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1.
Characterization of 3D Trench PZT Capacitors for High Density FRAM Devices by Synchrotron X-ray Micro-diffraction / Shin, Sangmin ; Han, Hee ; JunPark, Yong ; Choi, Jae-Young ; Park, Youngsoo ; Baik, Sunggi
2007 - Published in : AIP Conf. Proc.: 879 (2007) , pp. 1554-1556 External link: Published version from AIP
In : 9th International Conference On Synchrotron Radiation Instrumentation, Daegu, Korea, 28 May - 2 Jun 2006, pp.1554-1556
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56 Shin, S
2 Shin, S A
2 Shin, S C
7 Shin, S H
1 Shin, S M
2 Shin, S S
1 Shin, S W
24 Shin, S.
2 Shin, SangHoon
2 Shin, Sanghoon
1 Shin, Sarah J
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11 Shin, Sunyoung
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