Visual Appearance Inspectionとは 意味・読み方・使い方

To provide a canister visual inspection device capable of easily and appropriately inspecting the appearance of a canister stored in a cask.例文帳に追加

キャスク内に貯蔵されたキャニスタの外観を容易かつ適切に検査できるキャニスタ外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for acquiring a high-precision appearance image in a visual inspection apparatus using a plurality of irradiation sources.例文帳に追加

複数の照射源を利用する外観検査装置において、高精度の外観画像を取得する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor chip with which appearance visual inspection after a completion of a wire bonding process is facilitated, using a simple configuration.例文帳に追加

簡単な構成でワイヤボンディング工程終了後の外観目視検査を容易にした半導体チップを提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection method capable of inspecting cracks, or the like, generated in the inside from an appearance, even when an inspection object having a different material is arranged on the back of an inspection spot.例文帳に追加

検査箇所の裏側に異なる物質が配置れた検査対象物であっても、内部に生じた割れ等を外観から検査することができる外観検査方法を提供する。 - 特許庁

The inspection result data of an inspection device 2 as a visual inspection means inspecting the appearance of an object to be inspected is displayed on the display 15 of a correction terminal 3 as an information processing means.例文帳に追加

被検査対象物の外観を検査する外観検査手段としての検査装置２の検査結果データを、情報処理手段としての修正端末３のディスプレイ１５に表示する。 - 特許庁

To provide a visual inspection device and a visual inspection method for a mounting board, dispensing with work stop required for replacement of inspection parameters, even when a different-appearance and difference-type part of the same kind is used together.例文帳に追加

同一品種で外観の異なる別タイプ部品を混用する場合にあっても、検査パラメータの入れ換えのための作業停止が発生しない実装基板の外観検査装置および外観検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a visual inspection method capable of inspecting even an inspected object of complicated appearance structure with a relatively simple constitution at a relatively high speed to shorten the inspection time, a visual inspection device therefor and a manufacturing equipment for an electronic circuit substrate.例文帳に追加

被検査物が複雑な外観構造のものであっても、比較的簡単な構成で、検査時間が比較的高速で検査できる外観検査方法、外観検査装置及び電子回路基板の製造装置を得ること。 - 特許庁

To provide a wafer appearance inspection device capable of reducing detection of noncritical defects, and shortening the time required for visual confirmation.例文帳に追加

非致命欠陥を検出を低減し、目視確認に要する時間を短縮可能なウェハ外観検査装置を提供することにある。 - 特許庁