CERN Accelerating science

CERN Document Server 3 ჩანაწერია ნაპოვნი  ძიებას დასჭირდა 0.53 წამი. 
1.
Non-contact sheet resistance and leakage current monitoring of multi-implant, ultra-shallow junctions : Doping and damage effects for ms-anneals / Current, M I ; Faifer, V N ; Wong, T M H ; Nguyen, T ; Koo, A
2006 - Published in : AIP Conf. Proc.: 866 (2006) , pp. 582-585 External link: Published version from AIP
In : 16th International Conference on Ion Implantation Technology, Marseilles, France, 11 - 16 Jun 2006, pp.582-585
2.
Industrial Applications of Ion Implantation for Doping and Modification of Semiconductor Materials / Poate, J M ; Current, M I
2001.
3.
Characterization and control of wafer charging effects during high-current ion implantation / Current, M I ; Lukaszek, W ; Dixon, W ; Vella, M C ; Messick, C ; Shideler, J ; Reno, S
LBL-35962.
- 1994. - 16 p.
Access to fulltext document - Access to fulltext document - CERN library copies

ასევე იხილეთ: მსგავსი ავტორის სახელები
2 Current, Michael
გნებავთ შეტყობინების მიღება, ამ კითხვაზე ახალი პასუხების შემთხვევაში?
დააყენეთ პირადი ელფოსტის შეტყობინება ან ჩაეწერეთ RSS ფიდზე.
ვერ იპოვნეთ რასაც ეძებდით? სცადეთ თქვენი ძებნა სხვა სერვერებზე:
Current, M I ში Amazon
Current, M I ში CERN EDMS
Current, M I ში CERN Intranet
Current, M I ში CiteSeer
Current, M I ში Google Books
Current, M I ში Google Scholar
Current, M I ში Google Web
Current, M I ში IEC
Current, M I ში IHS
Current, M I ში INSPIRE
Current, M I ში ISO
Current, M I ში KISS Books/Journals
Current, M I ში KISS Preprints
Current, M I ში NEBIS
Current, M I ში SLAC Library Catalog
Current, M I ში Scirus