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Universitätsbibliothek Heidelberg
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 Online-Ressource
Verfasst von:Hilleringmann, Ulrich [VerfasserIn]   i
Titel:Silizium-Halbleitertechnologie
Titelzusatz:Grundlagen mikroelektronischer Integrationstechnik
Verf.angabe:Ulrich Hilleringmann
Ausgabe:8. Auflage
Verlagsort:Wiesbaden
Verlag:Springer Vieweg
E-Jahr:2023
Jahr:[2023]
Umfang:1 Online-Ressource (XII, 309 Seiten, 306 Abb.)
ISBN:978-3-658-42378-0
Abstract:Herstellung von Siliziumscheiben -- Oxidation des dotierten Siliziums -- Lithografie -- Ätztechnik -- Dotiertechniken -- Depositionsverfahren -- Metallisierung und Kontakte -- Scheibenreinigung -- MOS-Technologien zur Schaltungsintegration -- Erweiterungen zur Höchstintegration -- Transistoren mit Nanometer-Abmessungen -- Bipolar-Technologie -- Montage integrierter Schaltungen.
 Das Lehrbuch behandelt die Grundlagen und die technische Durchführung der Einzelprozesse zur mikroelektronischen Schaltungsintegration in der Silizium-Halbleitertechnologie. Die Integrationstechnik setzt sich aus einer Vielzahl von sich wiederholenden Einzelprozessen zusammen, deren Durchführung und apparative Ausstattung extremen Anforderungen genügen müssen, um die geforderten Strukturgrößen bis zu wenigen Nanometern gleichmäßig und reproduzierbar zu erzeugen. Das Zusammenspiel der Oxidationen, Ätzschritte und Implantationen zur Herstellung von MOS- und Bipolarschaltungen werden - ausgehend vom Rohsilizium bis zur gekapselten integrierten Schaltung - aus Sicht der Prozessführung erläutert. Moderne 3D-Bauformen für Feldeffekttransistoren runden den Inhalt ab. Der Inhalt Herstellung von Siliziumscheiben Oxidation des dotierten Siliziums Lithografie Ätztechnik Dotiertechniken Depositionsverfahren Metallisierung und Kontakte Scheibenreinigung MOS-Technologien zur Schaltungsintegration Erweiterungen zur Höchstintegration Transistoren mit Nanometer-Abmessungen Bipolar-Technologie Montage integrierter Schaltungen Die Zielgruppen Studierende der Fachrichtungen Elektronik, Elektrotechnik, Materialwissenschaften, Mikrosystemtechnik, Informatik und Physik Prozessingenieure aus der Halbleiterfertigung, Mikrotechnologen und Schaltungsentwickler Der Autor Prof. Dr.-Ing. Ulrich Hilleringmann leitet das Fachgebiet Sensorik an der Universität Paderborn und lehrt Halbleitertechnologie, Mikrosystemtechnik, Sensorik und Prozessmesstechnik.
DOI:doi:10.1007/978-3-658-42378-0
URL:Resolving-System: https://doi.org/10.1007/978-3-658-42378-0
 DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-658-42378-0
Schlagwörter:(s)Silicium   i / (s)Halbleitertechnologie   i
Datenträger:Online-Ressource
Sprache:ger
Bibliogr. Hinweis:Erscheint auch als : Druck-Ausgabe
 Erscheint auch als : Druck-Ausgabe: Hilleringmann, Ulrich: Silizium-Halbleitertechnologie. - 8. Auflage. - Wiesbaden : Springer Vieweg, 2023. - XII, 309 Seiten
RVK-Notation:ZN 3460   i
K10plus-PPN:1868856097
 
 
Lokale URL UB: Zum Volltext

Permanenter Link auf diesen Titel (bookmarkfähig):  https://katalog.ub.uni-heidelberg.de/titel/69135485   QR-Code

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