ISO 5538 - 2010 Leche y Productos Lacteos - Muestreo - Inspeccion - Feb16

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NORMA TCNICA

PERUANA

NTP-ISO 5538
(IDF 113:2004) 2010

Comisin de Normalizacin y de Fiscalizacin de Barreras Comerciales No Arancelarias-INDECOPI


Calle de La Prosa 138, San Borja (Lima 41) Apartado 145
Lima, Per

LECHE Y PRODUCTOS
Inspeccin por atributos

LCTEOS.

Muestreo.

MILK AND MILK PRODUCTS. Sampling. Inspection by attributes


(EQV. ISO 5538:2004 (IDF 113:2004) Milk and milk products -- Sampling -- Inspection by attributes)

2010-09-29
1 Edicin

R.0026-2010/INDECOPI-CNB. Publicada el 2010-12-17


Precio basado en 31 pginas
I.C.S.: 67.100.01
ESTA NORMA ES RECOMENDABLE
Descriptores: Leche, lcteo, muestreo, muestra, inspeccin, atributo

NDICE

pgina
NDICE

PREFACIO

ii

INTRODUCCIN

PRLOGO

vi

INTRODUCCIN (INTERNACIONAL)

viii

1.

ALCANCE

2.

REFERENCIAS NORMATIVAS

3.

TRMINOS Y DEFINICIONES

4.

PLANES DE MUESTREO

5.

SELECCIN DEL PLAN DE MUESTREO

5.1

CLASIFICACIN DE DEFECTOS

5.2

ELECCIN DEL NIVEL DE INSPECCIN Y LCA

6.

REGISTROS

7.

SELECCIN DE UNIDADES

8.

ANTECEDENTES
ANEXO A (NORMATIVO) TEORA ESTADSTICA

18

ANEXO B (NORMATIVO) DEFECTOS CRTICOS

19

ANEXO C (INFORMATIVO)

23

PREFACIO

A.

RESEA HISTRICA

A.1
La presente Norma Tcnica Peruana ha sido elaborada por el Comit
Tcnico de Normalizacin de Aplicacin de mtodos estadsticos, mediante el Sistema 1
o de Adopcin, durante los meses de setiembre de 2009 a julio de 2010, utilizando
como antecedente a la norma ISO 5538:2004 (IDF 113:2004) Milk and milk products -Sampling -- Inspection by attributes.

A.2
El Comit Tcnico de Normalizacin de Aplicacin de mtodos
estadsticos present a la Comisin de Normalizacin y de Fiscalizacin de Barreras
Comerciales No Arancelarias -CNB-, con fecha 2010-07-16, el PNTP-ISO 5538 (IDF
113:2004):2010, para su revisin y aprobacin, siendo sometido a la etapa de discusin
pblica el 2010-08-28. No habindose presentado observaciones fue oficializada como
Norma Tcnica Peruana NTP-ISO 5538 (IDF 113:2004):2010 LECHE Y
PRODUCTOS LCTEOS. Muestreo. Inspeccin por atributos, 1 Edicin, el 17 de
diciembre de 2010.

A.3
Esta Norma Tcnica Peruana es una adopcin de la ISO 5538:2004 (IDF
113:2004). La presente Norma Tcnica Peruana presenta cambios editoriales referidos
principalmente a terminologa empleada propia del idioma espaol y ha sido
estructurada de acuerdo a las Guas Peruanas GP 001:1995 y GP 002:1995.

B.
INSTITUCIONES QUE PARTICIPARON EN LA ELABORACIN
DE LA NORMA TCNICA PERUANA

Secretara

SNOASC

Presidente

Humberto
Toso
INSPECTORATE

Secretario

Celso Gonzales

ENTIDAD

REPRESENTANTE

CERPER S.A.

Jos Camero

ii

AENOR PERU

Diana Garca

SAT S.A.

Fidel Poma

INTERTEK

Vanessa Gonzales

SGS

Ebert Gala

SENASA

Cristina Toro

CONSULTORA

Nelly Baiocchi

CONSULTOR

Oscar Valdizan

CONSULTOR

Walter Prez

iii

PRLOGO

ISO (La Organizacin Internacional para la Normalizacin) es una institucin mundial


que agrupa a los organismos nacionales para la normalizacin (Organismos Miembros
de la ISO). El trabajo de preparar Normas Internacionales se realiza mediante los
Comits Tcnicos de la ISO. Cada miembro interesado en un tema, para el cual se ha
establecido un Comit Tcnico, tiene derecho a ser representado en dicho Comit. La
ISO colabora estrechamente con la Comisin Electrnica Internacional (CEI) en todos
los asuntos relacionados a la normalizacin electrnica.

Las Normas Internacionales se redactan segn las reglas dadas en las Directivas
ISO/CEI, Parte 2.

La tarea principal de los comits tcnicos es preparar las Normas Internacionales. Los
Proyectos de Normas Internacionales adoptados por los comits tcnicos se envan a los
organismos miembros para votacin. La publicacin como Norma Internacional
requiere la aprobacin de por lo menos el 75 % de los organismos miembros requeridos
para votar.

Se presta especial atencin a la posibilidad de que algunos elementos de este documento


puedan estar sujetos a los derechos de patente. La ISO no asumir responsabilidad por
la identificacin de todos y cada uno de los derechos de patente.

La ISO 5538/IDF 113 ha sido preparada por el Comit Tcnico ISO/TC 34, Productos
alimenticios, Subcomit SC 5, Leche y productos lcteos, y la Federacin Internacional
de Lechera (IDF), en colaboracin con AOAC internacional. Esta es publicada
juntamente con la ISO e IDF y, en forma separada, por AOAC Internacional.

Esta edicin de la ISO 5538/IDF 113 cancela y reemplaza la ISO 5538:1987, de la que
esta constituye una revisin menor. Slo se han hecho cambios editoriales.

iv

PRLOGO

FID (Federacin Internacional de Lechera) es una federacin a nivel mundial del sector
de lechera con un Comit Nacional en cada pas miembro. Cada Comit Nacional tiene
el derecho de ser representado en los Comits Permanentes de la FID que realiza el
trabajo tcnico. La FID colabora con ISO y AOAC International en el desarrollo de
mtodos estndares de anlisis y muestreo para la leche y productos lcteos.

Las Normas Internacionales adoptadas por los Equipos de Accin y Comits


Permanentes se envan a los Comits Nacionales para votacin. La publicacin como
una Norma Internacional requiere la aprobacin, como mnimo, del 50% de los Comits
Nacionales con derecho a voto.

La ISO 5538/IDF 113 ha sido preparada por el Comit Tcnico ISO/TC 34, Productos
alimenticios, Subcomit SC 5, Leche y productos lcteos, y la Federacin Internacional
de Lechera (IDF), en colaboracin con AOAC internacional. Esta es publicada
juntamente con la ISO e IDF y, en forma separada, por AOAC Internacional.

Todos los trabajos desarrollados por el Joint ISO/FDI/AOAC Grupo de Expertos,


Seleccin de muestras (E26), bajo el patrocinio de su presidente, Sr. D.C. Bettes (GB).

Esta edicin de la ISO 5538/IDF 113 cancela y reemplaza la IDF 113A:1990. Slo se
han hecho cambios editoriales.

INTRODUCCIN

La teora de muestreo usada en esta Norma Tcnica Peruana se basa en la clasificacin


de una unidad como buena o defectuosa. Una unidad buena es aquella que
cumple los requisitos de una especificacin, mientras que una unidad defectuosa es
aquella que no la cumple. Es importante que la muestra sea tomada al azar. Si no fuera
as, los planes de muestreo no mostrarn la proteccin establecida. Vase el Anexo A.

vi

INTRODUCCIN

La teora de muestreo empleada en esta Norma Tcnica Peruana est basada en la


clasificacin de una unidad como "buena" o "defectuosa", Una unidad es "buena" si
cumple con los requerimientos de una especificacin, mientras una unidad "defectuosa"
no los cumple. Es indispensable que la muestra sea tomada al azar. De lo contrario, los
planes de muestreo no darn el resultado establecido. Vase el Anexo A.

---oooOooo---

vii

NORMA TCNICA
PERUANA

NTP-ISO 5538
1 de 31

LECHE Y PRODUCTOS LCTEOS. Muestreo. Inspeccin


por atributos
1.

OBJETO Y CAMPO DE APLICACIN

1.1
Esta Norma Tcnica Peruana establece los planes de muestreo para la
inspeccin por atributos de la leche y los productos lcteos. Se debe usar para escoger el
tamao de la muestra en cualquier situacin donde se requiera medir la conformidad de
una especificacin de un lote de un producto lcteo mediante el examen de una muestra
representativa.

1.2
Esta Norma Tcnica Peruana se aplica para el muestreo de todos los
productos lcteos en lotes discretos, independientemente que los lotes procedan de la
misma produccin. La aceptacin o rechazo de cualquier lote es materia del contrato entre
las partes y est fuera del alcance de esta NTP.

1.3
Esta NTP se puede usar en todos los casos donde los planes de muestreo por
atributos sean requeridos para un producto lcteo, excepto que se especifiquen normas de
composicin, contratos o especificaciones que incluyan esquemas diferentes de muestreo,
los cuales deben usarse en esos casos.

1.4
Esta NTP no es aplicable para el muestreo para defectos microbiolgicos, a
menos que estn de acuerdo las partes interesadas.

NOTA: Los mtodos de muestreo para la leche y los productos lcteos se dan en la NTP-ISO 707

2.

REFERENCIAS NORMATIVAS

Los documentos de referencia siguientes son indispensables para la aplicacin de esta


NTP. Para las referencias fechadas, solo la edicin citada aplica. Para las referencias no
fechadas, la ltima edicin aplica (incluyendo cualquier enmienda).

NORMA TCNICA
PERUANA

NTP-ISO 5538
2 de 31

2.1

Normas Tcnicas Internacionales

2.1.1

ISO 2859-1:1999

Procedimientos de muestreo para la inspeccin


por atributos Parte 1: Esquemas de muestreo
indexados por lmite de calidad de aceptacin
(LCA) para la inspeccin lote por lote

2.1.2

ISO 3534-2:2006

Estadsticas Vocabulario y smbolos Parte 1:


Estadstica aplicada

2.2

Norma Tcnica Peruana

2.2.1

NTP-ISO 3534-1:2006

3.

TRMINOS Y DEFINICIONES

Estadsticas Vocabulario y smbolos Parte 1:


Probabilidad y trminos estadsticos generales

Para los propsitos de esta norma se adoptarn las definiciones dadas en la NTP ISO 35341, ISO 3524-2 y los siguientes:

3.1

lmite de calidad aceptable (LCA) (AQL)

Este nivel de calidad representa el peor proceso promedio tolerable cuando una serie
continua de lotes es sometida para muestreo de aceptacin.

4.

PLANES DE MUESTREO

La NTP-ISO 2859:1 describe los planes para ser utilizados en todas la situaciones y
considera el trasfondo terico de las tablas de muestreo. Los planes son listados para un
lote o tamao del lote y por el lmite de calidad aceptable (LCA).

NORMA TCNICA
PERUANA

5.

SELECCIN DE LOS PLANES DE MUESTREO

5.1

Clasificacin por defectos

5.1.1

Generalidades

NTP-ISO 5538
3 de 31

Antes de la seleccin de un plan de muestreo, el contrato o especificacin debe definir


claramente todos los defectos crticos, mayores o menores, de tal manera, que sean
entendidos sin ambigedad por todos los usuarios del contrato, especificacin o documento
que contenga o haga referencia al plan de muestreo.

5.1.2

Defecto crtico

Es un defecto que hara al producto inaceptable. Para el propsito de esta norma, los
defectos crticos tambin se refieren a la presencia de contaminantes txicos a un nivel
altamente crticos, los ejemplos incluyen metales pesados y residuos de pesticidas.

En este caso, el mtodo que es adoptado se describe en el Anexo B. Es necesario decidir


sobre un riesgo aceptable de no detectar cierto porcentaje de defectuosos, donde un
defectuoso es una unidad que contiene ms del nivel crtico del contaminante. Es imposible
garantizar un producto libre de contaminacin.

5.1.3

Defecto mayor

Es un defecto que hace al producto inadecuado para su uso, por ejemplo, en el caso de la
leche y productos lcteos, resultan inadecuados para la venta o para el consumidor. Un
defecto mayor, da por resultado productos seriamente daados o que llegan a ser
inadecuados para la venta o procesamiento. Los ejemplos incluidos son:

a)

defectos de composicin, donde se afecte la conservacin de la calidad

b)

contaminacin con sustancias inhibidoras

NORMA TCNICA
PERUANA

c)

integridad del empaque y

d)

contaminacin visible con suciedad.

NTP-ISO 5538
4 de 31

Los planes de muestreo para defectos mayores deben ser seleccionados desde tablas
utilizando un LCA no mayor de 6,5 %.

5.1.4

Defecto menor

Es una falla en el cumplimiento de la especificacin pero que no hace a la unidad


inadecuada para su uso y venta, ste no causa deterioro. Los ejemplos incluidos son:

a)
en una unidad, la composicin qumica o el contenido neto, los cuales estn
por fuera de especificacin, pero cercanos al lmite de la especificacin y
b)

pequeas anormalidades en la apariencia.

Los planes de muestreo para defectos menores sern seleccionados desde las tablas 1-24
utilizando un LCA no mayor de 10 %

5.2

Seleccin de un nivel de inspeccin y del LCA

5.2.1
Los planes de muestreo deben ser seleccionados desde las tablas1 al 24
utilizando el tamao del lote y el LCA acordado.

En las tablas, n es el tamao de la muestra, Ac es el nmero de aceptacin y Re es el


nmero de rechazo.

Ejemplo.
Para un tamao de muestra de n =13, Ac=0 y Re=1, significa que si una muestra de 13
unidades no contiene defectuosos, el lote debe ser aceptado; si la muestra contiene 1 o ms
defectuosos, el lote debe ser rechazado.

NORMA TCNICA
PERUANA

NTP-ISO 5538
5 de 31

Las tablas del 1 al 20 provienen de la NTP -ISO 2859-1 y se refieren a los niveles de
inspeccin I, S-1, S-2, S-3 y S-4. Se prefiere el nivel de inspeccin I.

Usando cualquiera de los planes S se incrementarn los riesgos y stos no deben ser usados
sin comprobar primero que los riesgos asociados son aceptables. Detalles de estos riesgos
se dan en el apartado 5.2.2.

5.2.2
Los niveles de inspeccin S-1, S-2, S-3 y S-4, deben ser usados donde son
necesarios tamaos de muestras relativamente pequeos y los riesgos de muestreo grandes
pueden o deben ser tolerados. Como consecuencia, al usar estos niveles especiales, se
incrementa la probabilidad de tomar una decisin equivocada. Primero, el riesgo del
consumidor aumenta. Esto se ilustra en las Tablas del 21 al 24. La Tabla 21 se refiere a
planes con un LCA de 2,5 %. La Tabla 22 a un LCA de 4,0 %. La Tabla 23 a un LCA de
6,5 % y la Tabla 24 a un LCA de 10 %

Cada tabla contiene:


-

el tamao de la muestra (n) y el tamao del lote apropiado a los niveles de


inspeccin separados;

el nmero mximo de unidades defectuosas permitidas en la muestra,


ejemplo: nmero de aceptacin (Ac);

el nmero mnimo de unidades defectuosas requeridas en la muestra para


rechazar el lote, ejemplo: nmero de rechazo (Re);

la calidad lmite (CL)

Si el tamao de la muestra es pequeo, CL es alto; si se incrementa el tamao de la


muestra, CL se reduce al mismo LCA.

Por ejemplo, en la tabla 6, el plan del inspeccin en el cual el tamao de la muestra es 5 y


CL = 45 % aparece en todos los niveles de inspeccin pero slo en el nivel S-1 pueden ser
inspeccionados todos los tamaos de lote.

NORMA TCNICA
PERUANA

NTP-ISO 5538
6 de 31

En los niveles de inspeccin I y S-4, el tamao de la muestra de 5 puede slo ser tomado
cuando el tamao del lote no exceda de 150.

El hecho de que el riesgo para el consumidor (y a la vez la CL) llegue a ser ms pequeo,
mientras el tamao del lote inspeccionado se aumenta, se justifica por motivos
econmicos.

Los planes de inspeccin en los cuales la CL es muchas veces ms grande que el LCA, son
inadecuados tanto para el consumidor como para el productor. Si se considera un lote de 35
000 unidades, el Nivel de Inspeccin I requerir un tamao de muestra de 125, siendo la
CL del 11 % (por ejemplo el 95 % de los lotes que contiene 11 % de defectos deberan ser
rechazados). El nivel S-1 requerir un tamao de muestra de 5, siendo una CL de 45 %.
Una CL de 45 % es mucho ms grande que el LCA de 2,5 % por lo que el concepto de
LCA deja de tener sentido. Adems, la muestra de 5 rechazara equivocadamente ms del
10 % de lotes que contengan 2,5 % de defectos.

Incrementando el tamao de la muestra aumenta tanto la proteccin al consumidor como la


discriminacin de los planes de muestreo; sta es una de las razones principales para
relacionar el tamao de la muestra con el tamao del lote. Los usuarios de esta norma
encontrarn las caractersticas completas de operacin para cada plan en la norma NTPISO 2859:1; estos relacionan la probabilidad de aceptacin con el porcentaje de
defectuosos en el lote.

6.

REGISTROS

Para lograr una operacin exitosa de este tipo de planes para muestreo se requiere la
conservacin de registros completos que incluyan los resultados de inspeccin y los planes
usados. El intercambio de informacin entre ambas partes puede ser provechoso, y se
recomienda que cada parte tenga disponible la informacin cuando la otra parte lo requiera.

NORMA TCNICA
PERUANA

7.

NTP-ISO 5538
7 de 31

SELECCIN DE UNIDADES

La teora de muestreo usada para los planes de la NTP-ISO 2859:1 y los de esta norma,
asumen que el muestreo es aleatorio, lo cual significa que cada unidad en el lote debera
tener la misma probabilidad de aparecer en la muestra.

Se deben hacer todos los esfuerzos necesarios para obtener una muestra aleatoria. Siempre
que sea posible, se debera usar un procedimiento formal de aleatorizacin, como est
descrito en el Anexo C. Si esto no se hace, no se puede asumir que los riesgos asociados
con los planes sean los esperados. Una aleatorizacin formal no es difcil, aunque puede
ser tediosa y consumir tiempo.

Para las tablas del 1 al 20, cuando se usa la inspeccin reducida, si el nmero de aceptacin
es excedido pero el nmero de rechazo no es alcanzado, la remesa debera ser aceptada,
pero la inspeccin debera cambiar a la inspeccin normal.
TABLA 1 Nivel de Inspeccin I LCA = 2,5 %

Tamao del lote


Hasta 150
151 a 500
501 a 1 200
1 201 a 3 200
3 201 a 10 000
10 001 a 35 000
35 001 a 150 000
150 001 a 500 000
Ms de 500 000

Inspeccin normal Inspeccin rigurosa Inspeccin reducida


n
n
n
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
5
0
1
8
0
1
2
0
1
20
1
2
32
1
2
8
0
2
32
2
3
32
1
2
13
1
3
50
3
4
50
2
3
20
1
4
80
5
6
80
3
4
32
2
5
125
7
8
125
5
6
50
3
6
200
10
11
200
8
9
80
5
8
315
14
15
315
12
13
125
7
10
500
21
22
500
18
19
200
10
13

NORMA TCNICA
PERUANA

NTP-ISO 5538
8 de 31

TABLA 2 Nivel de Inspeccin I LCA = 4,0 %

Tamao del lote


Hasta 90
91 a 280
281 a 500
501 a 1 200
1 201 a 3 200
3 201 a 10 000
10 001 a 35 000
35 001 a 150 000
Ms de 150 000

Inspeccin normal Inspeccin rigurosa Inspeccin reducida


n
Ac
Re
n
Ac
Re
n
Ac
Re
3
13
20
32
50
80
125
200
315

0
1
2
3
5
7
10
14
21

1
2
3
4
6
8
11
15
22

5
20
20
32
50
80
125
200
315

0
1
1
2
3
5
8
12
18

1
2
2
3
4
6
9
13
19

2
5
8
13
20
32
50
80
125

0
0
1
1
2
3
5
7
10

1
2
3
4
5
6
8
10
13

TABLA 3 Nivel de Inspeccin I LCA = 6,5 %

Tamao del lote


Hasta 25
26 a 150
151 a 280
281 a 500
501 a 1 200
1 201 a 3 200
3 201 a 10 000
10 001 a 35 000
Ms de 35 000

Inspeccin normal Inspeccin rigurosa


n
n
Ac
Re
Ac
Re
2
0
1
3
0
1
8
1
2
13
1
2
13
2
3
13
1
2
20
3
4
20
2
3
32
5
6
32
3
4
50
7
8
50
5
6
80
10
11
80
8
9
125
14
15
125
12
13
200
21
22
200
18
19

Inspeccin reducida
n
Ac
Re
2
0
1
3
0
2
5
1
3
8
1
4
13
2
5
20
3
6
32
5
8
50
7
10
80
10
13

NORMA TCNICA
PERUANA

NTP-ISO 5538
9 de 31

TABLA 4 Nivel de Inspeccin I LCA = 10 %

Tamao del lote


Hasta90
91 a 150
151 a 280
281 a 500
501 a 1 200
1 201 a 3 200
3 201 a 10 000
Ms de 10 000

Inspeccin normal Inspeccin rigurosa


n
n
Ac
Re
Ac
Re
5
1
2
8
1
2
8
2
3
8
1
2
13
3
4
13
2
3
20
5
6
20
3
4
32
7
8
32
5
6
50
10
11
50
8
9
80
14
15
80
12
13
125
21
22
125
18
19

Inspeccin reducida
n
Ac
Re
2
0
2
3
1
3
5
1
4
8
2
5
13
3
6
20
5
8
32
7
10
50
10
13

TABLA 5 Nivel de Inspeccin S-4 LCA = 2,5 %

Tamao del lote


Hasta 150
151 a 1 200
1 201 a 10 000
10 001 a 35 000
35 001 a 500 000
Ms de 500 000

Inspeccin normal Inspeccin rigurosa Inspeccin reducida


n
Ac
Re
n
Ac
Re
n
Ac
Re
5
20
32
50
80
125

0
1
2
3
5
7

1
2
3
4
6
8

8
32
32
50
80
125

0
1
1
2
3
5

1
2
2
3
4
5

2
8
13
20
32
50

0
0
1
1
2
3

1
2
3
4
5
6

NORMA TCNICA
PERUANA

NTP-ISO 5538
10 de 31

TABLA 6 Nivel de Inspeccin S-4 LCA = 4,0 %

Tamao del lote


Hasta 90
91 a 500
501 a 1 200
1 201 a 10 000
10 001 a 35 000
35 001 a 500 000
Ms de 500 000

Inspeccin normal Inspeccin rigurosa


n
n
Ac
Re
Ac
Re
3
0
1
5
0
1
13
1
2
20
1
2
20
2
3
20
1
2
32
3
4
32
2
3
50
5
6
50
3
4
80
7
8
80
5
6
125
10
11
125
8
9

Inspeccin reducida
n
Ac
Re
2
0
1
5
0
2
8
1
3
13
1
4
20
2
5
32
3
6
50
5
8

TABLA 7 Nivel de Inspeccin S-4 LCA = 6,5 %

Tamao del lote


Hasta 25
26 a 150
151 a 500
501 a 1 200
1 201 a 10 000
10 001 a 35 000
35 001 a 500 000
Ms de 500 000

Inspeccin normal Inspeccin rigurosa


n
n
Ac
Re
Ac
Re
2
0
1
3
0
1
8
1
2
13
1
2
13
2
3
13
1
2
20
3
4
20
2
3
32
5
6
32
3
4
50
7
8
50
5
6
80
10
11
80
8
9
125
14
15
125
12
13

Inspeccin reducida
n
Ac
Re
2
0
1
3
0
2
5
1
3
8
1
4
13
2
5
20
3
6
32
5
8
50
7
10

NORMA TCNICA
PERUANA

NTP-ISO 5538
11 de 31

TABLA 8 Nivel de Inspeccin S-4 LCA = 10 %

Tamao del lote


Hasta 90
91 a 150
151 a 500
501 a 1 200
1 201 a 10 000
10 001 a 35 000
35 001 a 500 000
Ms de 500 000

Inspeccin normal Inspeccin rigurosa


n
n
Ac
Re
Ac
Re
5
1
2
8
1
2
8
2
3
8
1
2
13
3
4
13
2
3
20
5
6
20
3
4
32
7
8
32
5
6
50
10
11
50
8
9
80
14
15
80
12
13
125
21
22
125
18
19

Inspeccin reducida
n
Ac
Re
2
0
2
3
1
3
5
1
4
8
2
5
13
3
6
20
5
8
32
7
10
50
10
13

TABLA 9 Nivel de Inspeccin S-3 LCA = 2,5 %

Tamao del lote

Inspeccin
normal
n
Ac

Hasta 500
501 a 35 000
35 001 a 500 000
Ms de 500 000

5
20
32
50

0
1
2
3

Inspeccin rigurosa
Re n
Ac
Re
1
8
0
1
2
32
1
2
3
32
1
2
4
50
2
3

Inspeccin
reducida
n
Ac
2
8
13
20

0
0
1
1

Re
1
2
3
4

TABLA 10 Nivel de Inspeccin S-3 LCA = 4,0 %

Tamao del lote


Hasta 150
151 a 3 200
3 201 a 35 000
35 001 a 500 000
Ms de 500 000

Inspeccin normal Inspeccin rigurosa Inspeccin reducida


n
n
n
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
3
0
1
5
0
1
2
0
1
13
1
2
20
1
2
5
0
2
20
2
3
20
1
2
8
1
3
32
3
4
32
2
3
13
1
4
50
5
6
50
3
4
20
2
5

NORMA TCNICA
PERUANA

NTP-ISO 5538
12 de 31

TABLA 11 Nivel de Inspeccin S-3 LCA = 6,5 %

Tamao del lote


Hasta 50
51 a 500
501 a 3 200
3 201 a 35 000
35 001 a 500 000
Ms de 500 000

Inspeccin normal Inspeccin rigurosa Inspeccin reducida


n
Ac
Re
n
Ac
Re
n
Ac
Re
2
8
13
20
32
50

0
1
2
3
5
7

1
2
3
4
6
8

3
13
13
20
32
50

0
1
1
2
3
5

1
2
2
3
4
6

2
3
5
8
13
20

0
0
1
1
2
3

1
2
3
4
5
6

TABLA 12 Nivel de Inspeccin S-3 LCA = 10 %

Tamao del lote


Hasta 150
151 a 500
501 a 3 200
3 201 a 35 000
35 001 a 500 000
Ms de 500 000

Inspeccin normal Inspeccin rigurosa Inspeccin reducida


n
n
n
Ac
Re
Ac
Re
Ac
Re
5
1
2
8
1
2
2
0
2
8
2
3
8
1
2
3
1
3
13
3
4
13
2
3
5
1
4
20
5
6
20
3
4
8
2
5
32
7
8
32
5
6
13
3
6
50
10
11
50
8
9
20
5
8

TABLA 13 Nivel de Inspeccin S-2 LCA = 2,5 %

Tamao del lote


Hasta 35000
Ms de 35000

Inspeccin
normal
n
Ac
5
0
20
1

Inspeccin rigurosa
Re n
Ac
Re
1
8
0
1
2
32
1
2

Inspeccin
reducida
n
Ac
2
0
8
0

Re
1
2

NORMA TCNICA
PERUANA

NTP-ISO 5538
13 de 31

TABLA 14 Nivel de Inspeccin S-2 LCA = 4,0 %

Tamao del lote


Hasta 1200
Ms de 1200

Inspeccin
normal
n
Ac
3
13

0
1

Inspeccin rigurosa
Re n
Ac
Re
1
5
0
1
2
20
1
2

Inspeccin
reducida
n
Ac
2
5

0
0

Re
1
2

TABLA 15 Nivel de Inspeccin S-2 LCA = 6,5 %

Tamao del lote


Hasta 150
151 a 35 000
Ms de 35 000

Inspeccin
normal
n
Ac
2
8
13

0
1
2

Inspeccin rigurosa
Re n
Ac
Re
1
3
0
1
2
13
1
2
3
13
1
2

Inspeccin
reducida
n
Ac
2
3
5

0
0
1

Re
1
2
3

TABLA 16 Nivel de Inspeccin S-2 LCA = 10 %

Tamao del lote


Hasta 1 200
1 201 a 35 000
Ms de 35 000

Inspeccin
normal
n
Ac
5
8
13

1
2
32

Inspeccin rigurosa
Re n
Ac
Re
1
8
1
2
3
8
1
2
4
13
2
3

Inspeccin
reducida
n
Ac
2
3
5

0
1
1

Re
2
3
4

TABLA 17 Nivel de Inspeccin S-1 LCA = 2,5 %

Tamao del lote


n
Todos los tamaos del lote

Inspeccin
normal
Ac
Re
0

Inspeccin
rigurosa
n
Ac
Re

Inspeccin
reducida
Ac
Re
0

NORMA TCNICA
PERUANA

NTP-ISO 5538
14 de 31

TABLA 18 Nivel de Inspeccin S-1 LCA = 4,0 %

Tamao del lote


Hasta 35000
Ms de 35000

Inspeccin
normal
n
Ac
Re
3
0
1
13
1
2

Inspeccin
rigurosa
n
Ac
Re
5
0
1
20
1
2

n
2
5

Inspeccin
reducida
Ac
Re
0
1
0
2

TABLA 19 Nivel de Inspeccin S-1 = LCA = 6,5 %

Tamao del lote


Hasta 500
Ms de 500

n
2
8

Inspeccin
normal
Ac
Re
0
1
1
2

Inspeccin
rigurosa
n
Ac
Re
3
0
1
13
1
2

n
2
3

Inspeccin
reducida
Ac
Re
0
1
0
2

TABLA 20 Nivel de Inspeccin S-1 LCA = 10 %

Tamao del lote


Hasta 35000
Ms de 35 000

Inspeccin
normal
n
Ac
Re
5
1
2
8
2
3

Inspeccin
rigurosa
n
Ac
Re
8
1
2
8
1
2

n
2
3

Inspeccin
reducida
Ac
Re
0
2
1
3

NORMA TCNICA
PERUANA

NTP-ISO 5538
15 de 31

TABLA 21 Planes de muestreo simple en LCA = 2,5 %

Ac Re CLa
(%)

5
20
32
50

0
1
2
3

1
2
3
4

45
22
18
15

80

13

125 7 8 11
200 10 11 8,5
315 14 15 7,0
500 21 22 6,1
a

Tamao del lote (unidades) para inspeccin en los niveles mostrados


S-1
S-2
S-3
S-4
I
Todos los
tamaos del
Hasta 35000
Hasta 500
Hasta 150
Hasta 150
lote
Ms de 35000 501 a 35000
151 a 1200
151 a 500
35 001 a 500000 1 201 a 10000
501 a 1 200
Ms de 500000 10 001 a 35000 1 201 a 3 200
35 001 a
3 201 a 10 000
500000
Ms de 500000 10 001 a 35 000
35 001 a 150 000
150 001 a
500000
Ms de 500000

Calidad lmite (vase 5.2.2).


TABLA 22 Planes de muestreo simple en LCA = 4,0 %

n
3
13
20
32
50
80
125

Ac Re CLa
(%)

Tamao del lote (unidades) para inspeccin en los niveles mostrados


S-1
S-2
S-3
S-4
I
0 1 63 Hasta 35000
Hasta 1200
Hasta 150
Hasta 90
Hasta 90
1 2 32 Ms de 35000 Ms de 1200
151 a 3200
91 a 500
91 a 280
2 3 28
3 201 a 35000
501 a 1200
281 a 500
3 4 23
35 001 a 500000 1 201 a 10000 501 a 1 200
5 6 20
Ms de 500000 10 001 a 35000 1201 a 3200
35 001 a
7 8 16
3 201 a 10000
500000
10 11 14
Ms de 500000 10001 a 35000

200 14 15 11

35001 a 150000

315 21 22 9,6

Ms de 150000

Calidad lmite (vase el apartado 5.2.2).

NORMA TCNICA
PERUANA

NTP-ISO 5538
16 de 31

TABLA 23 Planes de muestreo simple en LCA = 6,5 %

2
8
13
20
32
50
80
125
200

Ac Re CLa
(%)
0 1 78
1 2 47
2 3 41
4 5 34
5 6 30
7 8 25
10 11 20
14 15 18
21 22 15

Calidad lmite (vase 5.2.2).

Tamao del lote (unidades) para inspeccin en los niveles mostrados


S-1
S-2
S-3
S-4
I
Hasta 500
Hasta 150
Hasta 50
Hasta 25
Hasta 25
Ms de 500 151 a 35 000
51 a 500
26 a 150
26 a 150
Ms de 35 000 501 a 3 200
151 a 500
151 a 280
3 201 a 35 000
501 a 1 200
281 a 500
35 001 a 500 000 1 201 a 10 000 501 a 1200
Ms de 500 000 10 001 a 35 000 1 201 a 3200
35 001 a 500 3 201 a 10000
Ms de000
500 000 10 001 a 35 000
Ms de 35 000

TABLA 24 Planes de muestreo simple en LCA = 10 %

Ac Re CLa
(%)

Tamao del lote (unidades) para inspeccin en los niveles mostrados


S-1
S-2
S-3
S-4
I
Hasta 150
Hasta 90
Hasta 90
5 1 2 66 Hasta 35 000 Hasta 1 200
8 2 3 60 Ms de 35 000 1 201 a 35000
151 a 500
91 a 150
916 a 150
13 3 4 50
Ms de 35000 501 a 3 200
151 a 500
151 a 280
20 5 6 46
3 201 a 35 000
501 a 1200
281 a 500
32 7 8 37
35 001 a 500000 1 201 a 10000
501 o 1200
50 10 11 32
Ms de 500 000 10 001 a 35 000 1 201 o 3 200
35 001 a 500 3 201 o 10 000
80 14 15 26
125 21 22 24
Ms de000
500 000 Ms de 10 000
a

Calidad lmite (vase 5.2.2).

NORMA TCNICA
PERUANA

8.

ANTECEDENTES

8.1

ISO 707

NTP-ISO 5538
17 de 31

Milk and milk products


Guidance on sampling

NORMA TCNICA
PERUANA

NTP-ISO 5538
18 de 31

ANEXO A
(NORMATIVO)

TEORA ESTADSTICA
A.1
Los planes de muestreo incluidos en la ISO 2859-1, de donde se obtienen
estos planes, se basan en la teora de la distribucin binomial o en la distribucin de
Poisson.

La distribucin binomial se usa para los tamaos ms pequeos y la distribucin Poisson


para aquellos esquemas en donde esta distribucin es una aproximacin adecuada a la
binomial. La ISO 2859-1 proporciona ms detalles.

A.2
Slo es necesario satisfacer dos requisitos para usar la teora de muestreo.
En primer lugar, la unidad slo puede ser buena o defectuosa, como fue definida en la
Introduccin. En segundo lugar, la muestra debe ser aleatoria, como est definida en la
clusula 8 de la ISO 2859-1. No se requiere ningn supuesto sobre la distribucin de
unidades defectuosas dentro del lote.

NORMA TCNICA
PERUANA

NTP-ISO 5538
19 de 31

ANEXO B
(NORMATIVO)

DEFECTOS CRTICOS
Los defectos crticos forman una categora especial. Es imposible elegir cualquier valor de
porcentaje de unidades defectuosas para aquellos defectos y afirmar: Este porcentaje de
unidades defectuosas es tolerable.

La solucin adoptada generalmente, cuando se involucra la inspeccin no destructiva, es


establecer que las caractersticas crticas sern inspeccionadas usando un tamao de
muestra igual al tamao del lote y un nmero de aceptacin de cero. Esto es inspeccin al
100%, sin embargo, debe notarse que esta no es una clasificacin tradicional del 100%.

Aqu no hay intencin de clasificar los artculos en buenos y malos, sino la intencin es
verificar que no hay artculos malos. Si un defecto crtico es encontrado, simplemente, no
significar que este se colocar en una caja diferente y que la inspeccin continuar,
significar que todo el lote es rechazado (aunque el rechazo no significa necesariamente el
desecho).

Siempre que sea posible, tambin debe significar que la produccin se detendr mientras
una investigacin completa tiene lugar para intentar descubrir cmo surgieron los defectos
e idear mtodos para prevenir otra ocurrencia. La razn de este procedimiento es tratar de
prevenir la produccin de defectos crticos y evitar dar al productor la impresin que, el
inspector los clasificar para l, no importar mucho si l produce alguno. Incluso el mejor
inspector puede, ocasionalmente, fallar en notar un defecto, de manera que, solamente,
evitando hacer defectos crticos se puede asegurar que ninguno llegar al consumidor.

Si alguna vez se pens que cualquier defecto crtico especfico no garantiza este
procedimiento, entonces debe hacerse una consideracin seria para tenerlo que reclasificar
como un defecto importante. Los defectos crticos, realmente deberan ser graves, por lo
que ningn esfuerzo es demasiado.

NORMA TCNICA
PERUANA

NTP-ISO 5538
20 de 31

De acuerdo con la definicin de un defecto crtico (vase 5.1.2), esta clasificacin debera
usarse para un defecto que probablemente genere condiciones peligrosas o inseguras para
los individuos que usan, conservan o dependen del producto.
El trmino probablemente es importante. A veces existe una tendencia de reemplazar
estas palabras por posiblemente y por tanto clasificar todo como crtico, ya que siempre
es posible crear una historia en la que algo que ocurri trivialmente al inicio conduzca
finalmente a una catstrofe.

Si este enfoque es adoptado, el principal resultado ser quitarle el valor de clasificacin


como crtico, y los verdaderos defectos crticos no podrn tratarse tan severamente como
debera.

La clasificacin crtica tambin est disponible para un defecto que probablemente evite el
rendimiento de la funcin prctica de un producto final mayor. Nuevamente, las palabras
en cursiva son importantes si no se le quitara el valor de clasificacin crtica.

Cuando la nica inspeccin posible para defectos crticos es destructiva, la bsqueda de


medios para evitar que en algn momento aparezcan es incluso ms importante. En este
caso, no podemos tener una muestra que sea 100 % del lote, y es necesario decidir qu
muestra debera tomarse para la inspeccin de defectos crticos. Esto puede hacerse usando
una frmula simple que relaciona el porcentaje de defectuosos, si existiera, por lo cual
desearamos estar casi cerca de encontrar, como mnimo, al menos un tem defectuoso en
la muestra, el tamao de muestra y el riesgo que debemos afrontar si encontramos un tem
defectuoso.

La frmula es
n=

F
D

Donde:
n

es el tamao de muestra;

es un factor que depende del riesgo;

es el porcentaje de tems defectuosos que se desea detectar, si existiera

NORMA TCNICA
PERUANA

NTP-ISO 5538
21 de 31

El factor F depende del riesgo de fallar al encontrar un tem defectuoso en la muestra,


como sigue:

Riesgo

Facto
ra
230,26

1 entre 10
1 entre 100
460,52
1 entre 1 000
690,78
1 entre 10 000
921,04
1 entre 100 000
1151,30
1 entre 1 000 000
1381,56
a
Si es requerido, el factor de otros valores del riesgo, es
1
230, 26 lg

riesgo

Como lo muestra esta frmula, el tamao de la muestra no ser, a menudo, el nmero


entero. Es mejor redondear al siguiente nmero entero mayor, en lugar de redondearlo al
nmero entero ms cercano.

Por tanto, el nmero de aceptacin siempre es cero, en este contexto.

Esta frmula es exacta slo para valores pequeos de porcentaje de defectuosos, es decir,
no mayor a 10, pero no es desfavorable ya que nunca se necesita considerar valores altos
de porcentaje de defectuosos para defectos crticos.

Si la frmula fuera usada, por decir el 20 % 50% de defectuosos, se sobreestimara el


tamao de muestra requerido.

EJEMPLO: Para un cierto producto, la inspeccin de defectos crticos es destructiva y se


decide que si un lote tuviera como mximo el 2% de defectuosos crticos, debera asumirse
un riesgo de slo 1 entre 10 000 , de fallar en encontrar un defectuoso en la muestra.

NORMA TCNICA
PERUANA

NTP-ISO 5538
22 de 31

La frmula da:
n=

921, 04
= 460,52
2

El plan de muestreo para defectos crticos es:

Tamao de la muestra: 461


Nmero de aceptacin: 0 defectuoso
Nmero de rechazo: 1 defectuoso

Un plan alternativo para defectos crticos, es muestrear con un margen de seguridad en


donde el defecto es algo que puede ser medido en lugar de un atributo. As, si la mnima
carga de quiebre mnima permisible para algunos componentes fuera 2 000 kg., es posible
decir que el lmite fue 2 500 kg. y el defecto fue mayor en lugar de afirmar que el lmite
fue 2 000 kg. y el defecto fue critico. Dnde deben establecerse los lmites y qu plan es
permisible dependen del conocimiento de la variabilidad histrica de los componentes en
cuestin.

Cuando este enfoque es posible, puede ofrecer resultados mucho ms satisfactorios para
todos los interesados que lo que puede hacer la bsqueda de defectuosos crticos (y esperar
que no existan).

NORMA TCNICA
PERUANA

NTP-ISO 5538
23 de 31

ANEXO C
(INFORMATIVO)

EXTRACCIN DE MUESTRAS
En muestreo de aceptacin, se juzga un lote en base a la calidad de la muestra. Si este va
ser un procedimiento racional, es obviamente importante que la muestra deba ser
representativa del lote, y no una muestra sesgada, de cualquier manera. Algunos
inspectores se enorgullecen de su habilidad de escoger todas las muestras malas de un lote
dado. Si el propsito es demostrar que existen algunas muestras malas o mejorar el lote
rechazando las malas que se encontraron, entonces esta habilidad constituir una
caracterstica deseable. Sin embargo, no es lo que se requiere aqu. Para una clasificacin
correcta del lote, es deseable que la muestra sea de la misma calidad que la del lote ni
mejor ni peor.

No existe forma conocida de asegurar que la muestra sea justo de la misma calidad como la
del lote, a menos que la calidad del lote ya sea conocida, en cuyo caso no debera haber
necesidad para extraer una muestra para clasificarla. Sin embargo, existe, mtodos de
muestreo que dan muestras insesgadas en el sentido que, aunque algunas muestras sern
peores y otras mejores que sus lotes, en promedio estas estarn bien y slo la inevitable
variabilidad del muestreo generar discrepancias. Adems, estos mtodos permiten a uno
calcular la variabilidad de la muestra en relacin a la calidad del lote, y es sobre estos
clculos que depende de las curvas caractersticas operativas.

Dicho mtodo es un muestreo al azar simple: todas las muestras posibles del tamao
requerido tienen una oportunidad igual de ser la muestra extrada. Las tablas 1 a 24, que
describe planes de muestreo, supone que las muestras (simple, doble y mltiple) son
extradas siguiendo este mtodo. Es muy importante que este sea efectivamente el caso.

EJEMPLO
Suponer que el tamao del lote sea 4, y el tamao de muestra sea 2. Si a
cada tem en el lote se le ha dado una letra del alfabeto como su nombre, el lote consta
de 4 tems A, B, C y D. Existen 6 formas posibles de formar el tamao de muestra de 2.

NORMA TCNICA
PERUANA

NTP-ISO 5538
24 de 31

Estos son:
AyB
AyC
AyD
ByC
ByD
CyD

Para muestreo aleatorio simple, a cada una de estas 6 posibilidades debe drsele una
oportunidad igual. En este caso particular, un dado normal de seis lados puede tirarse para
elegir A y B si el dado muestra un punto, A y C si ste mostrara 2 puntos y as
sucesivamente.

En este ejemplo, el problema de muestreo al azar simple es relativamente fcil de resolver,


ya que los nmeros involucrados fueron elegidos deliberadamente para que sean muy
pequeos, generando slo 6 posibilidades para la muestra. Sin embargo, es claro que el
nmero de posibilidades aumenta muy rpidamente as como aumenta el tamao de lote y
el tamao de la muestra. Por ejemplo, para una muestra de 5 de un lote de 20, existen 15
504 posibilidades; para una muestra de 7 de un lote de 30, existen ms de 2 millones de
posibilidades; para una muestra de 10 de un lote de 50, existen ms de 10 000 millones; y
estos aun son tamaos de muestra y tamaos de lote bastantes pequeos. Es claro, por
tanto, que un muestreo al azar simple, con tamaos de lote y tamaos de muestra, como
aquellos usados ms a menudo en la prctica, no es fcil, pero debe hacerse un intento para
hacer una eleccin lo ms cercana posible al azar.

Realmente, el nico requisito vital es que todo el lote debe presentarse al inspector para
que l extraiga la muestra. Se han odo casos en los que un fabricante ha ofrecido una
muestra preparada a un inspector, mientras conserva el resto del lote, y de casos incluso en
los que un fabricante ha ofrecido la muestra, tan pronto como se haya elaborado el nmero
de artculos en el tamao de muestra, informando al inspector que la cantidad restante del
lote no sera fabricado hasta que se conozcan los resultados del muestreo. Claramente, en
dichas circunstancias no existe razn para suponer que la muestra sea de alguna forma
representativa del lote y ningn lote debera ser clasificado sobre la base de dicha muestra.

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PERUANA

NTP-ISO 5538
25 de 31

Debe aclararse que esto no prohbe la presentacin de una muestra de pre-produccin. Es


poco comn y razonable para el fabricante presentar, o que se le requiera la presentacin,
de una muestra antes de que empiece la produccin a granel, para aprobacin del artculo
que est hecho expresamente para el proceso.

Esto no es lo mismo que la presentacin de una muestra para aceptacin o rechazo de un


lote.

A veces, es posible dar un nmero a cada artculo en el lote, ya sea fsicamente escribiendo
un nmero sobre ste o al lado de este, o mentalmente con algn dispositivo tal como notar
que el Articulo No 124 significa 1ra fila, 2da caja, 4to artculo dentro de la caja. Si
esto puede hacerse, entonces es posible extraer una muestra al azar usando una tabla de
nmeros aleatorios. Ejemplos de la tabla se presentan en C.1 a C.4.

EJEMPLO
Un tamao de muestra de 8 ser tomada de un lote de 5 000. Los artculos
en el lote estn etiquetados con nmeros del 1 al 5 000, y empiezan en la parte superior de
la primera columna de la tabla C.1, los artculos a ser tomados para las muestras son los
nmeros: 110, 4148, 2403, 1828, 2267, 2985, 4313 y 4691 (los nmeros 5327, 5373, 9244,
etc. son ignorados porque los artculos correspondientes no se encontrarn en el lote).

Tres puntos deberan considerarse respecto al uso de una tabla de nmeros aleatorios de
muestreo, como sigue:

a)
no es correcto empezar siempre en la parte superior de la primera columna.
Para cada muestra a ser tomada, el mejor procedimiento es empezar de donde termin
la muestra previa y as trabajar en toda la tabla.
b)
es aceptable, habiendo trabajado en toda la tabla, regresar al comienzo y
trabajar nuevamente, pero es mejor, si fuera posible, continuar con una nueva tabla en
lugar de repetir la anterior.
c)
No existe necesidad de leer los nmeros como si tuvieran 4 cifras. Si el
tamao de lote fuera 1 000 o menos, las primeras 3 cifras seran adecuadas, y se leera
como 11, 532, 537, etc. A veces, 2 cifras son suficientes, mientras que en otros casos se
requieren ms de 4. Pueden combinarse muchas o pocas, segn se requiera.

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PERUANA

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26 de 31

No existe nada difcil sobre el uso de nmeros aleatorios, siempre que los artculos puedan
numerarse, sin embargo, a menudo se afirma que su uso no es importante, y una muestra
aleatoria por intuicin es tan buena. En muchos casos, esto puede ser verdad, sin embargo
la muestra al azar por intuicin, a menudo est muy lejos de ser verdaderamente una
muestra al azar. Por ejemplo, las personas que toman tems supuestamente al azar de una
caja, usualmente tomarn demasiadas desde el medio, y las esquinas no sern
adecuadamente representadas. Cuando se seala que se estn tomando muy pocas de las
esquinas, ellos a menudo empezarn a tomar demasiadas de las esquinas. La aleatorizacin
simple de dar a cada una de las combinaciones una oportunidad igual, es muy difcil de
alcanzar, y el esfuerzo extra de usar nmeros aleatorios , indudablemente vale la pena
donde sea posible.

Debe reconocerse, no obstante, que el uso de nmeros aleatorios no siempre es fcil. Si el


lote consta de una caja grande de artculos pequeos, puede ser impracticable dar a cada
uno un nmero. En dichas circunstancias, el muestreo aleatorio r por intuicin es
probablemente todo lo que puede hacerse; pero si la intuicin es modificada por el
conocimiento de lo que podra hacerse, si fuera posible, esto ayudara obtener mejores
resultados.

El saber que todas las combinaciones posibles deben tener una oportunidad igual aclara
esto, una vez que los artculos deben tomarse de la caja para hacer que todos estn
igualmente disponibles antes de tomar la muestra, y tambin de que cualquier calidad
aparente de los artculos sea ignorada. La eleccin de artculos, que parecen buenos o
malos, no debe ser deliberada.

Existe una alternativa para el muestreo aleatorio simple que est permitida, incluso
deseable cuando sea apropiado, y puede usarse ya sea que se usen o no nmeros aleatorios.

Esta alternativa es conocida como muestreo estratificado (tambin referido como


muestreo representativo). Esto es apropiado siempre que un lote puede partirse en sub
lotes, de acuerdo con algn criterio lgico. Notar que el criterio debe ser lgico; la
particin en sub lotes al azar no ayudar. La muestra es tomada tomando una sub muestra
de cada sub lote proporcional en tamao al tamao del sub lote. Las sub muestras deben
tomarse al azar dentro del sub lote (usando nmeros aleatorios, si fuera posible) y
finalmente, las sub muestras son combinadas para formar la muestra completa antes de la
inspeccin. Sin embargo, vase la NTP-ISO 2859-1 para una advertencia sobre las
dificultades que pueden surgir si se mezclan 2 o ms fuentes de suministro.

NORMA TCNICA
PERUANA

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27 de 31

EJEMPLO
Se extrae una muestra de 125 de un lote que ha sido entregado en 2 cajas, en
cada caja se encuentra una mitad del lote. Se decidi que cada caja sea un sub lote. Se
extrae una muestra de 62 de una caja y de 63 de la otra, estas 2 muestras se combinan para
formar la muestra requerida de 125. (La caja que suministra la unidad extra debera ser
elegida preferentemente al azar.)

Si, en lugar de que cada caja contenga la mitad del lote, una caja hubiera contenido 2/3 y la
otra 1/3, entonces 83 habran sido extradas de la primera caja y 42 de la segunda, estando
lo ms cerca a nmeros enteros para 2/3 y 1/3 de 125.

Cuando se usa el muestreo doble o mltiple, es ocasionalmente conveniente extraer la


primera muestra al azar e inspeccionarla, luego extraer la segunda muestra, si es requerida,
y as sucesivamente.

En este caso, las tcnicas de muestreo al azar son como las que se describen anteriormente
y no surge ninguna dificultad adicional. Sin embargo, a veces es ms conveniente extraer,
en la primera vez, la muestra mxima que pudiera requerirse y dividirla entre la primera
muestra, segunda muestra, etc., antes de la inspeccin. En este caso, adems de extraer una
muestra aleatoria del lote para formar la muestra mxima, es ms importante que la
primera muestra, segunda muestra, etc. se extraigan al azar de la muestra mxima. Es
particularmente importante recordar este punto cuando se utilice el muestreo estratificado;
estara equivocado por ejemplo, permitir que toda la primera muestra provenga del mismo
sub lote.

NORMA TCNICA
PERUANA

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28 de 31

TABLA C.1 Nmeros aleatorios para el muestreo (parte 1)

2 804
6 289
4 956
8 324
5 399
8 240
1 646
4 263
2 195
4 135
5 242
8 325
6 445
2 179
4 520
5 655
5 883
4 107
5 888
3 837
6 874
3 848
6 201
8 496
2 536

8 046
6 117
8 185
8 062
8 687
3 554
1 370
4 345
3 265
6 116
261
6 031
7 981
1 031
7 727
1 904
9 283
5 073
213
8 961
1 128
4 767
5 057
7 509
2 351

7 142
60
135
9 817
3 568
3 568
9 096
567
9 542
3 019
7 990
1 102
8 796
7 804
2 536
681
1 053
8 503
2 430
7 931
5 108
5 386
9 228
9 304
5 860

6 277
2 827
8 640
9 853
4 046
4 701
738
1 272
2 808
6 223
8 886
2 825
9 480
8 075
4 166
6 310
5 667
6 875
7 397
6 351
7 643
7 361
9 938
7 112
344

6 210
6 546
7 410
7 419
4 558
7 494
8 015
5 302
1 720
7 323
375
4 899
2 409
8 187
7 653
568
572
7 525
7 204
1 727
7 335
2 079
5 104
5 528
2 595

8 627
2 738
6 335
9 559
705
6 036
513
3 352
4 832
965
7 577
1 599
9 456
6 575
448
3 718
611
8 894
6 893
9 793
5 303
3 197
6 662
2 390
4 880

3 209
8 760
831
4 264
5 075
7 735
6 969
7 389
2 553
8 105
8 422
1 199
7 725
65
2 560
3 537
100
7 426
7 017
2 142
2 703
8 904
1 617
7 736
5 167

6 845
6 604
2 774
6 919
4 440
4 082
949
9 976
7 425
4 394
5 230
909
183
2 170
4 795
8 858
5 190
212
7 038
816
8 793
4 332
2 323
475
5 370

NORMA TCNICA
PERUANA

NTP-ISO 5538
29 de 31

TABLA C.2 Nmeros aleatorios para el muestreo (parte 2)

430
5 632
7 960
5 138
8 615
4 968
9 228
9 657
9 270
8 206
1 562
1 528
5 697
3 186
3 275
7 931
5 956
1 866
2 673
7 824
2 251
7 661
6 651
2 917
5 970

5819
752
67
6 660
7 292
8 420
3 232
9 617
5 743
3 008
7 953
4 342
9 273
656
7 697
1 949
2 912
7 901
7 071
5 427
864
8 813
6 718
4 989
3 582

7 017
8 287
7 837
7 759
1 010
5 016
5 804
1 033
8 129
7 396
607
5 173
8 609
3 248
1 415
1 739
2 698
4 279
4 948
957
373
5 810
1 088
9 207
2 346

4 512
8 178
9 890
9 633
9987
1 391
8 004
469
8 655
240
6 254
3 322
8 442
341
5 573
3 437
5 721
4 715
8 100
6 076
7 808
2 612
2 972
4 484
8 356

8 081
8 552
4 490
924
2 993
8 711
773
3 564
4 769
524
132
26
1 780
9 308
9 661
6 157
1 703
9 741
7 842
2 914
1 256
3 237
673
916
780

9 198
2 264
1 619
1 094
5 116
4 118
7 886
3 799
2 900
3 384
3 860
7 513
1 961
9 853
16
2 128
2 321
2 674
8 208
336
1 144
2 829
8 440
9 129
4 899

9 786
658
6 766
5 103
7 876
3 881
146
2 784
6 421
6 518
6 630
1 743
7 221
5 129
4 090
6 026
8 880
7 148
3 256
3 466
4 152
3 133
3 154
6 517
7 204

7 388
2 336
6 148
1 371
7 215
9 840
2 400
3 815
2 788
4 268
2 865
1 299
5 630
3 956
2 384
2 268
3 288
8 392
3 217
631
8 262
4 833
6 962
889
1 042

704
4 912
370
2 874
9 714
5 843
6 957
3 611
4 858
5 988
9 750
1 340
8 036
4 717
7 698
5 247
7 420
2 497
8 331
5 249
4 998
7 826
199
137
8 795

138
4 268
8 322
5 400
3 906
751
8 968
8 362
5 335
9 096
9 397
6 470
4 029
7 594
4 588
2 987
2 121
8 018
7 256
7 289
3 315
1 897
2 604
9 055
2 435

NORMA TCNICA
PERUANA

NTP-ISO 5538
30 de 31

TABLA C.3 Nmeros aleatorios para el muestreo (parte 3)

1 564
6022
8418
5 948
6 945
370
6 702
3 740
3 833
8 683
6 794
5 054
1 733
6 609
3 970
9 504
668
4 364
8 875
4 521
5 066
9 138
975
1 049
682

8 048
9676
9906
1652
3 629
1 165
6 457
4 722
3 356
7 947
1 732
1 532
6 560
6 263
7 716
2 769
9 636
606
3 041
3 391
1 454
5 003
1 836
9 925
1 343

6 359
5768
19
2 545
7 351
8 035
2 270
3 002
9 025
4 719
4 809
9 498
9 758
9 160
8 807
534
6 001
4 355
7 183
6 695
9 642
8 633
7 629
3 408
7 454

8802
3388
550
3981
3 502
4 415
8 611
8 020
5 749
9 403
9 473
7 702
8 586
600
6 123
758
9 372
2 395
2 261
5 986
8 675
2 670
5 136
3 029
8 600

2860
9918
4223
2 102
1 760
9 812
8 479
182
4 780
7 863
5 893
544
3 253
4 304
3 748
9 824
8 746
2 070
7 210
2 416
8 767
7 575
7 824
7 244
8 598

3 546
8897
5586
3523
550
4 312
1 419
4 451
6 042
701
1 154
87
2 532
2 784
1 036
9 536
1 579
8 915
6 072
7 979
582
4 021
3 916
1 766
9 953

3 117
1119
4 842
7 419
8 874
3 524
835
9 389
3 829
9 245
67
9 602
6 668
1 089
516
7 825
6 102
8 461
7 128
8 106
410
391
542
1 013
5 773

7 357
9441
8 786
2359
4 599
1 382
1 866
1 730
8 458
5 960
899
6 259
2 888
7 321
607
2 985
7 990
9 820
825
7 759
5 515
118
2 614
221
6 482

9 945
8934
855
381
7 809
4 732
1 307
3 394
1 339
9 257
1 184
3 807
1 404
5 618
2 710
3 824
4 526
6 811
8 281
6 379
2 697
9 493
6 567
8 492
4 439

5 739
8555
5 650
8 457
9 474
2 303
4 211
7 094
6 948
2 588
8 630
7 276
3 887
6 172
3 700
3 449
3 429
5 873
6 815
2 101
1 575
2 291
3 015
3 801
6 708

NORMA TCNICA
PERUANA

NTP-ISO 5538
31 de 31

TABLA C.4 Nmeros aleatorios para el muestreo (parte 4)

263
2 733
1 441
5 014
3 745

4 909
3 398
2 684
5 616
5 956

9 832
7 630
1 116
1 721
5 512

627
3 824
758
8 772
8 577

1 155
734
5 411
4 605
4 178

4 007
7 736
3 365
388
31

446
8 465
4 489
1 399
3 090

6 988
849
6 241
5 993
2 296

4 699
459
6 413
7 459
124

1 740
8 733
3 615
4 445
5 896

8 384

8 727

5 567

5 881

3 721

1 896

3 758

7 236

6 860

1 740

9 944
3 045
5 939
4 294

8 361
2 466
5 741
1 777

7 050
6 640
7 210
5 386

8 783
6 804
872
7 182

3 815
1 704
3 279
7 238

9 768
8 665
3 177
8 408

3 247
2 539
6 021
7 674

1 706
2 320
2 045
1 719

9 355
9 831
163
9 068

3 510
9 442
3 706
9 921

3 787

2 516

2 661

6 711

9 240

5 994

3 068

5 524

932

5 520

4 764
292
7 876
3 490

2 339
9 574
1 662
3 071

4 541
285
2 627
2 967

5 415
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940
4 922

6 314
2 283
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3 658

7 979
5 232
3 741
4 333

3 634
8 830
3 217
6 452

5 320
5 662
8 824
9 149

5 400
6 404
7 393
4 420

6 714
2 514
7 306
6 091

3 670

8 960

6 477

3 671

9 318

1 317

6 355

4 982

6 815

814

3 665
3 792
2 618
8 972

2 367
557
2 204
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8 144
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962

9 663
8 446
2 527
5 597

990
8 082
5 744
8 834

6 155
1 122
9 330
5 857

4 520
1 181
721
9 800

294
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7 375

7 504
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9 209

223
3 200
1 081
630

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1 688

3 571

3 393

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2 476

9 136

1 794
3 179
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8 418

4 551
1 304
3 828
9 627

1 262
7 767
7 172
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4 769
3 188
6 243

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7 487
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7 760
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2 191
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1 565
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7 770
377

1 178
5 734
3 999
9 798

8 370
5 852
6
8 648

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