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Low-power SEE hardening techniques and error rate evaluation in 65nm readout ASICs / Caratelli, Alessandro (CERN) ; Scarfi, Simone (CERN ; Ecole Polytechnique, Lausanne) ; Bergamin, Gianmario (CERN ; Ecole Polytechnique, Lausanne) ; Ceresa, Davide (CERN) ; Clerq, Jarne De (Vrije U., Brussels) ; Kloukinas, Kostas (CERN) ; Leblebici, Yusuf (Ecole Polytechnique, Lausanne) /CMS Tracker Group Collaboration
Single event radiation effects represent one of the main challenges for digital designs exposed to ionizing particles in high energy physics detectors. Radiation hardening techniques are based on redundancy, leading to a significant increase in power consumption and area overhead. [...]
SISSA, 2020 - 5 p. - Published in : PoS TWEPP2019 (2020) 015 Fulltext: PDF;
In : TWEPP 2019 Topical Workshop on Electronics for Particle Physics, Santiago De Compostela, Spain, 2 - 6 Sep 2019, pp.015

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