Hoermann, Christoph - 检索结果 - CERN Document Server

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Simulation of Heavily Irradiated Silicon Pixel Sensors and Comparison with Test Beam Measurements / Chiochia, Vincenzo (Zurich U.) ; Swartz, Morris (Johns Hopkins U.) ; Bortoletto, Daniela (Purdue U.) ; Cremaldi, Lucien (Mississippi U.) ; Cucciarelli, Susanna (Basel U.) ; Dorokhov, Andrei (Zurich U. ; PSI, Villigen) ; Hoermann, Christoph (Zurich U. ; PSI, Villigen) ; Kim, Dongwook (Johns Hopkins U.) ; Konecki, Marcin (Basel U.) ; Kotlinski, Danek (PSI, Villigen) et al.
Charge collection measurements performed on heavily irradiated p-spray DOFZ pixel sensors with a grazing angle hadron beam provide a sensitive determination of the electric field within the detectors. The data are compared with a complete charge transport simulation of the sensor which includes signal trapping and charge induction effects. [...]
physics/0411143.- 2004 - 6 p. Access to fulltext document: PDF; Fulltext: PDF; External link: physics/0411143 PDF
In : 4th Workshop on Gamma-Ray Burst in the Afterglow Era, Rome, Italy, 18 - 22 Oct 2004

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3	Hoermann, C
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