「AFM」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a probe having both functions of the tip of an AFM and an optical probe, and capable of preventing lowering of resolution of an image, when the image is taken in an AFM mode.例文帳に追加

AFMのティップと光プローブの両方の機能を持ち、AFMモードでイメージを取る場合、像の分解能が低下しないプローブを提供する。 - 特許庁

This allows conversion of a TrueType font to an ascii font metric (.afm) file. 例文帳に追加

これは TrueTypeフォントからアスキーフォントメトリック (.afm)ファイルへの変換を行います。 - FreeBSD

:wq This tool will create the groff font file from the metrics file (.afm suffix.)例文帳に追加

このツールはメトリックファイル (.afm 拡張子) から groff フォントファイルを生成してくれます。 - FreeBSD

An observation of a region including the defect is performed by an atomic force microscope(AFM), and a shape of the defect and a pattern for alignment is extracted from an AFM image.例文帳に追加

原子間力顕微鏡(AFM)で欠陥を含む領域の観察を行い、AFM像から欠陥の形状と位置あわせのためのパターンを抽出する。 - 特許庁

Alternatively, after the positioning of the foreign substance by AFM function of the conductive AFM, the conductive probe is arranged directly above the foreign substance, to measure current-voltage characteristics by the STS function of the conductive AFM, estimating material of the foreign substance from the measured shape.例文帳に追加

あるいは導電性AFMのAFM機能で異物の位置出しを行い、導電性探針を異物直上に配置して導電性AFMのSTS機能で電流-電圧特性を測定しその形状から異物材料の推定を行う。 - 特許庁

AFM CANTILEVER AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

ＡＦＭカンチレバー及びその製造方法 - 特許庁

The defect is eliminated by scanning according to the cutting edge route determined by the AFM processing device.例文帳に追加

AFM加工装置で求めた刃先経路どおりに走査して欠陥を除去する。 - 特許庁

AFM TWEEZERS, MANUFACTURING METHOD OF AFM TWEEZERS, AND SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

ＡＦＭピンセット、ＡＦＭピンセットの製造方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

mkcfm will calculate the summaries of the font metric files stored in AFM subdirectories of the CID font directory.例文帳に追加

mkcfmは CID フォントディレクトリの AFM サブディレクトリに置かれているフォントメトリックファイルのサマリを計算する。 - XFree86

The air flow rate measured value AFM is applied to an atmospheric pressure upper limit function f_max to calculate an intercooler pressure P_icmax corresponding to the air flow rate measured value AFM and an atmospheric pressure upper limit value P_amax.例文帳に追加

そして、大気圧上限関数f_maxに空気流量測定値AFMを当てはめることにより、空気流量測定値AFMと大気圧上限値P_amaxとに対応するインタークーラ圧P_icmaxを算出する。 - 特許庁

The air flow rate measured value AFM is also applied to an atmospheric pressure lower limit function f_min to calculate an intercooler pressure P_icmin corresponding to the air flow rate measured value AFM and an atmospheric pressure lower limit value P_amin.例文帳に追加

また、大気圧下限関数f_minに空気流量測定値AFMを当てはめることにより、空気流量測定値AFMと大気圧下限値P_aminとに対応するインタークーラ圧P_icminを算出する。 - 特許庁

An air flow rate measured value AFM and an intercooler pressure measured value P_ic for the engine in normal state are obtained.例文帳に追加

エンジンが定常状態のときの空気流量測定値AFMとインタークーラ圧測定値P_icとを得る。 - 特許庁

These particles were assembled on a straight line using an atomic force microscope (AFM) in the contact mode. 例文帳に追加

これらの粒子は、原子間力顕微鏡(AFM)を使ったコンタクトモードで、一直線上に集められた。 - 科学技術論文動詞集

STANDARD SPECIMEN FOR AFM AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

ＡＦＭ標準試料及びその製造方法 - 特許庁

In the defect repairing device using an ion beam, a blank defect hard to repair is observed with AFM(atomic force microscope) or the like.例文帳に追加

イオンビームを用いた欠陥修正装置では修正し難い白欠陥に対してAFM等で観察する。 - 特許庁

ALternatively, the positioning of the foreign substance is conducted by AFM function of the conductive AFM, the conductive probe is arranged directly above the foreign substance, to inject electron into the foreign substance from the conductive probe by using STM function of the conductive AFM, then electron pair dissociative type superconducting sensor measures the energy of the light that comes from the foreign substance and analyzes the elements.例文帳に追加

もしくは導電性AFMのAFM機能で異物の位置出しを行い、導電性探針を異物直上に配置して導電性AFMのSTM機能で異物に導電性探針から電子を注入し出てきた光を電子対解離型超伝導センサーでエネルギーを測定し異物の元素分析を行う。 - 特許庁

CANTILEVER FOR AFM MADE OF FUNCTIONAL ORGANIC MACROMOLECULAR GEL例文帳に追加

機能性有機高分子ゲルから成るＡＦＭ用カンチレバー - 特許庁

Next, the AFM layer 232 is accumulated on the magnetic layer.例文帳に追加

次に、ＡＦＭ層２３２は磁性層の上に堆積される。 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR CORRECTING PHOTOMASK DEFECT USING AFM例文帳に追加

ＡＦＭを用いたフォトマスク欠陥修正装置及び方法 - 特許庁

The aerial wiring of the metal deposited film, which becomes unnecessary after correction, is removed by ion beam etching or AFM (atomic force microscope) scratch processing.例文帳に追加

修正後不要となった金属デポジション膜空中配線をイオンビームエッチングまたはAFMスクラッチ加工で除去する。 - 特許庁

To accurately average the output of an AFM and the output of an AFM model with different sampling frequencies with a same response.例文帳に追加

サンプリング周期が異なるＡＦＭ出力とＡＦＭモデル出力を同応答で精度良く平均化できるようにする。 - 特許庁

This probe is characterized by being used in common as a cantilever for both an SNOM and the AFM, having an opening having a shorter diameter than a wavelength on a tip 3 part of the cantilever, and having a projection 3-3 for AFM measurement on a prescribed position apart from the opening, which is made from a carbon nanotube.例文帳に追加

SNOMとAFMの共用のカンチレバーであり、 カンチレバーのティップ3部分に波長より短い直径の開口を有し、この開口から所定の位置にAFM測定用の突起[3-3]を有し、この突起[3-3]がカーボンナノチューブであることを特徴とする。 - 特許庁

The residue 4 of the thermosetting resin or the photocurable resin adherent to the mold 3 is detected by comparing the three-dimensional shape 1 of the mold measured by an AFM during the manufacturing of the mold or three-dimensional CAD design data of the mold with the transferred three-dimensional shape 2 of the mold measured by the AFM.例文帳に追加

モールド作製時のAFMで測定した3次元形状1またはモールドの3次元CAD設計データとAFMで測定した転写後の3次元形状2を比較することによりモールド3に付着した熱硬化樹脂または光硬化樹脂残渣4を検出する。 - 特許庁

PHASE FEEDBACK AFM AND CONTROL METHOD THEREFOR例文帳に追加

位相フィードバックＡＦＭの制御方法及び位相フィードバックＡＦＭ - 特許庁

To reduce time required for correcting a defect due to mechanical processing using an atomic force microscope (AFM) technique.例文帳に追加

原子間力顕微鏡(AFM)技術を用いた機械的な加工による欠陥修正に要する時間を短縮できるようにする。 - 特許庁

cd /usr/local/share/fonts/type1 Place the .pfa, .pfb and .afm files here One might want to keep readme files, and other documentation for the fonts here also % 例文帳に追加

cd /usr/local/share/fonts/type1ここに .pfa または .pfb ファイルと .afm ファイルを置きます。 フォントの readme ファイルやその他のドキュメントをこのディレクトリに置いても構いません。 - FreeBSD

METHOD EOR CORRECTING BLACK DEFECT OF MASK BY APPLYING ELECTROCHEMICAL TECHNIQUE TO AFM例文帳に追加

ＡＦＭに電気化学的手法を適用したマスク黒欠陥修正 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR SETTING SENSOR AFM PROVIDED WITH SUPERCONDUCTING MAGNET例文帳に追加

超伝導磁石を備えたセンサＡＦＭを設定する方法および装置 - 特許庁

An atomic force microscope is equipped with an AFM scanner and a sample mounting stand.例文帳に追加

原子間力顕微鏡は、ＡＦＭスキャナおよび試料載置台を備える。 - 特許庁

To provide a vertical section machining method for forming a vertically machined surface by mechanical machining using an atomic force microscope (AFM) technique, in a more positive and easier manner than ever.例文帳に追加

原子間力顕微鏡(AFM)技術を用いた機械的な加工で垂直な加工面を従来よりも確実かつ簡便な方法で得られるようにする。 - 特許庁

First, the specific surface of an AFM cantilever tip is coated with a shielding film 130.例文帳に追加

まず、ＡＦＭカンチレバーチップの特定の表面を遮光膜１３０で被覆する。 - 特許庁

The sensor contains neither pinning layer structure nor related AFM pinning layer.例文帳に追加

このセンサは、ピンニング層構造も関連するＡＦＭピンニング層も含んでいない。 - 特許庁

The interatomic force microscope (AFM) has the chip coated with the hydrophobic compound.例文帳に追加

疎水性化合物で被覆されたチップを備えた原子間力顕微鏡（ＡＦＭ）。 - 特許庁

To provide an AFM probe for use in an atomic force microscope (AFM), which is suitable for testing both topographical and mechanical properties of a microstructure having a size on the order of micrometers or nanometers.例文帳に追加

本発明は、原子間力顕微鏡（Atomic Force Microscope；AFM）に用いられるＡＦＭプローブに関し、より詳しくは、マイクロ単位またはナノ単位のサイズを有する微小構造物の形状及び機械的物性試験に共用可能なＡＦＭプローブを提供すること。 - 特許庁

Actual AFM output voltage US is corrected by an AFM output error VERR' after a correction, and is used for detecting the intake air flow rate Q (S9 to S11).例文帳に追加

そして、実際のＡＦＭ出力電圧ＵＳを補正後ＡＦＭ出力誤差ＶＥＲＲ’により補正して、吸気流量Ｑの検出に用いる（Ｓ９〜Ｓ１１）。 - 特許庁

The extracted residue is removed by physical removal by an AFM probe, electron beam gas assist etching, or focused ion beam gas assist etching to make the mold reusable.例文帳に追加

抽出された残渣をAFM探針による物理的な除去または電子ビームガスアシストエッチングまたは集束イオンビームガスアシストエッチングで除去してモールドを再利用可能にする。 - 特許庁

To enable the correction of black defect in which also the riverbed is not generated in the practical throughput by combining a defect correcting device using an ion beam and an atomic force microscope(AFM).例文帳に追加

イオンビームを用いた欠陥修正装置と原子間力顕微鏡(AFM)を組み合わせることで、実用的なスル−プットでリバーベッドも無い黒欠陥修正を可能にする。 - 特許庁

The shape of the chromosome is precisely acquired by an AFM search needle 7 also having a scraping mechanism, and minute fragments at accurate positions on the chromosome are continuously scraped.例文帳に追加

掻き取り機構を兼ねたAFM探針７により染色体の形状を精密に取得し、染色体上の正確な位置の微小断片を連続して掻き取る。 - 特許庁

This atomic force microscope (AFM) 102 for inspecting a sample 124 includes a probe assembly 106 including a first tip 302 and a second tip 304 directed respectively to a surface 131 of the sample 124.例文帳に追加

サンプル(124)の表面(131)にそれぞれ向けられる第１の先端部(302)及び第２の先端部(304)を含むプローブアセンブリ(106)を含む、該サンプル(124)を検査するための原子間力顕微鏡(AFM)(102)。 - 特許庁

Afterwards, a sixth step S6 observes a level difference by AFM for confirmation.例文帳に追加

その後、確認のために、第６ステップＳ６において、ＡＦＭにより段差を観測する。 - 特許庁

Imaging recipes of the length-measuring SEM and the AFM are generated automatically by using design layout data.例文帳に追加

設計レイアウトデータを用い，測長ＳＥＭとＡＦＭの撮像レシピを自動作成する。 - 特許庁

To provide a high-bandwith atomic force microscopic apparatus (AFM).例文帳に追加

本発明は、高帯域の原子間力顕微鏡装置（ＡＦＭ）を提供することを課題とする。 - 特許庁

That is, the antenna is switched regardless of no output of a switching instruction by a beacon station, the AFM of the vehicles other than the vehicle 3 is similarly changed to the AFM of the vehicle 3.例文帳に追加

（ｃ）：つまり、ビーコン局が切替指示を出していないにも係わらずアンテナが切り替わることとなり、車両３以外の車両のＡＦＭも車両３のＡＦＭと同様に変化する。 - 特許庁

Note that if ttf2pf.ps assigns a font name using the one it finds in the TrueType font file and you want to use a different name, you must edit the .afm file prior to running afmtodit. 例文帳に追加

ttf2pf.ps がわりつけるフォント名は TrueTypeフォントファイル中に見つかったものになります。 それとは異なる名前を使いたかったら、 .afm ファイルを編集してから afmtoditを実行する必要があります。 - FreeBSD

To provide a control method of a phase feedback AFM and a phase feedback AFM, such that the real surface shape of an obtained uneven image is indicated.例文帳に追加

本発明は、得られる凹凸像が真の表面形状を示すような位相フィードバックＡＦＭの制御方法及び位相フィードバックＡＦＭを提供することを目的としている。 - 特許庁