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1.
XFEL/Short Pulse Science / Schneider, Jochen
X-rays are a most powerful tool for 3 dimensional imaging of matter on length scales from mm to nanometer. They allow for highly accurate determination of the position of atoms and their correlated motion in samples with complex structure under extreme temperature or pressure condi-tions, they probe either bulk or surface properties including order-disorder phenomena. [...]
2005
In : 21st IEEE Particle Accelerator Conference, Knoxville, TN, USA, 16 - 20 May 2005, pp.e-proc. FOPA002
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