Fournel, F. - Sökresultat - CERN Document Server

Sök samlingar:

Sortera efter:	Visa sökresultat:	Visningsformat:

CERN Document Server	Sök i 1 journaler efter:	Sökningen tog 1.17 sekunder.

Transient current technique for charged traps detection in silicon bonded interfaces / Bronuzzi, J (CERN ; Ecole Polytechnique, Lausanne) ; Bouvet, D. (Ecole Polytechnique, Lausanne) ; Charrier, C. (CEA-DTA-LETI, Grenoble) ; Fournel, F. (CEA-DTA-LETI, Grenoble) ; García, M.F. (CERN ; Cantabria Inst. of Phys.) ; Mapelli, A. (CERN) ; Moll, M. (CERN) ; Rouchouze, E. (CEA-DTA-LETI, Grenoble) ; Sallese, J.M. (Ecole Polytechnique, Lausanne)
Wafer bonding is an established technology for the manufacturing of silicon-on-insulator (SOI) substrates, micro-electromechanical systems (MEMS) and microfluidic devices. Low temperature direct bonding techniques can be of particular interest for the fabrication of monolithic radiation sensors. [...]
2019 - Published in : AIP Adv. 9 (2019) 025307 Fulltext: PDF;

Detaljerad journal - Similar records

Vill du bli notifierad om nya resultat till den här sökfrågan?
Sätta upp ett epost-alarm eller starta en prenumeration på RSS-strömmen.

Har du inte funnit vad du söker efter? Försök på andra platser:
Fournel, F. i Amazon Fournel, F. i CERN EDMS Fournel, F. i CERN Intranet Fournel, F. i CiteSeer Fournel, F. i Google Books Fournel, F. i Google Scholar Fournel, F. i Google Web Fournel, F. i IEC	Fournel, F. i IHS Fournel, F. i INSPIRE Fournel, F. i ISO Fournel, F. i KISS Books/Journals Fournel, F. i KISS Preprints Fournel, F. i NEBIS Fournel, F. i SLAC Library Catalog Fournel, F. i Scirus

CERN Document Server

Access articles, reports and multimedia content in HEP

Main menu

CERN Accelerating science