Trapping in irradiated p-on-n silicon sensors at fluences anticipated at the HL-LHC outer tracker

Adam, W.; Garabedian, A.; Nash, K.; Hindrichs, O.; Wilken, R.; Boegelspacher, F.; Lustermann, W.; Rivera, R.; Hobson, P.; Chiorboli, M.; Ciocci, M.A.; Colombo, F.; Beaulieu, G.; Ramirez Vargas, J.E.; Tan, P.; Sabes, D.; Combaret, C.; Mittag, G.; Winstrom, L.; Santocchia, A.; Moggi, A.; Biskop, H.; Selvaggi, M.; Harb, A.; Kahlid, F.; Kuensken, A.; Speer, T.; Fiori, F.; Stahl, A.; Loddo, F.; Mallows, S.; Gruenendahl, S.; Quertenmont, L.; Johns, W.; Burt, K.; Meschini, M.; Tenchini, R.; Grundler, U.; Barria, P.; Majumder, D.; Thompson, J.; Flacher, H.; Demaria, N.; Vichoudis, P.; Demina, R.; Cichy, K.; Beliy, N.; Martini, L.; Poehlsen, T.; Deyrail, D.; Garutti, E.; Pozzobon, N.; Krohn, M.; Spannagel, S.; Zoccarato, Y.; Traversi, G.; Takahashi, M.; Ciaranfi, R.; Gallbit, G.; Ricci-Tam, F.; De Callatay, B.; Eckerlin, G.; Swanson, J.; Jung, A.; Matysek, M.; D'Hondt, J.; Deiters, K.; Hahn, K.; Wlochal, M.; Ellison, J.; Fulcher, J.; Xiao, M.; Daubie, E.; Stupak, J.; Lipinski, M.; Heintz, U.; Erfle, J.; Fehling, D.; Vanlaer, P.; Perera, L.; I.I.I.; Friedl, M.; Mullin, S.; Taylor, R.; Vasey, F.; Lange, C.; Peisert, A.; Calligaris, L.; Tomalin, I.R.; Cerati, G.; Pooth, O.; Wagner, S.R.; Hosselet, J.; Conti, E.; Giammanco, A.; Makouski, M.; Ryd, A.; Christiansen, J.; De Boer, W.; Re, V.; Hansen, K.; Bisello, D.; Marchioro, A.; Preuten, M.; Djambazov, L.; Maksimovic, P.; Silvestris, L.; Malberti, M.; Haller, J.; Musich, M.; Ford, W.T.; Garcia, J.Garay; Abbaneo, D.; Ostapchuk, A.; D'Alfonso, M.; Zeid, S.Abu; Bakhshiansohl, H.; Weiler, Th.; Derylo, G.; Solano, A.; Wellhausen, J.; Ecklund, K.M.; Lei, C.M.; Hou, W.S.; Swartz, M.; Giordano, D.; Daguin, J.; Conway, J.; Lipton, R.; Sala, G.; Dutta, V.; Sanders, S.; Andrea, J.; Minuti, M.; Perloff, A.; Gaz, A.; Feld, L.; Bean, A.; Bani, L.; Hinton, N.; Dinardo, M.; Jaramillo Echeverria, R.; Marionneau, M.; Walker, M.; Tuominen, E.; Parashar, N.; De Visscher, S.; Goetzmann, Ch.; Pierschel, G.; Heindl, S.; My, S.; Ratti, L.; Thomas, L.; Goldstein, J.; Kumar, A.; Simonis, H.J.; Dittmer, S.; Charles, L.; Covarelli, R.; Mathieu, C.; Starodumov, A.; Lomtadze, T.; O'Brien, C.; Shi, X.; Postema, H.; Van Onsem, G.; Donega, M.; Fontaine, J.Ch.; Romero, A.; Contardo, D.; Rohe, T.; Steck, P.; Horisberger, R.; Spagnolo, P.; Donato, S.; Noonan, D.; Chiochia, V.; Perrozzi, L.; Honma, A.; Zuber, A.; Cussans, D.; Gerber, C.E.; Magalotti, D.; Focardi, E.; Langenegger, U.; Manghisoni, M.; Zwalinski, L.; Erdmann, W.; Caminada, L.; Martinez Ruiz del Arbol, P.; Reid, I.D.; Behnamian, H.; Meier, B.; Zabel, J.; Van Spilbeeck, A.; Treberspurg, W.; Ravera, F.; Lowette, S.; Hoch, M.; Lath, A.; Gonzalez Suarez, R.; Lapsien, T.; Peltola, T.; Troska, J.; Venturi, A.; Taroni, S.; Sharma, V.; Hoffmann, K.H.; Kornmayer, A.; Tricomi, A.; Olmedo, M.; Nahn, S.; Caudron, A.; Seva, T.; Van Remortel, N.; Albergo, S.; Viliani, L.; Burgmeier, A.; Lenzi, P.; Pellett, D.; Hall, G.; Muhl, C.; Comotti, D.; Frank, N.; Halkiadakis, E.; Hartmann, F.; Hits, D.; Nuttens, C.; Gennai, S.; Buhmann, P.; Dolinska, G.; Cariola, P.; Rzonca, M.; Bacchetta, N.; Michotte, D.; Eichhorn, T.; Raffaelli, F.; Spiezia, A.; Claes, D.R.; Grebenyuk, A.; Boccali, T.; Bloom, K.; Gill, K.; Dierlamm, A.; Cappello, G.; Printz, M.; Nodari, B.; Kilminster, B.; Park, M.; Kharchilava, A.; Mussgiller, A.; Hauth, Th.; Tropiano, A.; Trovato, M.; Skinnari, L.; Mankel, R.; Bissi, L.; Deroover, K.; Lo Vetere, M.; Kovacs, M.; di Calafiori, D.; Marconi, S.; Stringer, R.; Mendez, H.; Liu, T.; Van Mulders, P.; Robutti, E.; Petrucciani, G.; Bellan, R.; Ntomari, E.; Passeri, D.; Karpinski, W.; Meier, F.; Yagil, A.; Sammet, J.; Tran, N.; Menichelli, M.; Acosta, J.G.; Franco, M.; Fiorendi, S.; Harder, K.; Malvezzi, S.; Los, S.; Mathez, H.; Fedi, G.; Maier, R.; Forthomme, L.; Baringer, P.; Hammad, G.H.; Ranjan, K.; Kyre, S.; Perieanu, A.; Deptuch, G.; Kotlinski, D.; Bagliesi, G.; Bloch, D.; Ferro, F.; Sevova, S.; Palmonari, F.; Tucker, J.; Nussbaum, T.; Viret, S.; Blanchot, G.; Seitz, C.; El Nasr-Storey, S.Seif; Esser, H.; Osipenkov, I.; Auzinger, G.; George, J.; Tuuva, T.; Di Mattia, A.; Dragicevic, M.; Canelli, F.; Butler, J.; Thom, J.; Bonnin, C.; Keaveney, J.; Lariccia, P.; Kornmeyer, A.; Watson-Daniels, J.; Breuker, H.; Salvatore, M.; Petagna, P.; Pakulski, T.; Bortoletto, D.; Grab, C.; Clerbaux, B.; Johnson, M.; Zhukov, V.; Kaufman, G.; Luyckx, S.; Bruno, G.; D'Angelo, P.; Maerschalk, Th.; Azzi, P.; Kalogeropoulos, A.; Blobel, V.; Mangano, B.; Potenza, R.; Van Parijs, I.; Tuve, C.; Lange, W.; Ligabue, F.; Pacher, L.; Palla, F.; Gray, J.; Hofman, D.J.; Tropea, P.; Ciulli, V.; Grippo, M.T.; Placidi, P.; Monroy, J.; D'Alessandro, R.; Saha, A.; Chu, J.; Casal, B.; Robmann, P.; Azzurri, P.; Galloni, C.; Hoffmann, M.; Poehlsen, J.; Bartz, E.; Edelhoff, M.; Gaioni, L.; Miller, D.H.; Eusebi, R.; Gritsan, A.; Menasce, D.; Schmidt, A.; Hoff, J.; Albert, E.; Hasegawa, S.; Junkes, A.; Morsani, F.; Hreus, T.; Steinbruck, G.; Rappoccio, S.; Yohay; Eller, P.; D'Auria, A.; Bergauer, T.; De Robertis, G.; Osherson, M.; Jones, M.; Python, Q.; Agram, J.L.; Detraz, S.; Nayak, A.; Roeser, U.; Bosiger, K.; Kaisen, J.; Scarlini, E.; Tuovinen, E.; Khakzad, M.; Casasso, S.; Dorigo, T.; Arezzini, S.; Alderweireldt, S.; Storchi, L.; Lohmann, W.; Daci, N.; Pavis, S.; Schroeder, M.; Costa, S.; Ahmed, I.; Hollar, J.; Mohammadi, A.; Brom, J.M.; Basti, A.; Centis-Vignali, M.; Ceresa, D.; Prosser, A.; F. Gonzalez Sanchez, J.; Lu, R.S.; Delannoy, A.G.; De Palma, M.; Castaldi, R.; Reis, T.; Kottelat, L.; Dominguez, A.; Bolla, G.; Barth, Ch.; Harkonen, J.; Schleper, P.; Conway, R.; Moya, D.; Maenpaa, T.; Cremaldi, L.M.; Dietz, C.; Ngadiuba, J.; White, D.; Hauk, J.; Fluegge, G.; Dall'Osso, M.; Ciangottini, D.; Migliore, E.; Tersegno, D.; Geisler, M.; Ivanov, A.; Randle-Conde, A.; Mirman, N.; Caillol, C.; Tonelli, G.; Leggat, D.; Bilei, G.M.; De Canio, F.; Magnan, A.M.; Merkel, P.; Rossini, M.; Shenai, A.; Salvati, E.; Summers, D.; Nuernberg, A.; Weber, M.; Della Porta, G.Zevi; Korol, I.; Creanza, D.; Schnetzer, S.; Hrycyk, M.; Sung, K.; Messineo, A.; Waltenberger, W.; Fangmeier, C.; Bainbridge, R.; Basegmez, S.; Fruehwirth, R.; De Bruyn, I.; Alyari, M.; Fano, L.; Paoletti, S.; Pistone, C.; Hoss, J.; Boudoul, G.; Rivetti, A.; Vartak, A.; Lumb, N.; Dauncey, P.; Chen, P.H.; Civinini, C.; Conte, E.; Ulmer, K.A.; Freund, B.; Squires, M.; Kapustka, B.K.; Mazzoni, E.; Lampen, T.; Skhirtladze, N.; Onnela, A.; Teodorescu, L.; Brianzi, M.; Munoz Sanchez, F.J.; Trauger, H.; Pree, T.Du; Vander Donckt, M.; Dolen, J.; Gallo, E.; Castello, R.; Wittmer, B.; Gonzi, S.; Faccio, F.; Hanson, G.; Selvaggi, G.; Pedrini, D.; Joshi, U.; Bhardwaj, A.; Jindariani, S.; De Cosa, A.; Biasini, M.; Cumalat, J.P.; Uplegger, L.; Eckstein, D.; Sola, V.; Ciampa, A.; Alexander, J.; Rizzi, A.; Kaestli, H.C.; Giordano, F.; Jacob, J.; Ceard, L.; Nelson, J.; Sandoval Gonzalez, D.I.; Bianchi, G.; Stenson, K.; Christian, D.; Cheung, H.; Manzoni, R.A.; Gross, L.; Olbrechts, A.; Verdini, P.G.; Fiore, L.; Pinna, D.; Janssen, X.; Husemann, U.; Casele, M.; Gori, V.; Savoy-Navarro, A.; Maser, H.; Raymond, D.M.; Behr, J.; Bachmair, F.; Adams, M.R.; Yang, Y.; Thomson, J.; Tavernier, S.; Berry, D.R.; Oliveros, S.; Mantovani, G.; Scharf, Ch.; Moroni, L.; Amsler, C.; Flores, C.; Autermann, C.; Chabert, E.; Jez, P.; Perrini, L.; Calzolari, F.; Favart, L.; Bartosik, N.; Cooper, W.E.; Wallny, R.; Van Mechelen, P.; Trapani, P.; Gomez, G.; Fluke, G.; Bertl, W.; Horisberger, U.; Muller, Th.; Zenoni, F.; Coughlan, J.A.; Draeger, A.R.; Howell, J.; Baldin, B.; Perries, S.; Martin, C.; Mirabito, L.; Krammer, M.; Cole, J.; Eber, R.; Saizu, M.A.; Verdier, P.; Strom, D.A.; Pesaresi, M.; Perrey, H.; Tosi, M.; Akgun, B.; Masciovecchio, M.; Kleinwort, C.; Michelis, S.; Barvich, T.; Caebergs, T.; Petrillo, G.; Magazzu, G.; Ilic, J.; Vander Velde, C.; Malik, S.; Leonard, A.; Barbagli, G.; Grimes, M.; Raupach, F.; Spiegel, L.; Vernieri, C.; Pitzl, D.; Bubna, M.; Gingu, C.; Luukka, P.R.; Eerola, P.; Costa, M.; Evdokimov, A.; Evdokimov, O.; Burkett, K.; Incandela, J.; Virto, A.L.; Schael, S.; Skovpen, K.; Marono, M.Vidal; Monteil, E.; Delaere, C.; Matulik, M.; Stone, R.; Godshalk, A.; Zucchetta, A.; Streuli, S.; Giassi, A.; Servoli, L.; Sagir, S.; Uchida, K.; Blekman, F.; Narain, M.; Naseri, M.; Solestizi, L.A.; Harris, P.; Voirin, E.; Yin, H.; Heracleous, N.; Mattig, S.; Moreels; Bose, S.; Tsirou, A.; Beaumont, W.; Martina, S.; Klein, K.; Fernandez, M.; Androsov, K.; Dunser, M.; Bosi, F.; Berruti, G.; Mersi, S.; De Lentdecker, G.; Verlaat, B.; Iashvili, I.; Hrubec, J.; Duggan, D.; Gouskos, L.; Vila, I.; Kasieczka, G.; Serban, A.T.; Gizhko, A.; Schwering, G.; Moon, C.S.; Sguazzoni, G.; Moya, M.; Butz, E.; Pagano, D.; Mannelli, M.; Richer, M.; Stoye, M.; Pernie, L.; Dell'Orso, R.; Kaplon, J.; Lenzi, Th.; Turner, P.; Benelli, G.; Checcucci, B.; Dobur, D.; Betchart, B.; Lander, R.; Rose, P.; Wang, J.; Chaves, J.; Maggi, G.; McColl, N.; Felici, D.; Chramowicz, J.; Becker, R.; Chertok, M.; Pernot, J.F.; Anderson, I.; Moll, M.; Giubilato, P.

doi:10.1088/1748-0221/11/04/P04023

Article
Report number	arXiv:1505.01824
Title	Trapping in irradiated p-on-n silicon sensors at fluences anticipated at the HL-LHC outer tracker
Related title	Trapping in irradiated p-on-n silicon sensors at fluences anticipated at the HL-LHC outer tracker
Author(s)	Adam, W. (Vienna, OAW) ; Bergauer, T. (Vienna, OAW) ; Dragicevic, M. (Vienna, OAW) ; Friedl, M. (Vienna, OAW) ; Fruehwirth, R. (Vienna, OAW) ; Hoch, M. (Vienna, OAW) ; Hrubec, J. (Vienna, OAW) ; Krammer, M. (Vienna, OAW) ; Treberspurg, W. (Vienna, OAW) ; Waltenberger, W. (Vienna, OAW) ; Alderweireldt, S. (Antwerp U., WISINF) ; Beaumont, W. (Antwerp U., WISINF) ; Janssen, X. (Antwerp U., WISINF) ; Luyckx, S. (Antwerp U., WISINF) ; Van Mechelen, P. (Antwerp U., WISINF) ; Van Remortel, N. (Antwerp U., WISINF) ; Van Spilbeeck, A. (Antwerp U., WISINF) ; Barria, P. (Brussels U., IIHE) ; Caillol, C. (Brussels U., IIHE) ; Clerbaux, B. (Brussels U., IIHE) ; De Lentdecker, G. (Brussels U., IIHE) ; Dobur, D. (Brussels U., IIHE) ; Favart, L. (Brussels U., IIHE) ; Grebenyuk, A. (Brussels U., IIHE) ; Lenzi, Th. (Brussels U., IIHE) ; Leonard, A. (Brussels U., IIHE) ; Maerschalk, Th. (Brussels U., IIHE) ; Mohammadi, A. (Brussels U., IIHE) ; Pernie, L. (Brussels U., IIHE) ; Randle-Conde, A. (Brussels U., IIHE) ; Reis, T. (Brussels U., IIHE) ; Seva, T. (Brussels U., IIHE) ; Thomas, L. (Brussels U., IIHE) ; Vander Velde, C. (Brussels U., IIHE) ; Vanlaer, P. (Brussels U., IIHE) ; Wang, J. (Brussels U., IIHE) ; Zenoni, F. (Brussels U., IIHE) ; Zeid, S.Abu (Brussels U., IIHE) ; Blekman, F. (Brussels U., IIHE) ; De Bruyn, I. (Brussels U., IIHE) ; D'Hondt, J. (Brussels U., IIHE) ; Daci, N. (Brussels U., IIHE) ; Deroover, K. (Brussels U., IIHE) ; Heracleous, N. (Brussels U., IIHE) ; Keaveney, J. (Brussels U., IIHE) ; Lowette, S. (Brussels U., IIHE) ; Moreels (Brussels U., IIHE) ; Olbrechts, A. (Brussels U., IIHE) ; Python, Q. (Brussels U., IIHE) ; Tavernier, S. (Brussels U., IIHE) ; Van Mulders, P. (Brussels U., IIHE) ; Van Onsem, G. (Brussels U., IIHE) ; Van Parijs, I. (Brussels U., IIHE) ; Strom, D.A. (Brussels U., IIHE) ; Basegmez, S. (Louvain U., CP3) ; Bruno, G. (Louvain U., CP3) ; Castello, R. (Louvain U., CP3) ; Caudron, A. (Louvain U., CP3) ; Ceard, L. (Louvain U., CP3) ; De Callatay, B. (Louvain U., CP3) ; Delaere, C. (Louvain U., CP3) ; Pree, T.Du (Louvain U., CP3) ; Forthomme, L. (Louvain U., CP3) ; Giammanco, A. (Louvain U., CP3) ; Hollar, J. (Louvain U., CP3) ; Jez, P. (Louvain U., CP3) ; Michotte, D. (Louvain U., CP3) ; Nuttens, C. (Louvain U., CP3) ; Perrini, L. (Louvain U., CP3) ; Pagano, D. (Louvain U., CP3) ; Quertenmont, L. (Louvain U., CP3) ; Selvaggi, M. (Louvain U., CP3) ; Marono, M.Vidal (Louvain U., CP3) ; Beliy, N. (UMH, Mons) ; Caebergs, T. (UMH, Mons) ; Daubie, E. (UMH, Mons) ; Hammad, G.H. (UMH, Mons) ; Harkonen, J. (Helsinki Inst. of Phys.) ; Lampen, T. (Helsinki Inst. of Phys.) ; Luukka, P.R. (Helsinki Inst. of Phys.) ; Maenpaa, T. (Helsinki Inst. of Phys.) ; Peltola, T. (Helsinki Inst. of Phys.) ; Tuominen, E. (Helsinki Inst. of Phys.) ; Tuovinen, E. (Helsinki Inst. of Phys.) ; Eerola, P. (Helsinki Inst. of Phys.) ; Tuuva, T. (Lappeenranta U. Tech.) ; Beaulieu, G. (Lyon, IPN) ; Boudoul, G. (Lyon, IPN) ; Combaret, C. (Lyon, IPN) ; Contardo, D. (Lyon, IPN) ; Gallbit, G. (Lyon, IPN) ; Lumb, N. (Lyon, IPN) ; Mathez, H. (Lyon, IPN) ; Mirabito, L. (Lyon, IPN) ; Perries, S. (Lyon, IPN) ; Sabes, D. (Lyon, IPN) ; Vander Donckt, M. (Lyon, IPN) ; Verdier, P. (Lyon, IPN) ; Viret, S. (Lyon, IPN) ; Zoccarato, Y. (Lyon, IPN) ; Agram, J.L. (Haute Alsace U., GRPHE) ; Conte, E. (Haute Alsace U., GRPHE) ; Fontaine, J.Ch. (Haute Alsace U., GRPHE) ; Andrea, J. (Louis Pasteur U., Strasbourg I) ; Bloch, D. (Louis Pasteur U., Strasbourg I) ; Bonnin, C. (Louis Pasteur U., Strasbourg I) ; Brom, J.M. (Louis Pasteur U., Strasbourg I) ; Chabert, E. (Louis Pasteur U., Strasbourg I) ; Charles, L. (Louis Pasteur U., Strasbourg I) ; Goetzmann, Ch. (Louis Pasteur U., Strasbourg I) ; Gross, L. (Louis Pasteur U., Strasbourg I) ; Hosselet, J. (Louis Pasteur U., Strasbourg I) ; Mathieu, C. (Louis Pasteur U., Strasbourg I) ; Richer, M. (Louis Pasteur U., Strasbourg I) ; Skovpen, K. (Louis Pasteur U., Strasbourg I) ; Pistone, C. (Aachen, Tech. Hochsch.) ; Fluegge, G. (Aachen, Tech. Hochsch.) ; Kuensken, A. (Aachen, Tech. Hochsch.) ; Geisler, M. (Aachen, Tech. Hochsch.) ; Pooth, O. (Aachen, Tech. Hochsch.) ; Stahl, A. (Aachen, Tech. Hochsch.) ; Autermann, C. (Aachen, Tech. Hochsch.) ; Edelhoff, M. (Aachen, Tech. Hochsch.) ; Esser, H. (Aachen, Tech. Hochsch.) ; Feld, L. (Aachen, Tech. Hochsch.) ; Karpinski, W. (Aachen, Tech. Hochsch.) ; Klein, K. (Aachen, Tech. Hochsch.) ; Lipinski, M. (Aachen, Tech. Hochsch.) ; Ostapchuk, A. (Aachen, Tech. Hochsch.) ; Pierschel, G. (Aachen, Tech. Hochsch.) ; Preuten, M. (Aachen, Tech. Hochsch.) ; Raupach, F. (Aachen, Tech. Hochsch.) ; Sammet, J. (Aachen, Tech. Hochsch.) ; Schael, S. (Aachen, Tech. Hochsch.) ; Schwering, G. (Aachen, Tech. Hochsch.) ; Wittmer, B. (Aachen, Tech. Hochsch.) ; Wlochal, M. (Aachen, Tech. Hochsch.) ; Zhukov, V. (Aachen, Tech. Hochsch.) ; Bartosik, N. (DESY) ; Behr, J. (DESY) ; Burgmeier, A. (DESY) ; Calligaris, L. (DESY) ; Dolinska, G. (DESY) ; Eckerlin, G. (DESY) ; Eckstein, D. (DESY) ; Eichhorn, T. (DESY) ; Fluke, G. (DESY) ; Garcia, J.Garay (DESY) ; Gizhko, A. (DESY) ; Hansen, K. (DESY) ; Harb, A. (DESY) ; Hauk, J. (DESY) ; Kalogeropoulos, A. (DESY) ; Kleinwort, C. (DESY) ; Korol, I. (DESY) ; Lange, W. (DESY) ; Lohmann, W. (DESY) ; Mankel, R. (DESY) ; Maser, H. (DESY) ; Mittag, G. (DESY) ; Muhl, C. (DESY) ; Mussgiller, A. (DESY) ; Nayak, A. (DESY) ; Ntomari, E. (DESY) ; Perrey, H. (DESY) ; Pitzl, D. (DESY) ; Schroeder, M. (DESY) ; Seitz, C. (DESY) ; Spannagel, S. (DESY) ; Zuber, A. (DESY) ; Biskop, H. (Hamburg, Tech. U.) ; Blobel, V. (Hamburg, Tech. U.) ; Buhmann, P. (Hamburg, Tech. U.) ; Centis-Vignali, M. (Hamburg, Tech. U.) ; Draeger, A.R. (Hamburg, Tech. U.) ; Erfle, J. (Hamburg, Tech. U.) ; Garutti, E. (Hamburg, Tech. U.) ; Haller, J. (Hamburg, Tech. U.) ; Hoffmann, M. (Hamburg, Tech. U.) ; Junkes, A. (Hamburg, Tech. U.) ; Lapsien, T. (Hamburg, Tech. U.) ; Mattig, S. (Hamburg, Tech. U.) ; Matysek, M. (Hamburg, Tech. U.) ; Perieanu, A. (Hamburg, Tech. U.) ; Poehlsen, J. (Hamburg, Tech. U.) ; Poehlsen, T. (Hamburg, Tech. U.) ; Scharf, Ch. (Hamburg, Tech. U.) ; Schleper, P. (Hamburg, Tech. U.) ; Schmidt, A. (Hamburg, Tech. U.) ; Sola, V. (Hamburg, Tech. U.) ; Steinbruck, G. (Hamburg, Tech. U.) ; Wellhausen, J. (Hamburg, Tech. U.) ; Barvich, T. (KIT, Karlsruhe, EKP) ; Barth, Ch. (KIT, Karlsruhe, EKP) ; Boegelspacher, F. (KIT, Karlsruhe, EKP) ; De Boer, W. (KIT, Karlsruhe, EKP) ; Butz, E. (KIT, Karlsruhe, EKP) ; Casele, M. (KIT, Karlsruhe, EKP) ; Colombo, F. (KIT, Karlsruhe, EKP) ; Dierlamm, A. (KIT, Karlsruhe, EKP) ; Eber, R. (KIT, Karlsruhe, EKP) ; Freund, B. (KIT, Karlsruhe, EKP) ; Hartmann, F. (KIT, Karlsruhe, EKP) ; Hauth, Th. (KIT, Karlsruhe, EKP) ; Heindl, S. (KIT, Karlsruhe, EKP) ; Hoffmann, K.H. (KIT, Karlsruhe, EKP) ; Husemann, U. (KIT, Karlsruhe, EKP) ; Kornmeyer, A. (KIT, Karlsruhe, EKP) ; Mallows, S. (KIT, Karlsruhe, EKP) ; Muller, Th. (KIT, Karlsruhe, EKP) ; Nuernberg, A. (KIT, Karlsruhe, EKP) ; Printz, M. (KIT, Karlsruhe, EKP) ; Simonis, H.J. (KIT, Karlsruhe, EKP) ; Steck, P. (KIT, Karlsruhe, EKP) ; Weber, M. (KIT, Karlsruhe, EKP) ; Weiler, Th. (KIT, Karlsruhe, EKP) ; Bhardwaj, A. (Hefei, CUST) ; Kumar, A. (Hefei, CUST) ; Ranjan, K. (Hefei, CUST) ; Bakhshiansohl, H. (IPM, Tehran) ; Behnamian, H. (IPM, Tehran) ; Khakzad, M. (IPM, Tehran) ; Naseri, M. (IPM, Tehran) ; Cariola, P. (INFN, Bari) ; De Robertis, G. (INFN, Bari) ; Fiore, L. (INFN, Bari) ; Franco, M. (INFN, Bari) ; Loddo, F. (INFN, Bari) ; Sala, G. (INFN, Bari) ; Silvestris, L. (INFN, Bari) ; Creanza, D. (INFN, Bari) ; De Palma, M. (INFN, Bari) ; Maggi, G. (INFN, Bari) ; My, S. (INFN, Bari) ; Selvaggi, G. (INFN, Bari) ; Albergo, S. (Catania U. ; INFN, Catania) ; Cappello, G. (Catania U. ; INFN, Catania) ; Chiorboli, M. (Catania U. ; INFN, Catania) ; Costa, S. (Catania U. ; INFN, Catania) ; Giordano, F. (Catania U. ; INFN, Catania) ; Di Mattia, A. (Catania U. ; INFN, Catania) ; Potenza, R. (Catania U. ; INFN, Catania) ; Saizu, M.A. (Catania U. ; INFN, Catania) ; Tricomi, A. (Catania U. ; INFN, Catania) ; Tuve, C. (Catania U. ; INFN, Catania) ; Barbagli, G. (INFN, Florence) ; Brianzi, M. (INFN, Florence) ; Ciaranfi, R. (INFN, Florence) ; Civinini, C. (INFN, Florence) ; Gallo, E. (INFN, Florence) ; Meschini, M. (INFN, Florence) ; Paoletti, S. (INFN, Florence) ; Sguazzoni, G. (INFN, Florence) ; Ciulli, V. (INFN, Florence) ; D'Alessandro, R. (INFN, Florence) ; Gonzi, S. (INFN, Florence) ; Gori, V. (INFN, Florence) ; Focardi, E. (INFN, Florence) ; Lenzi, P. (INFN, Florence) ; Scarlini, E. (INFN, Florence) ; Tropiano, A. (INFN, Florence) ; Viliani, L. (INFN, Florence) ; Ferro, F. (INFN, Genoa) ; Robutti, E. (INFN, Genoa) ; Lo Vetere, M. (INFN, Genoa) ; Gennai, S. (INFN, Milan Bicocca) ; Malvezzi, S. (INFN, Milan Bicocca) ; Menasce, D. (INFN, Milan Bicocca) ; Moroni, L. (INFN, Milan Bicocca) ; Pedrini, D. (INFN, Milan Bicocca) ; Dinardo, M. (INFN, Milan Bicocca) ; Fiorendi, S. (INFN, Milan Bicocca) ; Manzoni, R.A. (INFN, Milan Bicocca) ; Azzi, P. (INFN, Padua) ; Bacchetta, N. (INFN, Padua) ; Bisello, D. (INFN, Padua) ; Dall'Osso, M. (INFN, Padua) ; Dorigo, T. (INFN, Padua) ; Giubilato, P. (INFN, Padua) ; Pozzobon, N. (INFN, Padua) ; Tosi, M. (INFN, Padua) ; Zucchetta, A. (INFN, Padua) ; De Canio, F. (INFN, Pavia) ; Gaioni, L. (INFN, Pavia) ; Manghisoni, M. (INFN, Pavia) ; Nodari, B. (INFN, Pavia) ; Re, V. (INFN, Pavia) ; Traversi, G. (INFN, Pavia) ; Comotti, D. (INFN, Pavia) ; Ratti, L. (INFN, Pavia) ; Bilei, G.M. (INFN, Perugia) ; Bissi, L. (INFN, Perugia) ; Checcucci, B. (INFN, Perugia) ; Magalotti, D. (INFN, Perugia) ; Menichelli, M. (INFN, Perugia) ; Saha, A. (INFN, Perugia) ; Servoli, L. (INFN, Perugia) ; Storchi, L. (INFN, Perugia) ; Biasini, M. (INFN, Perugia) ; Conti, E. (INFN, Perugia) ; Ciangottini, D. (INFN, Perugia) ; Fano, L. (INFN, Perugia) ; Lariccia, P. (INFN, Perugia) ; Mantovani, G. (INFN, Perugia) ; Passeri, D. (INFN, Perugia) ; Placidi, P. (INFN, Perugia) ; Salvatore, M. (INFN, Perugia) ; Santocchia, A. (INFN, Perugia) ; Solestizi, L.A. (INFN, Perugia) ; Spiezia, A. (INFN, Perugia) ; Androsov, K. (INFN, Pisa) ; Azzurri, P. (INFN, Pisa) ; Arezzini, S. (INFN, Pisa) ; Bagliesi, G. (INFN, Pisa) ; Basti, A. (INFN, Pisa) ; Boccali, T. (INFN, Pisa) ; Bosi, F. (INFN, Pisa) ; Castaldi, R. (INFN, Pisa) ; Ciampa, A. (INFN, Pisa) ; Ciocci, M.A. (INFN, Pisa) ; Dell'Orso, R. (INFN, Pisa) ; Fedi, G. (INFN, Pisa) ; Giassi, A. (INFN, Pisa) ; Grippo, M.T. (INFN, Pisa) ; Lomtadze, T. (INFN, Pisa) ; Magazzu, G. (INFN, Pisa) ; Mazzoni, E. (INFN, Pisa) ; Minuti, M. (INFN, Pisa) ; Moggi, A. (INFN, Pisa) ; Moon, C.S. (INFN, Pisa) ; Morsani, F. (INFN, Pisa) ; Palla, F. (INFN, Pisa) ; Palmonari, F. (INFN, Pisa) ; Raffaelli, F. (INFN, Pisa) ; Savoy-Navarro, A. (INFN, Pisa) ; Serban, A.T. (INFN, Pisa) ; Spagnolo, P. (INFN, Pisa) ; Tenchini, R. (INFN, Pisa) ; Venturi, A. (INFN, Pisa) ; Verdini, P.G. (INFN, Pisa) ; Martini, L. (INFN, Pisa) ; Messineo, A. (INFN, Pisa) ; Rizzi, A. (INFN, Pisa) ; Tonelli, G. (INFN, Pisa) ; Calzolari, F. (INFN, Pisa) ; Donato, S. (INFN, Pisa) ; Fiori, F. (INFN, Pisa) ; Ligabue, F. (INFN, Pisa) ; Vernieri, C. (INFN, Pisa) ; Demaria, N. (INFN, Turin) ; Rivetti, A. (INFN, Turin) ; Bellan, R. (INFN, Turin) ; Casasso, S. (INFN, Turin) ; Costa, M. (INFN, Turin) ; Covarelli, R. (INFN, Turin) ; Migliore, E. (INFN, Turin) ; Monteil, E. (INFN, Turin) ; Musich, M. (INFN, Turin) ; Pacher, L. (INFN, Turin) ; Ravera, F. (INFN, Turin) ; Romero, A. (INFN, Turin) ; Solano, A. (INFN, Turin) ; Trapani, P. (INFN, Turin) ; Jaramillo Echeverria, R. (Cantabria Inst. of Phys.) ; Fernandez, M. (Cantabria Inst. of Phys.) ; Gomez, G. (Cantabria Inst. of Phys.) ; Moya, D. (Cantabria Inst. of Phys.) ; F. Gonzalez Sanchez, J. (Cantabria Inst. of Phys.) ; Munoz Sanchez, F.J. (Cantabria Inst. of Phys.) ; Vila, I. (Cantabria Inst. of Phys.) ; Virto, A.L. (Cantabria Inst. of Phys.) ; Abbaneo, D. (CERN) ; Ahmed, I. (CERN) ; Albert, E. (CERN) ; Auzinger, G. (CERN) ; Berruti, G. (CERN) ; Bianchi, G. (CERN) ; Blanchot, G. (CERN) ; Breuker, H. (CERN) ; Ceresa, D. (CERN) ; Christiansen, J. (CERN) ; Cichy, K. (CERN) ; Daguin, J. (CERN) ; D'Alfonso, M. (CERN) ; D'Auria, A. (CERN) ; Detraz, S. (CERN) ; De Visscher, S. (CERN) ; Deyrail, D. (CERN) ; Faccio, F. (CERN) ; Felici, D. (CERN) ; Frank, N. (CERN) ; Gill, K. (CERN) ; Giordano, D. (CERN) ; Harris, P. (CERN) ; Honma, A. (CERN) ; Kaplon, J. (CERN) ; Kornmayer, A. (CERN) ; Kottelat, L. (CERN) ; Kovacs, M. (CERN) ; Mannelli, M. (CERN) ; Marchioro, A. (CERN) ; Marconi, S. (CERN) ; Martina, S. (CERN) ; Mersi, S. (CERN) ; Michelis, S. (CERN) ; Moll, M. (CERN) ; Onnela, A. (CERN) ; Pakulski, T. (CERN) ; Pavis, S. (CERN) ; Peisert, A. (CERN) ; Pernot, J.F. (CERN) ; Petagna, P. (CERN) ; Petrucciani, G. (CERN) ; Postema, H. (CERN) ; Rose, P. (CERN) ; Rzonca, M. (CERN) ; Stoye, M. (CERN) ; Tropea, P. (CERN) ; Troska, J. (CERN) ; Tsirou, A. (CERN) ; Vasey, F. (CERN) ; Vichoudis, P. (CERN) ; Verlaat, B. (CERN) ; Zwalinski, L. (CERN) ; Bachmair, F. (Zurich, ETH) ; Becker, R. (Zurich, ETH) ; Bani, L. (Zurich, ETH) ; di Calafiori, D. (Zurich, ETH) ; Casal, B. (Zurich, ETH) ; Djambazov, L. (Zurich, ETH) ; Donega, M. (Zurich, ETH) ; Dunser, M. (Zurich, ETH) ; Eller, P. (Zurich, ETH) ; Grab, C. (Zurich, ETH) ; Hits, D. (Zurich, ETH) ; Horisberger, U. (Zurich, ETH) ; Hoss, J. (Zurich, ETH) ; Kasieczka, G. (Zurich, ETH) ; Lustermann, W. (Zurich, ETH) ; Mangano, B. (Zurich, ETH) ; Marionneau, M. (Zurich, ETH) ; Martinez Ruiz del Arbol, P. (Zurich, ETH) ; Masciovecchio, M. (Zurich, ETH) ; Perrozzi, L. (Zurich, ETH) ; Roeser, U. (Zurich, ETH) ; Rossini, M. (Zurich, ETH) ; Starodumov, A. (Zurich, ETH) ; Takahashi, M. (Zurich, ETH) ; Wallny, R. (Zurich, ETH) ; Amsler, C. (Zurich U., Inst. Math.) ; Bosiger, K. (Zurich U., Inst. Math.) ; Caminada, L. (Zurich U., Inst. Math.) ; Canelli, F. (Zurich U.) ; Chiochia, V. (Zurich U., Inst. Math.) ; De Cosa, A. (Zurich U., Inst. Math.) ; Galloni, C. (Zurich U., Inst. Math.) ; Hreus, T. (Zurich U., Inst. Math.) ; Kilminster, B. (Zurich U., Inst. Math.) ; Lange, C. (Zurich U., Inst. Math.) ; Maier, R. (Zurich U., Inst. Math.) ; Ngadiuba, J. (Zurich U., Inst. Math.) ; Pinna, D. (Zurich U., Inst. Math.) ; Robmann, P. (Zurich U., Inst. Math.) ; Taroni, S. (Zurich U., Inst. Math.) ; Yang, Y. (Zurich U., Inst. Math.) ; Bertl, W. (PSI, Villigen) ; Deiters, K. (PSI, Villigen) ; Erdmann, W. (PSI, Villigen) ; Horisberger, R. (PSI, Villigen) ; Kaestli, H.C. (PSI, Villigen) ; Kotlinski, D. (PSI, Villigen) ; Langenegger, U. (PSI, Villigen) ; Meier, B. (PSI, Villigen) ; Rohe, T. (PSI, Villigen) ; Streuli, S. (PSI, Villigen) ; Chen, P.H. (Taiwan, Natl. Taiwan U.) ; Dietz, C. (Taiwan, Natl. Taiwan U.) ; Grundler, U. (Taiwan, Natl. Taiwan U.) ; Hou, W.S. (Taiwan, Natl. Taiwan U.) ; Lu, R.S. (Taiwan, Natl. Taiwan U.) ; Moya, M. (Taiwan, Natl. Taiwan U.) ; Wilken, R. (Taiwan, Natl. Taiwan U.) ; Cussans, D. (Bristol U.) ; Flacher, H. (Bristol U.) ; Goldstein, J. (Bristol U.) ; Grimes, M. (Bristol U.) ; Jacob, J. (Bristol U.) ; El Nasr-Storey, S.Seif (Bristol U.) ; Cole, J. (Brunel U.) ; Hobson, P. (Brunel U.) ; Leggat, D. (Brunel U.) ; Reid, I.D. (Brunel U.) ; Teodorescu, L. (Brunel U.) ; Bainbridge, R. (Imperial Coll., London) ; Dauncey, P. (Imperial Coll., London) ; Fulcher, J. (Imperial Coll., London) ; Hall, G. (Imperial Coll., London) ; Magnan, A.M. (Imperial Coll., London) ; Pesaresi, M. (Imperial Coll., London) ; Raymond, D.M. (Imperial Coll., London) ; Uchida, K. (Imperial Coll., London) ; Coughlan, J.A. (Rutherford) ; Harder, K. (Rutherford) ; Ilic, J. (Rutherford) ; Tomalin, I.R. (Rutherford) ; Garabedian, A. (Brown U.) ; Heintz, U. (Brown U.) ; Narain, M. (Brown U.) ; Nelson, J. (Brown U.) ; Sagir, S. (Brown U.) ; Speer, T. (Brown U.) ; Swanson, J. (Brown U.) ; Tersegno, D. (Brown U.) ; Watson-Daniels, J. (Brown U.) ; Chertok, M. (UC, Davis) ; Conway, J. (UC, Davis) ; Conway, R. (UC, Davis) ; Flores, C. (UC, Davis) ; Lander, R. (UC, Davis) ; Pellett, D. (UC, Davis) ; Ricci-Tam, F. (UC, Davis) ; Squires, M. (UC, Davis) ; Thomson, J. (UC, Davis) ; Yohay (UC, Davis) ; Burt, K. (UC, Riverside) ; Ellison, J. (UC, Riverside) ; Hanson, G. (UC, Riverside) ; Malberti, M. (UC, Riverside) ; Olmedo, M. (UC, Riverside) ; Cerati, G. (UC, San Diego) ; Sharma, V. (UC, San Diego) ; Vartak, A. (UC, San Diego) ; Yagil, A. (UC, San Diego) ; Della Porta, G.Zevi (UC, San Diego) ; Dutta, V. (UC, Santa Barbara) ; Gouskos, L. (UC, Santa Barbara) ; Incandela, J. (UC, Santa Barbara) ; Kyre, S. (UC, Santa Barbara) ; McColl, N. (UC, Santa Barbara) ; Mullin, S. (UC, Santa Barbara) ; White, D. (UC, Santa Barbara) ; Cumalat, J.P. (Colorado U.) ; Ford, W.T. (Colorado U.) ; Gaz, A. (Colorado U.) ; Krohn, M. (Colorado U.) ; Stenson, K. (Colorado U.) ; Wagner, S.R. (Colorado U.) ; Baldin, B. (Fermilab) ; Bolla, G. (Fermilab) ; Burkett, K. (Fermilab) ; Butler, J. (Fermilab) ; Cheung, H. (Fermilab) ; Chramowicz, J. (Fermilab) ; Christian, D. (Fermilab) ; Cooper, W.E. (Fermilab) ; Deptuch, G. (Fermilab) ; Derylo, G. (Fermilab) ; Gingu, C. (Fermilab) ; Gruenendahl, S. (Fermilab) ; Hasegawa, S. (Fermilab) ; Hoff, J. (Fermilab) ; Howell, J. (Fermilab) ; Hrycyk, M. (Fermilab) ; Jindariani, S. (Fermilab) ; Johnson, M. (Fermilab) ; Jung, A. (Fermilab) ; Joshi, U. (Fermilab) ; Kahlid, F. (Fermilab) ; Lei, C.M. (Fermilab) ; Lipton, R. (Fermilab) ; Liu, T. (Fermilab) ; Los, S. (Fermilab) ; Matulik, M. (Fermilab) ; Merkel, P. (Fermilab) ; Nahn, S. (Fermilab) ; Prosser, A. (Fermilab) ; Rivera, R. (Fermilab) ; Shenai, A. (Fermilab) ; Spiegel, L. (Fermilab) ; Tran, N. (Fermilab) ; Uplegger, L. (Fermilab) ; Voirin, E. (Fermilab) ; Yin, H. (Fermilab) ; Adams, M.R. (Illinois U., Chicago) ; Berry, D.R. (Illinois U., Chicago) ; Evdokimov, A. (Illinois U., Chicago) ; Evdokimov, O. (Illinois U., Chicago) ; Gerber, C.E. (Illinois U., Chicago) ; Hofman, D.J. (Illinois U., Chicago) ; Kapustka, B.K. (Illinois U., Chicago) ; O'Brien, C. (Illinois U., Chicago) ; Sandoval Gonzalez, D.I. (Illinois U., Chicago) ; Trauger, H. (Illinois U., Chicago) ; Turner, P. (Illinois U., Chicago) ; Parashar, N. (Purdue U.) ; Stupak, J. (Purdue U.) ; I.I.I. (Purdue U.) ; Bortoletto, D. (Purdue U.) ; Bubna, M. (Purdue U.) ; Hinton, N. (Purdue U.) ; Jones, M. (Purdue U.) ; Miller, D.H. (Purdue U.) ; Shi, X. (Purdue U.) ; Tan, P. (Iowa State U.) ; Baringer, P. (Kansas U.) ; Bean, A. (Kansas U.) ; Benelli, G. (Kansas U.) ; Gray, J. (Kansas U.) ; Majumder, D. (Kansas U.) ; Noonan, D. (Kansas U.) ; Sanders, S. (Kansas U.) ; Stringer, R. (Kansas U.) ; Ivanov, A. (Kansas State U.) ; Makouski, M. (Kansas State U.) ; Skhirtladze, N. (Kansas State U.) ; Taylor, R. (Kansas State U.) ; Anderson, I. (Johns Hopkins U.) ; Fehling, D. (Johns Hopkins U.) ; Gritsan, A. (Johns Hopkins U.) ; Maksimovic, P. (Johns Hopkins U.) ; Martin, C. (Johns Hopkins U.) ; Nash, K. (Johns Hopkins U.) ; Osherson, M. (Johns Hopkins U.) ; Swartz, M. (Johns Hopkins U.) ; Xiao, M. (Johns Hopkins U.) ; Acosta, J.G. (Mississippi U.) ; Cremaldi, L.M. (Mississippi U.) ; Oliveros, S. (Mississippi U.) ; Perera, L. (Mississippi U.) ; Summers, D. (Mississippi U.) ; Bloom, K. (Nebraska U.) ; Bose, S. (Nebraska U.) ; Claes, D.R. (Nebraska U.) ; Dominguez, A. (Nebraska U.) ; Fangmeier, C. (Nebraska U.) ; Gonzalez Suarez, R. (Nebraska U.) ; Meier, F. (Nebraska U.) ; Monroy, J. (Nebraska U.) ; Hahn, K. (Northwestern U.) ; Sevova, S. (Northwestern U.) ; Sung, K. (Northwestern U.) ; Trovato, M. (Northwestern U.) ; Bartz, E. (Rutgers U., Piscataway) ; Duggan, D. (Rutgers U., Piscataway) ; Halkiadakis, E. (Rutgers U., Piscataway) ; Lath, A. (Rutgers U., Piscataway) ; Park, M. (Rutgers U., Piscataway) ; Schnetzer, S. (Rutgers U., Piscataway) ; Stone, R. (Rutgers U., Piscataway) ; Walker, M. (Rutgers U., Piscataway) ; Malik, S. (Puerto Rico U., Mayaguez) ; Mendez, H. (Puerto Rico U., Mayaguez) ; Ramirez Vargas, J.E. (Puerto Rico U., Mayaguez) ; Alyari, M. (SUNY, Buffalo) ; Dolen, J. (SUNY, Buffalo) ; George, J. (SUNY, Buffalo) ; Godshalk, A. (SUNY, Buffalo) ; Iashvili, I. (SUNY, Buffalo) ; Kaisen, J. (SUNY, Buffalo) ; Kharchilava, A. (SUNY, Buffalo) ; Kumar, A. (SUNY, Buffalo) ; Rappoccio, S. (SUNY, Buffalo) ; Alexander, J. (Cornell U., Phys. Dept.) ; Chaves, J. (Cornell U., Phys. Dept.) ; Chu, J. (Cornell U., Phys. Dept.) ; Dittmer, S. (Cornell U., Phys. Dept.) ; Kaufman, G. (Cornell U., Phys. Dept.) ; Mirman, N. (Cornell U., Phys. Dept.) ; Ryd, A. (Cornell U., Phys. Dept.) ; Salvati, E. (Cornell U., Phys. Dept.) ; Skinnari, L. (Cornell U., Phys. Dept.) ; Thom, J. (Cornell U., Phys. Dept.) ; Thompson, J. (Cornell U., Phys. Dept.) ; Tucker, J. (Cornell U., Phys. Dept.) ; Winstrom, L. (Cornell U., Phys. Dept.) ; Akgun, B. (Rice U.) ; Ecklund, K.M. (Rice U.) ; Nussbaum, T. (Rice U.) ; Zabel, J. (Rice U.) ; Betchart, B. (Rochester U.) ; Demina, R. (Rochester U.) ; Hindrichs, O. (Rochester U.) ; Petrillo, G. (Rochester U.) ; Eusebi, R. (Texas A-M) ; Osipenkov, I. (Texas A-M) ; Perloff, A. (Texas A-M) ; Ulmer, K.A. (Texas A-M) ; Delannoy, A.G. (Vanderbilt U.) ; D'Angelo, P. (Vanderbilt U.) ; Johns, W. (Vanderbilt U.)
Collaboration	CMS Tracker Group
Publication	2016-04-22
Imprint	07 May 2015
Number of pages	18
In:	JINST 11 (2016) P04023
DOI	10.1088/1748-0221/11/04/P04023
Subject category	Detectors and Experimental Techniques
Accelerator/Facility, Experiment	CERN HL-LHC ; CMS
Project	CERN HL-LHC
Abstract	The degradation of signal in silicon sensors is studied under conditions expected at the CERN High-Luminosity LHC. 200 $\mu$m thick n-type silicon sensors are irradiated with protons of different energies to fluences of up to $3 \cdot 10^{15}$ neq/cm$^2$. Pulsed red laser light with a wavelength of 672 nm is used to generate electron-hole pairs in the sensors. The induced signals are used to determine the charge collection efficiencies separately for electrons and holes drifting through the sensor. The effective trapping rates are extracted by comparing the results to simulation. The electric field is simulated using Synopsys device simulation assuming two effective defects. The generation and drift of charge carriers are simulated in an independent simulation based on PixelAV. The effective trapping rates are determined from the measured charge collection efficiencies and the simulated and measured time-resolved current pulses are compared. The effective trapping rates determined for both electrons and holes are about 50% smaller than those obtained using standard extrapolations of studies at low fluences and suggests an improved tracker performance over initial expectations.
Copyright/License	arXiv nonexclusive-distrib. 1.0 publication: © 2016-2024 CERN (License: CC-BY-3.0)

$The CCE as a function of bias voltage is shown for 200~$\mu$m thick n-type sensors after different fluences of 23~GeV proton irradiation. Laser light of 672~nm wavelength is used to generate $eh$-pairs close to the p$^+$-side (left), so that the signals are dominated by electron drift, or close to the n$^+$-side (right), so that the signal is dominated by hole drift.$ $The CCE as a function of bias voltage is shown for 200~$\mu$m thick n-type sensors after different fluences of 23~GeV proton irradiation. Laser light of 672~nm wavelength is used to generate $eh$-pairs close to the p$^+$-side (left), so that the signals are dominated by electron drift, or close to the n$^+$-side (right), so that the signal is dominated by hole drift.$ $The simulated electric field at 600 V as a function of sensor depth, $x$, for a 200~$\mu$m thick n-type sensor after proton irradiation with different proton energies. The $p^+$ implant is at $x=0$~$\mu$m, and the $n^+$ implant is at $x=200$~$\mu$m. The field is calculated using parameters from Ref.~\cite{PixelAV} for irradiation with 24~GeV protons ($1.2\cdot10^{15}$~neq/cm$^2$) and Ref.~\cite{Eber:2013} for irradiation with 23~MeV protons ($1\cdot10^{15}$~neq/cm$^2$).$ Show more plots

Corresponding record in: Inspire

Zurück zur Suche

Datensatz erzeugt am 2015-05-09, letzte Änderung am 2024-11-20

Ähnliche Datensätze

IOP Open Access article: