Witte, Jonathan - Wyniki wyszukiwania

Szukaj kolekcje:

Sortuj według:	Wyświetl rezultaty:	Format wyjściowy:

CERN Document Server	Znaleziono 1 rekordów	Szukanie trwało 0.60 sekund.

Characterization of analogue Monolithic Active Pixel Sensor test structures implemented in a 65 nm CMOS imaging process / Rinella, Gianluca Aglieri (CERN) ; Alocco, Giacomo (INFN, Cagliari) ; Antonelli, Matias (INFN, Trieste) ; Baccomi, Roberto (INFN, Trieste) ; Beole, Stefania Maria (INFN, Turin) ; Blidaru, Mihail Bogdan (Heidelberg U.) ; Buttwill, Bent Benedikt (Heidelberg U.) ; Buschmann, Eric (CERN) ; Camerini, Paolo (Trieste U. ; INFN, Trieste) ; Carnesecchi, Francesca (CERN) et al.
Analogue test structures were fabricated using the Tower Partners Semiconductor Co. CMOS 65 nm ISC process. [...]
arXiv:2403.08952.- 2024-09-21 - 40 p. - Published in : Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., A 1069 (2024) 169896 Fulltext: 2403.08952 - PDF; Publication - PDF;

Zobacz też: podobne nazwiska autorów
5	Witte, Jan Hendrik
1	Witte, Johan F
1	Witte, John S

Czy powiadomić Cię o nowych wynikach dla tego wyszukiwania?
Ustaw własny alert email lub zaprenumeruj RSS feed.

Jeżeli nie znaleziono tego czego szukasz, spróbuj szukać na innych serwerach:
Witte, Jonathan w Amazon Witte, Jonathan w CERN EDMS Witte, Jonathan w CERN Intranet Witte, Jonathan w CiteSeer Witte, Jonathan w Google Books Witte, Jonathan w Google Scholar Witte, Jonathan w Google Web Witte, Jonathan w IEC	Witte, Jonathan w IHS Witte, Jonathan w INSPIRE Witte, Jonathan w ISO Witte, Jonathan w KISS Books/Journals Witte, Jonathan w KISS Preprints Witte, Jonathan w NEBIS Witte, Jonathan w SLAC Library Catalog Witte, Jonathan w Scirus

CERN Document Server