Fournel, F. - Резултати от търсенето

Търсене колекции:

Сортиране по:	Покажи:	Изходен формат:

CERN Document Server	Намерени са 1 записа	Търсенето отне 1.33 секунди.

Transient current technique for charged traps detection in silicon bonded interfaces / Bronuzzi, J (CERN ; Ecole Polytechnique, Lausanne) ; Bouvet, D. (Ecole Polytechnique, Lausanne) ; Charrier, C. (CEA-DTA-LETI, Grenoble) ; Fournel, F. (CEA-DTA-LETI, Grenoble) ; García, M.F. (CERN ; Cantabria Inst. of Phys.) ; Mapelli, A. (CERN) ; Moll, M. (CERN) ; Rouchouze, E. (CEA-DTA-LETI, Grenoble) ; Sallese, J.M. (Ecole Polytechnique, Lausanne)
Wafer bonding is an established technology for the manufacturing of silicon-on-insulator (SOI) substrates, micro-electromechanical systems (MEMS) and microfluidic devices. Low temperature direct bonding techniques can be of particular interest for the fabrication of monolithic radiation sensors. [...]
2019 - Published in : AIP Adv. 9 (2019) 025307 Fulltext: PDF;

Подробен запис - Подобни записи

Интересувате ли се от уведомяване за нови резултати по тази заявка?
Set up a personal email alert or subscribe to the RSS feed.

Не намерихте, каквото търсите? Опитайте търсене в други сървъри:
Fournel, F. в Amazon Fournel, F. в CERN EDMS Fournel, F. в CERN Intranet Fournel, F. в CiteSeer Fournel, F. в Google Books Fournel, F. в Google Scholar Fournel, F. в Google Web Fournel, F. в IEC	Fournel, F. в IHS Fournel, F. в INSPIRE Fournel, F. в ISO Fournel, F. в KISS Books/Journals Fournel, F. в KISS Preprints Fournel, F. в NEBIS Fournel, F. в SLAC Library Catalog Fournel, F. в Scirus

CERN Document Server

Access articles, reports and multimedia content in HEP

Main menu

		Съвети за търсене Разширено търсене
Add to Search +

CERN Accelerating science