CERN Accelerating science

CERN Document Server 1 εγγραφές βρέθηκαν  Η έρευνα πήρε 0.85 δευτερόλεπτα. 
1.
Impact of Dose Rate Effects and Damage Engineering on Device Performance / Shim Kyu Ha ; Hwang, Yeonsang ; Lee, Yongseung ; An, Jungsoo ; Ryu, Seonho ; Hahn, Seungho ; Cho, Changjune ; Hur, Namhae ; Guo, Baonian ; Liu, Jinning et al.
2006 - Published in : AIP Conf. Proc.: 866 (2006) , pp. 137-139 External link: Published version from AIP
In : 16th International Conference on Ion Implantation Technology, Marseilles, France, 11 - 16 Jun 2006, pp.137-139

Δείτε ακόμη: παρόμοια ονόματα συγγραφέων
2 Cho, C
4 Cho, C F
6 Cho, C H
8 Cho, Cheol-Hyun
1 Cho, Chia-Jui
1 Cho, Chiyoung
1 Cho, Choong Y
1 Cho, Choonlae
1 Cho, Chung Yik
Ενδιαφέρεστε να ενημερώνεστε για νέα αποτελέσματα σχετικά με το ερώτημα αυτό;
Δημιουργήστε ένα προσωπικό email alert ή εγγραφείτε στο RSS feed.
Δεν βρήκατε αυτό που αναζητούσατε; Δοκιμάστε την έρευνά σας σε άλλους servers:
Cho, Changjune σε Amazon
Cho, Changjune σε CERN EDMS
Cho, Changjune σε CERN Intranet
Cho, Changjune σε CiteSeer
Cho, Changjune σε Google Books
Cho, Changjune σε Google Scholar
Cho, Changjune σε Google Web
Cho, Changjune σε IEC
Cho, Changjune σε IHS
Cho, Changjune σε INSPIRE
Cho, Changjune σε ISO
Cho, Changjune σε KISS Books/Journals
Cho, Changjune σε KISS Preprints
Cho, Changjune σε NEBIS
Cho, Changjune σε SLAC Library Catalog
Cho, Changjune σε Scirus