电子显微镜：修订间差异
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[[File:Elektronenmikroskop.jpg|thumb|200px|透射電子顯微鏡]]
'''電子顯微鏡'''（{{lang-en|electron microscope}}，簡稱'''電鏡'''或'''電顯'''）是使用[[電子]]來展示物件的內部或表面的[[顯微鏡]]。
高速的電子的波長比可見光的波長短（[[波粒二象性]]），而顯微鏡的分辨率受其使用的波長的限制，因此電子顯微鏡的分辨率（約0.2[[奈米]]）遠高於光學顯微鏡的分辨率（約200奈米）。<ref name="erni">{{cite journal|doi=10.1103/PhysRevLett.102.096101|title=Atomic-Resolution Imaging with a Sub-50-pm Electron Probe|year=2009|author=Erni, Rolf|journal=Physical Review Letters|volume=102|page=096101|pmid=19392535|last2=Rossell|first2=MD|last3=Kisielowski|first3=C|last4=Dahmen|first4=U|issue=9|bibcode=2009PhRvL.102i6101E| url = http://escholarship.org/uc/item/3cs0m4vr}}</ref>
== 技術 ==
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1980年代人們能夠使用掃描電子顯微鏡觀察濕樣本。1990年代中電腦越來越多地用來分析電子顯微鏡的圖像，同時使用電腦也可以控制越來越複雜的透鏡系統，同時電子顯微鏡的操作越來越簡單。
==註釋==
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