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    Programa de Microelectrónica

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    Benjamín Price Ballón
    El curso introduce conceptos básicos de diseño de circuitos integrados, incluyendo tecnología CMOS, procesos tecnológicos, circuitos CMOS estáticos y dinámicos, subsistemas CMOS, modelo de fallos lógicos, diseño para testabilidad, y diseño de CI analógicos. El laboratorio cubre experiencias en diseño y layout de circuitos, subsistemas CMOS, y un mini-proyecto de diseño de un CI de aplicación específica.

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    Programa de Microelectrónica

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    Benjamín Price Ballón
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    El curso introduce conceptos básicos de diseño de circuitos integrados, incluyendo tecnología CMOS, procesos tecnológicos, circuitos CMOS estáticos y dinámicos, subsistemas CMOS, modelo de fallos lógicos, diseño para testabilidad, y diseño de CI analógicos. El laboratorio cubre experiencias en diseño y layout de circuitos, subsistemas CMOS, y un mini-proyecto de diseño de un CI de aplicación específica.

    Descripción original:

    Sylabus micorelectrónica FIEE-UNI

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    El curso introduce conceptos básicos de diseño de circuitos integrados, incluyendo tecnología CMOS, procesos tecnológicos, circuitos CMOS estáticos y dinámicos, subsistemas CMOS, modelo de fallos lógicos, diseño para testabilidad, y diseño de CI analógicos. El laboratorio cubre experiencias en diseño y layout de circuitos, subsistemas CMOS, y un mini-proyecto de diseño de un CI de aplicación específica.

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    El curso introduce conceptos básicos de diseño de circuitos integrados, incluyendo tecnología CMOS, procesos tecnológicos, circuitos CMOS estáticos y dinámicos, subsistemas CMOS, modelo de fallos lógicos, diseño para testabilidad, y diseño de CI analógicos. El laboratorio cubre experiencias en diseño y layout de circuitos, subsistemas CMOS, y un mini-proyecto de diseño de un CI de aplicación específica.

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    UNIVERSIDAD NACIONAL DE INGENIERA

    FACULTAD DE INGENIERA ELCTRICA Y ELECTRNICA

    SYLLABUS
    EE-425 MICROELECTRNICA
    ESPECIALIDAD: ELECTRNICA

    CICLO: OCTAVO

    CRDITOS: 04

    AO: CUARTO

    HORAS/SEMANA: T3, L2

    RGIMEN: ELECTIVO

    PRE-REQUIS. : EE-635

    EVALUACIN: TIPO D

    DOCENTE: DR. RUBN ALARCN MATUTTI


    E-MAIL: [email protected]

    OBJETIVO
    El objetivo del curso es el de introducir a los alumnos los conceptos bsicos del
    diseo de circuitos integrados.
    RESUMEN
    Introduccin al diseo microelectrnico. La tecnologa CMOS. El proceso
    tecnolgico. Circuitos CMOS estticos. Circuitos CMOS dinmicos. Subsistemas
    CMOS. Modelo lgico de fallos. Diseo para testabilidad. Introduccin al diseo de
    CI analgicos. Tendencias de diseo y procesos. Laboratorio.
    CONTENIDO
    Captulo 1.- INTRODUCCIN AL DISEO MICROELECTRNICO.
    Diseo microelectrnico VLSI: necesidades y posibilidades. Conceptos de ASICS
    (Aplication Specific Integrated Circuits). Estilos de diseo.
    Captulo 2.- LA TECNOLOGA CMOS.
    Revisin de los dispositivos MOS. Modelo Spice. Anlisis de conmutacin. Efectos
    de segundo orden.

    Captulo 3.- EL PROCESO TECNOLGICO.


    Etapas del proceso de fabricacin. La Tecnologa N-Well.
    Captulo 4.- CIRCUITOS CMOS ESTTICOS.
    Lgica CMOS complementaria. Lgica de Conmutadores. Aplicaciones.
    Captulo 5.- CIRCUITOS CMOS DINMICOS
    Concepto de lgica dinmica. Lgica domin. Lgica DCVS. Aplicaciones.
    Captulo 6.- SUBSISTEMAS CMOS.
    Diseo de subsistemas combinacionales. Diseo de subsistemas secuenciales.
    Aplicaciones.
    Captulo 7.- MODELADO LGICO DE FALLOS
    Importancia del test. Fallos y errores. Modelo Stuck-At, Stuck-Open, Stuck-On,
    Bridgign, delay. Invalidacin del test, algoritmo-D, path sentisization.
    Captulo 8.- DISEO PARA TESTABILIDAD.
    Controlabilidad y observabilidad. Mtodos y tcnicas de diseo para testabilidad:
    AD-HOC, SCAN PATH, LFSR, BILBO, BIST.
    Captulo 9.- INTRODUCCIN AL DISEO DE CI ANALGICOS.
    Mtodos convencionales. Tcnicas pseudo-analgicas. Aplicaciones.
    Captulo 10.- TENDENCIAS DE DISEO Y PROCESOS.
    Microsistemas. MEMs. Sistemas Asncronos. SoC. Nanoelectrnica. Aplicaciones.
    LABORATORIO
    Experiencia 1.- MANEJO DEL PROGRAMA DE DISEO. LAYOUT.
    Experiencia 2.- CIRCUITOS ESTTICOS, DINMICOS. DISEO Y LAYOUT.
    Experiencia 3.- SUBSISTEMAS CMOS. SNTESIS Y TESTABILIDAD.
    Experiencia 4.- MINI-PROYECTO DE DISEO DE UN CIRCUITO INTEGRADO
    DE APLICACIN ESPECFICA (ASIC).

    REFERENCIAS BIBLIOGRFICAS
    1.- A. RUBIO, J. ALTET, X. ARAGONS, DISEO DE CIRCUITOS Y SISTEMAS
    INTEGRADOS, ALFAOMEGA, Ed. UPC Barcelona, 2003.
    2.- JAN M. RABAEY, A. CHANDRAKASAN, B. NIKOLIC, CIRCUITOS
    INTEGRADOS DIGITALES: UNA PERSPECTIVA DE DISEO, PEARSON PRENTICE-HALL , 2da Edicin, 2004
    3.- S.M. KANG, Y. LEBLEBICI, CMOS DIGITAL INTEGRATED CIRCUITS
    ANALYSIS AND DESIGN, McGRAW-HILL, 2003
    4.- WESTE, K.ESHARAGHIAN, "PRINCIPALES OF CMOS VLSI DESIGN:A
    SYSTEMS PERSPECTIVE", ADDISON WESSLEY, 2nd Edition, 2001.
    5.-J. A. PELESKO, D. H. BERNSTEIN, MODELING MEMS AND NEMS
    CHAPMAN & HALL / CRC, 2002.
    6.- RICHARD F. TINDER, "DIGITAL ENGINEERING DESIGN
    MODERNAPPROACH", PRENTICE-HALL INTERNATIONAL INC., 1991.

    A.

    7.- V. N. YARMOLIK, "FAULT DIAGNOSIS OF DIGITAL CIRCUITS",JOHN


    WILEY & SONS LTD., 1990.
    8.- NIRAJ K. JHA, SANDIP KUNDU, "TESTING AND REALIABLEDESIGN OF
    CMOS CIRCUITS", KLUWER ACADEMIC PUBLISHERS, 1990.
    9.DONARD
    DE
    COGAN,
    "DESIGN
    AND
    TECHNOLOGY
    INTEGRATEDCIRCUITS", JOHN WILEY & SONS LTD., 1990.

    OF

    10.- MALCOLM R. HASKARD, IAN C.MAY, "ANALOG VLSI DESIGN NMOSAND


    CMOS", PRENTICE-HALL, 1988.

    *************

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