigen al ánodo colocado frente al él, generando una diferencia de
potencial que es proporcional a la cantidad de radiación que transmitida. Un
detector con un fundamento similar es el tubo fotomultiplicador, el cual también
tiene un cátodo sensible solo que está vez tiene en frente un dínodo, los dínodos
son dispositivos con la capacidad de fotomultiplicar los electrones que chocan con

17
él y dirigirlos al siguiente dínodo, frente al último dínodo se encuentra el ánodo que
medirá la diferencia de potencial y generará una respuesta proporcional a los
fotones transmitidos. La desventaja de estos detectores es que son lentos, sin
embargo el tubo fotomultiplicador es más sensible. En cuanto a rapidez, existe un
detector ideal que son los fotodiodos de silicio, sin embargo, a pesar de procesar la
señal rápidamente su sensibilidad está muy por debajo de los fototubos y de los
tubos fotomulplicadores. Hay muchos otros detectores en espectrometría pero son
utilizados para otras zonas del espectro electromagnético como el infrarrojo (Skoog
y col., 2008).

Figura 5. Esquema de los componentes de un

espectrofotómetro UV-Visible de haz simple.

El detector generará una señal de salida que el usuario podrá leer en unidades de
transmitancia (τ) o absorbancia (α). Ambas son magnitudes adimensionales que
indican la potencia radiante transmitida o absorbida por la muestra, sin embargo a
partir de la que es medida por el instrumento y mediante cálculos, se puede obtener
la otra de acuerdo a la siguiente ecuación:
𝛼 = −log 𝜏
Esta escala, llamada escala fotométrica, es la que variará con respecto a la escala
de longitud de onda (λ) de acuerdo a las propiedades de la muestra (absortividad)
que se analice en el espectrofotómetro UV-Visible, así como de la concentración de
la misma y al tamaño de la celda que la contenga. De esta manera establecemos
que existen dos escalas de medida en el instrumento y que pueden ser calibradas
con materiales de referencia trazables a un patrón nacional (Figura 6).

18
 Figura 6. Instrumento patrón del Sistema
Nacional de Espectrofotometría.

Las fuentes de incertidumbre tomadas en cuenta para la calibración de

espectrofotómetros UV-Visible son las siguientes:
- Incertidumbre por repetibilidad (uA).
- Incertidumbre del material de referencia (uB).
- Incertidumbre por la resolución del instrumento (uResolución).
La incertidumbre por repetibilidad se calcula de acuerdo a la siguiente ecuación:
𝐸𝑟𝑟𝑜𝑟 𝑀á𝑥𝑖𝑚𝑜 −𝐸𝑟𝑟𝑜𝑟 𝑀í𝑛𝑖𝑚𝑜
𝑢𝐴 =
2√3
La incertidumbre del material de referencia se obtiene del certificado de calibración
del mismo, sin embargo, este parámetro ha sido obtenido con cierto nivel de
confianza, por lo que es el producto de la incertidumbre combinada por un factor de
cobertura (k). Para incluirla en el cálculo de incertidumbre de la calibración
debemos anular este producto y trabajar solo con la incertidumbre combinada del
material:
𝐼𝑛𝑐𝑒𝑟𝑡𝑖𝑑𝑢𝑚𝑏𝑟𝑒 𝑑𝑒𝑙 𝑐𝑒𝑟𝑡𝑖𝑓𝑖𝑐𝑎𝑑𝑜
𝑢𝐵 = 𝑘

Y finalmente, la incertidumbre por la resolución del instrumento se calcula con la

fórmula:
𝑅𝑒𝑠𝑜𝑙𝑢𝑐𝑖ó𝑛 𝑑𝑒𝑙 𝐼𝑛𝑠𝑡𝑟𝑢𝑚𝑒𝑛𝑡𝑜
𝑢𝑅𝑒𝑠𝑜𝑙𝑢𝑐𝑖ó𝑛 =
2√3

19
Teniendo estos datos se obtiene la incertidumbre combinada mediante la Ley de
Propagación de la Incertidumbre y se le aplica un factor de cobertura de 2 (Intervalo
de confianza de ≈95.5%).
Si bien, existen otras fuentes de incertidumbre en la medición con
espectrofotómetros UV-Visible:
- Incertidumbre del ruido fotométrico.
- Incertidumbre por estabilidad del instrumento.
- Incertidumbre por luz extraviada.
Algunos instrumentos realizan una validación de estos parámetros antes de
cualquier análisis y es posible incluirlos en el cálculo de incertidumbre instrumental
si se registran los resultados. Para los que no cuentan con esta característica,
existen filtros especiales para evaluar dichas fuentes de incertidumbre, sin embargo
hay espectrofotómetros que por su capacidad y diseño no alcanzan a detectarlos,
en cuyo caso se considerarán parte del error del instrumento.

2.3 Calibración de la escala fotométrica.

La escala fotométrica, como hemos visto, está en unidades de transmitancia o de
absorbancia. Para su calibración, usualmente se emplean vidrios o películas
conocidos como Filtros de Densidad Neutra (FDN). Estos filtros tienen un valor
nominal aproximado en todo el intervalo UV-Visible, sin embargo, para utilizarse
como materiales de referencia, deben poseer valores certificados a longitudes de
onda establecidas por el CENAM y otros INM’s.
Para realizar la calibración de la escala fotométrica se debe ajustar el
espectrofotómetro a la primer longitud de onda a la que se certificaron los filtros, y
medir el blanco (que tanto en esta escala como en la de longitud de onda será el
aire), después se mide el primer filtro y se registra el valor nominal de
transmitancia, se retira el primer filtro, se coloca el segundo y se realiza la
medición, y se repite hasta el cuarto filtro, posteriormente se vuelve a medir el
blanco y se inician nuevamente las mediciones, esto es por triplicado. En seguida,
se ajusta el instrumento a la siguiente longitud de onda del certificado para
comenzar con un nuevo triplicado. Todo esto con cada longitud de onda. Se

20
mencionó que a lo largo del tiempo han ido desarrollándose diversos modelos de
espectrofotómetros, muchos de ellos tienen la capacidad de medir a múltiples
longitudes de onda o de realizar barridos automáticos y después obtener los datos
gráficamente o en tabulación. Esto facilita ampliamente el trabajo de la calibración,
pero éste sería el procedimiento general. Obteniendo los datos, se calculan los
errores de ajuste y las incertidumbres expandidas para cada longitud de onda y se
reportan en el certificado generado, además se muestran los datos en % de
transmitancia y en absorbancia, aunque la toma de datos solo se haya realizado en
una de esas magnitudes, la otra se obtiene matemáticamente. Los espectros de los
filtros de densidad neutra (FDN) certificados se muestran en la Figura 7.

100
90
80
Transmitancia (%)

70
60 FDN 3%
50
FDN 30%
40
30 FDN 50%
20 FDN 90%
10
0
300 400 500 600 700 800 900
Longitud de onda (nm)

Figura 7. Espectro de los FDN en el intervalo visible.

2.4 Calibración de la escala de longitud de onda.

Esta calibración consiste en localizar las bandas de absorción certificadas de dos
compuestos cuyas propiedades le otorgan estabilidad y homogeneidad y por lo
mismo pueden ser utilizados como materiales de referencia. Estos compuestos son
el óxido de didimio y el óxido de holmio, este último se encuentra en
presentaciones de vidrio y en solución de ácido perclórico dentro de una celda de
cuarzo sellada para evitar su contacto con el medio (Figura 8). Cada uno de ellos

21
nos sirven para la calibración de la escala de longitud de onda pero uno es para el
intervalo ultravioleta (óxido de holmio) y el otro para el visible (óxido de didimio).

Figura 8. Filtros óxido de didimio (derecha)

y óxido de holmio en solución (izquierda).

Para la toma de datos se debe tener en cuenta varios puntos, el primero de ellos es
el tipo de espectrofotómetro a calibrar, si es un instrumento que únicamente trabaja
en el intervalo visible se buscarán las bandas del didimio y solo aquellas bandas del
holmio que estén dentro del rango del espectro, sin embargo, si alcanza también el
intervalo ultravioleta, se localizarán las bandas del holmio y las restantes del
didimio. Además de esto, se debe saber si puede realizar un barrido automático o si
debe hacerse de manera manual. De ser automático deben cuidarse la manera en
que se capturan los datos ya que en muchas ocasiones, al procesar los datos, el
software muestra algo que no va de acuerdo a la resolución del instrumento, u
omite bandas por no poseer la altura de rechazo adecuados. Pero de ser manual lo
que debe cuidarse es la resolución. Los certificados de estos materiales muestran
las longitudes de onda a las cuáles el patrón nacional encontró los mínimos de
transmitancia o los máximos de absorbancia con una resolución de 0.01 nm,
lamentablemente, la mayoría de los instrumentos tienen una resolución de 1 nm en
longitud de onda. Cuando esto ocurre, el valor certificado debe redondearse a la

22
resolución del espectrofotómetro y realizar barridos para cada banda certificada
tomando el valor certificado como punto medio y tomar cinco unidades inferiores y
superiores a este. Se buscan los mínimos de transmitancia y se registra la longitud
de onda en la cual se encontraron. Se realiza también por triplicado para ser
considerado el mejor valor del mensurando y tener datos para la medición de la
incertidumbre. Los espectros de estos materiales son muy característicos (Figura
10) y ambos forman parte de las tierras raras. El holmio es un lantánido
descubierto en Estocolmo con número atómico 67, a finales del siglo XIX durante la
época en que la espectrometría de masas ayudó a identificar y aislar gran cantidad
de nuevos elementos, aunque no solo ayudó a identificar los nuevos, también
gracias a ella se eliminaron elementos que finalmente eran mezclas, por ejemplo el
didimio, el cual se encontraba en las primeras tablas periódicas de los elementos
pero en 1885 se descubre que era una combinación de neodimio y praseodimio
(ambos lantánidos). Sin embargo, desde esa época se dan cuenta que tienen
bandas espectroscópicas muy particulares y por lo mismo actualmente se utilizan
para la calibración de la escala de longitud de onda (Emsley, 2011).
La solución de óxido de holmio que se utiliza como material de referencia es a una
concentración de 40 g/L en ácido perclórico al 10%. El NIST, cuando aún era la
Oficina Nacional de Normas (NBS por sus siglas en inglés), emitió una publicación
especial en donde evaluaba la influencia de la temperatura, la pureza, la
concentración y el ancho de banda espectral en la medición del espectro del
holmio. La localización de las bandas principales no variaba más de 0.02 nm en
tres concentraciones distintas, aunque no indicaba los valores de
transmitancia/absorbancia encontrados (Weidner y col., 1986).
Más tarde, Travis y colaboradores re-diseñan el experimento y el análisis de datos,
y encuentran que al normalizar los resultados en función de la solución al 4% la
variación entre las bandas iba de 0.03 a 0.05 nm (dependiendo de la banda)
contrario a lo publicado en 1986. Este estudio corrobora que la concentración
adecuada de óxido de holmio para uso como material de referencia es la de 40 g/L
(Travis y col., 2005).

23
Dentro de las especificaciones de todos los instrumentos se encuentra un dato muy
importante para la calibración de la escala de longitud de onda que corresponde al
ancho de banda espectral y que tiene un efecto directo con la resolución de las
señales. Por lo mismo, cuando se certifican las bandas de los filtros de óxido de
holmio se especifica el ABE y se pueden calibrar a distintos anchos de banda, para
con esto abarcar una mayor campo de trabajo ya que puede haber equipos con
ABE desde 1 nm hasta 20 nm. Para el óxido de didimio no es necesario calibrarlo a
distintos anchos de banda ya que como podemos observar en la figura 9, sus
bandas características son muy anchas inclusive a un ABE de 1 nm (ASTM, 2013).

Figura 9. Espectros del óxido de holmio (arriba) y del

óxido de didimio (abajo) a un ABE = 1 nm

2.5 Espectroscopía infrarroja.

La región del espectro electromagnético correspondiente a la radiación infrarroja
comienza a los 0.7 μm y termina a los 1000 μm aproximadamente en longitud de
onda (Figura 10) y está dividida en tres regiones conocidas como NIR (Infrarrojo
cercano), MIR (Infrarrojo medio) y FIR (Infrarrojo lejano). Cada región tiene
diferentes aplicaciones debido a su interacción con la materia. El NIR viene a ser
una extensión de la técnica de espectrofotometría UV-Visible y, si bien no se le usa

24
para la identificación y caracterización de compuestos, se utiliza para análisis
cuantitativos. Pero la región del IR con mayor utilidad es el MIR debido a que la
información que se puede obtener de un espectro en este intervalo es de gran
ayuda puesto que en él aparecen bandas características de los distintos tipos de
enlaces que posee una molécula orgánica lo que sirve (parcialmente) para la
identificación de nuevos compuestos.

Figura 10. Distribución de la radiación IR en

el espectro electromagnético.

Fundamentalmente, un espectrómetro infrarrojo cuenta con un principio físico

similar al de los espectrofotómetros UV-Visible, ya que cuenta con una fuente
emisora de radiación la cual incide en una muestra que absorberá parte de esta
energía y transmitirá la restante, que será detectada por un transductor de señal
reportando ya sea medidas de transmitancia y/o absorbancia o un espectro. Sin
embargo, a nivel molecular difiere bastante, puesto que no implica transiciones
electrónicas (radiación ultravioleta) o absorción de radiación visible debida a la
coloración.
Los compuestos orgánicos presentan en su estructura enlaces (simples, dobles o
triples) tipo covalente entre átomos de carbono, nitrógeno, oxígeno, hidrógeno,
entre otros, la absorción de radiación infrarroja por estas moléculas ocasiona
cambios vibracionales en sus enlaces (Figura 11) y que dependen de la longitud de
onda de dicha radiación. Además, esta absorción molecular implica que habrá una
diferencia entre la intensidad radiante emitida por la fuente y la intensidad radiante
que llega al detector, y por esto, cuanto mayor sea la energía requerida para hacer
vibrar un enlace a cierta longitud de onda mayor será la absorción y menor la
transmisión generando, gráficamente, máximos de absorbancia y mínimos de
transmitancia, es decir, un espectro IR del compuesto.

25
 Figura 11. Vibraciones moleculares ocasionadas
por radiación IR.

A pesar de que el arreglo óptico de los instrumentos infrarrojos es bastante similar

al de los UV-visible, sus componentes difieren bastante uno de otro. Sin embargo,
es necesario indicar que actualmente existen, de manera general, dos tipos de
espectrómetros IR: los sistemas dispersivos y los espectrómetros por transformada
de Fourier (FT-IR). Los sistemas dispersivos tienen prácticamente el mismo diseño
de un espectrofotómetro UV-visible de doble haz, con ellos es necesario indicar el
número de onda que quiere ser analizada y nos dará un dato en absorbancia en
transmitancia, debido a que, como se observa en la Figura 12, cuenta con una red
de difracción que permite seleccionar la longitud de onda. Aunque se distingue de
los espectrofotómetros en que el sistema monocromador está después del
compartimiento de muestras/referencia. Debido a este sistema en el cuál
únicamente se pueden ir recopilando resultado por números de onda individuales,
el análisis es considerablemente lento suponiendo que se quieran localizar todas o
algunas bandas de absorción/transmisión de una sustancia.
Los espectrómetros FT-IR no tienen el monocromador pero poseen un componente
adicional que le da rapidez, precisión y exactitud al análisis, un interferómetro de
Michelson (Figura 13).

26
 Figura 12. Diseño óptico de un espectrómetro
infrarrojo dispersivo.

El interferómetro de Michelson está constituido por un láser, un divisor de haz y dos

espejos, uno de ellos móvil y el otro fijo. La radiación incide en el divisor de haz que
la separará, cierta cantidad pasará al espejo fijo y la restante al móvil, ambas
volverán al divisor que unirá ambos haces que formarán una radiación combinada,
sin embargo, parte de esa radiación habrá recorrido una distancia diferente y
proporcional a la velocidad del espejo móvil (que es constante). Esta diferencia en
distancias genera interferencias, destructivas y constructivas, en la longitud de
onda de la radiación resultante. El láser (hélio-neón) de alta precisión del
interferómetro emite radiación a una longitud de onda única y estable (632.8 nm)
pero recorre el mismo camino que el haz de la fuente infrarroja. Éste láser sirve
como base para la escala de longitud de onda y controla, además, la velocidad del
espejo móvil del interferómetro. La radiación con interferencias incide en la muestra
y posteriormente en el detector. Las ondas en la región infrarroja son
considerablemente más amplias que las del visible o las del ultravioleta,
recordemos que la energía de una onda es inversamente proporcional a su longitud
de onda, por lo mismo, la radiación IR no genera la energía suficiente para
desprender electrones de una superficie, por esto no se pueden usar fototubos o
fotomultiplicadores como detector, pero si generan energía para provocar un
cambio de temperatura, por esta razón los transductores de la señal en
espectrómetros FT-IR miden conductividad térmica.

27
 Figura 13. Diseño óptico de un
espectrómetro FT-IR.

Las fuentes de radiación infrarroja están constituidas por materiales que

encandecen a temperaturas bajas (aproximadamente 1500 ºC), comparadas con
las fuentes de UV-visible (aproximadamente 3000 ºC), las más comunes son
pequeñas barras de carburo de silicio, conocida generalmente como Globar, y el
emisor de Nernst, que es una varilla compuesta de óxidos de zirconio, itrio y torio.
Ambas tienen un alcance similar, sin embargo, los componentes del emisor de
Nernst irradian mayor energía en el intervalo debajo de los 2000 cm -1, por encima
de este número de onda, se obtendrán mayores energías usando Globar como
fuente de radiación. Existen otros emisores como el arco de mercurio o incluso
filamento de wolframio (fuente de radiación visible) puede funcionar.
Se usan detectores de conductividad térmica, debido a la baja energía que poseen
las ondas de la región infrarroja, de alta sensibilidad a los cambios de temperatura
Entre los más utilizados se encuentran el detector DLaTGS (sulfato de triglicina
deuterado dopado de L-alanina) y el detector MCT (telururo de mercurio-cadmio).
El DLaTGS es el detector estándar de los FT-IR y provee excelente respuesta en
todo el intervalo (12500 cm-1 a 350 cm-1). El MCT es un detector más especializado
y que es más rápido y sensible que el DLaTGS, además elimina el ruido térmico
puesto que trabaja a la temperatura del nitrógeno líquido, lo cual representa una
ventaja y desventaja a la vez frente al DLaTGS que opera a temperatura ambiente.
Otra desventaja del MCT es que el intervalo de mayor eficacia es menor al otro

28
detector ya que va de 11700 cm-1 a 800 cm-1. Bolómetros y termopares también
son utilizados como detectores de infrarrojo pero para la región del FIR y con
menores niveles de sensibilidad.
Finalmente, en cuanto a instrumentación, se ha implementado una técnica
altamente efectiva en la medición usando FT-IR. Esta técnica permite analizar
muestras en cualquier fase con mayor facilidad y se conoce como Reflectancia
Atenuada Total (ATR por sus siglas en inglés). Consiste básicamente en colocar la
muestra por analizar en un cristal con un elevado índice de refracción (el ATR), en
uno de sus extremos incide el rayo de radiación infrarroja el cuál se dirige a la
superficie donde se encuentra la muestra que absorbe la energía propia de su
composición, la radiación restante se refracta hacia la otra superficie debido a su
alto índice de refracción, esta zona funciona a manera de espejo y refleja el haz
nuevamente a la superficie donde está la muestra, repitiéndose de 5 a 10 veces
dependiendo del tamaño del ATR. En cada ocasión en que la radiación incide en la
muestra, la señal se atenúa y mejora la calidad del haz resultante (Figura 14).

Figura 14. Representación gráfica del funcionamiento

del ATR.

El uso de esta técnica elimina la necesidad de celdas especiales para muestras

líquidas o de una composición particular para sólidos. La única condición es que la
muestra ocupe totalmente la ventana del ATR para evitar la interferencia del medio
(Smith y Thompson, 1979; Walton y Reyes, 1983; Olsen, 1990; Griffiths y de
Hasset, 2007; Skoog y col., 2008).

29
 2.6 Calibración de escala de número de onda.
La incorporación del láser He-Ne en los espectrómetros infrarrojos es el principal
avance instrumental en este campo. Este láser es la base de la medición en la
escala de número de onda y por tanto es susceptible a calibración. Durante años,
se han investigado gran cantidad de compuestos que pudieran ser candidatos a
materiales de referencia para calibración de la escala de número de onda. Se probó
con compuestos en estado gaseoso durante muchos años y se encontró que, a
pesar de que muchos de ellos presentaban señales en la región infrarroja (incluso
en la ultravioleta y visible), sus bandas eran demasiado anchas como para
considerarse materiales de referencia ya que la incertidumbre de las mismas sería
increíblemente elevada. Otras de estas especies tenían bandas con una resolución
muy buena pero eran insuficientes para cubrir todo el rango. Sin embargo, estos
estudios facilitaron la creación de una base de datos conocida como HITRAN (high-
resolution transmission molecular absorption database) que cuenta con los
espectros infrarrojos de alta resolución de al menos 37 especies, los cuales se
utilizan más como modelos que para calibración, ya que algunos de estos
compuestos manejan un alto grado de peligrosidad o requieren resoluciones muy
específicas que no todos los instrumentos poseen. En cuanto a materiales sólidos y
líquidos se estudiaron metanol, 1,2,4-triclorobenceno, metilciclohexano, tolueno y el
poliestireno en presentación de lámina de 25 μm de espesor. Muchos años se
compitió entre el poliestireno y el indeno (líquido) ya que encontraban cada vez
más bandas de absorción purificando o mezclando al indeno o cambiando el
espesor del poliestireno. Finalmente el NIST y el NPL proponen al poliestireno
sobre el indeno como material de referencia en la calibración de escala de número
de onda, la IUPAC y la Sociedad Americana de Pruebas y Materiales (ASTM)
aceptan dicha propuesta y actualmente se comercializa dicho material con su
correspondiente certificado de calibración, con al menos 16 bandas certificadas
(Hanssen y Zhu, 2002). En México, el Departamento de Materiales de Referencia
del CENAM se encarga de la calibración y la emisión de certificados del patrón de
número de onda del IR medio correspondiente a la película de poliestireno.

30
 3. OBJETIVOS.
3.1 Objetivo General.
Adquirir los conocimientos, aptitudes, documentos y materiales necesarios para el
manejo y la calibración de espectrómetros FT-IR medio y, con ello, incrementar el
alcance acreditado en el área óptica del laboratorio de calibración.

3.2 Objetivos Específicos.

- Obtener el espectro infrarrojo del material de referencia certificado y localizar sus
bandas características.
- Redactar un procedimiento de calibración de espectrómetros FT-IR.
- Calibrar un espectrómetro FT-IR.
- Calibrar un espectrofotómetro UV-Visible.

4. METODOLOGÍA.
4.1 Material de referencia certificado.
- Adquirir una película de poliestireno junto con su certificado emitido por el Centro
Nacional de Metrología.
- Reportar el espectro infrarrojo, las bandas certificadas (con sus respectivas
vibraciones moleculares) y las incertidumbres expandidas del material de
referencia.

4.2 Procedimiento de calibración.

- Elaborar un procedimiento técnico específico para la calibración de
espectrómetros FT-IR conforme a lo establecido por el Sistema de Gestión de
Calidad del laboratorio.

4.3 Calibración de espectrómetros de Infrarrojo medio.

- Calibrar un espectrómetro FT-IR de acuerdo al procedimiento de calibración antes
redactado.
- Emitir su certificado de calibración.

31
 4.4 Calibración de espectrofotómetros UV-Visible.
- Calibrar un espectrofotómetro UV-Visible conforme al procedimiento técnico
específico del laboratorio de calibración:
 Calibración de escala de longitud de onda.
 Calibración de escala de absorbancia/transmitancia.
 Cálculo de incertidumbre.
- Reportar resultados de la calibración.

5. RESULTADOS.
5.1 Película de poliestireno.
Se adquirió el material de referencia certificado a través del Departamento de
Materiales de Referencia del CENAM, dicho material (Figura 15) consiste en una
película de poliestireno de 32 µm de espesor, biaxialmente orientado y montado en
una tarjeta rectangular de 11 cm por 5 cm con una ventana circular de 1.9 cm de
diámetro aproximadamente.

Figura 15. Material de referencia certificado por el CENAM.

El propósito de este material certificado es para calibración de la escala de número

de onda de espectrómetros FT-IR en la región del espectro que va de 540 cm -1 a
3124 cm-1 (infrarrojo medio). Los valores certificados de las 16 señales
seleccionadas (Figura 16) fueron obtenidos por el método del centro de gravedad y

32
se encuentran reportadas en el Cuadro 3 junto con sus incertidumbres con un
factor de cobertura igual a 2.

Cuadro 3. Valores certificados de número de onda (σ) e

incertidumbres con k = 2 de la película de poliestireno.

Banda σ (cm-1) U (cm-1)

1 540.4* ±5.1
2 699.9 ±1.0
3 842.1 ±1.0
4 906.7 ±0.6
5 1028.5 ±0.6
6 1069.5 ±1.0
7 1155.4* ±1.7
8 1583.2 ±0.5
9 1601.3 ±0.5
10 1943.2* ±1.5
11 2850.1 ±0.5
12 2922.8* ±1.5
13 3001.3 ±0.5
14 3026.2 ±0.7
15 3060.0 ±0.5
16 3082.2 ±0.5

Para la medición de estas bandas, el CENAM utilizó un espectrómetro infrarrojo

con transformada de Fourier con detector de sulfato de triglicina deuterado (DTGS)
a una temperatura ambiente entre 20 °C y 23 °C y humedad relativa entre 15% y
70%, el intervalo de datos fue de 0.5 cm-1 y de 4 cm-1. Aunque aún no se considera
como Sistema Nacional de Espectrometría IR, este instrumento es el patrón
nacional en esta área.

33
 Figura 16. Espectro infrarrojo del material de referencia certificado.

5.2 Procedimiento de calibración de espectrómetros FT-IR y parámetros

espectrales.
Se calibró el espectrómetro FT-IR del Laboratorio de Instrumentación Analítica,
ubicado en el Centro de Estudios Ambientales sobre Contaminación Ambiental
(CEACA) de la Facultad de Química de la Universidad Autónoma de Querétaro
(campus C. U.), marca Perkin Elmer, modelo Spectrum 100, N° de serie: 50177 y
con identificación particular: FTIR-PE.
La calibración se realizó siguiendo el siguiente procedimiento:
- El espectrómetro FT-IR a calibrar debe contar con el compartimiento de muestras
estándar para celdas, en caso de tener una interfaz para ATR, reflectancia difusa u
otro, cambiar por el antes mencionado.
- Encender el instrumento de medición junto con el ordenador que tiene instalado el
software de manejo.
- Establecer los parámetros espectrales de la medición: intervalo, resolución, escala
espectral (transmitancia/absorbancia), número de escaneos, número de mediciones
(6).*
- Especificar que se medirá un Background (blanco, línea base, etcétera).
- Verificar que el compartimiento de muestras se encuentre vacío y limpio.
- Medir Background.

34
 - Especificar que se medirán las muestras.
- Colocar el material de referencia en el compartimiento de muestras. La película de
poliestireno debe encontrarse libre de polvo y en buenas condiciones. Puede
soplarse con aire en dirección diagonal a las caras de la película, nunca
perpendicularmente a ellas.
- Realizar mediciones.
- Identificar las bandas certificadas de absorción/transmisión en cada medición y
registrarlas.
- Apagar el espectrómetro y el ordenador.
- Realizar el cálculo de errores sistemáticos e incertidumbres.
- Emitir certificado de calibración.
* Los parámetros utilizados en la calibración se presentan en el Cuadro 4 indicados
como “Día 2”.
Con la finalidad de realizar un análisis de repetibilidad y reproducibilidad (r&R) se
hicieron mediciones en el mismo instrumento y siguiendo el mismo procedimiento
pero cambiando dos parámetros espectrales los cuáles se muestran en el Cuadro
4.

Cuadro 4. Parámetros espectrales usados en la calibración del FTIR-PE.

Parámetro Día 1 Día 2 Día 3

Intervalo de
500 cm-1 – 3200 cm-1 500 cm-1 – 3200 cm-1 500 cm-1 – 3200 cm-1
medición
# de
6 6 6
mediciones
Escala
% Transmitancia % Transmitancia % Transmitancia
espectral
# de escaneos 10 64 64
Resolución 1 cm-1 0.5 cm-1 4 cm-1

35
 Cuadro 5. Resultados de la calibración del FTIR-PE (valores en cm-1).

Día 1 Día 2 Día 3

Valor Error Incertidumbre Valor Error Incertidumbre Valor Error Incertidumbre

540.05 -0.35 ±5.22 539.85 -0.55 ±5.14 539.65 -0.75 ±5.10
699.21 -0.69 ±3.20 698.03 -1.88 ±4.08 700.61 0.71 ±1.20
841.66 -0.44 ±1.06 842.07 -0.04 ±1.01 841.90 -0.20 ±1.00
907.00 0.30 ±1.03 906.74 0.04 ±0.61 906.62 -0.08 ±0.60
1028.38 -0.12 ±0.64 1028.36 -0.14 ±0.61 1028.54 0.04 ±0.60
1069.16 -0.34 ±1.01 1069.40 -0.10 ±1.05 1069.30 -0.20 ±1.00
1154.72 -0.68 ±1.72 1154.64 -0.76 ±1.70 1154.67 -0.73 ±1.70

36
1583.25 0.05 ±0.51 1583.28 0.08 ±0.50 1583.16 -0.04 ±0.50
1601.48 0.18 ±0.52 1601.44 0.14 ±0.51 1601.37 0.06 ±0.50
1943.13 -0.07 ±1.51 1942.88 -0.32 ±1.51 1942.74 -0.46 ±1.50
2849.89 -0.21 ±0.57 2849.95 -0.15 ±0.52 2849.77 -0.33 ±0.50
2923.99 1.19 ±1.82 2923.96 1.15 ±1.74 2923.74 0.94 ±1.50
3001.48 0.18 ±0.53 3001.54 0.24 ±0.50 3001.48 0.18 ±0.50
3026.47 0.27 ±0.82 3026.37 0.17 ±0.72 3025.98 -0.22 ±0.70
5.3 Resultados de la calibración de un espectrómetro FT-IR.

3060.39 0.39 ±0.61 3060.39 0.38 ±0.51 3060.04 0.04 ±0.50

3082.73 0.53 ±0.51 3082.68 0.48 ±0.50 3082.12 -0.08 ±0.50
37
Figura 17. Espectro infrarrojo de la película de poliestireno obtenido en el FTIR-PE.
Para tener un criterio de aceptación de los errores sistemáticos con respecto al
valor de referencia se realizó una prueba de error normalizado para los resultados
obtenidos en ambos días (Cuadro 6).

Cuadro 6. Error normalizado en la medición del material de referencia.

Error Normalizado
Banda
Día 1 Día 2 Día 3
1 0.05 0.08 0.10
2 0.21 0.45 0.46
3 0.30 0.02 0.14
4 0.25 0.04 0.09
5 0.14 0.17 0.05
6 0.24 0.07 0.14
7 0.28 0.32 0.30
8 0.07 0.11 0.06
9 0.25 0.19 0.09
10 0.03 0.15 0.22
11 0.28 0.22 0.47
12 0.51 0.50 0.44
13 0.25 0.33 0.25
14 0.25 0.17 0.22
15 0.50 0.54 0.06
16 0.75 0.68 0.11

Para corroborar que las medias entre los errores de las tres mediciones para cada
banda no sean significativamente distintas, se evaluaron mediante un ANOVA de
un factor, el Cuadro 7 muestra los valores del estadístico F de dicho análisis. La
distribución de estos errores se grafica en la Figura 18, se omite la incertidumbre
expandida.

38
 Cuadro 7. Resultados de ANOVA para los errores sistemáticos.

Valor crítico de F0.05,2,5 = 3.682

Banda Fcalculada Banda Fcalculada
1 1.166 9 5.221
2 3.171 10 19.118
3 12.892 11 3.268
4 2.417 12 0.462
5 7.840 13 1.481
6 5.027 14 15.194
7 1.102 15 14.841
8 21.355 16 600.005

2.00

Medición 1
Medición 2
Medición 3
1.00
Error Sistemático (cm-1)

0.00

-1.00

-2.00
500 1000 1500 2000 2500 3000
Número de onda (cm-1)

Figura 18. Distribución de los errores sistemáticos.

39
Finalmente, se elaboraron diagramas de caja y bigotes (boxplot) para observar la
dispersión de los datos en la medición de cada banda certificada para cada
procedimiento (Figuras 19 y 20).

Banda 1 Banda 2
541.00 705.00
540.00
700.00
539.00
695.00
538.00
537.00 690.00
1 2 3 1 2 3

Banda 3 Banda 4
842.50 909.00
842.00 908.00
841.50 907.00
841.00 906.00
840.50 905.00
1 2 3 1 2 3

Banda 5 Banda 6
1028.80 1070.00
1028.60
1069.50
1028.40
1069.00
1028.20
1028.00 1068.50
1 2 3 1 2 3

Banda 7 Banda 8
1155.00
1154.80 1583.30
1154.60 1583.20
1154.40 1583.10
1154.20 1583.00
1 2 3 1 2 3

Figura 19. Diagramas de caja y bigotes de las mediciones en el FTIR-PE.

40
 Banda 9 Banda 10
1943.50
1601.50
1601.40 1943.00
1601.30 1942.50
1601.20
1601.10 1942.00
1 2 3 1 2 3

Banda 11 Banda 12
2850.50 2926.00
2925.00
2850.00
2924.00
2849.50
2923.00
2849.00 2922.00
1 2 3 1 2 3

Banda 13 Banda 14
3001.60 3027.00

3001.40 3026.50

3001.20 3026.00

3001.00 3025.50
1 2 3 1 2 3

Banda 15 Banda 16
3061.00 3083.00

3060.50 3082.50

3060.00 3082.00

3059.50 3081.50
1 2 3 1 2 3

Figura 20. Diagramas de caja y bigotes de las mediciones

en el FTIR-PE (cont.)

5.4 Resultados de la calibración de un espectrofotómetro UV-Visible.

Se calibró el espectrofotómetro UV-Visible del Laboratorio de Instrumentación
Analítica, ubicado en el Centro de Estudios Ambientales sobre Contaminación

41
Ambiental (CEACA) de la Facultad de Química de la Universidad Autónoma de
Querétaro (campus C. U.), marca Hewlett Packard, modelo 8453 con número de
serie DE91602430 e identificación interna UV/VIS-HP.
La escala de longitud de onda se calibró con dos filtros, para la región ultravioleta y
parte de la visible se utilizó el filtro de óxido de holmio en cristal y para la región
visible un filtro de didimio. Se obtuvieron los espectros (Figura 21) y se registraron
las bandas certificadas de transmisión de los materiales, esto se realizó por
triplicado, en el Cuadro 8 se muestran los resultados obtenidos de la calibración de
dicha escala.

Cuadro 8. Resultados de la calibración de la escala de longitud

de onda del UV/VIS-HP (valores en nm).

Filtro de óxido de holmio Filtro de didimio

Valor Valor
Incertidumbre Incertidumbre
Obtenido Error (nm) Obtenido Error (nm)
(nm) (nm)
(nm) (nm)
280 0.68 ±0.58 432 0.95 ±0.58
288 0.38 ±0.58 441 0.93 ±0.59
334 0.07 ±0.58 463 0.51 ±0.83
345 0.47 ±0.60 473 -0.08 ±0.59
348 0.14 ±0.58 480 1.02 ±0.60
361 0.17 ±0.58 514 0.42 ±0.59
382 0.32 ±0.58 529 0.03 ±0.58
386 0.17 ±0.58 586 0.54 ±0.83
391 0.28 ±0.59 624 0.28 ±0.62
419 0.41 ±0.59 629 -0.18 ±0.62
425 0.20 ±0.58 685 0.50 ±0.59
537 0.65 ±0.59 741 0.01 ±0.83
546 0.04 ±0.59 - - -
638 0.38 ±0.59 - - -

42
43
Figura 21. Espectro visible del filtro de didimio (arriba) y ultravioleta visible del óxido de holmio obtenidos en el
UV/VIS-HP.
En las figuras 22 y 23 se observa la distribución del error en la escala de longitud
de onda junto con la incertidumbre expandida (Figura 22) y una curva simulada que
modela el comportamiento de dicha distribución (Figura 23).

1.80

1.20
Error sistemático (nm)

0.60

0.00

-0.60

-1.20

-1.80
250 305 360 415 470 525 580 635 690 745 800
Longitud de onda (nm)

Figura 22. Distribución del error y la incertidumbre expandida.

1.20

1.00

0.80
Error Sistemático (nm)

0.60

0.40

0.20

0.00
250 350 450 550 650 750
-0.20

-0.40
Longitud de onda (nm)

Figura 23. Curva simulada del error sistemático del instrumento.

44
También se calibró la escala fotométrica utilizando 4 filtros de densidad neutra,
únicamente para la región visible del espectro (400 nm a 900 nm), dichos filtros
tienen valores certificados, tanto de absorbancia como de transmitancia, por el
CENAM a distintas longitudes de onda, siendo el filtro 1 el más oscuro, y por tanto
el que tiene menor transmitancia, y el filtro 4 el más claro.
Los Cuadros 9 y 10 muestran los resultados (valores, errores sistemáticos e
incertidumbres expandidas) de la calibración de la escala fotométrica, únicamente
se muestran valores de porciento de transmitancia.

Cuadro 9. Resultados de la calibración de la escala fotométrica.

Filtro de densidad neutra 1 Filtro de densidad neutra 2

Longitud
Valor Valor
de onda Error Incertidumbre Error Incertidumbre
obtenido obtenido
(nm) (%) (%) (%) (%)
(%) (%)
400 1.700 -0.051 ±0.022 27.275 0.079 ±0.109
440 2.578 0.023 ±0.028 27.983 0.151 ±0.122
450 2.810 -0.028 ±0.038 29.474 0.138 ±0.108
465 3.171 -0.030 ±0.024 31.238 0.210 ±0.110
500 3.033 0.160 ±0.077 29.130 0.247 ±0.116
546.1 2.970 -0.008 ±0.070 30.041 0.218 ±0.119
590 2.828 0.044 ±0.019 27.617 0.201 ±0.100
600 2.879 0.004 ±0.022 27.655 0.174 ±0.101
635 3.349 -0.023 ±0.056 28.564 0.173 ±0.143
650 3.509 -0.081 ±0.039 28.416 0.114 ±0.186
700 6.117 -0.040 ±0.082 34.923 0.071 ±0.139
750 7.654 -0.089 ±0.058 35.572 0.216 ±0.137
800 7.889 0.076 ±0.035 31.791 0.098 ±0.167
850 7.100 -0.017 ±0.140 27.870 0.169 ±0.220
900 5.987 -0.220 ±0.212 23.939 -0.460 ±0.776

45
 Cuadro 10. Resultados de la calibración de la escala fotométrica (cont.)

Filtro de densidad neutra 3 Filtro de densidad neutra 4

Longitud
Valor Valor
de onda Error Incertidumbre Error Incertidumbre
obtenido obtenido
(nm) (%) (%) (%) (%)
(%) (%)
400 48.685 0.321 ±0.187 91.786 0.390 ±0.348
440 47.632 0.391 ±0.161 91.771 0.305 ±0.341
450 49.607 0.275 ±0.187 91.802 0.305 ±0.359
465 52.154 0.384 ±0.174 91.773 0.252 ±0.359
500 50.308 0.341 ±0.185 91.931 0.332 ±0.340
546.1 51.459 0.398 ±0.174 91.728 0.079 ±0.339
590 48.921 0.409 ±0.179 92.392 0.653 ±0.361
600 48.824 0.322 ±0.185 91.554 -0.236 ±0.375
635 48.609 0.247 ±0.196 91.899 0.109 ±0.354
650 48.314 0.345 ±0.210 92.229 0.423 ±0.347
700 52.271 0.278 ±0.203 91.884 0.008 ±0.358
750 49.632 0.199 ±0.182 92.233 0.361 ±0.360
800 44.856 0.306 ±0.180 92.131 0.192 ±0.367
850 39.944 0.099 ±0.223 91.954 0.062 ±0.446
900 36.057 0.011 ±1.078 92.181 -0.541 ±1.785

Los valores certificados, y las incertidumbres asociadas a estos valores, de cada

uno de los filtros, tanto de óxido de holmio y didimio, como los de densidad neutra,
se muestran en los Anexos A, B y C.
Las gráficas de la Figura 24 presentan la distribución de los errores y las
respectivas incertidumbres expandidas de cada uno de los 4 filtros, en ellos se
omiten los resultados obtenidos a una longitud de onda de 900 nm debido a que,
como podemos ver en los Cuadros 9 y 10, las incertidumbres en este punto son
considerablemente más grandes con respecto a las otras incertidumbres del mismo
filtro y esto no permite observar claramente la distribución en los demás puntos.

46
 Filtro de densidad neutra 1
0.300
Error sistemático (%)

0.100

-0.100

-0.300
350 450 550 650 750 850
Figura 24. Distribución del error sistemático en escala fotométrica.

Longitud de onda (nm)

Filtro de densidad neutra 2

0.400
Error sistemático (%)

0.200

0.000

-0.200
350 450 550 650 750 850
Longitud de onda (nm)

Filtro de densidad neutra 3

Error sistemático (%)

0.500

0.300

0.100

-0.100
350 450 550 650 750 850
Longitud de onda (nm)

Filtro de densidad neutra 4

1.050
Error sistemático (%)

0.700
0.350
0.000
-0.350
-0.700
350 450 550 650 750 850
Longitud de onda (nm)

47
 6. DISCUSIÓN.
El poliestireno (Figura 25) es un polímero formado por n unidades de metilenos
unidos a anillos aromáticos.

Figura 25. Unidad fundamental del poliestireno.

La película de poliestireno adquirida y utilizada como material de referencia tiene la

característica de estar biaxialmente orientada. Puede que esto no represente mayor
significado que el de ser la responsable de la transparencia de la película. Sin
embargo, también nos indica la tacticidad del polímero con el que trabajamos.
Siendo biaxialmente orientado, implica que realizando dos cortes axiales la
orientación de sus moléculas será exactamente la misma en ambas partes. Un
polímero atáctico (Figura 26 izquierda) tiene un arreglo molecular aleatorio y no
correspondería con la definición mencionada, por otro lado, un polímero isotáctico
(Figura 26 derecha) posee un arreglo en cual sus sustituyentes principales se
encuentran orientados hacia un lado de la molécula, esto significa que al hacer un
corte axial de manera vertical las partes resultantes serían similares, pero al hacerlo
horizontalmente serían completamente distintas y esto tampoco encaja en la
característica de la película. Finalmente los polímeros sindiotácticos (Figura 26
central) están arreglados de tal manera que el sustituyente principal se alterna a un
lado y otro de la molécula, esto significa que al realizar los cortes moleculares
obtendríamos partes idénticas. La importancia de la tacticidad es que, a pesar de
ser la misma molécula, en el momento de obtener el espectro infrarrojo, algunas
bandas pueden desaparecer, aparecer, desplazarse, atenuarse o acentuarse
dependiendo de su arreglo espacial.

48
 Figura 26. Tacticidad del poliestireno.

Cuando un anillo aromático es el principal o único sustituyente de una cadena de

metilenos, su espectro infrarrojo presenta bandas características de dichas
cadenas y de anillos aromáticos monosustituidos como es el caso del poliestireno
(Figura 25). El espectro de esta macromolécula tiene bandas dominantes a 2926
cm-1 y 2851 cm-1 por la tensión entre los metilenos. Las bandas de los enlaces C-H
fuera del plano de los anillos aromáticos son intensas a 698 cm -1 y 756 cm-1 y las
tensiones de dichos enlaces se caracterizan por absorber a 3082 cm -1, 3061 cm-1 y
3027 cm-1. También se hacen presentes las bandas características de la
“respiración” del anillo aromático a 1601 cm-1, 1493 cm-1 y 1452 cm-1.
En total, suman 16 señales características del poliestireno (Cuadro 3 y Figura 16),
estas bandas se obtuvieron a través de un algoritmo conocido como Método del
centro de gravedad y que es el mismo cálculo que la mayoría de los
espectrómetros infrarrojos con transformada de Fourier utilizan para calcular los
mínimos de transmitancia en sus mediciones. Las bandas marcadas con un
asterisco (*) son valores sensibles a la resolución del instrumento y al algoritmo

49
utilizado, es decir que si se miden estas señales en un FT-IR que no use el método
del centro de gravedad para el cálculo de los mínimos de transmitancia es probable
que se obtengan resultados muy distintos a los certificados, por lo mismo son
aquellas cuyas incertidumbres son las más altas. El método del centro de gravedad
requiere de la búsqueda del intervalo en número de onda en donde se encuentre el
“pico” y dependerá en gran parte de la simetría del mismo. Los límites de este
intervalo se establecen como se indica en la Figura 27.

Figura 27. Método del Centro de gravedad para determinar

posición de picos.

La trazabilidad de este material de referencia viene desde niveles superiores al

Centro Nacional de Metrología, su instrumento de medición fue calibrado, verificado
e inspeccionado con estándares y procedimientos del Instituto Nacional de Física y
del Instituto Nacional de Normas y Tecnología (NPL y NIST respectivamente, por
sus siglas en inglés). La incertidumbre de estos laboratorios se transfiere a al
espectrómetro FT-IR del CENAM quien calibra la película de poliestireno y con ello
le asigna una incertidumbre asociada a dicho material, el cual podrá utilizarse ahora

50
para calibrar otros instrumentos, para determinar el error y la incertidumbre de los
mismos. La Figura 28 muestra gráficamente esta cadena ininterrumpida de
mediciones desde los INM’s internacionales hasta los usuarios finales.

Figura 28. Carta de trazabilidad de la película de poliestireno.

En el cálculo de incertidumbre para la calibración del FT-IR se tomaron en cuenta

las siguientes fuentes:
- Incertidumbre por repetibilidad (uA).
- Incertidumbre del patrón (uB).
- Incertidumbre por resolución.
Usando la ley de propagación de incertidumbres obtuvimos la incertidumbre
combinada.

51
La incertidumbre expandida, a un nivel de confianza del 95% aproximadamente, se
calculó multiplicando la incertidumbre combinada por un factor de cobertura (k)
igual a dos.
Para validar un método analítico es necesario evaluar la repetibilidad y la
reproduciblidad mediante herramientas estadísticas que nos permitirán conocer la
exactitud, precisión y robustez del mismo. En este caso, se realizó la medición de
las bandas de transmisión cambiando parámetros del certificado de calibración que
entrega el CENAM donde indica que la resolución debe ser de 4 cm -1 o menor y
que el número de barridos debe ser mayor a 64. En distintos días se midió
cambiando los parámetros espectrales indicados en el Cuadro 4 y se obtuvieron
una serie de datos que se sometieron a pruebas estadísticas para encontrar el
mejor procedimiento de calibración.
Los resultados en el Cuadro 5 son el promedio de las mediciones, el error
sistemático con respecto al valor de referencia y la incertidumbre expandida para
cada banda de transmisión. En el podemos observar que las bandas 1, 7, 10 y 12
son las que mayor incertidumbre presentan pero se debe, en gran parte, a la
incertidumbre asociada al material de referencia. De la misma manera, para las
señales 3, 4, 5, 6, 8, 9, 11, 13, 14, 15 y 16, la fuente de incertidumbre que más
peso tiene en la incertidumbre expandida es la que proviene de la película de
poliestireno, y esto es el comportamiento ideal en una calibración. Sin embargo, se
observa que hay una banda cuyos errores e incertidumbres en los tres
procedimientos fueron bastante más elevados que en las otras señales, la banda
número 2 (699.9 cm-1 ± 1.0 cm-1) parece tener incluso mayor sensibilidad a la
resolución del instrumento.
Observemos que cuando se ajustó el FT-IR a 0,5 cm-1 de resolución, el error
sistemático fue de -1.88 cm-1 y una incertidumbre expandida igual a ± 4.08 cm -1
(nótese que la incertidumbre asociada a dicha banda es de ± 1.0 cm -1), mientras
que al hacer la medición a resoluciones más altas (1 cm -1 y 4 cm-1) se obtuvieron
errores e incertidumbres de -0.69 cm-1 ± 3.20 cm-1 y 0.71 cm-1 ± 1.20 cm-1
respectivamente. En el espectro IR obtenido (Figura 17) podemos ver que esta

52
banda, correspondiente a las vibraciones fuera del plano de los enlaces C-H del
anillo aromático, es la señal más intensa de todo el intervalo.
La prueba de error normalizado sirve para corroborar que los resultados obtenidos
correspondan y estén relacionados directamente con los valores del material de
referencia al compararlos entre sí, no solo los valores nominales sino también sus
incertidumbres expandidas. La Figura 28 muestra gráficamente la prueba del error
normalizado, donde podemos ver que una medición pasa siempre y cuando dicho
parámetro sea menor a uno. Por el contrario, si el error normalizado es igual o
mayor a uno, se puede sospechar que no se está midiendo la misma muestra, que
se alteraron los resultados y que simplemente es un valor aberrante.

EN ≥ 1

EN < 1

Valor de Referencia ± Incertidumbre

Valor Medido 1 ± Incertidumbre
Valor Medido 2 ± Incertidumbre

Figura 29. Descripción gráfica de la prueba de error normalizado.

En el Cuadro 6 se encuentran los resultados de dicha prueba, en donde podemos

ver que los errores normalizados de todas las bandas medidas con los distintos
métodos son menores a uno y por tanto podemos afirmar que, a pesar de sus
errores e incertidumbres, éstas pertenecen a mediciones de la misma película de
poliestireno.
Sabiendo esto, y usando las seis mediciones de cada banda para cada método, se
realizó un análisis de varianza (ANOVA) para evaluar la reproducibilidad.

53
La finalidad de esta prueba es demostrar que no existe diferencia significativa entre
las medias/varianzas de las mediciones realizadas con distintos métodos. Se
realizó con un alfa igual a 0.05 (95% de nivel de confianza) y es en el Cuadro 7
donde se encuentran los valores de F de ANOVA. En la parte superior de la tabla
se reporta el valor crítico de F para los grados de libertad y nivel de confianza
establecidos y, recordando un poco, se establece que al obtener un valor calculado
de F en la prueba mayor al valor crítico se rechazará la hipótesis nula, siendo esta
que las medias/varianzas son estadísticamente idénticas. En caso contrario
(Fcalculada<Fcrítica), el valor obtenido cae en la zona de aceptación de la hipótesis
nula.
Sin embargo, vemos que en únicamente 7 de las 16 bandas se acepta que no
existe diferencia significativa entre las medias de los tres procedimientos. Esto es
una señal de baja reproducibilidad y falta de robustez, es decir que cualquier
cambio en la metodología alterará significativamente los resultados obtenidos en la
calibración.
Los diagramas de caja y bigotes (Figuras 19 y 20) nos permiten observar la
dispersión de los datos obtenidos en cada procedimiento y es una manera gráfica
de evaluar la repetibilidad de los métodos. Con ellos, además, podremos decidir
cuál de los tres procedimientos es el mejor para usarse como procedimiento de
calibración general.
En el día 1 se observa mayor dispersión de datos en la mayoría de las bandas y
algunas de ellas con mucha variabilidad (banda 1, 7 y 12). Algunas de ellas tienen
bastante dispersión pero sus datos están concentrados en los extremos (bandas 5,
9, 13 y 15) o en el centro (bandas 2, 10 y 11). De esta manera y a simple vista
sabemos que con esa resolución y número de escaneos no se obtiene una buena
repetibilidad.
El segundo día, la dispersión de los datos disminuye de manera notable, al grado
de que en muchas bandas desaparecen bigotes o cajas, pero en muchas otras
(bandas 2, 6, 12 y 14) se sigue observando poca repetibilidad. Para este
procedimiento se utilizó la resolución más baja del instrumento (0.5 cm -1) y 64
escaneos, esto implica no solo un aumento del ruido instrumental y ambiental,

54
también significa que es el método más tardado de los tres, llegando a durar cada
medición aproximadamente 25 minutos.
Finalmente, el tercer día se realizó la calibración con una resolución de 4 cm -1 y un
número de escaneos igual a 64. Observemos que la dispersión de los datos es
inclusive menor a la del día dos, es tan baja que en las bandas 5, 7 y 11 ni siquiera
existe (todos los datos son iguales). Es por esto que sabemos que es el método
más repetible de los tres.
Se emitió el Certificado de Calibración: MO-OPT1162/14-2 y se entregó al M. en C.
Gustavo Pedraza Aboytes junto con una etiqueta de calibración. En dicho
certificado se encuentran los resultados de la calibración realizada al espectrómetro
FTIR-PE y cumple con los requisitos de la norma internacional ISO/IEC-17025 y
está en concordancia con los requisitos de ISO-9001.
La calibración de un espectrofotómetro UV-Visible, como de cualquier instrumento,
nos permite determinar el error y la incertidumbre con el que trabaja. El Cuadro 8
muestra los resultados en la calibración de la escala de longitud de onda. Con dos
cifras decimales (dos cifras significativas en incertidumbre) analizamos si es el
material de referencia la principal fuente de incertidumbre comparando los valores
calculados con los valores del anexo A y B.
Para esta calibración se tomaron en cuenta las mismas fuentes de incertidumbre
que en para el espectrómetro FT-IR (repetibilidad, resolución y patrón).
Comparando las incertidumbres encontramos que la incertidumbre del instrumento
es hasta 7 veces mayor que la incertidumbre de los materiales de referencia, y
además que la aportación por repetibilidad es nula, por tanto, es la resolución la
responsable de elevar la incertidumbre y esto se debe a que, a pesar de tener un
ancho de banda espectral muy bueno (1 nm) y que depende directamente de la
rendija de salida del selector de longitud de onda, la resolución es muy alta (en
comparación con otros instrumentos con el mismo ancho de banda). Tomando por
ejemplo la banda del óxido de holmio a 445.63 ± 0.08 nm, la incertidumbre
expandida asociada al instrumento (resolución de 1 nm) es de ± 0.58 nm,
suponiendo que la resolución mejorara a 0.1 nm la nueva incertidumbre expandida
sería de ± 0.10 nm y a una resolución de 0.01 nm sería de ± 0.08 nm, básicamente

55
la misma que la del filtro. Esto, en la situación ideal de que la incertidumbre por
repetibilidad continuara siendo nula, sin embargo, evidentemente al aumentar la
resolución del instrumento, incrementa el ruido y la desviación estándar de las
repeticiones sería más alta y por lo mismo también la incertidumbre por
repetibilidad.
En cuanto a los errores sistemáticos encontrados, si los ajustamos a la resolución
del instrumento básicamente obtendremos que rondan entre cero y uno, con
mayores errores en la región visible (en el límite con la región ultravioleta).
Analíticamente, estos errores deben ser corregidos al momento de realizar una
medición de rutina, ya sea durante un barrido o al momento de seleccionar la
longitud de onda de trabajo.
En la Figura 22, sin embargo, vemos que los errores a lo largo del intervalo de
medición no son lineales, ni tienen una tendencia a aumentar o disminuir, sino que
tienen un comportamiento aleatorio (comportamiento esperado en cualquier
instrumento), y, si bien cada usuario decide si corregir y como corregir las
desviaciones sistemáticas, la mejor manera de hacerlo es mediante una curva
simulada y con un modelo matemático establecido (Figura 23), con esta curva y la
ecuación que la modela se puede hallar el error sistemático a lo largo del intervalo,
incluso entre los puntos de referencia.
La importancia de esta corrección puede que no sea perceptible y menos a una
resolución de 1 nm, cuando la mayoría de los errores es 0, pero la Guía para la
expresión de la incertidumbre indica que todo error sistemático conocido que no
sea corregido, debe sumarse a la incertidumbre al momento de realizar una
medición.
En los cuadros 9 y 10 están los resultados de la escala fotométrica, con los cuales
podemos corroborar lo antes dicho, cuando se tiene una buena resolución, la
incertidumbre expandida en su mayoría es resultado de la repetibilidad (Filtro 1) o
del material de referencia (Filtros 2, 3 y 4), en la Figura 24 se grafican los errores
sistemáticos omitiendo los valores a 900 nm de longitud de onda, esto es porque la
incertidumbre asociada al material de referencia es ya de por si muy elevada y no
permite apreciar con mayor detalle la distribución de los demás puntos.

56
También, podemos observar que con estos resultados se puede obtener una
ecuación que sirva para modelar el comportamiento a lo largo de todo el intervalo
del instrumento de la misma forma que con la escala de longitud de onda y con ella
corregir analíticamente las mediciones de rutina.
Finalmente, esta calibración nos permitirá ejemplificar como es que la incertidumbre
asociada a una magnitud de influencia puede incluirse en el presupuesto de
incertidumbre al realizar una medición. Usualmente, esta es una de las principales
dificultades ya que se requiere de un modelo matemático cuya primera derivada
funcionará como coeficiente de sensibilidad.
Suponiendo que se quiere realizar una determinación a 750 nm de longitud de onda
y se obtiene una absorbancia de 0.211 UA pero únicamente tenemos los resultados
de la calibración en % de transmitancia, la manera más sencilla de dar obtener el
valor medido (corregido y con incertidumbre asociada) sería pasar las unidades de
absorbancia a % de transmitancia, pero recordemos que para las cuantificaciones
utilizando la ley de Lambert-Beer se utiliza la absorbancia por tener una relación
lineal con la concentración, en contraste con la transmitancia cuya relación es
logarítmica negativa.
Tomando en cuenta que la resolución en unidades de absorbancia de este
instrumento es de 0,001 UA y la incertidumbre por repetibilidad es nula.
En el certificado nos indica que a 750 nm los resultados de la calibración son los
que se muestran en el Cuadro 11:

Cuadro 11. Resultados de la calibración a 750 nm.

% Transmitancia
Filtro Valor Error Incertidumbre
1 7.654 -0.089 ±0.058
2 35.572 0.216 ±0.137
3 49.632 0.199 ±0.182
4 92.233 0.361 ±0.36

57
Lo primero que se debe hacer es ver en que nivel se encuentra nuestro valor
nominal de absorbancia, ya sea convirtiéndolo a unidades de % de transmitancia o
pasando cada valor de los filtros a unidades de absorbancia. Usando la ecuación:
100
𝐴 = log ( )
%𝑇
Encontramos que una absorbancia de 0.211 corresponde a un valor de 61.52% de
transmitancia, el filtro más cercano a este valor es el filtro tres, así que se usarán
dichos valores para el ejercicio.
Para realizar la corrección se debe encontrar el error sistemático del instrumento en
unidades de absorbancia, utilizando la misma fórmula en el valor de referencia y
restando este al valor obtenido (en la calibración). Sin embargo, para la
incertidumbre no se puede hacer de la misma manera debido a que no representa
un valor puntual, sino una dispersión (estadísticamente hablando) y a un cambio
infinitesimal de unidades de mensurando por cada unidad de magnitud de
influencia (matemáticamente hablando). Este cambio infinitesimal en la ecuación es
conocido como coeficiente de sensibilidad y es igual a la primera derivada de la
misma. Así pues, el coeficiente de sensibilidad de la absorbancia con respecto al
porcentaje de transmitancia es igual a:
𝑑𝐴 1
𝐶𝑜𝑒𝑓𝑖𝑐𝑖𝑒𝑛𝑡𝑒 𝑑𝑒 𝑆𝑒𝑛𝑠𝑖𝑏𝑖𝑙𝑖𝑑𝑎𝑑 = =
𝑑%𝑇 %𝑇 ∗ ln 10
De esta manera, ya podemos calcular lo indispensable como está en el Cuadro 12:

Cuadro 12. Valores certificados del filtro 3 a 750 nm de longitud de onda.

% Transmitancia Absorbancia
Coeficiente de
Valor de Incertidumbre Valor de Incertidumbre
Sensibilidad
Referencia (k=2) Referencia (k=2)
Función Valor
−1
49,433 ±0.179 0.306 %𝑇∗ ln 10
-0.008785 ±0.0016

58
El error sistemático viene a ser el valor obtenido en la calibración (49.632%),
convertido en unidades de absorbancia (0,304 UA) menos el valor de referencia
recién obtenido (0,306 UA) y es igual a -0.002 UA y la incertidumbre combinada, de
acuerdo a la ley de propagación de incertidumbres es igual a:

0.0016 0.001 2 2
𝑢𝐶 = √𝑢𝑟𝑒𝑝2 + 𝑢𝑝𝑎𝑡𝑟ó𝑛2 + 𝑢𝑟𝑒𝑠 2 = √02 + ( ) +( ) = 0.0086
2 2 √3

Y es así como se obtienen los datos necesarios para cualquier análisis, tanto en
transmitancia como en absorbancia.
Los datos de la calibración de este espectrofotómetro, en ambas escalas, son
resultados que reflejan el buen funcionamiento del instrumento, la escala de
longitud de onda nos indica que el sistema monocromador (selector de longitud de
onda) trabaja con errores mínimos, mientras que la escala fotométrica evalúa el
estado de las lámparas y del detector y cuyas correcciones son mínimas.

7. CONCLUSIONES.
En conclusión, toda ciencia, tratado o disciplina, cuyo ejercicio implique la medición
de variables y constantes físico-químicas, se encuentra directamente relacionada
con la metrología. Desde la definición de sus magnitudes y unidades, hasta la
propia medición, expresión e interpretación de sus resultados. Teniendo en cuenta
la presencia de una incertidumbre asociada a la medición y, por tanto, la
comprensión de que los conceptos de exactitud y precisión son relativos con
respecto a dicho parámetro. En otras palabras, el valor verdadero de un
mensurando es desconocido de manera puntual pero conocido dentro de un
intervalo así llamado incertidumbre, y siempre con cierto grado o nivel de confianza.
Mediante la práctica de calibración que realiza la metrología científica, a través de
Institutos Nacionales de Metrología y laboratorios secundarios, el trabajo de los
analistas está intrínsecamente ligado a patrones nacionales y a su vez a patrones
internacionales otorgándole trazabilidad a sus mediciones.
Además, este trabajo de calibración, está normalizado internacionalmente por
organismos como ISO y nacionalmente por el gobierno a través de sus secretarías
y otras dependencias. La acreditación de los laboratorios que cumplan estas

59
normas es otorgada por parte de entidades nacionales (ema) e internacionales
(ilac).
En cuanto a los objetivos de este trabajo, se puede decir que se cumplieron en su
totalidad con los resultados obtenidos. Ya que, con ellos y mediante análisis
estadísticos, encontramos, redactamos y validamos el mejor procedimiento de
calibración de espectrómetros FT-IR, demostrando así la capacidad técnica e
intelectual del laboratorio de calibración y, por tanto, de los metrólogos. Se obtuvo
también el material de referencia, avalado por la Oficina Internacional de Pesos y
Medidas y certificado por el Centro Nacional de Metrología, para dicha calibración,
dando pruebas de que se cuenta con los recursos metrológicos necesarios para la
realización de este servicio.
Sin embargo, la acreditación de este nuevo procedimiento por parte de la entidad
mexicana de acreditación a. c., que era un objetivo secundario de este trabajo, no
se ha logrado en su totalidad, puesto que el laboratorio no contaba con el
instrumento de medición con el cual realizar verificaciones intermedias del patrón
adquirido.
Se calibró el espectrómetro FT-IR del Laboratorio de Instrumentación Analítica del
CEACA (Facultad de Química – UAQ) identificado como FTIR-PE y se entregó el
Certificado de Calibración: MO-OPT1162/14-2.
Además, se calibró un espectrofotómetro UV-Visible del mismo laboratorio
identificado como UV/VIS-HP. Este procedimiento ya lleva tiempo acreditado ante
la entidad y es un servicio de calibración de rutina en el laboratorio y en campo. La
finalidad de esta calibración era demostrar la asignación y cálculo de la
incertidumbre de un instrumento de medición, cálculo del error sistemático y
corrección de dicho error mediante curvas simuladas y modelos matemáticos, y
cálculo de la función del coeficiente de sensibilidad, que es la herramienta principal
para cuantificar la influencia de una magnitud sobre el mensurando evaluado. Si
bien no se entrega Certificado de la calibración de este instrumento, los resultados
se encontrarán siempre a disposición de quien los requiera en estas memorias, a
través de los sinodales y del propio autor.

60
Finalmente, es importante recalcar que la calibración de un instrumento va más allá
del cumplimiento de un requisito, deben interpretarse los datos obtenidos y
corregirse. Esto, aunado a el conocimiento del fundamento del instrumento ayuda
a evaluar el estado del mismo y las acciones correctivas que se le puede dar en
caso de encontrar errores significativos. La importancia de una calibración como
usuario es, más que conocer errores e incertidumbres, darles un uso práctico.

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63
 ANEXO A

Valores de longitud de onda (λ) certificados e incertidumbres con un k = 2 del

filtro de óxido de holmio a un ABE de 1 nm

λ (nm) U (nm)
279.32 ±0.08
287.62 ±0.08
289.93 ±0.08
333.93 ±0.08
344.53 ±0.18
347.86 ±0.08
360.83 ±0.08
381.68 ±0.08
385.83 ±0.08
390.72 ±0.14
418.59 ±0.11
424.80 ±0.09
445.63 ±0.08
453.52 ±0.08
460.02 ±0.08
473.82 ±0.12
484.32 ±0.11
487.97 ±0.15
536.35 ±0.10
545.96 ±0.14
637.62 ±0.10
648.92 ±0.14
662.23 ±0.25

64
 ANEXO B

Valores de longitud de onda (λ) certificados e incertidumbres con un k = 2 del

filtro de óxido de didimio a un ABE de 1 nm

λ (nm) U (nm)
431.05 ±0.09
440.07 ±0.10
462.82 ±0.16
473.08 ±0.11
478.98 ±0.17
513.58 ±0.10
528.97 ±0.08
585.13 ±0.17
623.72 ±0.22
629.18 ±0.22
684.50 ±0.11
741.32 ±0.12
748.81 ±0.11
807.24 ±0.09
879.48 ±0.22

65
 ANEXO C

Valores certificados de transmitancia (τ) e incertidumbres con un k = 2 de los

filtros de densidad neutra

Filtro 1 Filtro 2 Filtro 3 Filtro 4

λ (nm)
τ (%) U (%) τ (%) U (%) τ (%) U (%) τ (%) U (%)
400 1.751 ±0.011 27.196 ±0.108 48.364 ±0.185 91.396 ±0.346
440 2.555 ±0.015 27.832 ±0.107 47.241 ±0.158 91.466 ±0.341
450 2.838 ±0.015 29.336 ±0.107 49.332 ±0.186 91.497 ±0.359
465 3.201 ±0.015 31.028 ±0.106 51.770 ±0.174 91.521 ±0.359
500 2.873 ±0.015 28.883 ±0.108 49.967 ±0.185 91.599 ±0.338
546.1 2.978 ±0.016 29.823 ±0.108 51.061 ±0.174 91.649 ±0.338
590 2.784 ±0.016 27.416 ±0.100 48.512 ±0.179 91.739 ±0.359
600 2.875 ±0.017 27.481 ±0.101 48.502 ±0.184 91.790 ±0.375
635 3.372 ±0.016 28.391 ±0.105 48.362 ±0.185 91.790 ±0.349
650 3.590 ±0.016 28.302 ±0.106 47.969 ±0.187 91.806 ±0.347
700 6.157 ±0.023 34.852 ±0.124 51.993 ±0.174 91.876 ±0.354
750 7.743 ±0.017 35.356 ±0.127 49.433 ±0.179 91.872 ±0.340
800 7.813 ±0.011 31.693 ±0.115 44.550 ±0.175 91.939 ±0.359
850 7.117 ±0.037 27.701 ±0.159 39.845 ±0.177 91.892 ±0.418
900 6.207 ±0.212 24.399 ±0.739 35.046 ±1.077 92.722 ±1.772

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