Kwak, Noh-Yeal - ძიების შედეგები

ძებნა კოლექციები:

დახარისხება:	შედეგების ჩვენება:	გამავალი ფორმატი:

CERN Document Server	1 ჩანაწერია ნაპოვნი	ძიებას დასჭირდა 0.97 წამი.

Characterization of Parasitic Transistor Phenomenon in Nano-scale NAND Flash Device by Blanket Tilt Implantation and Scanning Capacitance Microscopy / Lee, Dong-Ho ; Shin, Seung-Woo ; Ryu, Choon-Kun ; Lee, Moon-Keun ; Kwak, Noh-Yeal ; Shon, Hyun-Soo ; Lee, Byung-Seok ; Park, Sung-Ki ; Kwack, Kae-Dal
2006 - Published in : AIP Conf. Proc.: 866 (2006) , pp. 550-553 External link: Published version from AIP
In : 16th International Conference on Ion Implantation Technology, Marseilles, France, 11 - 16 Jun 2006, pp.550-553

ასევე იხილეთ: მსგავსი ავტორის სახელები
243	Kwak, N

გნებავთ შეტყობინების მიღება, ამ კითხვაზე ახალი პასუხების შემთხვევაში?
დააყენეთ პირადი ელფოსტის შეტყობინება ან ჩაეწერეთ RSS ფიდზე.

ვერ იპოვნეთ რასაც ეძებდით? სცადეთ თქვენი ძებნა სხვა სერვერებზე:
Kwak, Noh-Yeal ში Amazon Kwak, Noh-Yeal ში CERN EDMS Kwak, Noh-Yeal ში CERN Intranet Kwak, Noh-Yeal ში CiteSeer Kwak, Noh-Yeal ში Google Books Kwak, Noh-Yeal ში Google Scholar Kwak, Noh-Yeal ში Google Web Kwak, Noh-Yeal ში IEC	Kwak, Noh-Yeal ში IHS Kwak, Noh-Yeal ში INSPIRE Kwak, Noh-Yeal ში ISO Kwak, Noh-Yeal ში KISS Books/Journals Kwak, Noh-Yeal ში KISS Preprints Kwak, Noh-Yeal ში NEBIS Kwak, Noh-Yeal ში SLAC Library Catalog Kwak, Noh-Yeal ში Scirus

CERN Document Server

		ძებნის მინიშნებანი გაფართოებული ძებნა
Add to Search +