Proceso de Fabricación Del Ánodo
Proceso de Fabricación Del Ánodo
Proceso de Fabricación Del Ánodo
7. Post carbn, el nitrato de manganeso despus del carbn provee una mejor
adherencia de la pintura de plata a la capa de carbn. La solucin debe
cubrir el nodo hasta el hombro, evitando que el nitrato de manganeso suba
arriba del tefln.
8. Barrera de humedad, la inmersin de la barrera de humedad de los nodos
da a los capacitores resistencia a la penetracin de la humedad.
9. Plata, la inmersin en plata, se lleva a cabo con el fin de cubrir al nodo de
un material altamente elctrico, sobre el cual posteriormente se soldara la
terminal negativa de este.
10. Solid test (estacin de calidad). Antes de que los nodos sean ensamblados,
deben ser probados elctricamente y ser inspeccionados fsicamente. Las
pruebas elctricas bsicas realizadas en la operacin de solid test son:
1) Capacitancia. La medicin compara la capacitancia actual a los
valores ms bajos y altos de capacitancia permitidos para un grupo
especfico de capacitores. El valor y tolerancia de la capacitancia
estn integrados de acuerdo al tipo de producto.
2) Factor de disipacin (DF) es una medicin de la cantidad de energa
perdida (o disipada) al calentarse el capacitor, comparada a la
cantidad total de energa provista a este. Esto est relacionado con
la resistencia en serie que producen las interfaces de las diferentes
capas del capacitor.
El DF es expresado en porcentaje. Un DF menor indica una buena
adhesin entre las interfaces. Un mayor DF indica una mala adhesin.
3) Fuga de corriente DC (tambin conocido como Leackage) es la
medicin de la cantidad de corriente que se escapa de un capacitor
cargado. El lmite de fuga es la corriente mxima que un capacitor
puede conducir (fuga) antes de que este sea considerado como
defectuoso.