Test particleとは 意味・読み方・使い方

SCANNING IRRADIATION METHOD OF CHARGED PARTICLE BEAM, CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, TEST PIECE OBSERVATION METHOD, AND TEST PIECE PROCESSING METHOD例文帳に追加

荷電粒子ビーム走査照射方法、荷電粒子ビーム装置、試料観察方法、及び、試料加工方法 - 特許庁

ROUGHNESS JUDGMENT METHOD OF TEST PIECE AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

試料の凹凸判定方法、及び荷電粒子線装置 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND PICK-UP METHOD OF TEST PIECE USING CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置、及び荷電粒子ビーム装置を用いた試料のピックアップ方法 - 特許庁

DEVICE FOR INTAKE TEST WITH HOMOGENIZATION PROCESSING MECHANISM OF FINE PARTICLE例文帳に追加

微粒子の均一化処理機構を有する吸入試験装置 - 特許庁

TEST PIECE HOLDER MOVING MECHANISM, VACUUM EQUIPMENT, AND CHARGED PARTICLE BEAM EQUIPMENT例文帳に追加

試料ホルダ移動機構及び真空装置並びに荷電粒子ビーム装置 - 特許庁

To provide a method of preparing a test sample for a triaxial test wherein the test sample can be properly saturated with water without changing the particle size and a difference in a saturation rate of the test sample is not caused by a particle size difference of the test sample.例文帳に追加

粒度を変化させることなく供試体を水で確実に飽和させることができると共に、供試体の粒度差により供試体の飽和速度に差が生じることがない三軸試験用供試体を作製する方法を提供する。 - 特許庁

The average particle size, which agrees with the relation of the density at each test piece operated from the test result is obtained by supposing that the average particle size with water droplet impingement ratio.例文帳に追加

その結果から平均粒子径を仮定して演算した各供試体毎の濃度と水滴衝突率との関係が一致する平均粒子径を求める。 - 特許庁

HIGH-ENERGY PARTICLE GENERATING DEVICE, NON-DESTRUCTIVE TEST DEVICE OF TUBE-SHAPED MEMBER, AND HIGH-ENERGY PARTICLE GENERATING METHOD例文帳に追加

高エネルギー粒子発生装置及び管状部材非破壊検査装置並びに高エネルギー粒子発生方法 - 特許庁