Online-Ressource | |
Verfasst von: | Baddeley, David |
Titel: | Precision measurements with SMI and 4PiMicroscopy |
Verf.angabe: | David Baddeley |
Jahr: | 2007 |
Umfang: | Online-Ressource |
Fussnoten: | Online publiziert: 2008 |
Weitere Titel: | Übers. des Hauptsacht.: Präzisionsmessungen mittels SMI und 4Pi Mikroskopie |
Hochschulschrift: | Heidelberg, Univ., Diss., 2007 |
URL: | kostenfrei: Volltext: http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:16-opus-79603 |
URN: | urn:nbn:de:bsz:16-opus-79603 |
Schlagwörter: | (s)Quantitative Mikroskopie / (s)Vier-Pi-Mikroskopie / (s)Virtuelle Mikroskopie / (s)Mikroskopie / (s)EntfaltungMathematik |
Datenträger: | Online-Ressource |
Dokumenttyp: | Hochschulschrift |
Sprache: | eng |
Bibliogr. Hinweis: | Erscheint auch als : Druck-Ausgabe: Baddeley, David: Precision measurements with SMI and 4Pi microscopy. - 2007. - XIV, 192 S. |
K10plus-PPN: | 1645917827 |
Lokale URL UB: | Zum Volltext |